JPH0245967A - 半導体装置用リードフレームの製造方法 - Google Patents

半導体装置用リードフレームの製造方法

Info

Publication number
JPH0245967A
JPH0245967A JP19734788A JP19734788A JPH0245967A JP H0245967 A JPH0245967 A JP H0245967A JP 19734788 A JP19734788 A JP 19734788A JP 19734788 A JP19734788 A JP 19734788A JP H0245967 A JPH0245967 A JP H0245967A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
lead
photoresist
etching
pattern
frame
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP19734788A
Other languages
English (en)
Inventor
Katsumi Suzuki
勝美 鈴木
Manabu Sato
学 佐藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Cable Ltd
Original Assignee
Hitachi Cable Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Cable Ltd filed Critical Hitachi Cable Ltd
Priority to JP19734788A priority Critical patent/JPH0245967A/ja
Publication of JPH0245967A publication Critical patent/JPH0245967A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、近年におけるリードフレームの多ピン化およ
び微細化に対応し得る半導体装置用リードフレームの製
造方法に関するものである。
[従来の技術] 近年におけるICの高密度化・高集積化はめざましいも
のがあり、すでに近い将来にはMビット時代も到来しよ
うとしている。このようなICを搭載するリードフレー
ムも必然的に多ビン化されてきており、100ビン以上
のリードフレームも実用化の域に入っている。リードフ
レームの多ビン化は、すなわちリードの[[[I化と精
密化とを意味し、限られた平面積内に如何に細いリード
を形成するかということが、今日のリードフレームの技
術競争における大きな課題となっている。
リードフレームにおいては、第10図に示すように、扇
形状に開いたアウターリードla、laから内側に向っ
て密にインナーリードlb、lbが形成されるのが通常
であり、結局このインナーリードlb、lbを如何に微
細かつ精密に形成するかということが、多ピン化におけ
る最重要課題ということができる。
エツチング法は上記したような多ビン化傾向に対処する
ために提案された技術の一つである。この方法は、いわ
ゆるフォトレジスト法を使用するものであり、まずリー
ドフレーム用金属板10の両面にフォトレジストを塗布
し、これにフォトマスクを密着させて、第8図の断面図
に示すようにエツチング代オを残し、上下のパターンが
一致するようにフォトレジスト11.11によるリード
パターンを形成する。ついで両面にエツチング液をスプ
レーして第9図に示すように露出したエツチング面を溶
解除去し、後にリードパターンに応じたリードピン1.
1を残存させ、最後にフォトレジストit、ttを除去
するものである。
しかし、上記の方法による場合、第9図にその断面図を
示したようにフォトレジスト11.11の下側において
横方向に深さSだけエツチングされるいわゆるサイドエ
ツチング12.12が生ずる。このサイドエツチングが
発生するために、リードパターンを形成する場合には前
記リードフレーム用金属板10の板厚以下の巾を有する
フォトレジストパターン11.11を形成することがで
きなかった。
これを解決するものとして、特公昭62−40862号
公報には、ハーフエツチングによるリードフレームの製
造方法が開示されている。この方法は、より微細かつ精
密加工を必要とする前記インナ−リード1b部分がアウ
ターリード1aよりも薄肉となるようにエツチングし、
同時に前記サイドエツチングの発生をも抑制して、金属
板10の板厚よりも狭いリードパターンの形成を可能と
し、微細なリードピンの形成を可能ならしめようとする
ものである。
第5および6図は、上記既提案に係るハーフエツチング
による製造方法を示すリードピン長手方向における断面
図である。
リードフレーム用金属板10のアウターリード形成部分
には上下に同じフォトレジストパターン11.11を形
成させるが、インナーリード部分には片面にのみ微細間
隔のフォトレジストパターン11.11を形成し、片面
は露出面としておくのである。この状態で両面よりエツ
チングすると、インナーリード部分がハーフエッチされ
、第6図に示すようにアウターリード1aよりもインナ
ーリード1bの方が薄肉となるが、この片面のみ選択エ
ッチさせることにより先に説明したサイドエツチングが
発生せず、微細間隔のインナーリードlb、lbを高精
度に形成することができるというものである。
[発明が解決しようとする課H] 上記ハーフエツチング法により成程第6図に示すような
断面を有する微細リードを形成することはできるが、こ
れらにおいて第6図D−D、E−E、F−Fの各断面を
みると、それぞれ第7図の(イ)、(ロ)、(ハ)に示
したような断面形状となることがわかった。
すなわち、上下にレジストが存在するアイランド2部分
は第7図(ロ)のようにほぼ矩形状断面となるが、イン
ナーリードlb、lbの断面は、レジストが上下に存在
せず上面にのみ存在しているために、ハーフエツチング
された片面は同図(イ)、(ハ)に示すように半月状と
なるのである。このように片面が半月状になっていると
、平坦側にワイヤボンディングする場合リードかにげる
といった問題が生じ、自動ボンデインクか通常であるた
めに、この場合リードフレームとしての機能を果さなく
なるおそれがある。
本発明の目的は、上記したような従来技術の問題点を解
消し、ハーフエツチング法でインナーリードを形成した
際に、片面が半月状になるのを防止すると共に、インナ
