JPH02299257A - 混成集積回路装置 - Google Patents
混成集積回路装置Info
- Publication number
- JPH02299257A JPH02299257A JP1120906A JP12090689A JPH02299257A JP H02299257 A JPH02299257 A JP H02299257A JP 1120906 A JP1120906 A JP 1120906A JP 12090689 A JP12090689 A JP 12090689A JP H02299257 A JPH02299257 A JP H02299257A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- integrated circuit
- circuit device
- hybrid integrated
- microcomputer
- eprom
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/50—Bond wires
- H10W72/541—Dispositions of bond wires
- H10W72/5449—Dispositions of bond wires not being orthogonal to a side surface of the chip, e.g. fan-out arrangements
Landscapes
- Combinations Of Printed Boards (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(イ)産業上の利用分野
本発明は集積回路基板に樹脂封止型の不揮発性メモリ、
例えばEFROM(紫外線消去形プログラマブル・リー
ド・オンリ・メモリー)を実装してなるEFROM内蔵
型の混成集積回路装置に関する。
例えばEFROM(紫外線消去形プログラマブル・リー
ド・オンリ・メモリー)を実装してなるEFROM内蔵
型の混成集積回路装置に関する。
(ロ)従来の技術
紫外線を照射することによって既に書込まれた記憶情報
を消去し、再書込みが可能な紫外線照射窓を有するEP
ROM素子は、各種電子機器に好んで用いられている。
を消去し、再書込みが可能な紫外線照射窓を有するEP
ROM素子は、各種電子機器に好んで用いられている。
このEPROM素子は、制御用或は駆動用集積回路と共
に現在、その殆んどがプリント配線板に実装されており
、一旦書込んだ情報をその後書き直すために通常、着脱
存易なプリント配線板に実装されている。各種電子機器
で小型軽量化が要求される機器は、チップ・オン・ボー
ドと称される技法によってプリント配線板に半導体集積
回路(IC)チップが直接搭載され、所要の配線が施さ
れた後この配線部分を含んで前記ICチップが合成s4
詣によって被覆され、極めて小形軽量化が達成されてい
る。
に現在、その殆んどがプリント配線板に実装されており
、一旦書込んだ情報をその後書き直すために通常、着脱
存易なプリント配線板に実装されている。各種電子機器
で小型軽量化が要求される機器は、チップ・オン・ボー
ドと称される技法によってプリント配線板に半導体集積
回路(IC)チップが直接搭載され、所要の配線が施さ
れた後この配線部分を含んで前記ICチップが合成s4
詣によって被覆され、極めて小形軽量化が達成されてい
る。
一方紫外線照射窓を必要とするEPROMチップは、こ
の照射窓がネックとなり未だサーディツプ型パッケージ
に組込まれて製造され、プリント配線板に実装きれてい
るため小型軽量化が図れない。
の照射窓がネックとなり未だサーディツプ型パッケージ
に組込まれて製造され、プリント配線板に実装きれてい
るため小型軽量化が図れない。
かかる従来のEPROM素子の実装構造を第13図に従
って説明すると、第13図は従来のEPROM素子の一
部断面を有する斜視図であって、主表面上に導電性配線
パターン(41)が形成されたガラス・エポキシ樹上な
どから構成された絶縁性基ta(42)のスルーホール
(43)にサーディツプ型パッケージに組込まれEPR
OM素子(44)が搭載されている。このEPROM素
子(44)はヘッダー(45)およびキャップ(46)
を有し、前記ヘッダー(45)はセラミック基材(47
)に外部導出リード(48)か低融点ガラス材で接着さ
れている。又このヘッダー(45)はガラスに金粉が多
量に混入したいわゆる金ペーストを焼結した素子搭載部
(50)が前記低融点ガラス材上或はセラミック基材(
47)上に接着されており、この素子搭載部(50)に
EPROMチップ(51)が紫外線照射面を上にして装
着され、このチップ(51)の電極と前記外部導出リー
ド(48)とが金属細線(52)によって接続されてい
る。前記キャップ(46)は蓄部材であって、前記EP
ROMチップ(51)の紫外線照射面と対向する部分に
窓(53)を有するセラミック基材(54)を含み、こ
のキャップ<46)は低融点ガラスによってヘッダー(
45)に配置されたEPROMチップ(51)を密封し
ている。この様にEPROMチップ(51)を密封した
EPROM素子(44)は、前記絶縁性基板(42)の
スルーホール〈43)に外部導出リード(48)を挿通
させ半田によって固定される。このスルーホール(43
)は導電性配線パターン(41)によって所要の配線引
回しが施され、前記絶縁性基板の端部に設けられた雄型
フネクタ端子部(55)から図示しない雌型コネクタへ
と接続される。
って説明すると、第13図は従来のEPROM素子の一
部断面を有する斜視図であって、主表面上に導電性配線
パターン(41)が形成されたガラス・エポキシ樹上な
どから構成された絶縁性基ta(42)のスルーホール
(43)にサーディツプ型パッケージに組込まれEPR
OM素子(44)が搭載されている。このEPROM素
子(44)はヘッダー(45)およびキャップ(46)
を有し、前記ヘッダー(45)はセラミック基材(47
)に外部導出リード(48)か低融点ガラス材で接着さ
れている。又このヘッダー(45)はガラスに金粉が多
量に混入したいわゆる金ペーストを焼結した素子搭載部
(50)が前記低融点ガラス材上或はセラミック基材(
47)上に接着されており、この素子搭載部(50)に
EPROMチップ(51)が紫外線照射面を上にして装
着され、このチップ(51)の電極と前記外部導出リー
ド(48)とが金属細線(52)によって接続されてい
る。前記キャップ(46)は蓄部材であって、前記EP
ROMチップ(51)の紫外線照射面と対向する部分に
窓(53)を有するセラミック基材(54)を含み、こ
のキャップ<46)は低融点ガラスによってヘッダー(
45)に配置されたEPROMチップ(51)を密封し
ている。この様にEPROMチップ(51)を密封した
EPROM素子(44)は、前記絶縁性基板(42)の
スルーホール〈43)に外部導出リード(48)を挿通
させ半田によって固定される。このスルーホール(43
)は導電性配線パターン(41)によって所要の配線引
回しが施され、前記絶縁性基板の端部に設けられた雄型
フネクタ端子部(55)から図示しない雌型コネクタへ
と接続される。
さて、かかる従来のEPROM素子の実装構造は、EP
ROMチップ(51)に比ベパッケージ外形が極めて大
きく、平面占有率もさることながら三次元、つまり高さ
もチップの高さの数倍となり、薄型化に極めて不利であ
る。更にスルーホール(43)に外部導出リードを挿通
した後、半田などで固定する必要も生ずる。更に特筆す
べき大きな欠点は、絶縁性基板への実装に先立ってEP
ROM素子を一部パッケージに組立てることである。E
PROM素子は紫外線照射用の窓を有するが故、そのパ
ッケージは、セラミックスを基材としたサーディツプ型
パッケージに組立てられるが、このパッケージは低融点
ガラスにより封止される為、高温(400〜500℃)
シールとなり、EPROMチップの電極(アルミニウム
)と外部導出リードとを接続する金属細線を同種材料で
構成しないとアロイ化が起り配線抵抗の増加を来したり
、断線を生じたりする。この様な事態を回避する目的で
通常アルミニウム細線が用いられるが、このEPROM
チップはサブストレートを接地電位にする必要上、EP
ROMチップの接地電極を金ペーストで形成されたチッ
プ搭載部とワイヤ接続する。ここに於ても金ペースト中
の金或はおよび箔等の金属と前記アルミニウムとで二次
或は多元合金反応が進むことから、グランドダイスと呼
ばれる頭部にアルミニウムが被着啓れたシリコン小片を
EPROMチップと別個に前記金ペーストより成るチッ
プ搭載部に固着させ、このグランドダイス頭部とEPR
OMチップの接地電極とを接続するという極めて煩雑な
作業を伴う等、従来の実装構造は、小型、軽量、低価格
のいずれも不満足なものである。
ROMチップ(51)に比ベパッケージ外形が極めて大
きく、平面占有率もさることながら三次元、つまり高さ
もチップの高さの数倍となり、薄型化に極めて不利であ
る。更にスルーホール(43)に外部導出リードを挿通
した後、半田などで固定する必要も生ずる。更に特筆す
べき大きな欠点は、絶縁性基板への実装に先立ってEP
ROM素子を一部パッケージに組立てることである。E
PROM素子は紫外線照射用の窓を有するが故、そのパ
ッケージは、セラミックスを基材としたサーディツプ型
パッケージに組立てられるが、このパッケージは低融点
ガラスにより封止される為、高温(400〜500℃)
シールとなり、EPROMチップの電極(アルミニウム
)と外部導出リードとを接続する金属細線を同種材料で
構成しないとアロイ化が起り配線抵抗の増加を来したり
、断線を生じたりする。この様な事態を回避する目的で
通常アルミニウム細線が用いられるが、このEPROM
チップはサブストレートを接地電位にする必要上、EP
ROMチップの接地電極を金ペーストで形成されたチッ
プ搭載部とワイヤ接続する。ここに於ても金ペースト中
の金或はおよび箔等の金属と前記アルミニウムとで二次
或は多元合金反応が進むことから、グランドダイスと呼
ばれる頭部にアルミニウムが被着啓れたシリコン小片を
EPROMチップと別個に前記金ペーストより成るチッ
プ搭載部に固着させ、このグランドダイス頭部とEPR
OMチップの接地電極とを接続するという極めて煩雑な
