JPH0442992A - 導体パターン多層構造の形成方法 - Google Patents

導体パターン多層構造の形成方法

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JPH0442992A
JPH0442992A JP14771990A JP14771990A JPH0442992A JP H0442992 A JPH0442992 A JP H0442992A JP 14771990 A JP14771990 A JP 14771990A JP 14771990 A JP14771990 A JP 14771990A JP H0442992 A JPH0442992 A JP H0442992A
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JP
Japan
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conductor pattern
insulating layer
forming
layer
pattern
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JP14771990A
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English (en)
Inventor
Hiromitsu Kobayashi
博光 小林
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Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔概要〕 導体パターン多層構造の形成方法に関し、導体パターン
多層構造の平坦化を可能とすることを目的とし、 基板の上に導体パターンを絶縁層を介して複数順次積層
して形成する導体パターン多層構造の形成方法において
、前記絶縁層を形成する工程を、前記導体パターンの周
囲に該導体パターンと略同一の膜厚を有する第1の絶縁
層を形成する工程と、前記導体パターン及び前記第1の
絶縁層の上に第2の絶縁層を形成する工程とよりなる構
成とした。
〔産業上の利用分野〕
本発明は、例えばセラミックプリント配線板の表面の導
体パターン多層構造の形成方法に関する。
第5図は一般的なセラミックプリント配線板10を示す
4は複数枚のグリーンシートか積層されたグリーンシー
ト積層体を焼成してなるセラミック積層基板であり、バ
イヤ5及び内層導体パターン6を有する。
更に、セラミック積層基板4の表面には表面導体パター
ン1が形成されている。
近年の高密度化に伴って、表面導体パターン1も多層化
される傾向にある。
この場合に、表面導体パターンlの断線等を確実に防止
しつる構造とすることが必要となる。
〔従来の技術〕
従来、上記表面導体パターンlの形成は、第6図のよう
な工程で行なわれていた。ここでは、導体パターン1を
3層構造する場合について第5図を参照して説明する。
まず、第4図工程601により、第7図に示すように、
セラミック積層基板4の表面に第1の導体パターン1a
をスパッタ及びメツキにて形成する。
次に、工程602により、第1の導体パターン1aの上
部及び周囲に無機又は育機材を塗布して絶縁層2aを形
成する。
そして、工程603により、第2の導体パターン1bを
第1の導体パターン1aと絶縁層2aの重なり部分に形
成する。
以下、工程604においては、工程602と同様に第2
の導体パターンlbの上部及び周囲に絶縁層2bを形成
し、工程605で絶縁層2bの上部に第3の導体パター
ンICを形成する。
これにより、導体パターン多層構造か第7図に拡大して
示すように形成される。
〔発明が解決する課題) 第5図から分かるように、破線の円Aて囲んだ導体パタ
ーン1a〜1c同士か重なりあった部分は破線の円Bで
囲んだ周辺の平坦な部分より盛り上かった状態となり、
段差が生じることとなる。
レジストの硬化時、あるいは、他のIC部品の実装時等
にプリント配線板を加熱する工程かある。
この場合は、導体パターンと絶縁層との熱膨張率の差に
より熱応力が発生する。この熱応力は上記の段差部分に
集中し、これか原因で例えば導体パターンIb、1cが
断線する事故か発生する虞かる。
導体パターンの積み重ねる層数が増えると、段差が大と
なり、熱応力が更に集中し易くなり、断線は更に発生し
易くなる。
上記課題に鑑み、本発明は導体パターン多層構造の平坦