ーリードを薄肉化してra、細なリードピンを高精度に
製造し得るリードフレームの製造方法を提供しようとす
るものである。
[課題を解決するための手段] 本発明は、フォトレジスト法によりリードパターンを形
成するに当り、インナーリード部の片面にリードパター
ンを形成し、その相対する片面にはリードの輪郭に沿う
額縁状のフォトレジストによる縁取りパターンを形成し
、両面よりエツチングしてインナーリードをアウターリ
ードより薄肉に形成するものである。
し作用] ハーフエッチする側に縁取りがあると、その額取りによ
りその部分のエツチング速度が抑制される。この抑制に
よりハーフエッチした側も従来例のように半月状になら
ず、リードの先端やサイドが角ぼり、平坦面に形成され
るのである。
[実施例] 以下に、本発明について実施例を参照し説明する。
第1図は、本発明に係る方法によりリードフレーム用金
属板10のリード部を形成させる位置にフォトレジスト
11を用いてリードパターンを形成し、そのパターンの
1本分についての上面および下面の様子を示した説明見
取図である。
すでに説明したように、リードフレーム用金属板10の
両面にフォトレジスト11を塗布し、フォトマスクを密
着させて露光し、金属板1oの表面にフォトレジスト1
1によるパターンを形成する。しかして、第1図(a)
は片面のリードパターンの1本を示すものであり、エツ
チングにより除去する露出面10aを除くリード形成面
の全面にフォトレジスト11.11によるパターンが形
成せしめられている。一方、第1図(b)は同図(a)
と相対応する反対面のリードパターンを示すものである
。フォトレジスト11.11の外側に露出面10aを有
するほかに、インナーリード部を形成する部分の内側に
もインナーリード用露出面tabが形成されており、そ
の周囲にインナーリードの輪郭に沿って額縁状フォトレ
ジスト11a、llaが縁取り形成されている。
第2図(a)は上記のように形成された第1図のパター
ンのA−A断面図を示すものである。インナーリード部
の片面にフォトレジスト11があり片面が前記額縁状部
を残し露出面となっている。
額縁状フォトレジストllaの巾は、通常の場合エッチ
ング代の1〜2倍に形成するのが適当であり、それによ
ってインナーリード部を後述する矩形状断面に具合よく
形成することができる。
上記のようにフォトレジストによるリードパターンを形
成したら、両面からエツチング液をスプレーして露出面
ををエツチングする。それにより、上下が露出面となっ
たところは両面より溶解して除去され、片面のみフォト
レジスト11の存在したインナーリード部は第2図(b
)に示すようにハーフエッチされる。その後、フォトレ
ジスト11を除去し、同図tc)に示すような断面より
なるアウターリード1aおよびインナーリード1bを有
するリードビンを形成させる。
第3図は第2図(c)のB −B (t7i面図であり
、第4図は同じ第2図(c)のC−C断面図である。
第3図に示すように、アウタ−リード1a部分の断面は
第7図(ロ)と変りない断面形状にエツチングされるだ
けでなくインナーリード部tbの断面も両面ともに平坦
なほぼ矩形状の断面となり、前記従来例である第7図(
イ)、(ハ)のように半月状となることはない。
これは、前記額縁状フォトレジストllaの存在により
インナーリードの角部のエツチングが抑制された結果で
ある。
このように両面ともに平坦面よりなれば、ボンディング
の際にリードかにげるようなことはなく、安定したボン
ディング作業を行なうことができる。
なお、インナ−リード1b部分のエツチングの程度は、
アウターリード1aの厚さの1/3以下となるようにす
ることが、微細リードフレームの形成の上で適当である
ことも実験により確認することができた。
実施例 厚さ0.1’zanのFe−Ni系合金、Fe −Ni
−Co系合金およびCu系合金製の各金属板を用い、そ
れぞれ脱脂、洗浄後フォトレジストを塗布し、フォトマ
スクを密着させて露光し、リードパターンを形成した。
各パターンの表面は第1図(a)のようにエツチング部
分を露出させ他の部分にはフォトレジストを残存させる
一方、裏面は第1図(b)に示すようにインナーリード
を形成する周囲にエッチング代の1.5倍中のフォトレ
ジストを額縁状に残存させた・ 上記のようなリードパターンを形成させた金属板の両面
から塩化第2鉄溶液をスプレーしてエツチングし、第2
図(b)に示すようにインナーリード部分をハーフエッ
チしてフォトレジストを剥膜し、同図(c)に示すよう
なインナーリード部分が薄く、他の部分すなわちアウタ
ーリード部分は元の板厚を有するリードフレームを形成
した。
このようにして形成したリードの断面は薄肉よりなるイ
ンナーリード部分の表面、裏面とも平坦になり、リード
の巾も十分に広く、これを用いたボンディング作業にお
いては、非常に容易かつ安定した作業を行なうことがで
きな。
[発明の効果] 以上の通り、本発明に係る製造方法によれば、薄肉に形
成したインナーリード部分の上下面を共に平坦化させる
ことができるから、ボンディング作業が容易となり、リ
ードのにげといった問題が解消されることにより信頼性
を格段に高め得るばかりでなく、vIIIIllI・多
ピンのリードフレームを高精度に製造することが可能と
なるものであり、今後の半導体装置の高密度実装化に適
切に対応できるものとしてその工業上の意義は大きなも
のがある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係る製造方法におけるリードパターン
1本の様子を示す説明見取図、第2図は本発明に係る方
法によりリードビンをエツチング形成する様子を示す長
手方向断面図、第3図は第2図(c)のB−B断面図、
第4図は同じ<C−C断面図、第5図は従来のハーフエ
ツチング法によるリードパターンの形成状況を示す断面
図、第6図は第5図の状態からリードピンをエツチング
形成した様子を示す断面図、第7図(イ)、(ロ)、(
ハ)は第6図のそれぞれD−D、EE: F−F断面図
、第8図は従来のエツチング法におけるリードパターン
の形成状況を示す断面図、第9図は第8図についてエツ
チングを行なった場合の断面図、第10図はリードフレ
ームにおけるリードピンの配列状況を示す説明平面図で
ある。 1:リードビン、 1a:アウターリード、 1b:インナーリード、 10:リードフレーム用金属板、 10b=インナ一リード用露出面、 11:フォトレジスト、 11a:額縁状フォトレジスト。 第1図 第2図