作業を伴う等、従来の実装構造は、小型、軽量、低価格
のいずれも不満足なものである。
斯る問題を解決するために第14図に示したEPROM
実装構造がある。
実装構造がある。
以下に第14図に示したEPROM実装構造について説
明する。
明する。
主表面(60a)に導電性配線パターン(60b)が形
成されたガラス・エポキシ樹脂板などの絶縁性基板(6
0)は、EPROMチップ21を載置するチップ搭載エ
リヤ(60c)を有し、前記配線パターン(60b)は
、とのエリヤ近傍から主表面(60a)上を引回されて
図示しない雄型コネクタ端子部に接続されている。前記
エリヤ(60c)には、EPROMチップ(61)が搭
載され、このチップ(61)の表面電極と前記配線パタ
ーン(60b)とが金属細線(62)により接続されて
いる。勿論金属細線(62)の1本は前記チップ(61
)のサブストレートと接続する為に、このチップ(61
)が搭載された配線パターン(60b)とワイヤリング
されている。前記EPROMチップ(61)の紫外線照
射面(61a)上には紫外線透過性材料(63) (例
えば東し社製、型名TX−178)を介して、紫外線透
過性窓材(64)が固着されている。この窓材(64)
は、石英、透明アルミナ等、公知の紫外線透過性材料で
ある。そして、前記窓材“(64)の頂部面(64a)
は、EPROMチップ(61)の紫外線照射面に光を導
入する面であるから、この頂部面(64a)を除いた残
余の窓材(64)部分と、金属細線(62)と、この金
属細線(62)と前記配線パターン(60b)との接続
部分とが合成樹脂(65) (例えば日東電工社製、型
名MP−10)で被覆されている。もし、絶縁性基板(
60)と、EPROMチップクロ1)と窓材(64)と
を加えた総合厚さ寸法を更に低くする必要があれば、前
記基板(60)のチップ搭載エリヤ(60c)をザグリ
穴としてこの基板(60)の厚さの半分程度握れば良い
。又この様なザグリ穴としておけば、合成樹J脂(65
)の流れ止めダムが形成され湿気などの浸入に対して有
効に作用する。
成されたガラス・エポキシ樹脂板などの絶縁性基板(6
0)は、EPROMチップ21を載置するチップ搭載エ
リヤ(60c)を有し、前記配線パターン(60b)は
、とのエリヤ近傍から主表面(60a)上を引回されて
図示しない雄型コネクタ端子部に接続されている。前記
エリヤ(60c)には、EPROMチップ(61)が搭
載され、このチップ(61)の表面電極と前記配線パタ
ーン(60b)とが金属細線(62)により接続されて
いる。勿論金属細線(62)の1本は前記チップ(61
)のサブストレートと接続する為に、このチップ(61
)が搭載された配線パターン(60b)とワイヤリング
されている。前記EPROMチップ(61)の紫外線照
射面(61a)上には紫外線透過性材料(63) (例
えば東し社製、型名TX−178)を介して、紫外線透
過性窓材(64)が固着されている。この窓材(64)
は、石英、透明アルミナ等、公知の紫外線透過性材料で
ある。そして、前記窓材“(64)の頂部面(64a)
は、EPROMチップ(61)の紫外線照射面に光を導
入する面であるから、この頂部面(64a)を除いた残
余の窓材(64)部分と、金属細線(62)と、この金
属細線(62)と前記配線パターン(60b)との接続
部分とが合成樹脂(65) (例えば日東電工社製、型
名MP−10)で被覆されている。もし、絶縁性基板(
60)と、EPROMチップクロ1)と窓材(64)と
を加えた総合厚さ寸法を更に低くする必要があれば、前
記基板(60)のチップ搭載エリヤ(60c)をザグリ
穴としてこの基板(60)の厚さの半分程度握れば良い
。又この様なザグリ穴としておけば、合成樹J脂(65
)の流れ止めダムが形成され湿気などの浸入に対して有
効に作用する。
第13図および第14図で示したEPROM実装構造は
特開昭60−83393号公報(HO5に1/18)に
記載されている。
特開昭60−83393号公報(HO5に1/18)に
記載されている。
(ハ)発明が解決しようとする課題
第14図で示したEPROM実装構造ではEPROMの
チップをプリント基板上にダイボンディングしているた
め、小型化となることはいうまでもない。しかしながら
、ここでいう小型化はあくまでEPROM自体の小型化
である。即ち、第14図からは明らかにされていないが
EFROMの周辺に固着されているマイクロコンピュー
タおよびその周辺回路素子はディスクリート等の電子部
品で構成されているために、EFROMを搭載したプリ
ント基板用の集積回路としてのシステム全体を見た場合
なんら小型化とはならず従来通りプリント基板の大型化
、即ちシステム全体が大型化になる問題がある。更に第
14図に示したEPROM構造ではEFROMのプログ
ラムデータを消去する場合、プリント基板上に紫外線を
照射し消去した後、EFROMから延在された引回し線
の導電パターン上にプローブ等の書込み用の端子を当接
して再書込みを行わなければならず、従来の一般的なR
OMライターを使用することができずEPROMの再書
込みという点で煩雑となる問題がある。
チップをプリント基板上にダイボンディングしているた
め、小型化となることはいうまでもない。しかしながら
、ここでいう小型化はあくまでEPROM自体の小型化
である。即ち、第14図からは明らかにされていないが
EFROMの周辺に固着されているマイクロコンピュー
タおよびその周辺回路素子はディスクリート等の電子部
品で構成されているために、EFROMを搭載したプリ
ント基板用の集積回路としてのシステム全体を見た場合
なんら小型化とはならず従来通りプリント基板の大型化
、即ちシステム全体が大型化になる問題がある。更に第
14図に示したEPROM構造ではEFROMのプログ
ラムデータを消去する場合、プリント基板上に紫外線を
照射し消去した後、EFROMから延在された引回し線
の導電パターン上にプローブ等の書込み用の端子を当接
して再書込みを行わなければならず、従来の一般的なR
OMライターを使用することができずEPROMの再書
込みという点で煩雑となる問題がある。
また、第13図に示したEPROM実装構造では消去後
の再書込みという点ではEPROMをプリント基板から
着脱することが可能であるために、一般的なROMライ
ターを用いての書込みが行えるために比較的存易に行え
る。しかしながら、第13図に示した実装構造において
も第14図と同様にEFROMの周辺の回路、即ち、マ
イクロコンピュータやその周辺LSI、IC等の回路素
子がディスクリート等の電子部品で構成されているため
、プリント基板の大型化、即ちシステム全体が大型化と
なりユーザが要求きれる軽薄短小のEFROM搭載の集
積回路を提供することができない大きな問題がある。
の再書込みという点ではEPROMをプリント基板から
着脱することが可能であるために、一般的なROMライ
ターを用いての書込みが行えるために比較的存易に行え
る。しかしながら、第13図に示した実装構造において
も第14図と同様にEFROMの周辺の回路、即ち、マ
イクロコンピュータやその周辺LSI、IC等の回路素
子がディスクリート等の電子部品で構成されているため
、プリント基板の大型化、即ちシステム全体が大型化と
なりユーザが要求きれる軽薄短小のEFROM搭載の集
積回路を提供することができない大きな問題がある。
更に第13図および第14図で示したEPROM実装構
造では、上述した様にシステム全体が大型化になると共
にEFROMおよびその周辺の回路素子を互いに接続す
る導電パターンが露出されているため信頼性が低下する
問題がある。
造では、上述した様にシステム全体が大型化になると共
にEFROMおよびその周辺の回路素子を互いに接続す
る導電パターンが露出されているため信頼性が低下する
問題がある。
更に第13図および第14図で示したEPROM実装構
造ではEFROMと、その周辺のマイクロコンピュータ
およびIC,LSI等の回路素子が露出されているため
、基板上面に凹凸が生じて取扱いにくく作業性が低下す
る問題がある。
造ではEFROMと、その周辺のマイクロコンピュータ
およびIC,LSI等の回路素子が露出されているため
、基板上面に凹凸が生じて取扱いにくく作業性が低下す
る問題がある。
更に第13図及び第14図で示したEPROM実装構造
では一枚のプリント基板上にEFROMとディスクリー
ト部品からなるマイクロコンピュータ及びその周辺の回
路素子の全ての素子が搭載されているため上述した様に
システム自体の小型化という点で大きな問題となる。
では一枚のプリント基板上にEFROMとディスクリー
ト部品からなるマイクロコンピュータ及びその周辺の回
路素子の全ての素子が搭載されているため上述した様に
システム自体の小型化という点で大きな問題となる。
(ニ)課題を解決するための手段
本発明は上述した課題に鑑みて為されたものであり、二
枚の基板の一方の基板上に少なくとも樹脂封止型のEP
ROMとマイクロコンピュータを搭載し、他方の基板上
あるいは一方の基板上にその他の全ての回路素子を搭載
し、他方の基板の周端辺の所定位置に設けられたくぼみ
でシングルインライン型EPROMだけが露出すると共
にマイクロコンピュータおよび他の全ての回路素子を二
枚の基板とケース材で形成された封止空間に封止する構
造を特徴とする。
枚の基板の一方の基板上に少なくとも樹脂封止型のEP
ROMとマイクロコンピュータを搭載し、他方の基板上
あるいは一方の基板上にその他の全ての回路素子を搭載
し、他方の基板の周端辺の所定位置に設けられたくぼみ
でシングルインライン型EPROMだけが露出すると共
にマイクロコンピュータおよび他の全ての回路素子を二
枚の基板とケース材で形成された封止空間に封止する構
造を特徴とする。
従ってEPROMを搭載した混成集積回路を小型化でし
かも二枚の基板上に回路素子を実装でき高密度実装のE
FROM内蔵の混成集積回路装置を提供することができ
る。また、EFROM上面が一方の基板の周端辺に設け
られたくぼみより露出しているためEPROMの挿脱が
自由自在に行えることができる。
かも二枚の基板上に回路素子を実装でき高密度実装のE
FROM内蔵の混成集積回路装置を提供することができ
る。また、EFROM上面が一方の基板の周端辺に設け
られたくぼみより露出しているためEPROMの挿脱が
自由自在に行えることができる。
(木)作用
