JPH0476448A - 穀物処理プラント用水分検出制御装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、穀物の乾燥機、精穀機、籾摺機等の各装置が
所定の区画内に設置された穀物処理プラントにおける、
各装置内の穀物の水分を検出するための穀物処理プラン
ト用水分検出制御装置に関する。

〔従来技術〕

従来、穀物処理プラントに設置される各装置には、それ
ぞれ水分計が設置されており、この水分計によって検出
される検出値は、それぞれの装置に設置される処理装置
へと取り込まれるようになっている。例えば、穀物乾燥
機では検出された水分値に基づいて、その水分値を表示
したり、熱風温度や穀物循環速度を制御するようにして
いる。

また、他の各装置においても処理装置に取り込まれた水
分値に基づいてそれぞれ駆動系等が制御される。

〔発明が解決しようとする課題〕

しかしながら、上記従来装置では、各制御装置での水分
の検出時期に所定の間隔があり、この検出時期以外では
、処理装置のＡ／Ｄ変換処理は待機状態となっているに
も拘らず、処理装置は各装置に必要とされるため、Ａ／
Ｄ変換器等の無駄が生じている。

本発明は上記事実を考慮し、単一の制御装置を用いて各
装置の水分計によって検出される検出値に基づいて制御
することができ、ハードウェア構成部品を削減すること
ができる穀物処理プラント用水分検出制御装置を得るこ
とが目的である。

〔課題を解決するための手段〕

請求項（１）に記載の発明は、穀物を処理するための各
装置に設けられそれぞれの装置内の穀物の水分を検出す
る複数の水分計と、入力された検出信号を処理する処理
装置と、複数の水分計が接続され前記処理装置による制
御により各水分計から出力された検出振動を所定の順序
で選択して前記処理装置へ入力させる選択装置と、を有
している。

請求項（２〉に記載の発明は、前記処理装置が、所定レ
ベル以下となる検出信号を出力した水分計を判別し、こ
の水分計からの次回からの入力を中止するように選択装
置を制御することを特徴としている。

〔作用〕

請求項（１）に記載の発明では、複数の水分計を選択装
置によって順番に選択し、時系列で処理装置へ各検出値
を供給する。このため、処理装置は、複数の水分計に対
して１個で済み、ハードウェア構成部品を削減すること
ができる。

請求項（２）に記載の発明では、水分計による検出値が
所定レベル以下の場合、この水分計自体が故障又は非作
動状態であるか、或いはこの水分計が設置された装置が
未処理状態であると判断し、次回から選択装置による選
択から排除し、処理装置への検出値の入力を中止するよ
うにしている。

これにより、処理装置に入力される検出信号は、予想さ
れる水分値の範囲内となり、前記所定レベル以下の検出
があった場合のエラー処理が減少し、円滑な制御を行う
ことができる。

を構成する精米プラント１０が示されている。精米プラ
ント１０は、３機の精米機（以下、１号機１２．２号機
１４．３号機Ｉ６という）と、３号機１６から排出され
た米粒を計量するための計量機１８とで構成されている
。以下、精米機の構成について説明するが、１〜３号機
１２．１４．１６は同一構造であるので、１号機１２を
例にとり説明する。

１号機１２の本体２０には、上下方向に図示しない精穀
ロール及びこの精穀ロールが遊嵌される精穀円筒が配設
され、精穀室が形成されている。

精穀ロールの下端部にはプーリが取付けられており、ベ
ルトを介して第２図に示すモータ２２の駆動力が伝達さ
れるようになっている。従って、精穀ロールは、モータ
２２の駆動力で回転され、精穀室内の米粒を精穀する構
成となっている。

また、本体２０には、水分計２４が取付けられている。

水分計２４は、本体２０の精穀室に搬送された米粒の一
部をサンプリングし、一対の電極ロール（図示省略）間
で米粒を砕いてこの米粒を介した電極ロール間の電気抵
抗を検出するようになっている。水分計２４は、第２図
に示す制御装置２６へ接続されており、制御装置２６で
はこの検出値に基づいて米粒の水分を得るようにしてい
る。なお、水分計２４の内部には１、温度センサ２８が
取付けられており、この温度センサ２８の信号線も制御
装置２６へ接続されている。

