JPH03212021A - 入力バッファ回路 - Google Patents
入力バッファ回路Info
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- JPH03212021A JPH03212021A JP2007435A JP743590A JPH03212021A JP H03212021 A JPH03212021 A JP H03212021A JP 2007435 A JP2007435 A JP 2007435A JP 743590 A JP743590 A JP 743590A JP H03212021 A JPH03212021 A JP H03212021A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、入力バッファ回路に関するものである。
従来の技術
最近、半導体集積回路装置の発展は目覚ましく、その集
積回路装置の入力バッファ回路は、外部からの入力信号
のスイッチングレベルなどの特性を決める重要な回路部
である。
積回路装置の入力バッファ回路は、外部からの入力信号
のスイッチングレベルなどの特性を決める重要な回路部
である。
第2図(1)及び(If)は、従来の入力バッファ回路
を示す図で、Aは外部からの入力信号、Bは入力バッフ
ァ回路からの出力信号、Qp+ないしQ、114はPチ
ャンネル型MOSトランジスタ(PMOST)、Q n
+ないしQ。4はNチャンネル型MOSトランジスタ
(NMOST) 、R11及びR12は回路のレイアウ
ト上半じる寄生抵抗、VCCは電源電圧、VSSは接地
電圧である。これは、相補型MOSトランジスタを用い
た否定回路を4段つないだものであり、第2図(1)で
は、入力バッファ回路が電源電圧VCCの印加されるパ
ッドの近くに配置されており、電源電圧VCCとPMO
STとの間に寄生抵抗はなく、接地電圧VSSとNMO
STとの間には回路のレイアウト上半じる配線による寄
生抵抗R11を有している。
を示す図で、Aは外部からの入力信号、Bは入力バッフ
ァ回路からの出力信号、Qp+ないしQ、114はPチ
ャンネル型MOSトランジスタ(PMOST)、Q n
+ないしQ。4はNチャンネル型MOSトランジスタ
(NMOST) 、R11及びR12は回路のレイアウ
ト上半じる寄生抵抗、VCCは電源電圧、VSSは接地
電圧である。これは、相補型MOSトランジスタを用い
た否定回路を4段つないだものであり、第2図(1)で
は、入力バッファ回路が電源電圧VCCの印加されるパ
ッドの近くに配置されており、電源電圧VCCとPMO
STとの間に寄生抵抗はなく、接地電圧VSSとNMO
STとの間には回路のレイアウト上半じる配線による寄
生抵抗R11を有している。
第2図(n)では、入力バッファ回路が接地電圧VSS
の印加されるパッドの近(に配置されており、接地電圧
VSSとN M OS Tとの間に寄生抵抗はなく、電
源電圧VCCとP M OS Tとの間には回路のレイ
アウト上半じる配線による寄生抵抗R12を有したもの
である。
の印加されるパッドの近(に配置されており、接地電圧
VSSとN M OS Tとの間に寄生抵抗はなく、電
源電圧VCCとP M OS Tとの間には回路のレイ
アウト上半じる配線による寄生抵抗R12を有したもの
である。
発明が解決しようとする課題
前記従来のような、相補型MOSトランジスタのみを用
いた否定回路の合成で構成された回路では、入力信号の
論理電圧が“H″さ“°L”の中間レベルであるとき、
この入力信号が、入力されるPMOST。
いた否定回路の合成で構成された回路では、入力信号の
論理電圧が“H″さ“°L”の中間レベルであるとき、
この入力信号が、入力されるPMOST。
NMOSTが共にオン状態となり、電源電圧VCCと接
地電圧VSSとの間に大きな電流が流れることになり、
これは、消費電力を増やすき共に、接地電圧VSSとN
M OS Tとの間には回路のレイアウト上半じる配
線による寄生抵抗R11と電源電圧VCCとP M O
S Tとの間には回路のレイアウト上半じる配線による
寄生抵抗R12のアンバランスのため入力信号のスイッ
チングレベルが目標値からずれるという問題があった。
地電圧VSSとの間に大きな電流が流れることになり、