この様に本発明に依れば、二枚の基板の一方の基板の周
端辺の所定位置にくぼみを設け、そのくぼみで露出した
他方の基板上の導電路にシングルインライン型EPRO
Mを接続しているのでEPROMの載置位置を任意に設
定できるので、内蔵するマイクロコンピュータとの電気
的接続を考慮して、効率良<EPROMとマイクロコン
ピュータとを接続することができ、信号線即ち導電路の
引回し線を不要にすることができる。
端辺の所定位置にくぼみを設け、そのくぼみで露出した
他方の基板上の導電路にシングルインライン型EPRO
Mを接続しているのでEPROMの載置位置を任意に設
定できるので、内蔵するマイクロコンピュータとの電気
的接続を考慮して、効率良<EPROMとマイクロコン
ピュータとを接続することができ、信号線即ち導電路の
引回し線を不要にすることができる。
更にEPROMの隣接する位置に最も関連の深いマイク
ロコンピュータを配置でき、EFROMとマイクロコン
ピュータ間のデータのやりとりを行うデータ線を最短距
離あるいは最小距離で実現でき、データ線の引回しによ
る実装密度のロスを最小限に抑制することになり、高密
度の実装が行える。
ロコンピュータを配置でき、EFROMとマイクロコン
ピュータ間のデータのやりとりを行うデータ線を最短距
離あるいは最小距離で実現でき、データ線の引回しによ
る実装密度のロスを最小限に抑制することになり、高密
度の実装が行える。
更に本発明ではEFROM以外の全ての回路素子はチッ
プで二枚の基板のいずれか一方の基板上に搭載され且つ
、二枚の基板とケース材で形成された封止空間内に収納
きれるため/J%型化でしかも高密度実装ができ取扱い
性の優れた混成集積回路装置を提供することができる。
プで二枚の基板のいずれか一方の基板上に搭載され且つ
、二枚の基板とケース材で形成された封止空間内に収納
きれるため/J%型化でしかも高密度実装ができ取扱い
性の優れた混成集積回路装置を提供することができる。
(へ)実施例
以下に第1図乃至第12図に示した実施例に基づいて本
発明の混成集積回路装置を詳細に説明する。
発明の混成集積回路装置を詳細に説明する。
第1図および第2図には、本発明の一実施例の混成集積
回路装置(1)が示されている。この混成集積回路装置
(1)は独立した電子部品として用いられコンピュータ
等の幅広い分野で機能を独立して有する集積回路として
用いられる。
回路装置(1)が示されている。この混成集積回路装置
(1)は独立した電子部品として用いられコンピュータ
等の幅広い分野で機能を独立して有する集積回路として
用いられる。
この混成集積回路装置(1)は第1図および第2図に示
す様に、二枚の集積回路基板(2)(3)と、二枚の集
積回路基板(2)(3)の一方の基板(2)の周端辺の
所定位置に設けられたくぼみ(4)と、二枚の集積回路
基板(2)(3)上に形成された所望形状の導電路(5
)と、一方の導電路<5)と接続されたシングルインラ
イン型樹脂モールドされた不揮発性メモリー(6)と、
そのメモリー(6)からデータを供給され且つ不揮発性
メモリー(6)が搭載された一方の基板(2)上の導電
路(5)と接続されたマイクロコンピュータ(7)と、
二枚の基板(2バ3)上の導電路(5)と接続された周
辺の回路素子(8)と、二枚の基板(2)(3)を離間
して一体化するケース材(9)とをから構成される。
す様に、二枚の集積回路基板(2)(3)と、二枚の集
積回路基板(2)(3)の一方の基板(2)の周端辺の
所定位置に設けられたくぼみ(4)と、二枚の集積回路
基板(2)(3)上に形成された所望形状の導電路(5
)と、一方の導電路<5)と接続されたシングルインラ
イン型樹脂モールドされた不揮発性メモリー(6)と、
そのメモリー(6)からデータを供給され且つ不揮発性
メモリー(6)が搭載された一方の基板(2)上の導電
路(5)と接続されたマイクロコンピュータ(7)と、
二枚の基板(2バ3)上の導電路(5)と接続された周
辺の回路素子(8)と、二枚の基板(2)(3)を離間
して一体化するケース材(9)とをから構成される。
二枚の集積回路基板(2)(3>はセラミックス、ガラ
スエポキシあるいは金属等の硬質基板が用いられ、本実
施例では放熱性および機械的強度に優れた金属基板を用
いるものとする。
スエポキシあるいは金属等の硬質基板が用いられ、本実
施例では放熱性および機械的強度に優れた金属基板を用
いるものとする。
金属基板としては例えば0.5〜t、omm厚のアルミ
ニウム基板を用いる。その二枚の基板(2)(3)の表
面には第4図に示す如く、周知の陽極酸化により醸化ア
ルミニウム膜(9)(アルマイト層)が形成きれ、モの
一主面側に10〜70μ厚のポリイミド等のフレキシブ
ル性を有した絶縁樹脂層(10)が貼着される。更に絶
縁樹脂層(10)上には10〜70μ厚の銅箔(11)
が絶縁樹脂層(10)と同時にローラーあるいはホット
プレス等の手段により貼着されている。ところで、二枚
の基板(2)(3)はフレキシブル性を有する絶縁樹脂
層(10)によって所定の間隔離間されて連結された状
態となっている。
ニウム基板を用いる。その二枚の基板(2)(3)の表
面には第4図に示す如く、周知の陽極酸化により醸化ア
ルミニウム膜(9)(アルマイト層)が形成きれ、モの
一主面側に10〜70μ厚のポリイミド等のフレキシブ
ル性を有した絶縁樹脂層(10)が貼着される。更に絶
縁樹脂層(10)上には10〜70μ厚の銅箔(11)
が絶縁樹脂層(10)と同時にローラーあるいはホット
プレス等の手段により貼着されている。ところで、二枚
の基板(2)(3)はフレキシブル性を有する絶縁樹脂
層(10)によって所定の間隔離間されて連結された状
態となっている。
二枚の基板(2)(3)の−主面上に設けられた銅箔(
11)表面上にはスクリーン印刷によって所望形状の導
電路を露出してレジストでマスクされ、貴金属(金、銀
、白金)メッキ層が鋼箔(11)表面にメッキされる。
11)表面上にはスクリーン印刷によって所望形状の導
電路を露出してレジストでマスクされ、貴金属(金、銀
、白金)メッキ層が鋼箔(11)表面にメッキされる。
然る後、レジストを除去して貴金属メッキ層をマスクと
して銅箔(11)のエツチングを行い所望の導電路(5
)が形成される。ここでスクリーン印刷による導電路(
5)の細さは0.5閣が限界であるため、極細配線パタ
ーンを必要とするときは周知の写真蝕刻技術に依り約2
μまでの極細導電路(5)の形成が可能となる。
して銅箔(11)のエツチングを行い所望の導電路(5
)が形成される。ここでスクリーン印刷による導電路(
5)の細さは0.5閣が限界であるため、極細配線パタ
ーンを必要とするときは周知の写真蝕刻技術に依り約2
μまでの極細導電路(5)の形成が可能となる。
下側にある他方の基板(3)上の導電路(5)にはシン
グルインライン型樹J脂モールドされた不揮発性メモリ
ー(6)とそのメモリー(6)からデータを供給される
マイクロコンピュータ(7)が搭載され、上側にある一
方の基板(2)および他方の基板(3)上の導電路(5
)にその周辺の回路素子(8)が搭載されている。また
両基板(2)(3)の−側辺あるいは対向する側辺周端
部に導電路(5)が延在され外部リード端子(12)(
13)を固着するための複数のパッドが形成されている
。このパッドには外部リード端子(12)<13)が半
田によって固着され、水平に導出されてその中央部分で
略直角に折曲られている。また両基板(2)(3)上に
形成されている導電路(5)はフレキシブル樹脂層(1
0)上に形成されているので二枚の基板(2)(3)を
股がる様にパターニングされ両基板(2)(3)の接続
が所定の位置でしかも任意に行えることができる。
グルインライン型樹J脂モールドされた不揮発性メモリ
ー(6)とそのメモリー(6)からデータを供給される
マイクロコンピュータ(7)が搭載され、上側にある一
方の基板(2)および他方の基板(3)上の導電路(5
)にその周辺の回路素子(8)が搭載されている。また
両基板(2)(3)の−側辺あるいは対向する側辺周端
部に導電路(5)が延在され外部リード端子(12)(
13)を固着するための複数のパッドが形成されている
。このパッドには外部リード端子(12)<13)が半
田によって固着され、水平に導出されてその中央部分で
略直角に折曲られている。また両基板(2)(3)上に
形成されている導電路(5)はフレキシブル樹脂層(1
0)上に形成されているので二枚の基板(2)(3)を
股がる様にパターニングされ両基板(2)(3)の接続
が所定の位置でしかも任意に行えることができる。
不揮発性メモリー(6)としてE F ROM (Er
as−able Programable Read
0nly liemory)が用いられる(以下不揮発
性メモリー(6)をEFROMという)。このEFRO
M(6)は周知の如く、EFROM (6)のベレット
に形成されているフローティングゲートに蓄積されてい
る電子(プログラム・データ)を光を照射して励起させ
て未記憶状態のベレットに戻し再書込みして利用できる
素子である。
as−able Programable Read
0nly liemory)が用いられる(以下不揮発
性メモリー(6)をEFROMという)。このEFRO
M(6)は周知の如く、EFROM (6)のベレット
に形成されているフローティングゲートに蓄積されてい
る電子(プログラム・データ)を光を照射して励起させ
て未記憶状態のベレットに戻し再書込みして利用できる
素子である。
一般的なEPROM(6)の構造は第5図および第6図
に示す様に5IP(シングル・イン・ライン)型であり
、大別すると樹脂モールド型パッケージタイプとセラミ
ックス型パッケージタイプとがある。樹脂モールド型あ
るいはセラミックス型のいずれのタイプにおいてもベレ
ット(14)のメモリ−を消去するために光を照射する
必要があるため、樹脂モールドの側面でペレット(14
)の上面にあたる部分はエネルギーの高い光(紫外線)
を透過する透過部材(15)が配置されている。本実施
例ではSIP型のEPROM(6)であれば樹脂モール
ド型あるいはセラミックス型のどちらのタイプのパッケ
ージを用いてもよい。この様なEFROM装置は特開昭
53−74358号公報および特開昭62−29016
0号公報に開示されている。
に示す様に5IP(シングル・イン・ライン)型であり
、大別すると樹脂モールド型パッケージタイプとセラミ