本体２０の上方には、ホッパ３０が配設されている。こ
のホ・７パ３０と本体２０との連通路には、開閉扉（図
示省略）が配設され、この開閉扉を第２図に示すモータ
３２の駆動力で開閉させることにより、ホッパ３０内に
貯留されている米粒を徐々に本体２０の精穀室へと送り
込むようにしている。

ホッパ３０の上部には、一端が昇降機３４の上端と連結
された案内筒３６の他端が取付けられている。昇降機３
４には、その上下がプーリに巻き掛けられたチェーン（
図示省略）が配設されており、このチェーンの一部には
パケット３８が取付けられている。前記プーリの一方は
、第２図に示すモータ４０の駆動で回転されるようにな
って右リ、モータ４０が駆動するとパケット３８が上昇
し、パケット３８によって昇降機３４の上方へ搬送され
た乾燥された米粒がホッパ３０へと送り込まれる構成と
なっている。

本体２０の下部には、取出筒４２が取付けられ、前記精
穀室と連通されており、精穀された米粒を取り出すよう
にしている。取出筒４２によって案内された米粒は、隣
接する２号機１４のパケット３８へ収容され、２号機１
４によってさらに精穀されるようになっている。また、
２号機１４の取出筒４２によって案内された米粒は、隣
接する３号機１６のパケット３８へ収容され、３号機１
６によってさらに精穀される。すなわち、精米機３機を
適用して、徐々に精穀することにより、胴割れ等の不良
発生を防止している。

３号機１６の下流側には、計量機１８が配置されている
。この計量機１８にも前記昇降機３４と同様の昇降機４
４が設けられており、前記３号機１Ｇの取出筒４２によ
って案内された米粒は、この昇降機４４のパケット４６
へ収容され、モータ４８　（第２図参照）の駆動によっ
て計量機１８の上方へ搬送される構成となっている。昇
降機４４の上方へ搬送された米粒は、ホッパ５０へ収容
され、モータ５１　（第２図参照）の駆動により開閉さ
れる開閉扉（図示省略）の作動で徐々に計量機本体５２
へ搬送され、計量された後、取出筒５４から取り出され
るようになっている。計量データは、制御装置２６へ供
給されるようになっている。

なお、この計量機１８にも制御装置２６に接続された水
分計２４が配設されており、精穀された米粒の水分の最
終チエツクが行われるようになっている。

第２図に示される如く、制御装置２６は、処理装置とし
てのマイクロコンピュータ５６を含んで構成されている
。マイクロコンピュータ５６は、ＣＰＵ５８、ＲＡＭ６
０．ＲＯＭ６２、入力ポートロ４、出力ポートロ６及び
これらを接続するデータバスやコントロールバス等のバ
ス６８で構成されている。出力ポートロ６には、前記各
精米機のモータ２２．３２．４０及び計量機のモータ４
８．５２の信号線が接続されている。

入力ポートロ４には、計量機１８からの計量データが入
力されているようになっている。また、この入力ポート
ロ４には、選択装置としてのマルチプレクサ７０の出力
側と接続されている。

マルチプレクサ７０の入力側には、各１１２．１４．１
６及び計量機１８の水分計２４が接続されており、それ
ぞれの水分検出値及び温度検出値が入力されるようにな
っている。また、マルチプレクサ７０には、その制御信
号入力端子７０Ａに出カポー゛トロ６からの信号線７２
が接続され、マルチプレクサ７０から入力ポートロ４へ
出力する信号の時期を制御する制御信号が入力されるよ
うになっている。すなわち、入力側に接続された信号線
から入力される検出信号は、前記制御信号に基づいて時
系列で出力側から出力させるようにしている。

以下に本実施例の作用を説明する。

乾燥機によって乾燥された米粒は１号機１２のパケット
３８へ収容され、モータ４０の駆動力で昇降機３４の上
方へと搬送される。昇降機３４の上方へ搬送された米粒
は、パケット３８がら案内筒３６を介してホッパ３０へ
貯留される。ここで、モータ３２の駆動力で開閉扉が開
くと、ホッパ３０に貯留された米粒が本体２０の精穀室
へと流れ落ち、モータ２２の駆動力で駆動される精穀ロ
ールの回転で所定の比較的低めの白皮で精穀される。

この精穀された米粒は取出筒４２によって、２号機１４
のパケット３８へ収容される。２号機Ｉ４では、前記１
号機と同様に精穀ロールの駆動により、前記白皮よりも
若干高めの白皮で精穀され、３号機１６へと搬送される
。３号機１６では、最終白皮となるように精穀され、取
出筒４２から計量機１８へと搬送され、計量機１８で計
量された後、取り出される。