これは、消費電力を増やすき共に、接地電圧VSSとN
M OS Tとの間には回路のレイアウト上半じる配
線による寄生抵抗R11と電源電圧VCCとP M O
S Tとの間には回路のレイアウト上半じる配線による
寄生抵抗R12のアンバランスのため入力信号のスイッ
チングレベルが目標値からずれるという問題があった。
これについて以下に説明する。
Nチャンネル型MO8トランジスタの飽和領域の電流は
、 I N= 7N (VG VSN −VTN) ”で
、ここで、 VG :ゲート電圧 VSN:ソース電圧 VTN:L/きい値電圧、正の値 γN :定数 Pチャンネル型MOSトランジスタの場合は、IP−γ
p(Vsp VG VTP)’で、ここで、 VSPニソース電圧 V7p:L、きい値電圧、負の値 rP :定数 である。
、 I N= 7N (VG VSN −VTN) ”で
、ここで、 VG :ゲート電圧 VSN:ソース電圧 VTN:L/きい値電圧、正の値 γN :定数 Pチャンネル型MOSトランジスタの場合は、IP−γ
p(Vsp VG VTP)’で、ここで、 VSPニソース電圧 V7p:L、きい値電圧、負の値 rP :定数 である。
否定回路のスイッチング電圧VTRは、IN= rPと
なるゲート電圧であり、 7N(VG−VSN VTN)2=7P(VSP−V
a VTP)’より、 VTH=(VSP+ a VSN十a VTN+ V7
p)/(α+ l )レイアウト上の寄生抵抗のない理
想状態では、VSN = Vss 、 Vsp = V
ccより、(1)式は、理想状態のしきい値電圧VTN
Oは、VTHO=(VCC+ a vss+ a VT
N + V7p)/ (a +1 )・・・・・・c?
) となり、電源電圧VCC,CC型圧vSS+ Nチャン
ネル型及びPチャンネル型MOSトランジスタのしきい
値電圧と定数αによって入力バッファ回路のスイッチン
グ電圧は決定される。第2図は(1)では、R11の電
圧降下により接地電圧VSSが浮き、VSN= IOR
11+VSS、 Vsp=VccIO1電源電圧VCC
と接地電圧VSS間に流れる電流となるので、(1)式
は、 Vvu=(α1oR11)/(α+1)+VrH。
なるゲート電圧であり、 7N(VG−VSN VTN)2=7P(VSP−V
a VTP)’より、 VTH=(VSP+ a VSN十a VTN+ V7
p)/(α+ l )レイアウト上の寄生抵抗のない理
想状態では、VSN = Vss 、 Vsp = V
ccより、(1)式は、理想状態のしきい値電圧VTN
Oは、VTHO=(VCC+ a vss+ a VT
N + V7p)/ (a +1 )・・・・・・c?
) となり、電源電圧VCC,CC型圧vSS+ Nチャン
ネル型及びPチャンネル型MOSトランジスタのしきい
値電圧と定数αによって入力バッファ回路のスイッチン
グ電圧は決定される。第2図は(1)では、R11の電
圧降下により接地電圧VSSが浮き、VSN= IOR
11+VSS、 Vsp=VccIO1電源電圧VCC
と接地電圧VSS間に流れる電流となるので、(1)式
は、 Vvu=(α1oR11)/(α+1)+VrH。
・・・・・・(3)
第2図は(I[)では、R12の電圧降下により電源電
圧VCCが低下し、 VSN=VSS、 VSP=VCC−1oR12となる
ので、(1)式は、 VTR−−<a IoR12)/ (α+1) +VT
HO・・・・・・(4) となる。
圧VCCが低下し、 VSN=VSS、 VSP=VCC−1oR12となる
ので、(1)式は、 VTR−−<a IoR12)/ (α+1) +VT
HO・・・・・・(4) となる。
式(3)、 (4)のように、寄生抵抗によりスイッチ
ング電圧が理想状態よりずれる。
ング電圧が理想状態よりずれる。
課題を解決するための手段
本発明は、上記の目的をMOSトランジスタと抵抗によ
り構成し、Pチャンネル型MOSトランジスタのドレイ
ンとNチャンネル型MOSトランジスタのドレインが接
続され、入力信号が、前記PMOSTとNMOSTのゲ
ートに接続され、前記PMOSTのソースと電源電圧と
の間に第1の抵抗を有し、前記NMO8Tのソースと接
地電圧との間に第2の抵抗を有し、前記PMO5Tのド
レインを前記入力信号の否定として出力する否定回路の