ックス型パッケージタイプとがある。樹脂モールド型あ
るいはセラミックス型のいずれのタイプにおいてもベレ
ット(14)のメモリ−を消去するために光を照射する
必要があるため、樹脂モールドの側面でペレット(14
)の上面にあたる部分はエネルギーの高い光(紫外線)
を透過する透過部材(15)が配置されている。本実施
例ではSIP型のEPROM(6)であれば樹脂モール
ド型あるいはセラミックス型のどちらのタイプのパッケ
ージを用いてもよい。この様なEFROM装置は特開昭
53−74358号公報および特開昭62−29016
0号公報に開示されている。
一方、本発明では二枚の基板(2)(3)の一方の基板
(2)の周端辺の所定位置にくぼみ(4)が設けられて
いる。この両基板(2)(3)は後述するケース材(9
)によって所定間隔離間固着きれる。このとき、一方の
基板(2)の周端辺に設けたくぼみ(4)で露出する他
方の基板(3)上にはSIP型EFROM(6)を搭載
するソケット(16)を接続される複数の導電路(5)
が延在されている。このくぼみ(4)はSIP型EFR
OM(6)の外形と実質的に同形状であり、SIP型E
F ROM(6)の挿脱を容易にするためにEFRO
M(6)より若干大きめに形成されている。
(2)の周端辺の所定位置にくぼみ(4)が設けられて
いる。この両基板(2)(3)は後述するケース材(9
)によって所定間隔離間固着きれる。このとき、一方の
基板(2)の周端辺に設けたくぼみ(4)で露出する他
方の基板(3)上にはSIP型EFROM(6)を搭載
するソケット(16)を接続される複数の導電路(5)
が延在されている。このくぼみ(4)はSIP型EFR
OM(6)の外形と実質的に同形状であり、SIP型E
F ROM(6)の挿脱を容易にするためにEFRO
M(6)より若干大きめに形成されている。
EPROM(6)のプログラム・データを選択して供給
されるマイクロコンピュータ(7)およびその周辺の回
路素子(8)のIC、トランジスタ、チップ抵抗および
チップコンデンサー等はチップ部品で所望の導電路(5
)上に半田付けあるいはAgペースト等のろう材によっ
て付着され、マイクロコンピュータ(7)および回路素
子(8)は近傍の導電路(5)にボンディング接続され
ている。更に導電路(5)間にはスクリーン印刷による
カーボン抵抗体あるいはニッケルメッキによるニッケル
メッキ抵抗体が抵抗素子として形成されている。
されるマイクロコンピュータ(7)およびその周辺の回
路素子(8)のIC、トランジスタ、チップ抵抗および
チップコンデンサー等はチップ部品で所望の導電路(5
)上に半田付けあるいはAgペースト等のろう材によっ
て付着され、マイクロコンピュータ(7)および回路素
子(8)は近傍の導電路(5)にボンディング接続され
ている。更に導電路(5)間にはスクリーン印刷による
カーボン抵抗体あるいはニッケルメッキによるニッケル
メッキ抵抗体が抵抗素子として形成されている。
更に詳述するとSIP型EFROM(6)が搭載される
ソケット(16)とマイクロコンピュータ〈7〉はくぼ
み(4)が設けられていない一方の基板(3)上の導電
路(5)と接続され、その他の全ての回路素子(8)は
一方及び他方の基板(2)(3)の所定位置の導電路(
5)上に付着されている。
ソケット(16)とマイクロコンピュータ〈7〉はくぼ
み(4)が設けられていない一方の基板(3)上の導電
路(5)と接続され、その他の全ての回路素子(8)は
一方及び他方の基板(2)(3)の所定位置の導電路(
5)上に付着されている。
ケース材(9)は絶縁部材の熱可堕性樹脂から形成され
、第3図に示す如く、二枚の基板(2)(3)を所定間
隔離間して封止空間を形成するために枠状に形成されて
いる。ケース材(9)には一方の基板(2)の周端辺に
設けたくぼみ(4)の周囲とそのくぼみ(4〉によって
露出された他の基板(3)表面の周囲と当接諮れる一定
の厚みを有した枠体(18)が設けられている。この枠
体(18)は基板(2)に設けたくぼみ(4)にそって
くぼませて形成されている。また、ケース材(9)の−
側辺は両基板(2)(3)を配置したときにフィルム樹
脂層(10)が容易に折曲される様に円弧状に形成され
ている。
、第3図に示す如く、二枚の基板(2)(3)を所定間
隔離間して封止空間を形成するために枠状に形成されて
いる。ケース材(9)には一方の基板(2)の周端辺に
設けたくぼみ(4)の周囲とそのくぼみ(4〉によって
露出された他の基板(3)表面の周囲と当接諮れる一定
の厚みを有した枠体(18)が設けられている。この枠
体(18)は基板(2)に設けたくぼみ(4)にそって
くぼませて形成されている。また、ケース材(9)の−
側辺は両基板(2)(3)を配置したときにフィルム樹
脂層(10)が容易に折曲される様に円弧状に形成され
ている。
ケース材(9)と二枚の基板(2)(3)との固着は接
着シートによって行われ、フィルム樹脂層(1o)によ
って連結きれた両基板(2)(3)でケース材(9)を
挾む様に且つ搭載された回路素子を対向きせる様にして
固着される。このとき、両基板(2バ3)を連結するフ
ィルム樹脂層(10)は上述したケース材〈9〉に設け
られた円弧状部と当接されて折曲げされるため折曲げ部
分に延在された導電路(5)が折曲時に切断する恐れは
ない、ケース材(9)と両基板(2)(3)とを一体化
したのち、連結部の樹脂層(10)が露出されるため、
本実施例では蓋体(2o)で露出した連結部分を完全に
封止するものとする。
着シートによって行われ、フィルム樹脂層(1o)によ
って連結きれた両基板(2)(3)でケース材(9)を
挾む様に且つ搭載された回路素子を対向きせる様にして
固着される。このとき、両基板(2バ3)を連結するフ
ィルム樹脂層(10)は上述したケース材〈9〉に設け
られた円弧状部と当接されて折曲げされるため折曲げ部
分に延在された導電路(5)が折曲時に切断する恐れは
ない、ケース材(9)と両基板(2)(3)とを一体化
したのち、連結部の樹脂層(10)が露出されるため、
本実施例では蓋体(2o)で露出した連結部分を完全に
封止するものとする。
尚、蓋体(20)はケース材(9〉と同一材料で形成さ
れ、その接着は上述した接着シート等の所定の手段によ
って行われている。
れ、その接着は上述した接着シート等の所定の手段によ
って行われている。
一方の基板(2)の周端辺に設けたくぼみ(4)で露出
した他方の基板(3)上にはソケット(16)の電極と
固着接続される複数の導電路(5)の一端が形成され、
その導電路(5)の先端部にSIP型EPROM(6)
を挿入するソケット(16)が固着される。
した他方の基板(3)上にはソケット(16)の電極と
固着接続される複数の導電路(5)の一端が形成され、
その導電路(5)の先端部にSIP型EPROM(6)
を挿入するソケット(16)が固着される。
ソケット(16)が固着された導電路(5)の他端はマ
イクロコンピュータ(7)の近傍に効率よく引回しされ
チップ状のマイクロコンピュータ(7)とボンディング
ワイヤで電気に接続される。
イクロコンピュータ(7)の近傍に効率よく引回しされ
チップ状のマイクロコンピュータ(7)とボンディング
ワイヤで電気に接続される。
ここでSIP型EFROM(6)とマイクロコンピュー
タ(7)との位置関係について述べる。第7図はSIP
型EFROM(6)とマイクロコンピュータ(7)とを
一方の基板(3)上に配置したときの要部拡大図であり
、E F ROM(6)とチップ状のマイクロコンピュ
ータ(7)とは第7図に示す如く、多数本の導電路(5
)を介して接続きれるため、その導電路(5)の引回し
を短くするためにEFROM(6)とマイクロコンピュ
ータ(7)は夫々、隣接する位置かあるいはできるだけ
近傍に位置する様に配置される。従ってSIP型EFR
OM(6)とマイクロコンピュータ(7)との導電路(
5)の引回しは最短距離で形成でき基板上の実装面積を
有効に使用することができる。SIP型EFROM(6
)とその近傍あるいは隣接した位置に配置されたチップ
状ノマイクロコンピュータ(7)は第7図の如く、マイ
クロコンピュータ(7)の近傍に延在された導電路(5
)の先端部とワイヤ線によってボンディング接続されS
IP型EPROM(6)と電気的に接続される。
タ(7)との位置関係について述べる。第7図はSIP
型EFROM(6)とマイクロコンピュータ(7)とを
一方の基板(3)上に配置したときの要部拡大図であり
、E F ROM(6)とチップ状のマイクロコンピュ
ータ(7)とは第7図に示す如く、多数本の導電路(5
)を介して接続きれるため、その導電路(5)の引回し
を短くするためにEFROM(6)とマイクロコンピュ
ータ(7)は夫々、隣接する位置かあるいはできるだけ
近傍に位置する様に配置される。従ってSIP型EFR
OM(6)とマイクロコンピュータ(7)との導電路(
5)の引回しは最短距離で形成でき基板上の実装面積を
有効に使用することができる。SIP型EFROM(6
)とその近傍あるいは隣接した位置に配置されたチップ
状ノマイクロコンピュータ(7)は第7図の如く、マイ
クロコンピュータ(7)の近傍に延在された導電路(5
)の先端部とワイヤ線によってボンディング接続されS
IP型EPROM(6)と電気的に接続される。
ところで、SIP型EFROM(6)はソケット(16
)に挿入されて一方の基板(3)上に搭載されることに
なり、SIP型EFROM(6)の上面のみが外部に露
出することになる。このとき、SIP型EPROM(6
)の上面と他方の基板(2)の上面とは略一致した状態
であることが好ましい。この結果、SIP型EFROM
(6)だけが露出し、他のマイクロコンピュータ(7)
およびその周辺の回路素子(8)は二枚の基板(2)(
3)とケース材(9)とで形成され封止空間(21)内
に配置されることになる。
)に挿入されて一方の基板(3)上に搭載されることに
なり、SIP型EFROM(6)の上面のみが外部に露
出することになる。このとき、SIP型EPROM(6
)の上面と他方の基板(2)の上面とは略一致した状態
であることが好ましい。この結果、SIP型EFROM
(6)だけが露出し、他のマイクロコンピュータ(7)
およびその周辺の回路素子(8)は二枚の基板(2)(
3)とケース材(9)とで形成され封止空間(21)内
に配置されることになる。
上述の如く、SIP型EPROM(6)と接続される?