ここで、各機１２．１４、Ｉ６及び計量機Ｉ８では、そ
れぞれの処理中の米粒の水分が検出されている。各機の
適正水分値は、１号機１２が約１３％、２号機１４．３
号機１６が約１４％であり、例えば、１号機１２におい
て、この適正水分値と検出水分値に大きな誤差があった
場合、制御装置２６では２号機１４．３号機１６の精穀
の中止、単位時間当たりの精穀量の増減、或いは加湿器
を用いて過乾燥を補正するようにしている。このため、
精米処理中に生じる、胴割れ等の不良発生を未然に防止
することができる。また、計量機１８の水分計２４では
仕上がり米粒の水分値をチエツクしているので、白米の
仕上がりのばらつきを監視することができる。

なお、各水分計２４には、温度センサ２８も取付けられ
ているので、水分値と同時に米粒の温度も検出し、制御
パラメータとして適用することができる。

制御装置２６のマルチプレクサ７０では、出力ポートロ
６からの制御信号に基づいて、複数の水分計２４からの
水分検出値及び温度検出値を時系列で入力ポートロ４へ
供給する。すなわち、水分検出及び温度検出時期は、制
御装置２６の処理速度に比べ遅いので、制御装置２６を
各機１２．１４．１６及び計量機１８の水分計２４の共
通したコントローラとして適用している。このため、精
米プラント１０に適用される機器が複数あっても制御装
置２６は単体で済み、制御系のハードウェア構成部品を
削減するこ吉ができる。

次に、本実施例の制御装置では、各水分計２４から検出
される水分検出値及び温度検出値を予めＲＡＭ６０に記
憶すれたレベル（ローレベル）ト比較して、検出値が適
正であるか否かを判断している。以下に、その制御を第
３図のフローチャートに従い説明する。

まず、ステップ１００において、１号機１２用フラグＦ
、２号機１４用フラグＧ、３号機１６用フラグＨ及び計
量１８用フラグＪをそれぞれリセッ）　（０）　ｔ、、
次いでステップ１０２で、マルチプレクサ７０を作動さ
せる制御信号を出力し、１号機１２の検出モードとし、
ステップ１０４へ移行してフラグＦがリセットされてい
るか否かを判断する。ステップ１０４で肯定判定された
場合は、ステップ１０６へ移行して１号機１２の水分値
Ｗ１５を検出し、次いでステップ１０８で１号機の温度
ＴＩｓを検出する。次のステップ１１０では、ＲＡＭ６
０に予め記憶されたレベルＷｔ　、　ＴＬを読出し、ス
テップ１１２へ移行して両者をそれぞれ比較する。ステ
ップ１１２で比較された結果、Ｗ＋ｓ≦Ｗ、かつＴＩＳ
≦ＴＬ　と判定された場合は、ステップ１１４でフラグ
Ｆをセットした後、ステップ１１６へ移行する。また、
ステップ１１２でＷ、ｓ＞ＷＬかつＴＩＳ＞ＴＬと判定
された場合は、ｌｑ機Ｉ２は使用されていると判断され
、ステップ１１４を飛び越してステップ１．１６へ移行
する。

なお、ステップ１０４でフラグＦがセット（１）されて
いると判定された場合は、上記ステップ１０６から１１
４を飛び越してステップ１１４へ移行する。

ステップ１１６では、マルチプレクサ７０を作動させる
制御信号を出力し、２号機１４の検出モードとし、ステ
ップ１１８へ移行してフラグＧがリセットされているか
否かを判断する。

ステップ１１８で肯定判定された場合は、ステップ１２
０へ移行して２号機１４の水分値Ｗ２Ｓを検出し、次い
でステップ１２２で２号機の温度Ｔ２Ｓを検出する。次
のステップ１２４では、ＲＡＭ６０に予め記憶されたレ
ベルＷＬ　、Ｔｔを読出し、ステップ１２６へ移行して
両者をそれぞれ比較する。ステップ１２６で比較された
結果、Ｗ２ｇ≦Ｗ＋、かつＴ２Ｓ≦ＴＬ　と判定された
場合は、ステップ１２８でフラグＧをセットした後、ス
テップ１３０へ移行する。また、ステップ１２ＧでＷ＋
ｓ＞ＷＬかつ’ｒｌｓ＞Ｔ’Ｌ　と判定された場合は、
２号機１４は使用されていると判断され、ステップ１２
８を飛び越してステップ１３０へ移行する。