合成で構成によって達成する。
り構成し、Pチャンネル型MOSトランジスタのドレイ
ンとNチャンネル型MOSトランジスタのドレインが接
続され、入力信号が、前記PMOSTとNMOSTのゲ
ートに接続され、前記PMOSTのソースと電源電圧と
の間に第1の抵抗を有し、前記NMO8Tのソースと接
地電圧との間に第2の抵抗を有し、前記PMO5Tのド
レインを前記入力信号の否定として出力する否定回路の
合成で構成によって達成する。
作用
NMOSTと接地電圧VSSとの間の抵抗値と、PMO
STと電源電圧VCCとの間の抵抗値のバランスをとる
ことにより、電源電圧VCCと接地電圧VSSとの間に
流れる電流が少な(なり消費電力が抑えられると共に、
接地電圧VSSの浮きや電源電圧Vccの低下がなくな
り、入力信号のスイッチングレベルが目標値からずれる
こともな(なる。
STと電源電圧VCCとの間の抵抗値のバランスをとる
ことにより、電源電圧VCCと接地電圧VSSとの間に
流れる電流が少な(なり消費電力が抑えられると共に、
接地電圧VSSの浮きや電源電圧Vccの低下がなくな
り、入力信号のスイッチングレベルが目標値からずれる
こともな(なる。
実施例
以下、本発明を実施例によって第1図を用いて説明する
。第1図(I)ないしくVI)は、本発明の入力バッフ
ァ回路の一実施例を示す図で、Aは外部からの入力信号
、Bは入力バッファ回路からの出力信号、Q、lないし
くb14はPチャンネル型MOSトランジスタ(PMO
ST) 、Qn+ないしQn4はNチャンネル型MO8
トランジスタ(NMO8T) 、R11ないしR14は
回路のレイアウト上半じる寄生抵抗、R21ないしR2
8は入力スイッチングレベル補正用の抵抗、VCCは電
源電圧、VSSは接地電圧であり、相補型MOSトラン
ジスタを用いた否定回路を4段つないだものである。
。第1図(I)ないしくVI)は、本発明の入力バッフ
ァ回路の一実施例を示す図で、Aは外部からの入力信号
、Bは入力バッファ回路からの出力信号、Q、lないし
くb14はPチャンネル型MOSトランジスタ(PMO
ST) 、Qn+ないしQn4はNチャンネル型MO8
トランジスタ(NMO8T) 、R11ないしR14は
回路のレイアウト上半じる寄生抵抗、R21ないしR2
8は入力スイッチングレベル補正用の抵抗、VCCは電
源電圧、VSSは接地電圧であり、相補型MOSトラン
ジスタを用いた否定回路を4段つないだものである。
まず、第2図(1)ないしくI[[)の場合は、入力バ
ッファ回路の全NMO5Tと接地電圧VSS間または全
PMOSTと電源電圧Vcc間に入力スイッチングレベ
ル補正用の抵抗を入れることにより寄生抵抗をキャンセ
ルし入力スイッチングレベルの変動を抑制するものであ
る。
ッファ回路の全NMO5Tと接地電圧VSS間または全
PMOSTと電源電圧Vcc間に入力スイッチングレベ
ル補正用の抵抗を入れることにより寄生抵抗をキャンセ
ルし入力スイッチングレベルの変動を抑制するものであ
る。
第2図(1)では、NMO8Tと接地電圧VSSとの間
にレイアウト上半じる寄生抵抗R11を有し、PMOS
Tと電源電圧VCCとの間に入力スイッチングレベル補
正用の抵抗R21を入れることにより、(1)式は、 VSN = I o R11+ Vssvsp=vcc
−10R21 を代入することにより、 VTH= I o/(a + 1 )x(α、RIl
−R21)+ VTHOとなり、R21−αR11とす
ると。
にレイアウト上半じる寄生抵抗R11を有し、PMOS
Tと電源電圧VCCとの間に入力スイッチングレベル補
正用の抵抗R21を入れることにより、(1)式は、 VSN = I o R11+ Vssvsp=vcc
−10R21 を代入することにより、 VTH= I o/(a + 1 )x(α、RIl
−R21)+ VTHOとなり、R21−αR11とす
ると。
VT)I = vTH。
となる。
第2図(If)では、第2図(r)と同様に、PMOS
Tと電源電圧VCCとの間にレイアウト上半しる寄生抵
抗R12を有し、N M OS Tと接地電圧VSSと
の間に入力スイッチングレベル補正用の抵抗R22を入
れることにより、(1)式は、 VsN= Io R22+Vss Vsp=Vcc −1o R12 を代入することにより、 VTR−1o/(α+ 1 ’)×(a R22−Rl