イクロコンピュータ(7)およびその周辺の回路素子(
8)は二枚の基板(2)(3)とケース材(9)で形成
された封止空間部り21)にある二枚の基板(2)(3
)上に配置する様に設定されている。即ち、チップ状の
電子部品および印刷抵抗、メッキ抵抗等の抵抗素子の全
ての素子が封止空間部(14)内に設けられている。ま
たSIP型EFROM(6)の側面に設けた透過部材(
15)はくぼみ(4)のケース材(9〉の枠体(18)
とほぼ当接するので、くぼみ(4)にSIP型EPRO
M(6)を挿入するだけで遮光できる。
イクロコンピュータ(7)およびその周辺の回路素子(
8)は二枚の基板(2)(3)とケース材(9)で形成
された封止空間部り21)にある二枚の基板(2)(3
)上に配置する様に設定されている。即ち、チップ状の
電子部品および印刷抵抗、メッキ抵抗等の抵抗素子の全
ての素子が封止空間部(14)内に設けられている。ま
たSIP型EFROM(6)の側面に設けた透過部材(
15)はくぼみ(4)のケース材(9〉の枠体(18)
とほぼ当接するので、くぼみ(4)にSIP型EPRO
M(6)を挿入するだけで遮光できる。
本実施例でEPROM(6)のデータ消去を行う場合は
シール材(22)を剥して紫外線を照射するかあるいは
ソケット(16)からEFROM<6)を離脱して紫外
線を照射するケースがある。また、再書込みの場合はE
FROM(6)をソケットから離脱して一般的なROM
ライターを使用して電気的に書込みを行い、書込み後、
ソケッ)(16)に挿入すればよい。
シール材(22)を剥して紫外線を照射するかあるいは
ソケット(16)からEFROM<6)を離脱して紫外
線を照射するケースがある。また、再書込みの場合はE
FROM(6)をソケットから離脱して一般的なROM
ライターを使用して電気的に書込みを行い、書込み後、
ソケッ)(16)に挿入すればよい。
以下に本発明を用いたモデム用の混成集積回路装置の具
体例を示す。
体例を示す。
先ず、モデt、 (M OD E M )とはパーソナ
ルコンピュータなどのデータ端末が扱うデジタル化され
たデータを電話回線を使って、お互に離れたところでデ
ータ送受を行うデータ通信のためにモデムが存在する。
ルコンピュータなどのデータ端末が扱うデジタル化され
たデータを電話回線を使って、お互に離れたところでデ
ータ送受を行うデータ通信のためにモデムが存在する。
モデムの機能はデジタル化されたデータを電話回線で使
用できる周波数を使って、データによる変調を行いアナ
ログ信号にして電話回線に乗せることと、相手方から送
られて来たデータで変調されるアナログ信号を復調して
デジタル化したデータに戻す機能を持つ。
用できる周波数を使って、データによる変調を行いアナ
ログ信号にして電話回線に乗せることと、相手方から送
られて来たデータで変調されるアナログ信号を復調して
デジタル化したデータに戻す機能を持つ。
第8図に示したブロック図に基づいてモデムを簡単に説
明する。
明する。
第8図は集積回路基板(2)上にモデムを搭載したとき
のブロック図である。
のブロック図である。
モデムはパソコンより送信されたデータを内蔵するメモ
リー内に蓄積してそのデータを出力するDTEインター
フェース(31)と、DTEインターフェース(31)
より出力されたデータに基づいて所定の出力信号を出力
するマイクロコンピュータ(7)と、マイクロコンピュ
ータ(7)からアドレスされるデータを内蔵したEFR
OM(6)と、マイクロコンピュータ(7)からの出力
信号を変復調しNCU(NETWORK C0NTR
0L UNIT)に出力する第1および第2の変復調
回路(32)(33)と、マイクロコンピュータ(7)
からの出力信号に応じて所望のDTMF信号(トーン信
号)を発生するDTMF発生器(34)とをから構成さ
れている。
リー内に蓄積してそのデータを出力するDTEインター
フェース(31)と、DTEインターフェース(31)
より出力されたデータに基づいて所定の出力信号を出力
するマイクロコンピュータ(7)と、マイクロコンピュ
ータ(7)からアドレスされるデータを内蔵したEFR
OM(6)と、マイクロコンピュータ(7)からの出力
信号を変復調しNCU(NETWORK C0NTR
0L UNIT)に出力する第1および第2の変復調
回路(32)(33)と、マイクロコンピュータ(7)
からの出力信号に応じて所望のDTMF信号(トーン信
号)を発生するDTMF発生器(34)とをから構成さ
れている。
DTEインターフェース(31)は例えば5TC961
0(セイフーエブソン)等のICより成り、第9図の如
く、パソコンの出力信号を供給し、その出力信号を内蔵
メモリー内に蓄積してマイクロコンピュータ(7)へ出
力する送信メモリ一部(35)と、マイクロコンピュー
タ(7)からの出力信号が供給される信号を内蔵メモリ
ー内に蓄積してパソコン(38)へ出力する受信メモリ
一部(36)と、送信メモリ一部(35)および受信メ
モリ一部(36)を介して入出力される夫々の信号を切
替える制御部(37)とからなり、パソコン(38)と
マイクロコンピュータ(7)とを接続するための所定の
機能を有するものである。
0(セイフーエブソン)等のICより成り、第9図の如
く、パソコンの出力信号を供給し、その出力信号を内蔵
メモリー内に蓄積してマイクロコンピュータ(7)へ出
力する送信メモリ一部(35)と、マイクロコンピュー
タ(7)からの出力信号が供給される信号を内蔵メモリ
ー内に蓄積してパソコン(38)へ出力する受信メモリ
一部(36)と、送信メモリ一部(35)および受信メ
モリ一部(36)を介して入出力される夫々の信号を切
替える制御部(37)とからなり、パソコン(38)と
マイクロコンピュータ(7)とを接続するための所定の
機能を有するものである。
マイクロコンピュータ(7)は例えば5TC9620(
セイコーエプソン)等のICより成り、第10図の如く
、DTEインターフェース(31)から出力きれる出力
信号を認識するコマンド認識部と、コマンド認識部によ
って認識された出力信号を解読するコマンド解読部と、
コマンド解読部で解読された信号に基づいてメモリ一部
のデータと比較し変復調回路へデータを供給するコマン
ド実行部と、コマンド解読部のデータとメモリ一部内の
データとの比較結果、誤ったデータがコマンド実行部に
供給された際にDTEインターフェース(31)に出力
信号を出力する応答コード生成部とからなる。
セイコーエプソン)等のICより成り、第10図の如く
、DTEインターフェース(31)から出力きれる出力
信号を認識するコマンド認識部と、コマンド認識部によ
って認識された出力信号を解読するコマンド解読部と、
コマンド解読部で解読された信号に基づいてメモリ一部
のデータと比較し変復調回路へデータを供給するコマン
ド実行部と、コマンド解読部のデータとメモリ一部内の
データとの比較結果、誤ったデータがコマンド実行部に
供給された際にDTEインターフェース(31)に出力
信号を出力する応答コード生成部とからなる。
変復調回路(38)はマイクロコンピュータ(7)から
送信されるデジタル信号をアナログ信号に変換してNC
U部に送信する。また反対にNCU部から送信されたア
ナログ信号をデジタル信号に変換してマイクロコンピュ
ータ〈7)へ送信するものであり、低速および中速夫々
のタイプの回路を備えている。第1の変復調回路(32
)は300bpsの低速変復調回路であり、第2の変復
調回路(33)は1200bpsの中速変復調回路であ
る。夫々の第1および第2の変復調回路(32)(33
)はマイクロコンピュータ(7)により、いずれか一方
の変復調回路が選択される。
送信されるデジタル信号をアナログ信号に変換してNC
U部に送信する。また反対にNCU部から送信されたア
ナログ信号をデジタル信号に変換してマイクロコンピュ
ータ〈7)へ送信するものであり、低速および中速夫々
のタイプの回路を備えている。第1の変復調回路(32
)は300bpsの低速変復調回路であり、第2の変復
調回路(33)は1200bpsの中速変復調回路であ
る。夫々の第1および第2の変復調回路(32)(33
)はマイクロコンピュータ(7)により、いずれか一方
の変復調回路が選択される。
DTMF発生器(34)はマイクロコンピュータ(7)
のコマンド実行部より出力されたデータをCOL、RO
W夫々の入力端子に入力することで所定のDTMF信号
を発生し送信AMP(39)に出力して電話回線へ信号
を供給する。
のコマンド実行部より出力されたデータをCOL、RO
W夫々の入力端子に入力することで所定のDTMF信号
を発生し送信AMP(39)に出力して電話回線へ信号
を供給する。
EFROM(6)内にはモデムの各種のモードを設定す
るためのプログラムデータがメモリーきれており、マイ
クロコンピュータ(7)のアドレスに基づいてマイクロ
コンピュータ(7)に供給される。
るためのプログラムデータがメモリーきれており、マイ
クロコンピュータ(7)のアドレスに基づいてマイクロ
コンピュータ(7)に供給される。
次にモデムの動作について簡単に説明する。
先ず、パソコン通信を開始するに当り、マイクロコンピ
ュータ(38)からの読出し信号に基づいて制御スイッ
チ(40)が動作し、所定のアドレスデータがEPRO
M(7)に供給され、そのアドレスに基づいたEFRO