なお、ステップ１１８でフラグＧがセント（１）されて
いると判定された場合は、上記ステップ１２０から１２
８を飛び越してステップ１３ｏへ移行する。

ステップ１３０では、マルチプレクサ７０を作動させる
制御信号を出力し、３号機１６の検出モードとし、ステ
ップ１３２へ移行してフラグＨがリセットされているか
否かを判断する。

ステップ１３２で肯定判定された場合は、ステツブ１３
４へ移行して３号機１６の水分値Ｗ３．を検出し、次い
でステップ１３６で３号機の温度Ｔ３Ｓを検出する。次
のステップ１３８では、ＲＡＭ６０に予め記憶されたレ
ベルｗ、、ＴＬを読出し、ステップ１４０へ移行して両
者をそれぞれ比較する。ステップ１４０で比較された結
果、Ｗ３５≦ＷＬかつＴ３ｓ≦Ｔ、と判定された場合は
、ステップ１４２てフラグＨをセットした後、ステップ
１４４へ移行する。また、ステップ１４０でＷ３５＞Ｗ
ＬかつＴ３Ｓ＞ＴＬと判定された場合は、３号機１６は
使用されてい乙と判断され、ステップ１４２を飛び越し
てステップ１４４へ移行する。

なお、ステップ１３２でフラグＨがセット（１）されて
いると判定された場合は、上記ステップ１３４から１４
２を飛び越してステップ１４４へ移行する。

ステップ１４４では、マルチプレクサ７０を作動させる
制御信号を出力し、計量機１８の検出モードとし、ステ
ップ１４６へ移行してフラグｊがリセットされているか
否かを判断する。

ステップ１４６で肯定判定された場合は、ステップ１４
８へ移行して計量機１８の水分値Ｗ、ｌｓを検出し、次
いてステップ１５０で計量機１８の温度Ｔｌ４ｓを検出
する。次のステップ１５２では、ＲＡＭ６０に予め記憶
されたレベルＷｔ　、ＴＬを読出し、ステップ１５４へ
移行して両者をそれぞれ比較する。ステップ１５４で比
較された結果、Ｗ、ｌｓ≦ＷＩ、かつＴｘｓ≦Ｔｔ、と
判定された場合は、ステップ１５６でフラグＪをセット
した後、ステップ１０２へ移行する。また、ステップ１
５４でＷ　Ｘ　５　＞　’ＪＪ　ＬかつＴＭＳ＞ＴＬ　
と判定された場合は、計量機１８は使用されていると判
断され、ステップ１５６を飛び越してステップ１０２へ
移行する。

なお、ステップ１４６でフラグＪがセット（１）されて
いると判定された場合は、上記ステップ１４８から１５
６を飛び越してステップ１０２へ移行する。

上記制御を繰り返すことにより、フラグがセットされた
場合にそのフラグに対応する精米機からの水分検出及び
温度検出する制御ルーチンをパスすることができ、検出
値が予想範囲外である場合のエラー処理等をする必要が
なくなる。

なお、本実施例では選択装置としてマルチプレクサ７０
を適用したが、複数のリレーによって時系列で出力する
ようにしてもよい。

また、本実施例では穀物精製プラントとして精米プラン
ト１０を適用したが、乾燥機等地のプラントにも適用可
能である。また、乾燥機、精米機等を混在させたプラン
トにも適用することができる。

検出制御ルーチンを示すフローチャートである。

１０・・・精米プラント、 ２４・・・水分計、 ２６・・・制御装置、 ２８・・・温度センサ、 ７０・・・マルチプレクサ、 ７２・・・信号線。

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. （１）穀物を処理するための各装置に設けられそれぞれ
   の装置内の穀物の水分を検出する複数の水分計と、入力
   された検出信号を処理する処理装置と、複数の水分計が
   接続され前記処理装置による制御により各水分計から出
   力された検出振動を所定の順序で選択して前記処理装置
   へ入力させる選択装置と、を有する穀物処理プラント用
   水分検出制御装置。
2. （２）前記処理装置は、所定レベル以下となる検出信号
   を出力した水分計を判別し、この水分計からの次回から
   の入力を中止するように選択装置を制御することを特徴
   とする請求項（１）記載の穀物処理プラント用水分検出
   制御装置。