JPH027528B2 - - Google Patents

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Publication number
JPH027528B2
JPH027528B2 JP56169997A JP16999781A JPH027528B2 JP H027528 B2 JPH027528 B2 JP H027528B2 JP 56169997 A JP56169997 A JP 56169997A JP 16999781 A JP16999781 A JP 16999781A JP H027528 B2 JPH027528 B2 JP H027528B2
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JP
Japan
Prior art keywords
transfer gate
input
cmos
controlled
line
Prior art date
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Expired - Lifetime
Application number
JP56169997A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS5871717A (ja
Inventor
Makio Uchida
Takashi Masuda
Katsuji Horiguchi
Hiroshi Yoshimura
Ryota Kasai
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
NTT Inc
Original Assignee
Hitachi Ltd
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd, Nippon Telegraph and Telephone Corp filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP56169997A priority Critical patent/JPS5871717A/ja
Publication of JPS5871717A publication Critical patent/JPS5871717A/ja
Publication of JPH027528B2 publication Critical patent/JPH027528B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K17/00Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
    • H03K17/51Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used
    • H03K17/56Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used by the use, as active elements, of semiconductor devices
    • H03K17/687Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used by the use, as active elements, of semiconductor devices the devices being field-effect transistors
    • H03K17/693Switching arrangements with several input- or output-terminals, e.g. multiplexers, distributors