M(6)のプログラム・データがマイクロコンピュータ
(7)に供給され、通信を行う夫々のモデムの通信規格
(BELL/CCITT規格)、通信速度(300/1
200bpS)、データファーマットの一致、デツプス
イッチモードの切替等の各種のモードが一致しているか
が確認される。
ュータ(38)からの読出し信号に基づいて制御スイッ
チ(40)が動作し、所定のアドレスデータがEPRO
M(7)に供給され、そのアドレスに基づいたEFRO
M(6)のプログラム・データがマイクロコンピュータ
(7)に供給され、通信を行う夫々のモデムの通信規格
(BELL/CCITT規格)、通信速度(300/1
200bpS)、データファーマットの一致、デツプス
イッチモードの切替等の各種のモードが一致しているか
が確認される。
各種のモードが一致しているとすると、パソコンに応答
側のモデムの電話番号をキー人力する。
側のモデムの電話番号をキー人力する。
その電話番号はパソコンとのインターフェース用のDT
Eインターフェース(31)に入力され、電話番号を解
読する為にマイクロコンピュータ(7)に転送される。
Eインターフェース(31)に入力され、電話番号を解
読する為にマイクロコンピュータ(7)に転送される。
その解読した結果をDTMF発生器(34)に送信し、
DTMF発生器〈34)からDTMF信号が発信されそ
の信号は送信AMP(39)、ライントランス(41)
を介して一般電話回線へ転送きれる。
DTMF発生器〈34)からDTMF信号が発信されそ
の信号は送信AMP(39)、ライントランス(41)
を介して一般電話回線へ転送きれる。
転送されたDTMF信号は応答側のモデムに対して呼出
し信号を送出し、応答側のモデムは呼出し信号を受信し
て自動着信する。すると応答側のモデムは接続手順の為
のアンサ−トーン起呼側のモデムに対して送出する。
し信号を送出し、応答側のモデムは呼出し信号を受信し
て自動着信する。すると応答側のモデムは接続手順の為
のアンサ−トーン起呼側のモデムに対して送出する。
起呼側のモデムではライントランス(41)、受信アン
プ(42)を通り低速変復調回路(32)でそのアンサ
−トーンが起呼側のモデムに対して所定のアンサ−トー
ンであるか否かを検出する。所定のアンサ−トーンであ
れば通信状態に入る。
プ(42)を通り低速変復調回路(32)でそのアンサ
−トーンが起呼側のモデムに対して所定のアンサ−トー
ンであるか否かを検出する。所定のアンサ−トーンであ
れば通信状態に入る。
通信状態となると、起呼側のパソコンのキーボードから
の所定のキー人力信号に基づいてパソコンからのパラレ
ルデータをDTEインターフェース(31)に入力し、
そのデータをマイクロコンピュータ(7〉に転送する。
の所定のキー人力信号に基づいてパソコンからのパラレ
ルデータをDTEインターフェース(31)に入力し、
そのデータをマイクロコンピュータ(7〉に転送する。
ここでパラレルデー夕をシリアルデータに変換する。シ
リアルデータに変換されたデジタル信号は低速変復調回
路(32)に送信される。ここでデジタル信号はアナロ
グ信号に変換され、それに対応した通信規格に基づいて
周波数変調FSXされ、送信AMP(39)、ライント
ランス(41)を介して応答側のモデl、に送信きれる
。
リアルデータに変換されたデジタル信号は低速変復調回
路(32)に送信される。ここでデジタル信号はアナロ
グ信号に変換され、それに対応した通信規格に基づいて
周波数変調FSXされ、送信AMP(39)、ライント
ランス(41)を介して応答側のモデl、に送信きれる
。
一方、応答側のパソコンのキー人力信号によって送出し
た周波数変調のアナログ信号は起呼側のモデムに送出さ
れ、ライントランス(41)、受信AMP(42)を介
して低速変復調回路(32)に入力される。ここでアナ
ログ信号はデジタル信号に変換されDTEインターフェ
ース(31)に入力啓れ、シリアルデジタル信号からパ
ラレルデジタル信号に変換されて起呼側のパソコンに入
力される。その結果起呼側ヘバソフンと応答側のパソコ
ンは全二重通信ができる様になりパソコン通信が実現す
る。
た周波数変調のアナログ信号は起呼側のモデムに送出さ
れ、ライントランス(41)、受信AMP(42)を介
して低速変復調回路(32)に入力される。ここでアナ
ログ信号はデジタル信号に変換されDTEインターフェ
ース(31)に入力啓れ、シリアルデジタル信号からパ
ラレルデジタル信号に変換されて起呼側のパソコンに入
力される。その結果起呼側ヘバソフンと応答側のパソコ
ンは全二重通信ができる様になりパソコン通信が実現す
る。
第11図は第8図で示したモデム回路を本実施例で用い
た一方の基板(3)上に実装した場合の平面図であり、
実装される回路素子の図番号は同一番号とする。EPR
OM(6)とマイクロコンピュータ(7)との接続はパ
スラインで示す、尚、複数の回路素子を接続する導電路
は煩雑のため省略する。
た一方の基板(3)上に実装した場合の平面図であり、
実装される回路素子の図番号は同一番号とする。EPR
OM(6)とマイクロコンピュータ(7)との接続はパ
スラインで示す、尚、複数の回路素子を接続する導電路
は煩雑のため省略する。
第11図に示す如く、一方の基板(3)の対向する周端
部には外部リード端子(13)が固着される複数の固着
用パッド(5a)が設けられている。固着パッド(5a
)から延在される導電路(5)上所定位置には複数の回
路素子(8)およびEFROM(6)を搭載するソケッ
ト(16)が固着される。斯る基板〈3)上にはEFR
OM(6)以外のマイクロコンピュータ(7)を含む複
数の回路素子(8)が固着されており、(31)はDT
Eインターフェース、(32)(33)は第1および第
2の変復調回路、〈34)はDTMF発生回路、(40
)はE F ROM(6)を制御する制御スイッチ、(
7)はマイクロコンピュータ、(8)はコンデンサー等
のチップ部品である。なお一方の基板(2)にはポリイ
ミド等のフィルム樹脂層(10)を介して他方の基板(
3)より複数の導電路(5)が延在されてお゛す、一方
の基板(2)上にはオプション用回路あるいはモデムに
必要な一部の回路が配置される。
部には外部リード端子(13)が固着される複数の固着
用パッド(5a)が設けられている。固着パッド(5a
)から延在される導電路(5)上所定位置には複数の回
路素子(8)およびEFROM(6)を搭載するソケッ
ト(16)が固着される。斯る基板〈3)上にはEFR
OM(6)以外のマイクロコンピュータ(7)を含む複
数の回路素子(8)が固着されており、(31)はDT
Eインターフェース、(32)(33)は第1および第
2の変復調回路、〈34)はDTMF発生回路、(40
)はE F ROM(6)を制御する制御スイッチ、(
7)はマイクロコンピュータ、(8)はコンデンサー等
のチップ部品である。なお一方の基板(2)にはポリイ
ミド等のフィルム樹脂層(10)を介して他方の基板(
3)より複数の導電路(5)が延在されてお゛す、一方
の基板(2)上にはオプション用回路あるいはモデムに
必要な一部の回路が配置される。
第11図に示す如く、マイクロコンピュータ(7)の近
傍あるいは隣接する位置にEFROM(6)が搭載され
るソケット(16)が固着される。マイクロコンピュー
タ(7)の近傍あるいは隣接する位置にソケット(16
)を固着することで、マイクロコンピュータ(7〉とE
FROM(6)とのパスライン、即ち導電路(5)の引
回し線の距離を最短でしかも最小の距離で引回すことが
でき、他の実装パターンを有効に使用できると共に高密
度実装が行える。
傍あるいは隣接する位置にEFROM(6)が搭載され
るソケット(16)が固着される。マイクロコンピュー
タ(7)の近傍あるいは隣接する位置にソケット(16
)を固着することで、マイクロコンピュータ(7〉とE
FROM(6)とのパスライン、即ち導電路(5)の引
回し線の距離を最短でしかも最小の距離で引回すことが
でき、他の実装パターンを有効に使用できると共に高密
度実装が行える。
尚、一点鎖線で囲まれた領域は接着シートでケース材(
9)が固着される領域を示す。
9)が固着される領域を示す。
第12図は第11図で示した他方の基板(3)上にケー
ス材(9)を介して一方の基板(2)を固着したときの
モデム用の混成集積回路装置の完成品の平面図であり、
一方の基板(2)の上面からはSIP型EFROM(6
)の上面のみが露出された状態となる。即ち、EFRO
M(6)以外の他の素子は全てケース材(9)と二枚の
基板(2)(3)とで形成された封止空間(21)内に
封止され且つSIP型EFROM(6)の上面のみがく
ぼみ(4)によって露出されるのでSIP型E F R
OM(6)の挿脱が必要に応じて自由自在に行うことが
できる。
ス材(9)を介して一方の基板(2)を固着したときの
モデム用の混成集積回路装置の完成品の平面図であり、
一方の基板(2)の上面からはSIP型EFROM(6
)の上面のみが露出された状態となる。即ち、EFRO
M(6)以外の他の素子は全てケース材(9)と二枚の
基板(2)(3)とで形成された封止空間(21)内に
封止され且つSIP型EFROM(6)の上面のみがく
ぼみ(4)によって露出されるのでSIP型E F R
OM(6)の挿脱が必要に応じて自由自在に行うことが
できる。
