JPH0480676A - 半導体集積回路 - Google Patents
半導体集積回路Info
- Publication number
- JPH0480676A JPH0480676A JP2194466A JP19446690A JPH0480676A JP H0480676 A JPH0480676 A JP H0480676A JP 2194466 A JP2194466 A JP 2194466A JP 19446690 A JP19446690 A JP 19446690A JP H0480676 A JPH0480676 A JP H0480676A
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- JP
- Japan
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- input
- integrated circuit
- output buffer
- test
- circuit
- Prior art date
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- Pending
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims abstract description 12
- 239000000872 buffer Substances 0.000 claims abstract description 23
- 238000011990 functional testing Methods 0.000 claims description 5
- 238000007689 inspection Methods 0.000 abstract description 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 4
- 230000004913 activation Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、半導体集積回路に関する。
従来、この種の半導体集積回路は、外部回路素子と内部
集積回路とを接続する人出力バッファを内部集積回路か
ら切離して機能検査できる機構を有していなかった。
集積回路とを接続する人出力バッファを内部集積回路か
ら切離して機能検査できる機構を有していなかった。
上述した従来の半導体集積回路は、入出力バッファを内
部集積回路から切離して機能検査てきる機構を有してい
ないので以下の欠点がある。
部集積回路から切離して機能検査てきる機構を有してい
ないので以下の欠点がある。
１、入出力バッファの機能検査をするのに内部集積回路
の活性化が必要である。
の活性化が必要である。
２、人出力バッファの不良を内部集積回路の不良と切分
ける事が困難である。
ける事が困難である。
３、半導体集積回路を基板に実装した後の接続検査が困
難である。
難である。
本発明の半導体集積回路は、外部回路素子と内部集積回
路とを接続する入出力バッファを内部集積回路から切離
して機能検査するためのセレクタ回路を含んで構成され
る。
路とを接続する入出力バッファを内部集積回路から切離
して機能検査するためのセレクタ回路を含んで構成され
る。
次に、本発明について図面を参照して説明する。
第１図は、本発明の一実施例の論理回路図である。
外部回路素子と内部集積回路とを接続する入出力バッフ
ァ１の入力側にテスト信号と通常信号を切換える為にセ
レクタ回路２が付加される。
ァ１の入力側にテスト信号と通常信号を切換える為にセ
レクタ回路２が付加される。
テスト信号端子２０に入力されるテスト信号と通常信号
端子１０に入力される通常信号との切換えは、テストモ
ード切換端子３０に入力されるテストモード切換え信号
により行なわれる。
端子１０に入力される通常信号との切換えは、テストモ
ード切換端子３０に入力されるテストモード切換え信号
により行なわれる。
第２図は、第１図に示した回路の一使用例を示すブロッ
ク図である。
ク図である。
テストモード切換え信号によりテストモードになると各
人出力バッファ１の入力には、セレクタ２によりテスト
信号が接続され、各入出力バッファは、直列に接続され
る。
人出力バッファ１の入力には、セレクタ２によりテスト
信号が接続され、各入出力バッファは、直列に接続され
る。
従ってテスト信号端子２０に入力されるテスト信号は、
各人出力バッファを通り、最終段の入出力バッファから
出力される。
各人出力バッファを通り、最終段の入出力バッファから
出力される。
なお、各人出力バッファごとにテストモード切換信号を
制御すれば、半導体集積回路を基板に実装した後の接続
検査をする事も可能である。
制御すれば、半導体集積回路を基板に実装した後の接続
検査をする事も可能である。
以上説明したように本発明は、外部回路素子と内部集積
回路とを接続する入出力バッファを内部集積回路から切
離して機能検査できる機構を半導体集積回路に持たせる
事により、以下の効果かある。
回路とを接続する入出力バッファを内部集積回路から切
離して機能検査できる機構を半導体集積回路に持たせる
事により、以下の効果かある。
１、人出力バッファの機能検査をするのに内部集積回路
の活性化が必要ない。
の活性化が必要ない。
２、人出力バッファの不良を内部集積回路の不良と切分
ける事が容易である。
ける事が容易である。
３、半導体集積回路を基板に実装した後の接続検査が容
易である。
易である。
第１図は本発明の一実施例の論理回路図、第２図は第１
図に示した半導体集積回路の一使用例を示すブロック図
である。 １・・・人出力バッファ、２・・・２−１セレクタ回路
、１０・・・通常信号端子、２０・・・テスト信号端子
、３０・・・テストモード切換端子。
図に示した半導体集積回路の一使用例を示すブロック図
である。 １・・・人出力バッファ、２・・・２−１セレクタ回路
、１０・・・通常信号端子、２０・・・テスト信号端子
、３０・・・テストモード切換端子。
Claims (1)
- 外部回路素子と内部集積回路とを接続する入出力バッフ
ァを内部集積回路から切離して機能検査するためのセレ
クタ回路を含むことを特徴とする半導体集積回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2194466A JPH0480676A (ja) | 1990-07-23 | 1990-07-23 | 半導体集積回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2194466A JPH0480676A (ja) | 1990-07-23 | 1990-07-23 | 半導体集積回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0480676A true JPH0480676A (ja) | 1992-03-13 |
Family
ID=16325028
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2194466A Pending JPH0480676A (ja) | 1990-07-23 | 1990-07-23 | 半導体集積回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0480676A (ja) |
-
1990
- 1990-07-23 JP JP2194466A patent/JPH0480676A/ja active Pending
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