2)+ VTHOとなり、R22=R12/αとすると
、V7H=V7HO となる。
Tと電源電圧VCCとの間にレイアウト上半しる寄生抵
抗R12を有し、N M OS Tと接地電圧VSSと
の間に入力スイッチングレベル補正用の抵抗R22を入
れることにより、(1)式は、 VsN= Io R22+Vss Vsp=Vcc −1o R12 を代入することにより、 VTR−1o/(α+ 1 ’)×(a R22−Rl
2)+ VTHOとなり、R22=R12/αとすると
、V7H=V7HO となる。
第2図(III)でハ、N M OS Tと接地を圧V
ssとの間にレイアウト上半じる寄生抵抗R11を、P
MOSTと電源電圧VCCとの間にレイアウト上半じる
寄生抵抗R12を有し、PMOSTと電源電圧VCCと
の間に入力スイッチングレベル補正用の抵抗R23を、
NMO8Tと接地電圧VSSとの間に入力スイッチング
レベル補正用の抵抗R24を入れることにより、(1)
式は、 VSN= 10 (R11+R24)+VSSVsp=
Vcc −1o (R12+R23)を代入することに
より、 vTo−Io/(α+1)X(α(R11+R24)(
R12+R23))+VTHO となり、R12+R23−α(R11+R24)とする
と、VTR”VIIO となる。
ssとの間にレイアウト上半じる寄生抵抗R11を、P
MOSTと電源電圧VCCとの間にレイアウト上半じる
寄生抵抗R12を有し、PMOSTと電源電圧VCCと
の間に入力スイッチングレベル補正用の抵抗R23を、
NMO8Tと接地電圧VSSとの間に入力スイッチング
レベル補正用の抵抗R24を入れることにより、(1)
式は、 VSN= 10 (R11+R24)+VSSVsp=
Vcc −1o (R12+R23)を代入することに
より、 vTo−Io/(α+1)X(α(R11+R24)(
R12+R23))+VTHO となり、R12+R23−α(R11+R24)とする
と、VTR”VIIO となる。
第2図(1)ないしくIII)のいずれの場合も、否定
回路のスイッチング電圧VTRは、理想状態のしきい値
電圧VTNOとなり、寄生抵抗による入力スイッチング
レベルの変動を抑制できる。
回路のスイッチング電圧VTRは、理想状態のしきい値
電圧VTNOとなり、寄生抵抗による入力スイッチング
レベルの変動を抑制できる。
次に、第2図(IV)ないしくVl)の場合は、第2図
(I)ないしくIII)からの改善であり、初段の否定
回路にのみ、接地電圧VSS配線あるいは電源電圧VC
C配線あるいは両者とも専用配線にすることにより、初
段の貫通電流の影響をな(し、さらに、この専用配線に
接続されるN M OS Tと接地電圧VSS間または
PMOSTと電源電圧Vcc間に入力スイッチングレベ
ル補正用の抵抗を入れることにより寄生抵抗をキャンセ
ルし、入力スイッチングレベルの変動をより抑制するも
のである。
(I)ないしくIII)からの改善であり、初段の否定
回路にのみ、接地電圧VSS配線あるいは電源電圧VC
C配線あるいは両者とも専用配線にすることにより、初
段の貫通電流の影響をな(し、さらに、この専用配線に
接続されるN M OS Tと接地電圧VSS間または
PMOSTと電源電圧Vcc間に入力スイッチングレベ
ル補正用の抵抗を入れることにより寄生抵抗をキャンセ
ルし、入力スイッチングレベルの変動をより抑制するも
のである。
第2図(IV)では、初段のNMOSTと接地電圧VS
Sとの間にレイアウト上半じる寄生抵抗R13、次段以
後NMO8Tと接地電圧VSSとの間にレイアウト上半
じる寄生抵抗R11を有し、初段のPMOSTと電源電
圧VCCとの間に入力スイッチングレベル補正用の抵抗
R25を入れることにより、第2図(1)と同様に、(
1)式は、 VSN= 10 R13+Vss Vsp=Vcc−ro R25 を代入することにより、 vTH”” I O/′(α+1)×(αR13−R2
5)+VTHOとなり、R25−αR13とすると、 VTR=VTHO となる。
Sとの間にレイアウト上半じる寄生抵抗R13、次段以
後NMO8Tと接地電圧VSSとの間にレイアウト上半
じる寄生抵抗R11を有し、初段のPMOSTと電源電
圧VCCとの間に入力スイッチングレベル補正用の抵抗