以上したモデム用の混成集積回路装置のEFROM (
6)には製品仕様の多様化に備え、□仕向地、OEM、
自社販売等セットメーカ(ユーザ)が要望する仕様変更
に対して容易に対応することができる。即ち、EFRO
M(6)以外の回路構成はあらかじめ各種の仕様変更に
対応する様に設計されていたが、特定のユーザの仕様に
基づいて混成集積回路を設計すると、他のユーザ仕様と
一致しないことがあった場合、従来では混成集積回路自
体の設計を見なおす必要があった。
6)には製品仕様の多様化に備え、□仕向地、OEM、
自社販売等セットメーカ(ユーザ)が要望する仕様変更
に対して容易に対応することができる。即ち、EFRO
M(6)以外の回路構成はあらかじめ各種の仕様変更に
対応する様に設計されていたが、特定のユーザの仕様に
基づいて混成集積回路を設計すると、他のユーザ仕様と
一致しないことがあった場合、従来では混成集積回路自
体の設計を見なおす必要があった。
しかし本発明の混成集積回路装置ではEFROM(6)
がソケット(9)を介して他方の基板(3)上に搭載さ
れ且つその表面が一方の基板(2)の周端辺に設けられ
たくぼみ(4)から露出された状態であるため、SIP
型EFROM(6)の離脱が行えるのでユーザ側でSI
P型EFROMを選択して実装するだけで1つの混成集
積回路装置で多機種の混成集積回路装置の実現が行える
。
がソケット(9)を介して他方の基板(3)上に搭載さ
れ且つその表面が一方の基板(2)の周端辺に設けられ
たくぼみ(4)から露出された状態であるため、SIP
型EFROM(6)の離脱が行えるのでユーザ側でSI
P型EFROMを選択して実装するだけで1つの混成集
積回路装置で多機種の混成集積回路装置の実現が行える
。
斯る本発明に依れば、一方の基板(2)の周端辺の所望
位置にくぼみ(4)を設け、そのくぼみ(4)で露出し
た他方の基板(3)上の導電路(5〉にソケット(16
)を介してSIP型EPROM(6)を接続し、両基板
(2バ3)とケース材(9)とで形成された封止空間(
21)にマイクロコンピュータ(7)および他の回路素
子(8)を固着することにより、混成集積回路とSIP
型EFROMとの一体化した装置ができ且つ必要性に応
じて容易にSIP型EFROMの挿脱が行える大きな特
徴を有する。
位置にくぼみ(4)を設け、そのくぼみ(4)で露出し
た他方の基板(3)上の導電路(5〉にソケット(16
)を介してSIP型EPROM(6)を接続し、両基板
(2バ3)とケース材(9)とで形成された封止空間(
21)にマイクロコンピュータ(7)および他の回路素
子(8)を固着することにより、混成集積回路とSIP
型EFROMとの一体化した装置ができ且つ必要性に応
じて容易にSIP型EFROMの挿脱が行える大きな特
徴を有する。
(ト)発明の効果
以上に詳述した如く、本発明に依れば、第1に一方の基
板(2)の周端部所望位置にくぼみ(4)を設け、その
くぼみ(4)で露出した他方の基板(3)上の導電路(
5)にSIP型EFROM(6)を接続しているので、
EPROM(6)の載置位置を基板(2)(3)の周辺
の任意に選定できる利点を有する。このため内蔵するマ
イクロコンピュータ(7)との電気的接続を考慮して、
効率良<SIP型EFROM(6)とマイクロコンピュ
ータ(7)とを接続でき信号線の引回しを不要にできる
。更に詳述すると、SIP型EPROM(6)の隣接す
る位置に最も関連の深いマイクロコンピュータ(7〉を
配置でき、その結果SIP型EFROM(6)とマイク
ロコンピュータ(7)間のデータのやりとりを行うデー
タ線を最短距離あるいは最も設計容易なレイアウトで実
現でき、データ線の引回しによる実装密度のロスを最小
限に抑制できる。更に二枚の基板(2)(3)より形成
されているため高密度で且つ小型化の混成集積回路装置
を提供することができる。
板(2)の周端部所望位置にくぼみ(4)を設け、その
くぼみ(4)で露出した他方の基板(3)上の導電路(
5)にSIP型EFROM(6)を接続しているので、
EPROM(6)の載置位置を基板(2)(3)の周辺
の任意に選定できる利点を有する。このため内蔵するマ
イクロコンピュータ(7)との電気的接続を考慮して、
効率良<SIP型EFROM(6)とマイクロコンピュ
ータ(7)とを接続でき信号線の引回しを不要にできる
。更に詳述すると、SIP型EPROM(6)の隣接す
る位置に最も関連の深いマイクロコンピュータ(7〉を
配置でき、その結果SIP型EFROM(6)とマイク
ロコンピュータ(7)間のデータのやりとりを行うデー
タ線を最短距離あるいは最も設計容易なレイアウトで実
現でき、データ線の引回しによる実装密度のロスを最小
限に抑制できる。更に二枚の基板(2)(3)より形成
されているため高密度で且つ小型化の混成集積回路装置
を提供することができる。
第2に一方の基板(2)の周端辺所望位置のくぼみ(4
)にSIP型EPROM(6)を配置しているので、一
体化した小型の混成集積回路装置として取り扱える利点
を有する。更に二枚の集積回路基板(2) (3)上の
組込むマイクロコンピュータおよびその周辺回路素子の
実装密度を向上することにより、従来必要とされたプリ
ント基板を廃止でき、1つの小型化きれたSIP型EF
ROM(6)を着脱自在に内蔵する混成集積回路装置を
実現できる。
)にSIP型EPROM(6)を配置しているので、一
体化した小型の混成集積回路装置として取り扱える利点
を有する。更に二枚の集積回路基板(2) (3)上の
組込むマイクロコンピュータおよびその周辺回路素子の
実装密度を向上することにより、従来必要とされたプリ
ント基板を廃止でき、1つの小型化きれたSIP型EF
ROM(6)を着脱自在に内蔵する混成集積回路装置を
実現できる。
第3に集積回路基板(2)(3)として金属基板を用い
ることにより、その放熱効果をプリント基板に比べて大
幅に向上でき、より実装密度の向上に寄与できる。また
導電路(5)として銅箔(11)を用いることにより、
導電路(3)の抵抗値を導電ペーストより大幅に低減で
き、実装される回路をプリント基板と同等以上に拡張で
きる。
ることにより、その放熱効果をプリント基板に比べて大
幅に向上でき、より実装密度の向上に寄与できる。また
導電路(5)として銅箔(11)を用いることにより、
導電路(3)の抵抗値を導電ペーストより大幅に低減で
き、実装される回路をプリント基板と同等以上に拡張で
きる。
第4にEPROM(6)としてシングルインライン型を
用いることができるので、混成集積回路装置へのEPR
OM(6)の実装が極めて容易に実現できる利点を有す
る。更にくぼみ(4)とSIP型EFROM(6)の外
形を同形状にすることによりケース材(9)の枠体(1
8)内にぴったり埋設でき、極めてすっきりした形状の
EFROM内蔵型の混成集積回路装置を実現できる。
用いることができるので、混成集積回路装置へのEPR
OM(6)の実装が極めて容易に実現できる利点を有す
る。更にくぼみ(4)とSIP型EFROM(6)の外
形を同形状にすることによりケース材(9)の枠体(1
8)内にぴったり埋設でき、極めてすっきりした形状の
EFROM内蔵型の混成集積回路装置を実現できる。
第5にSIP型EFROM(6)と接続されるマイクロ
コンピュータ(7)およびその周辺回路素子(8)はケ
ース材(9)と二枚の集積回路基板(2)(3)とで形
成される封止空間(21)にダイ形状あるいはチップ形
状で組み込まれるので、従来のプリント基板の様に樹脂
モールドしたものに比較して極めて占有面積が小さくな
り、実装密度の大幅に向上できる利点を有する。
コンピュータ(7)およびその周辺回路素子(8)はケ
ース材(9)と二枚の集積回路基板(2)(3)とで形
成される封止空間(21)にダイ形状あるいはチップ形
状で組み込まれるので、従来のプリント基板の様に樹脂
モールドしたものに比較して極めて占有面積が小さくな
り、実装密度の大幅に向上できる利点を有する。
第6にケース材(9)と二枚の集積回路基板(2)(3
)の周端を実質的に一致させることにより、集積回路基
板(2)(3)のほぼ全面を封止空間(21)として利
用でき、実装密度の向上と相まって極めてコンパクトな
混成集積回路装置を実現できる。
)の周端を実質的に一致させることにより、集積回路基
板(2)(3)のほぼ全面を封止空間(21)として利
用でき、実装密度の向上と相まって極めてコンパクトな
混成集積回路装置を実現できる。
第7にくぼみ(4)に対応する一方の集積回路基板(3
)上にソケット(16)を設けることにより、SlP型
EPROM(6)の着脱を自在に行え、EFROM(6
)の交換や消去および再書込みを自由に行える利点を有
する。
)上にソケット(16)を設けることにより、SlP型
EPROM(6)の着脱を自在に行え、EFROM(6
)の交換や消去および再書込みを自由に行える利点を有
する。
第8に一方の基板(2)上面とSIP型EFROM(6
)の上面を一致させることにより、平坦な上面を有する
混成集積回路装置を実現できる利点を有する。更にSI
P型EPROM(6)をくぼみ(4)に挿入するだけで
遮光ができる利点を有する。
)の上面を一致させることにより、平坦な上面を有する
混成集積回路装置を実現できる利点を有する。更にSI
P型EPROM(6)をくぼみ(4)に挿入するだけで
