JPS6170473A

JPS6170473A - 波形解析装置

Info

Publication number: JPS6170473A
Application number: JP19239284A
Authority: JP
Inventors: Shigeru Ebihara; 茂海老原
Original assignee: Individual
Current assignee: Individual
Priority date: 1984-09-13
Filing date: 1984-09-13
Publication date: 1986-04-11

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】本発明は電気部品、機械装置などが有する固有の電気信
号波形を解析し、これら機器の良否判定を行う装置に関
する。

従来、波形解析装置は電気信号波形の記憶、目視による
観測、波形信号の演算が主であった。

波形を一度記憶装置に読込んだ後、その波形のベクトル
演算として、７−リエ演算、徽・積分演算、相関演算な
どを行い、これら演算結果の値を表示するとともに、原
波形及び演算後の波形を表示・解析するものであった。

本発明は、製品検査に応用できるように、複数の良品と
判定された製品の波形を読み込み、平均化した後、基準
波形とし、その後、被測定製品の波形を読み込み、基準
波形との波形の一致度計算、尖頭値計算、周波数成分の
計算、実効値計算などの比較演算をすることにより、単
なる波形データの計算だけでなく、波形解析後、製品の
良否判定までを高速で正確に判定できる方法を提供する
ものである。

以下図面を参照して、本発明の一実施例を説明する。Ｉ
：ｆＳ１図は本発明の機能ブロック図であり、予じめ良
品と判断された製品の特性を示す電気信号波形（ｒｊＳ
２図）を約３０データ分、切換スイッチ（３）、増巾器
（４）、を介しアナログ波形をＡ／Ｄ変換器（５）に入
力する。

Ａ／Ｄ変換器（５）は一定時間間隔（約１００　ｎｓ〜
１秒）毎にディノタル信号に変換しコンピュータ（６）
に入力する。コンピュータ（６）は、これら良品電気信
号波形を順次、良品波形読込ＲＡＭ（１２）に記憶する
。良品データの取込が完了した時点でコンピュータ（６
）は良品波形読込ＲＡＭ（１２）から、第２図に示す同
一時刻（例えば１＋）における約３０データの値を加算
した後、加算したデータの数で除算した単純平均値を求
め、各時刻毎の値に上限リミット値設定スイッチ（１５
）の値を加えたものを上限基準波形として基準波形ＲＡ
Ｍ（１３）に格納し、また各時刻毎の値に下限リミット
値設定スイッチ（１６）の値を差し引いたらのを下限基
準波形ＲＡＭ（１４）に格納する。同じように尖頭値判
定（第４図）は波形掃引開始後の最初の波形尖頭値の約
３０データの平均値に、尖頭値上下限設定スイッチ（１
７）から読込んだ値を加えたものを上限尖頭値、差し引
いたものを下限尖頭値として基準波形ＲＡＭ（１３）に
格納する。ゼロクロスまでの時間判定（第５図）は波形
掃引開始後の最初に波形の値がゼロになるまでの時間に
、ゼロクロスまでの時間上下限設定スイッチ（１８）の
値を加えたものを上限時間、差し引いたものを下限時間
として、基準波形ＲＡＭ（１３）に格納する。波形実効
値判定（第６図）は、波形掃引後の全波形の面積分は、
（ＰｔＳ６図）（ｂ）にお（するＳ＋＋　Ｓ２＋Ｓ３＋
　Ｓ４＋　ＳＳで求まり、この積分値に、波形実効値上
下限設定スイッチ（１９）の値を加えたものを上限実効
値、差し引いたものを下限実効値として基準波形ＲＡＭ
（１３）に格納する。このようにしてできた基準波形に
対し、被検査対象である製品の特性を示す被測定電気信
号波形（２）を切換六インチ（３）、増巾器（４）を介
し、アナログ波形をＡ／Ｄ変換器（５）に入力する。Ａ
／Ｄ変換器（５）は基準波形を作るときに読込んだ良品
電気信号波形（１）と同じ時間間隔でディノタル信号に
変換し、コンピュータ（６）に入力する。コンピュータ
（６）は、これらディジタル化された被測定電気信号波
形（２）を被測定波形ＲＡＭ（１４）に記憶するととも
に、順次、基準波形ＲＡＭ（１３）に格納されている上
限基準波形（第３図）（ａ）（１）、下限基準波形（ｆ
ｆｉ３図＞（ａ）（３）と比較し、被測定電気信号波形
（２）がこれら上、下限値を超えた時、その時点の波形
を不良と判定する。