R25を入れることにより、第2図(1)と同様に、(
1)式は、 VSN= 10 R13+Vss Vsp=Vcc−ro R25 を代入することにより、 vTH”” I O/′(α+1)×(αR13−R2
5)+VTHOとなり、R25−αR13とすると、 VTR=VTHO となる。
第2図(V)では、(IV)と同様に、初段のP M
OS Tと電源電圧VCCとの間にレイアウト上半じる
寄生抵抗R14、次段以後PMO5Tと電源電圧VCC
との間にレイアウト上半じる寄生抵抗R12を有し、初
段のNMO8Tと接地電圧VSSとの間に入力スイッチ
ングレベル補正用の抵抗R26を入れることにより、(
1)式は、 VSN= Io R26+Vss Vsp=Vcc −IoR14 を代入することにより、 VTH= I o/(a + 1 )X(a R26−
R14)+ VTHOとなり、R26=αR14/αと
すると、VTR:VTHO となる。
OS Tと電源電圧VCCとの間にレイアウト上半じる
寄生抵抗R14、次段以後PMO5Tと電源電圧VCC
との間にレイアウト上半じる寄生抵抗R12を有し、初
段のNMO8Tと接地電圧VSSとの間に入力スイッチ
ングレベル補正用の抵抗R26を入れることにより、(
1)式は、 VSN= Io R26+Vss Vsp=Vcc −IoR14 を代入することにより、 VTH= I o/(a + 1 )X(a R26−
R14)+ VTHOとなり、R26=αR14/αと
すると、VTR:VTHO となる。
第2図(Vl)では、初段のN、MO8Tと接地電圧V
SSとの間にレイアウト上半じる寄生抵抗R13、次段
以後NMO8Tと接地電圧VSSとの間にレイアウト上
半じる寄生抵抗R11を有し、初段のPMOSTと電源
電圧VCCとの間にレイアウト上半じる寄生抵抗R14
、次段以後PMOSTと電源電圧VCCとの間にレイア
ウト上半じる寄生抵抗R12を有し、初段のPMOST
と電源電圧VCCとの間に入力スイッチングレベル補正
用の抵抗R27を、初段のN M OS Tと接地電圧
VSSとの間に入力スイッチングレベル補正用の抵抗R
28を入れることにより、(1)式は、VSN−Io(
R13+R28) +VssVsp=Vcc−1o
(R14+R27)を代入することにより、 VTH= Io/(α−F 1 )X((Z(R13+
R28)(R14+R27))+VT)10 となり、R14+R27−α(R13+R28)とする
と、VTR:VTHO となる。
SSとの間にレイアウト上半じる寄生抵抗R13、次段
以後NMO8Tと接地電圧VSSとの間にレイアウト上
半じる寄生抵抗R11を有し、初段のPMOSTと電源
電圧VCCとの間にレイアウト上半じる寄生抵抗R14
、次段以後PMOSTと電源電圧VCCとの間にレイア
ウト上半じる寄生抵抗R12を有し、初段のPMOST
と電源電圧VCCとの間に入力スイッチングレベル補正
用の抵抗R27を、初段のN M OS Tと接地電圧
VSSとの間に入力スイッチングレベル補正用の抵抗R
28を入れることにより、(1)式は、VSN−Io(
R13+R28) +VssVsp=Vcc−1o
(R14+R27)を代入することにより、 VTH= Io/(α−F 1 )X((Z(R13+
R28)(R14+R27))+VT)10 となり、R14+R27−α(R13+R28)とする
と、VTR:VTHO となる。
第2図(IV)ないしくVT)のいずれの場合も、否定
回路のスイッチング電圧VT)lは、理想状態のしきい
値電圧V TNOとなり、寄生抵抗によるスイッチング
レベルの変動を抑制できる。
回路のスイッチング電圧VT)lは、理想状態のしきい
値電圧V TNOとなり、寄生抵抗によるスイッチング
レベルの変動を抑制できる。
発明の詳細
な説明したように、本発明の入力バッファ回路によると
、入力信号を正確に回路に入力することができ、電源電
圧間に流れる電流も低減でき、回路全体を安定に動作さ
せるという大きな効果が得られる。
、入力信号を正確に回路に入力することができ、電源電
圧間に流れる電流も低減でき、回路全体を安定に動作さ
せるという大きな効果が得られる。
第1図(I)ないしくVl)は本発明の入力バッファ回
路の実施例を示す回路図、第2図(1)及び(II)は