遮光ができる利点を有する。
第9に二枚の集積回路基板(2)(3)の−辺あるいは
相対向する辺から外部リード(12)(13)を導出で
き、極めて多ピンの混成集積回路装置を実現できる利点
を有する。
相対向する辺から外部リード(12)(13)を導出で
き、極めて多ピンの混成集積回路装置を実現できる利点
を有する。
第1図は本実施例を示す斜視図、第2図は第1図のI−
I断面図、第3図は本実施例で用いたケース材を示す斜
視図、第4図は本実施例で用いる基板の断面図、第5図
は本実施例で用いるEFROMの斜視図、第6図は第5
図の断面図、第7図は基板上のEFROM周辺を示す要
部拡大斜視図、第8図は本実施例で用いたモデムを示す
ブロック図、第9図は第8図で示したモデムのDTEイ
ンターフェースを示すブロック図、第10図は第8図で
示したモデムのマイクロコンピュータを示すブロック図
、第11図は第8図で示したブロック図を基板上に実装
したときの平面図、第12図は第11図に示した基板上
にケース材を固着したときの平面図、第13図および第
14図は従来のEPROM実装構造を示す断面図である
。 り1)・・・混成集積回路装置、 (2)(3)・・・
集積回路基板、 (5)・・・導電路、 (6)・・・
SIP型EFROM、 (7)・・・マイクロコンピ
ュータ、 (8)・・・回路素子、 (4)・・・く
ぼみ、 (9)・・・ケース材、 (16)・・・ソケ
ット。
I断面図、第3図は本実施例で用いたケース材を示す斜
視図、第4図は本実施例で用いる基板の断面図、第5図
は本実施例で用いるEFROMの斜視図、第6図は第5
図の断面図、第7図は基板上のEFROM周辺を示す要
部拡大斜視図、第8図は本実施例で用いたモデムを示す
ブロック図、第9図は第8図で示したモデムのDTEイ
ンターフェースを示すブロック図、第10図は第8図で
示したモデムのマイクロコンピュータを示すブロック図
、第11図は第8図で示したブロック図を基板上に実装
したときの平面図、第12図は第11図に示した基板上
にケース材を固着したときの平面図、第13図および第
14図は従来のEPROM実装構造を示す断面図である
。 り1)・・・混成集積回路装置、 (2)(3)・・・
集積回路基板、 (5)・・・導電路、 (6)・・・
SIP型EFROM、 (7)・・・マイクロコンピ
ュータ、 (8)・・・回路素子、 (4)・・・く
ぼみ、 (9)・・・ケース材、 (16)・・・ソケ
ット。
Claims (12)
- (1)二枚の相対向して配置された集積回路基板と、 前記基板の対向する主面に形成された所望パターンを有
する導電路と、 前記導電路に接続されたシングルインライン型樹脂モー
ルドされた不揮発性メモリーと、 前記メモリーからデータを供給され且つ前記基板上の導
電路と接続されたマイクロコンピュータおよびその周辺
回路素子と、 前記基板間に一体化されたケース材とを具備し、 前記一方の基板の周端辺の所望位置にくぼみを設け、前
記くぼみで露出した前記他方の基板上の導電路に前記不
揮発性メモリーを接続し、前記不揮発性メモリーの消去
用窓を前記くぼみ内に収納させて遮光し、前記両基板と
前記ケース材で形成された封止空間に前記マイクロコン
ピュータおよびその周辺回路素子を配置したことを特徴
とする混成集積回路装置。 - (2)前記集積回路基板として表面を絶縁した金属基板
を用いたことを特徴とする請求項1記載の混成集積回路
装置。 - (3)前記両基板の形状を実質的に同一形状とすること
を特徴とする請求項1記載の混成集積回路装置。 - (4)前記導電路として銅箔を用いたことを特徴とする
請求項1記載の混成集積回路装置。 - (5)前記くぼみと不揮発性メモリーの外形を実質的に
同形状とすることを特徴とする請求項1記載の混成集積
回路装置。 - (6)前記マイクロコンピュータは前記導電路上にダイ
形状で組み込まれることを特徴とする請求項1記載の混
成集積回路装置。 - (7)前記周辺回路素子としてチップ抵抗、チップコン
デンサーを用いることを特徴とする請求項1記載の混成
集積回路装置。 - (8)前記ケース材を前記両基板の周端部と前記くぼみ
を除いてほぼ一致させた一定の厚みを有する枠体を有す
ることを特徴とする請求項1記載の混成集積回路装置。 - (9)前記枠体を前記くぼみに従ってくぼませて前記両
基板間に配置させたことを特徴とする請求項8記載の混
成集積回路装置。 - (10)前記他方の基板の前記導電路と接続されたソケ
ットを設け、前記ソケットに前記不揮発性メモリーを挿
入したことを特徴とする請求項1記載の混成集積回路装
置。 - (11)前記不揮発性メモリーの上面と前記他方の基板
の上面とを実質的に一致させたことを特徴とする請求項
10記載の混成集積回路装置。 - (12)前記二枚の集積回路基板はフレキシブルな絶縁
樹脂層で連結されていることを特徴とする請求項1記載
の混成集積回路装置。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1120906A JPH0680776B2 (ja) | 1989-05-15 | 1989-05-15 | 混成集積回路装置 |
| US07/510,467 US5285107A (en) | 1989-04-20 | 1990-04-18 | Hybrid integrated circuit device |
| EP90107414A EP0393657B1 (en) | 1989-04-20 | 1990-04-19 | Hybrid integrated circuit device |
| DE69031141T DE69031141T2 (de) | 1989-04-20 | 1990-04-19 | Integrierte Hybridschaltungsanordnung |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1120906A JPH0680776B2 (ja) | 1989-05-15 | 1989-05-15 | 混成集積回路装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02299257A true JPH02299257A (ja) | 1990-12-11 |
| JPH0680776B2 JPH0680776B2 (ja) | 1994-10-12 |
Family
ID=14797926
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1120906A Expired - Lifetime JPH0680776B2 (ja) | 1989-04-20 | 1989-05-15 | 混成集積回路装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0680776B2 (ja) |
-
1989
- 1989-05-15 JP JP1120906A patent/JPH0680776B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0680776B2 (ja) | 1994-10-12 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPH02298061A (ja) | 混成集積回路装置 | |
| JPH02299257A (ja) | 混成集積回路装置 | |
| JPH02299255A (ja) | 混成集積回路装置 | |
| JPH02298060A (ja) | 混成集積回路装置 | |
| JPH02299252A (ja) | 混成集積回路装置 | |
| JPH02303061A (ja) | 混成集積回路装置 | |
| JPH02303151A (ja) | 混成集積回路装置 | |
| JPH02299253A (ja) | 混成集積回路装置 | |
| JPH02305459A (ja) | 混成集積回路装置 | |
| JPH02298062A (ja) | 混成集積回路装置 | |
| JPH02298063A (ja) | 混成集積回路装置 | |
| JPH02278860A (ja) | 混成集積回路装置 | |
| JPH02278862A (ja) | 混成集積回路装置 | |
| JPH02278861A (ja) | 混成集積回路装置 | |
| JPH02303150A (ja) | 混成集積回路装置 | |
| JPH02298064A (ja) | 混成集積回路装置 | |
| JPH02303060A (ja) | 混成集積回路装置 | |
| JPH02305458A (ja) | 混成集積回路装置 | |
| JPH02299256A (ja) | 混成集積回路装置 | |
| JPH02305457A (ja) | 混成集積回路装置 | |
| JPH02302070A (ja) | 混成集積回路装置 | |
| JPH02303062A (ja) | 混成集積回路装置 | |
| JPH02299254A (ja) | 混成集積回路装置 | |
| JPH02278869A (ja) | 混成集積回路装置 | |
| JPH02278863A (ja) | 混成集積回路装置 |