この不良判定が連続してｎヶ発生するか、不良判定総数
がｍヶ以上の場合この被測定製品は特性波形不良と判定
される。同じように、尖頭値１゛１定は被測定電気信号
波形（２）を同一手段により被測定波形ＲＡＭ（１４）
に格納された後、被測定波形（２）の掃引開始後の最初
の尖頭値と、基準波形ＲＡＭ（１３）に格納された上、
下限尖頭値を比較し、一定数以上が、上、下限値を超え
た場合、被測定製品は尖頭値不良と判定される。ゼロク
ロスまでの時間判定は同一手段により被測定波形ＲＡＭ
（１４）に格納された被測定波形（２）の掃引開始後の
最初に波形の値がゼロになるまでの時間と上、下限時間
を比較し一定数以上が、上、下限値を超えた場合、被測
定製品はゼロクロスまでの時間不良と判定される。波形
実効値判定は同一手段により被測定波形ＲＡＭ（１４）
に格納された被測定波形（２）の掃引開始後の全波形の
面積分の総和と上、下限実効値を比較し、一定数以上が
上、下限値を超えた場合、被測定製品は波形実効値不良
と判定゛される。これら不良と判定された、特性波形不
良、尖頭値不良、ゼロクロスまでの時間不良、波形実効
値不良の一つでも不良判定が存在すれば、被測定製品は
不良と判定される。

本発明の変形例として、波形掃引方法では、横細に電流
をとり縦紬に電圧をとるＸ−Ｙ掃引の波形特性検査や、
演算方法に、相関分析、最小自乗法による類似度計算、
波形の周波数解析をイテう高速７−リエ演算などを入れ
ることも可能である。

また、特性波形１、尖頭値、ゼロクロスまでの時間、波
形実効値などの機能を個別にＯＮ　／　ＯＦＦできる機
能選択スイッチを設けることもできる。尖頭値、ゼロク
ロスまでの時間の判定に関しでは、波形掃引後、最初の
尖頭値または最初のゼロクロスするまでの時間以外のデ
ータを用いた測定を行うことも可能である。コンピュー
タを使わずに電子回路を同一目的のために使用しても、
同じ機能を発渾することができる。

以上のべたように、本発明によれば製品特性波形を、各
種手段により高速かつ、正確に判断することができ、効
果的な製品特性検査方法を提供するものである。

【図面の簡単な説明】

第１図は、本発明の構成を示す８！能ジブロック、ｆｊ
Ｓ２図は、製品特性を示す電気信号波形、ｐｔＳ３図は
、特性波形上下限＋７　ミツト判定説明図であり（、）
は基準波形であり、かつ良品判定状態を示し、（ｂ）は
良品波形に小さな雑音が乗った状態、（ｃ）、（ｄ）は
特性波形不良を示す、第３図は尖頭値判定で（ａ）は基
準波形と良品判定状態、（ｂ）、（ｃ）は尖頭値不良を
示す、ｆｌＳ５図はゼロクロスまでの時間判定で（ａ）
は基準波形と良品判定状態、（ｂ）、（ｃ）はゼロクロ
スまでの時間判定不良を示す、第６図は波形実効値判定
で（ａ）は基準波形と、良品判定状態、（ｂ）、（ｃ）
は波形実効値判定不良を示す、第７図はコンビｊ１．−
タでの判定処理機能を表すプログ２ムの７０−チャート
図である。敷Ａゆ人　　オ不入金ン上　アイテンフチズテへ侮Ａ源
　　べ・手続補正ｆ（方式）昭和６０年２月２６日特ＦＦ庁１１！殿　　　　　　　　　　　　　昭和６０
年２月２５日差出工、　事件の表示　　昭和５９年特許
ｇ第１９２３９２号２、　発明の名称　　波形解析装Ｚ３、補正をする者電話（０４５）４８１−２０２２株式会社　フイテγり　システム内４、　代理人氏名（名称）　　　　　　　　　　　　　　　＠５、補
正命令の日付（発送日）　　昭和６０年１月２９日６、
補正の対象（１）Ｈ書の出願人の印鑑の欄（２）　明ｌａ嘗の図面の簡単な説明の欄７、　補正の
内容

Claims

【特許請求の範囲】

時間とともに変化する電圧、電流などの信号波形をＡ／
Ｄ変換器を介してコンピュータに読込んだ後、記憶、演
算、判定する機能を有する装置を用いて、予じめ良品と
解っている複数個の製品の特性波形を読込んだ後、これ
ら波形の平均値を演算し、基準波形とする。基準波形を
中心に上下限の良品限界範囲波形の設定が、波形掃引開
始時は狭く、時間経過とともに同じか、もしくは広く設
定できる手段と、波形掃引後、最初の波形の尖頭値の上
下限の良品限度範囲を決める手段と、波形掃引後、最初
にゼロクロスするまでの時間の上下限の良品限度範囲を
決める手段と、掃引全波形を面積分した値を実効値とす
る実効値の上下限の良品限度範囲の設定ができるととも
に、各機能別に上下限良品限度範囲を超えた信号を計数
する装置を設け、一定数に達した場合不良と判定するこ
とができるとともに、これら機能を使用するか否かの選
択スイッチが設けられ、機能選択された判定結果の出力
の、どれか一つにでも不良判定信号が存在すれば、被測
定製品を不良と判定する方法。