従来の入力バッファ回路を示す図である。 A・・・・・・入力信号、B・・・・・・出力信号、Q
plないしQ94・・・・・・Pチャンネル型MO3ト
ランジスタ(PMOST)、Qo+ないしQ。4・・・
・・・Nチャンネル型MOSトランジスタ(NMO8T
)、R11ないしR14・・・・・・寄生抵抗、R21
ないしR28・・・・・・入力スイッチングレベル補正
用の抵抗、VCC・・・・・・電源電圧、VSS・・・
・・・接地電圧。
路の実施例を示す回路図、第2図(1)及び(II)は
従来の入力バッファ回路を示す図である。 A・・・・・・入力信号、B・・・・・・出力信号、Q
plないしQ94・・・・・・Pチャンネル型MO3ト
ランジスタ(PMOST)、Qo+ないしQ。4・・・
・・・Nチャンネル型MOSトランジスタ(NMO8T
)、R11ないしR14・・・・・・寄生抵抗、R21
ないしR28・・・・・・入力スイッチングレベル補正
用の抵抗、VCC・・・・・・電源電圧、VSS・・・
・・・接地電圧。
Claims (7)
- (1)MOSトランジスタと抵抗により構成し、Pチャ
ンネル型MOSトランジスタのドレインとNチャンネル
型MOSトランジスタのドレインが接続され、入力信号
が、前記PMOSTとNMOSTのゲートに接続され、
前記PMOSTのソースと電源電圧との間に第1の抵抗
を有し、前記NMOSTのソースと接地電圧との間に第
2の抵抗を有し、前記PMOSTのドレインを前記入力
信号の否定として出力する否定回路の合成で構成されて
いることを特徴とする入力バッファ回路。 - (2)NMOSTのソースと接地電圧との間の第1の抵
抗が配線による寄生抵抗であり、PMOSTのソースと
電源電圧との間の第2の抵抗が前記第1の抵抗値に近い
値であることを特徴とした特許請求の範囲第1項記載の
入力バッファ回路。 - (3)PMOSTのソースと電源電圧との間の第1の抵
抗が配線による寄生抵抗であり、NMOSTのソースと
接地電圧との間の第2の抵抗が前記第1の抵抗値に近い
値であることを特徴とした特許請求の範囲第1項記載の
入力バッファ回路。 - (4)PMOSTのソースと電源電圧との間に直列に存
在する2つの抵抗のうち第1の抵抗が配線による寄生抵
抗であり、第2の抵抗が入力スイッチングレベル補正用
抵抗であり、NMOSTのソースと接地電圧との間に直
列に存在する2つの抵抗のうち第3の抵抗が配線による
寄生抵抗であり、第4の抵抗が入力スイッチングレベル
補正用抵抗であり、前記第1の抵抗値と前記第2の抵抗
値との和が前記第3の抵抗値と前記第4の抵抗値との和
に近い値であることを特徴とした特許請求の範囲第1項
記載の入力バッファ回路。 - (5)入力初段のNMOSTのソースと接地電圧との間
の第1の抵抗及び次段以後のNMOSTのソースと接地
電圧との間の第2の抵抗は配線による寄生抵抗であり、
初段PMOSTのソースと接地電圧との間の第3の抵抗
が前記第1の抵抗値に近い値であることを特徴とした特
許請求の範囲第1項記載の入力バッファ回路。 - (6)入力初段のPMOSTのソースと電源電圧との間
の第1の抵抗及び次段以後のPMOSTのソースと電源
電圧との間の第2の抵抗は配線による寄生抵抗であり、
初段NMOSTのソースと接地電圧との間の第3の抵抗
が前記第1の抵抗値に近い値であることを特徴とした特
許請求の範囲第1項記載の入力バッファ回路。 - (7)入力初段のNMOSTのソースと接地電圧との間
に直列に存在する2つの抵抗のうち第1の抵抗が配線に
よる寄生抵抗であり、第2の抵抗が入力スイッチングレ
ベル補正用抵抗であり、次段以後のNMOSTのソース
と接地電圧との間の第3の抵抗は配線による寄生抵抗で
あり、初段PMOSTのソースと接地電圧との間に直列
に存在する2つの抵抗のうち第4の抵抗が配線による寄
生抵抗であり、第5の抵抗が入力スイッチングレベル補
正用抵抗であり、次段以後のPMOSTのソースと接地
電圧との間の第6の抵抗は配線による寄生抵抗であり、
前記第1の抵抗値と前記第2の抵抗値との和が前記第4
の抵抗値と前記第5の抵抗値との和に近い値であること
を特徴とした特許請求の範囲第1項記載の入力バッファ
回路。
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