化を可能どする導体パターン多層構造の形成方法を提供
することを目的どして、以下の手段を設けた。
〔課題を解決するための手段〕
」1記課題を解決すべく、本発明は、基板の」二に導体
パターンを絶縁層を介して複数順次積層して形成する導
体パターン多層構造の形成方法において、前記絶縁層を
形成する工程を、前記導体パターンの周囲に略同一の膜
厚を有する第1の絶縁層を形成する工程と、前記導体パ
ターン及び前記第1の絶縁層の士に第2の絶縁層を形成
する工程とよりなる構成と17だ。
〔作用〕
第1の絶縁層を導体パターンと略同一の膜厚で形成し、
この第1の絶縁層のうち導体パターンの上部を除去する
ことにより、導体パターンとと略同一の膜厚を有する第
1の絶縁層か導体パターンの周囲に配置される。この上
に第2の絶縁層を形成することにより、その表面は平坦
となる。従って、次の導体パターンは平坦な面に形成さ
れる。
即ち、導体パターンは常に平坦な絶縁層の表面に形成さ
れることになる。
また、第2の導体パターン2bは、」1下の導体パター
ン相互間を電気的に絶縁する。
〔実施例〕
以下、グリーンシート多層配線板の表面導体パターンを
例どして、本発明の2つの実施例を説明する。一般に絶
縁層に使用される材料は最終的に熱硬化させないと絶縁
材料としての機能を有しないものが多い。熱硬化の過程
で、塗布層は体積収縮を起こす。そこで、以下に述べる
実施例では、この体積収縮を考慮に入れた構成としであ
る。なお、絶縁材料を感光性絶縁材を使用した場合と非
感光性絶縁材を使用した場合とに分けて説明する。
本発明の第1の実施例は絶縁材料に感光性絶縁材を使用
した場合について説明する。感光性絶縁材としては、感
光性ポリイミド等がある。
第1図に本発明にかかる導体パターン多層構造の形成方
法の工程をブロック図により示す。第2図は各工程にお
ける状態を示す。
まず、工程101では、第2図(A)に示すように、セ
ラミック積層基板4の表面に第1の導体パターン1aを
形成する。導体パターン1aはセラミック積層基板4に
平行に形成さね、導体パターン1aの膜厚はt、である
次に、塗布層形成工程102を行なう。こては、第2図
(B)に示すように、塗布1!2a’を導体パターン1
aを覆って形成する。塗布層2a″の膜厚をt、より厚
い第2とする。後述する熱硬化により体積収縮を起こし
て膜厚が、1+ と略同程度の厚さts  (t+ #
t* )となるように収縮分だ+5導体パターンの膜厚
1+より厚くするのである。
即ち、t、 ++が熱硬化により収縮される厚さである
。塗布層2a’と第1の導体パターン1aとが重なり合
った部分 2 a’−1は、周囲の部分より盛り上かっ
た状態となる。
次に、工程103により露光・現像工程を行い、塗布層
2a’のうち第1の導体パターン1aの上部を除去して
第1の導体パターン1aの上面を露出させる。
まず第2図(C)のように、塗布J!i2a’の上に、
露光用マスク3をかぶせる。かかるマスク3は、第1の
導体パターンと同一パターンである。即ぢ、1ai部で
不透明、それ以外では透明なパターンとなっている。
この状態で、露光を行い、続いて現像を行なう。
これにより、導体パターンIa1部の塗布層の部分2a
’−1か除去され、第2図(D)のように、第1の導体
パターン1aと第1の絶縁層2a’とよりなる層11の
上面か平坦にされ、かつ、基板と平行とされる。
次に、工程104により熱硬化工程を行い、溶剤を含ん
だ塗布層2a’を乾燥・硬化させる。これにより、第2
図(E)のように、塗布層2a’の膜厚は上述のように
、1+ と略同程度の厚さt、となる。熱硬化による体
積収縮は、一般に、もとの体積の40%から50%程度
である。なお、熱硬化後によって、塗布層2a“は第1
の絶縁層2aとなる。
上記の工程102〜104が第1の絶縁層2aを形成す
る工程である。
この後、工程105を行い、第2図(F)に示すように
、第2の絶縁層2bを上記層11の上に形成する。第2
の絶縁層2bにかかる絶縁体は第1の絶縁層2aと同材
質である。第2の絶縁層2bはその後に積層される第2
の導体パターンlbと導体パターン1aとの間を電気的
に絶縁する働きをする。また、層11の上面が平坦であ
るため、第2の絶縁層2aはその表面2b−1が平坦と
された状態で形成される。
次いで工程106を行い、第2図(G)に示すように、
第2の絶縁層2bの表面2cm1に平行に形成する。こ
の第2の導体パターンlbは第1の導体パターン1aと
重なり合う部分でも基板に平行に配置される。