Landscapes

  • Metal-Oxide And Bipolar Metal-Oxide Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
  • Electronic Switches (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は、半導体集積回路装置、特に、
CMOSトランスフアゲートを介して多入力のう
ちの1つを入力するラツチ回路を含む半導体集積
回路装置に関するものである。
第1図には、CMOSトランスフアゲート11,
12を含む多入力ラツチ回路の一例が示されてい
る。図示の回路では、制御信号としてのクロツク
信号1がロウレベルLにされると、入力データ
信号D1がインバータIV1及びトランスフアゲート
11を介して、インバータIV5,IV6から構成さ
れたラツチ回路LTに供給され、クロツク信号2
がロウレベルLにされると入力データ信号D2
インバータIV2及びトランスフアゲート12を介
してラツチ回路LTに供給される。
図示の回路では、クロツク信号1及び2が誤
つて同時にロウレベルにされると、これに応じ
て、トランスフアゲート11及び12が同時にオ
ン状態にされてしまう。このとき、例えば、入力
データ信号D1がハイレベルHにされ、D2がロウ
レベルにされていると、図に矢印をもつて示した
ように、トランスフアゲート11と12に貫通電
流が流れることになる。図示のような回路が特に
多数設けられているような場合、このような貫通
電流が流れている時間が長くなると、異常な発熱
等により装置を劣化ないしは破壊に至らせること
になる。
従つて本発明の目的は、上記従来技術の欠点を
なくし回路装置の信頼性を損なうことのない、回
路構成法を提供することにある。
以下、本発明を実施例とともに詳細に説明す
る。
第2図には、2入力ラツチ回路を構成する実施
例の回路が示されている。
同図において、11,12は、上記第1図のト
ランスフアゲートにそれぞれ対応されるトランス
フアゲートであり、データ入力D1,D2を切り替
えるために設けられている。21,22は、それ
ぞれ上記トランスフアゲート11,12に直列接
続された、本発明の貫通電流防止用の追加ゲート
である。
トランスフアゲート11に直列接続された追加
ゲート21は、その制御入力端子がインバータ
IV4の入力及び出力に図示のように接続されるこ
とによつて、トランスフアゲート12に対し相補
的にスイツチ動作させられる。同様に、トランス
フアゲート12に直列接続された追加ゲート22
は、トランスフアゲート11に対し相補的にスイ
ツチ動作させられる。
上記の回路構成に従うと、以下のように、貫通
電流を防止できる。すなわち、クロツク入力1
2の取り得る状態は、以下の4通りである。
1:L、2:L 2 1:L、2:H 3 1:H、2:L 4 1:H、2:H なお、記号Lはロウレベルを示し、Hはハイレ
ベルを示す。
上記の第1番目の状態では、1及び2のロウ
レベルによつてトランスフアゲート11及び12
が同時にオン状態にされる。しかしながら1
ロウレベルによつて追加ゲート22がオフ状態に
され、また2のロウレベルによつて追加ゲート
21がオフ状態にされる。従つて、貫通電流は流
れない。
第2番目の状態では、1のロウレベルによつ
てトランスフアゲート11がオン状態にされ、
のハイレベルによつて追加ゲート21もオン状
態にされる。従つて、入力データ信号D1がイン
バータIV1、追加ゲート21及びトランスフアゲ
ート11を介してラツチ回路LTに供給される。
この場合、追加ゲート22が1のロウレベルに
よつてオフ状態にされ、またトランスフアゲート
12が2によつてオフ状態にされているので、
貫通電流は流れない。
第3番目の状態では同様に貫通電流を生ずるこ
となく入力データ信号がラツチ回路LTに供給さ
れる。
第4番目の状態では、第1番目の状態と逆に、
追加ゲート21及び22がオン状態にされる。こ
の状態では、トランスフアゲート11及び12が
オフ状態にされることによつて貫通電流は生じな
い。
このように、第2図の実施例に従うと、データ
切替機能を全く損うことなく、貫通電流の発生を
防止することができる。
以上述べたようにデータ入力、クロツク入力の
如何にかかわらず貫通電流を防止するフエイルセ
ーフな構造にしているため、使用者が、実使用時
あるいは診断時、さらにはシステムバツグ時特別
の考慮をしないで済み負担の軽減は大である。
以上の説明は2入力ラツチ回路の例であるが、
多入力ラツチの場合も同様である。
【図面の簡単な説明】
第1図は、従来の2入力ラツチ回路の回路図、
第2図は本発明の一実施例の回路図である。 11,12…トランスフアゲート、21,22
…追加ゲート、IV1〜IV8…インバータ、D1,D2
…入力データ、12…クロツク信号。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 第1入力データ信号が供給される第1の入力
    ラインと、 第2入力データ信号が供給される第2の入力ラ
    インと、 出力ラインと、 上記第1入力ラインと上記出力ラインとの間に
    設けられ第1制御信号によつてスイツチ制御され
    る第1のCMOSトランスフアゲートと、 上記第2入力ラインと上記出力ラインとの間に
    設けられ第2制御信号によつてスイツチ制御され
    る第2のCMOSトランスフアゲートと、 上記出力ラインを介して入力信号を受けるラツ
    チ回路と、 を備えてなる半導体集積回路装置であつて、 上記第1の入力ラインと上記出力ラインとの間
    において上記第1のCMOSトランスフアゲート
    と直列接続されてなりかつ上記第2制御信号によ
    つて上記第2のCMOSトランスフアゲートに対
    して相補的にスイツチ制御される第3のCMOS
    トランスフアゲートが設けられてなる、 ことを特徴とする半導体集積回路装置。 2 上記第2の入力ラインと上記出力ラインとの
    間において上記第2のCMOSトランスゲートと
    直列接続されてなりかつ上記第1の制御信号によ
    つて上記第1のCMOSトランスフアゲートに対
    して相補的にスイツチ制御される第4のCMOS
    トランスフアゲートが設けられてなる、 ことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の半
    導体集積回路装置。
JP56169997A 1981-10-26 1981-10-26 半導体集積回路装置 Granted JPS5871717A (ja)

Priority Applications (1)

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JP56169997A JPS5871717A (ja) 1981-10-26 1981-10-26 半導体集積回路装置

Applications Claiming Priority (1)

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JP56169997A JPS5871717A (ja) 1981-10-26 1981-10-26 半導体集積回路装置

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JPS5871717A JPS5871717A (ja) 1983-04-28
JPH027528B2 true JPH027528B2 (ja) 1990-02-19

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ID=15896670

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6038924A (ja) * 1983-08-12 1985-02-28 Hitachi Ltd Cmosセレクタ回路
JPS6070817A (ja) * 1983-09-28 1985-04-22 Hitachi Ltd 論理回路
JPH01125017A (ja) * 1987-11-09 1989-05-17 Mitsubishi Electric Corp 半導体装置
WO1997008752A1 (fr) * 1995-08-25 1997-03-06 Hitachi, Ltd. Dispositif semiconducteur mis

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