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)リードフレーム用金属薄板にフォトレジストによ
    るリードパターンを形成し、露出部をエッチングにより
    除去するリードフレームの製造方法において、インナー
    リード部の片面にはフォトレジストによるリードパター
    ンを形成し、当該インナーリード部の相対する片面には
    リードの輪郭に沿う額縁状のフォトレジストによる縁取
    りパターンを形成し、両面よりエッチングしてインナー
    リード部をアウターリードより薄肉に形成する半導体装
    置用リードフレームの製造方法。
  2. (2)縁取り部のレジストの巾をエッチング代の1〜2
    倍とし、インナーリードの板厚をアウターリードのほぼ
    1/3以下に形成する請求項1記載の半導体装置用リー
    ドフレームの製造方法。
JP19734788A 1988-08-08 1988-08-08 半導体装置用リードフレームの製造方法 Pending JPH0245967A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP19734788A JPH0245967A (ja) 1988-08-08 1988-08-08 半導体装置用リードフレームの製造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP19734788A JPH0245967A (ja) 1988-08-08 1988-08-08 半導体装置用リードフレームの製造方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0245967A true JPH0245967A (ja) 1990-02-15

Family

ID=16372969

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP19734788A Pending JPH0245967A (ja) 1988-08-08 1988-08-08 半導体装置用リードフレームの製造方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0245967A (ja)