以下、工程102と同様に工程107を行ない、第2の
導体パターン1bの上部及び周囲に塗布層2c’を形成
する。続いて、工程103と同様に工程108を行ない
、第2の導体パターン1b上部の塗布層を除去し、第2
の導体パターン1bの上面を露出する。工程104と同
様に工程109を行ない、熱硬化処理を施し、乾燥・硬
化させると共に、第2の導体パターンと略同一の膜厚の
塗布層2cを配置する。最後に、工程105と同様に工
程110を行ない、第2の絶縁層2dを形成する。
第2の絶縁層2d上面2d−1は平坦である。そして、
工程111を行い、第2図(H)に示すように、第2の
絶縁層2dの表面2d−1上に第3の導体パターンIC
を形成する。
本発明のような方法で積層されることにより、セラミッ
ク積層基板4の表面に第2図(G)に示すように導体パ
ターンの多層構造が、平坦化された状態で形成される。
このため、絶縁層2a〜2dと導体パターン1a〜IC
との熱膨張率の差異による熱応力が発生した場合であっ
ても、これが導体パターン1a−1cが重なり合う箇所
が集中することがなく、導体パターン!a〜ICの断線
は確実に防止される。
本発明の第2の実施例は絶縁材料に非感光性絶縁材を使
用した場合について説明する。非感光性絶縁材としては
、非感光性ポリイミド等がある。
第3図に本発明の第2の実施例による導体パターン多層
構造の形成方法の工程を示すブロック図を示す。第1図
と異なるのは、非感光性絶縁材の塗布層形成後に熱硬化
を行ない、エツチングして、第1の絶縁層を導体パター
ンの周囲に配置する点である。具体的に、第3図及び第
4図を参照して説明すると以下のようになる。第4図は
第3図各工程における状態を示す。
まず、第1図工程101と同様の第3図工程301を行
い、第4図(A)のように、セラミック積層基板4の表
面に膜厚t1の第1の導体パターン1aを形成する。
次いで、第1図工程102と同様の第3図中工程302
を行い、第4図(B)のように、熱硬化による収縮を考
慮した、t、より厚い膜厚t、の塗布層2a”が形成さ
れる。
次に、工程303による熱硬化工程を行い、塗布層2a
”に絶縁層としての機能をもたせると共に、塗布層2a
”は収縮し、第4図(C)のように、その膜厚t2はt
lと略同様の膜厚t3になる。なお、熱硬化によって、
塗布層2a”は絶縁層2a”−1となる。
続いて、工程304によりエツチング工程を行ない、第
1の導体パターン1aの上部を露出させる。まず、導体
パターンと逆パターンのエツチングマスク7を、第4図
(D)のように、絶縁層2a”−1の上に形成する。そ
して、プラズマ装置、RIE等のドライエツチング装置
にて、エツチングマスク7がかかっていない部分をエツ
チングし、その後、エツチングマスク7を除去する。除
去後は、第4図(E)に示すように、第1の導体パター
ンの周囲にその膜厚と略同一の膜厚を有する第1の絶縁
層2aが形成される。
以下、第1図工程105.106と同様の第3図工程3
05.306が行なわれ、第4図(F)(G)に示すよ
うに、第2の絶縁層2b、第2の導体パターン1bが形
成される。その後、第3図工程303.304と同様の
工程308.309か行なわれ、熱硬化、エツチング処
理を経て、工程301と同様のJ程311か行なわれ第
3の導体パターンlcか形成される。本発明の第2の実
施例により形成される多層構造も第1の実施例と同様の
特長を有することは言うまでもない。
なお、本発明にかかる導体バタ・−ン多層構造の形成方
法はセラミックプリント配線板の表面に限定されるもの
てはなく、一般のポリイミド等の基板上に導体パターン
を絶R層を介して複数順次積層して形成する全てのプリ
ント配線板の形成方法に適用できる。
〔発明の効果〕
以上説明したように、本発明によれば、絶縁層の形成を
2工程に分けることにより、導体パターン多層構造の形
成において、導体パターンか重なり合う部分を平坦とす
ることかできる。これにより、熱応力の集中か避けられ
、導体パターンか断線する手放を防止することかできる
。また、プリント配線板の精度の向上を図ることかでき
る。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の第1の実施例による導体パターン多層
構造の形成方法の工程を示すブロック図、第2図は本発
明第1の実施例による導体パターン多層構造の形成方法
を説明する図、 第3図は本発明の第2の実施例による導体パターン多層
構造の形成方法の工程を示すブロック図、第4図は本発
明第2の実施例による導体パターン多層構造の形成方法