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02158160A (ja) * 1988-12-12 1990-06-18 Shinko Electric Ind Co Ltd リードフレームの製造方法
JPH03283644A (ja) * 1990-03-30 1991-12-13 Mitsui High Tec Inc リードフレームの製造方法
JPH03283643A (ja) * 1990-03-30 1991-12-13 Mitsui High Tec Inc リードフレームの製造方法
US5437915A (en) * 1992-01-17 1995-08-01 Hitachi, Ltd. Semiconductor leadframe and its production method and plastic encapsulated semiconductor device
KR19980066218A (ko) * 1997-01-21 1998-10-15 이채우 리드프레임 제조방법
US5900582A (en) * 1992-06-05 1999-05-04 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Lead frame including frame-cutting slit for lead-on-chip (LOC) semiconductor device and semiconductor device incorporating the lead frame
JP2010192509A (ja) * 2009-02-16 2010-09-02 Dainippon Printing Co Ltd 樹脂封止型半導体装置、リードフレーム、リードフレームの製造方法、および樹脂封止型半導体装置の製造方法
JP2015154042A (ja) * 2014-02-19 2015-08-24 大日本印刷株式会社 リードフレームおよびその製造方法、ならびに半導体装置およびその製造方法
JP2017017086A (ja) * 2015-06-29 2017-01-19 Shマテリアル株式会社 半導体素子搭載用リードフレーム及びその製造方法
US20180370673A1 (en) * 2015-12-03 2018-12-27 Kyoraku Co., Ltd. Lamination separable container

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02158160A (ja) * 1988-12-12 1990-06-18 Shinko Electric Ind Co Ltd リードフレームの製造方法
JPH03283644A (ja) * 1990-03-30 1991-12-13 Mitsui High Tec Inc リードフレームの製造方法
JPH03283643A (ja) * 1990-03-30 1991-12-13 Mitsui High Tec Inc リードフレームの製造方法
US5437915A (en) * 1992-01-17 1995-08-01 Hitachi, Ltd. Semiconductor leadframe and its production method and plastic encapsulated semiconductor device
US5900582A (en) * 1992-06-05 1999-05-04 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Lead frame including frame-cutting slit for lead-on-chip (LOC) semiconductor device and semiconductor device incorporating the lead frame
KR19980066218A (ko) * 1997-01-21 1998-10-15 이채우 리드프레임 제조방법
JP2010192509A (ja) * 2009-02-16 2010-09-02 Dainippon Printing Co Ltd 樹脂封止型半導体装置、リードフレーム、リードフレームの製造方法、および樹脂封止型半導体装置の製造方法
JP2015154042A (ja) * 2014-02-19 2015-08-24 大日本印刷株式会社 リードフレームおよびその製造方法、ならびに半導体装置およびその製造方法
JP2017017086A (ja) * 2015-06-29 2017-01-19 Shマテリアル株式会社 半導体素子搭載用リードフレーム及びその製造方法
US20180370673A1 (en) * 2015-12-03 2018-12-27 Kyoraku Co., Ltd. Lamination separable container

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5939774A (en) Semiconductor lead frame
JPH0245967A (ja) 半導体装置用リードフレームの製造方法
JPS63211739A (ja) 半導体装置
JP2992985B2 (ja) リードフレーム及びその製造方法
JPS61170053A (ja) 半導体装置用リ−ドフレ−ム
JP3146580B2 (ja) 半導体素子
JPS6248053A (ja) 半導体装置用リ−ドフレ−ムの製造方法
JPS5824020B2 (ja) 半導体装置
JP3460410B2 (ja) バンプ付金属リード及びその製造方法
JPH0563331A (ja) 印刷回路基板
JP2680126B2 (ja) 被封止金属部材のエッチング方法
JPS5932143A (ja) 半導体装置の製造方法
JPS60240148A (ja) リ−ドフレ−ムの製造方法
JPS5815225A (ja) 半導体装置基板
JP2637175B2 (ja) 半導体用多ピンリードフレームの製造方法
JPH03131086A (ja) フレキシブル基板
JPS59150439A (ja) 半導体装置
JP2528765B2 (ja) 半導体装置のリ―ドフレ―ム
JPH08227959A (ja) リードフレームとその製造方法
JPH04354153A (ja) リードフレームの製造方法
JPH03161960A (ja) 集積回路用リードフレームおよびその製造方法
JP2998318B2 (ja) 半導体デバイスのボンディング方法
KR100379094B1 (ko) 반도체패키지용 리드프레임의 구조 및 그 제조방법
JPH03284865A (ja) リードフレーム
JPH05109967A (ja) 樹脂封止型半導体装置