を説明する図、 第5図はセラミックプリント配線板の要部断面図、 第6図は従来の導体パターン多層構造の形成方法の工程
を示す図、 第7図は従来の導体パターン多層構造の形成方法を説明
する図である。 図において、 ■は表面層に形成される導体パターン、1aは第1の導
体バタ・−ン、 11)は第2の導体パターン、 Icは第3の導体パターン、 2は絶縁層、 2a’、2a”は塗布層、 2a、2cは第1の絶縁層、 2b、2dは第2の絶縁層、 3は露光用マスク、 4はセラミック積層基板、 5はバイア、 6は配線板内部の導体パターン、 7はエツチングマスク、 lOはセラミックプリント配線板、 11は第1の導体パターン1aと第1の絶縁層2aとよ
りなる層、 Olは第1の導体パターン形成工程、 02は塗布層形成工程、 03は露光・現像工程、 04は熱硬化工程、 05は第2の絶縁層形成工程、 を示ず。 才筆2の導体パターン形成工程、 ま第1の導体パターン形成工程、 ま塗布層形成工程、 ま熱硬化工程、 よエツチング工程、 ま第2の絶縁層形成工程、 ま第2の導体パターン形成工程

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)基板(4)の上に導体パターン(1a)を絶縁層
    (2)を介して複数順次積層して形成する導体パターン
    多層構造の形成方法において、 前記絶縁層(2)を形成する工程を、 前記導体パターン(1a)の周囲に該導体パターンと略
    同一の膜厚を有する第1の絶縁層(2a)を形成する工
    程と、 前記導体パターン(1a)及び前記第1の絶縁層(2a
    )の上に第2の絶縁層(2b)を形成する工程とよりな
    る構成としたことを特徴とする導体パターン多層構造の
    形成方法。
  2. (2)基板(4)の上に導体パターン(1a)を絶縁層
    (2)を介して複数順次積層して形成する導体パターン
    多層構造の形成方法において、 前記絶縁層(2)を形成する工程を、 前記導体パターン(1)の厚さ(t_1)より硬化収縮
    分だけ厚い厚さ(t_2)に感光性絶縁材を塗布して塗
    布層(2a′)を形成する工程(102)と、該塗布層
    のうち上記導体パターン(1)の上部(2a′−1)を
    除去して導体パターンを露出させる工程(103)と、 上記一部除去された塗布膜を熱硬化させて上記導体パタ
    ーンの厚さと略同一厚さ(t_3)の第1の絶縁層(2
    a)とする熱硬化工程(104)と、上記導体パターン
    (1a)及び第1の絶縁層(2a)の上に第2の絶縁層
    (2b)を形成する工程(105)とよりなる構成とし
    たことを特徴とする導体パターン多層構造の形成方法。
  3. (3)基板(4)の上に導体パターン(1a)を絶縁層
    (2)を介して複数順次積層して形成する導体パターン
    多層構造の形成方法において、 前記絶縁層(2)を形成する工程を、 前記導体パターン(1a)の厚さ(t_1)より硬化収
    縮分だけ厚い厚さ(t_2)に非感光性絶縁材を塗布し
    て塗布層(2a″)を形成する工程(302)と、該塗
    布層を熱硬化させて、上記導体パターンの厚さと略同一
    の厚さ(t_3)の第1の絶縁層(2a″)とする熱硬
    化工程(303)と、 上記第1の絶縁層(2a″)のうち上記導体パターン(
    1a)の上部を除去して導体パターンを露出させる工程
    (304)と、 前記導体パターン(1)及び前記第1の絶縁層(2a″
    )の上に第2の絶縁層(2b)を形成する工程とよりな
    る構成としたことを特徴とする導体パターン多層構造の
    形成方法。
JP14771990A 1990-06-06 1990-06-06 導体パターン多層構造の形成方法 Pending JPH0442992A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0955577A (ja) * 1995-08-11 1997-02-25 Nec Corp 印刷配線板の製造方法

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0955577A (ja) * 1995-08-11 1997-02-25 Nec Corp 印刷配線板の製造方法

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