JPH05129928A - 半導体集積回路装置 - Google Patents

半導体集積回路装置

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JPH05129928A
JPH05129928A JP4097672A JP9767292A JPH05129928A JP H05129928 A JPH05129928 A JP H05129928A JP 4097672 A JP4097672 A JP 4097672A JP 9767292 A JP9767292 A JP 9767292A JP H05129928 A JPH05129928 A JP H05129928A
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npn
transistor
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郁朗 増田
Kazuo Kato
和男 加藤
Takao Sasayama
隆生 笹山
Yoji Nishio
洋二 西尾
Shigeo Kuboki
茂雄 久保木
Masahiro Iwamura
将弘 岩村
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Abstract

(57)【要約】 【目的】本発明の目的は、従来のCMOS回路,バイポ
ーラトランジスタ回路の欠点を補い、電界効果トランジ
スタ及びバイポーラトランジスタからなる高速で低消費
電力のゲート回路を提供することにある。 【構成】バイポーラトランジスタで出力段を構成し、MO
S トランジスタで論理を採ってバイポーラトランジスタ
を駆動するバイポーラMOS複合回路において、バイポ
ーラトランジスタがオフになる時、トランジスタから蓄
積電荷を抜取り出力信号が電源電位まで振れるように、
バイポーラトランジスタのベース・エミッタ間に入力端
子と接続されないプルアップ手段を設けたことを特徴と
する。 【効果】バイポーラトランジスタがオフになる時、蓄積
電荷を抜き取るのでバイポーラトランジスタがすばやく
オフ状態になり、貫通電流を少なくでき、高速,低消費
電力のバイポーラMOS複合回路を得ることができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は半導体集積回路装置に係
り、特に、電界効果トランジスタ及びバイポーラトラン
ジスタからなる高速で低消費電力の半導体集積回路装置
に関する。
【0002】
【従来の技術】従来の電界効果トランジスタのみを使用
した論理回路を図1に示す。ここでは2入力NANDに
ついて示す。
【0003】この2入力NAND回路は2つの並列接続
されたPMOSトランジスタ200,201と2つの直
列接続されたNMOSトランジスタ202,203とか
ら構成される。入力204と205が共に“1”レベル
であるとNMOSトランジスタ202,203がオン状
態になり、PMOSトランジスタ200,201はオフ
状態になる。したがって出力206は“0”レベルとな
る。入力204あるいは205のどちらか一方が“0”
レベルであるとPMOSトランジスタ201あるいは2
00のどちらか一方がオン状態になり、NMOSトラン
ジスタ202あるいは203のどちらか一方がオフ状態
になる。したがって出力206は“1”レベルとなる。
この動作で判るように入力レベルが“1”か“0”レベ
ルに決まると電源207から接地までに導電バスを作る
ことはない。故にCMOS回路は低消費電力という特長
を有している。しかしMOSトランジスタの伝達コンダ
クタンスがバイポーラトランジスタに比して小さいた
め、負荷容量が大きいとその充放電に時間がかかり、ス
ピードが遅くなる欠点があった。
【0004】図2は従来のバイポーラトランジスタのみ
による2入力NAND回路を示す。この2入力NAND
回路はマルチエミッタのNPNトランジスタ(以後NP
Nと略す)300、NPN301,302,303、ダ
イオード304、それに抵抗305,306,307,
308から構成される。入力309,310が共に
“1”レベルの時、NPN300のベース,エミッタ接合は逆
バイアスされるので、抵抗305に流れるベース電流は
NPN301のベース電流となる。したがってNPN301はオンと
なり、抵抗307の非接地側端子電位が上昇しNPN303は
オンとなるので出力311は“0”レベルとなる。な
お、この時、抵抗306の電源312と反対側の端子電
位が低下するのでNPN302はオフとなる。一方、入力30
9,310のうちどちらかが“0”レベルの時はNPN300
のベース,エミッタ接合が順バイアスされ、抵抗305
を流れるベース電流は大部分入力309または310に
流れ込むのでNPN300は飽和状態となる。したがってNPN3
01のベースへは入力309または310の“0”レベル
がほぼそのまま伝達され、NPN301はオフとなるので、NP
N303がオフとなる。一方抵抗306の電源312と反対
側の端子の電位が上昇するのでNPN302がオンになり、NP
N302のエミッタ電流が負荷を充電し、出力311は“1”
レベルとなる。
【0005】この様なバイポーラトランジスタ回路で
は、大きな電流を低インピーダンス回路に流し込んだ
り、流し出したりするので消費電力が大きい欠点があ
る。集積度に関してもバイポーラトランジスタ回路はC
MOS回路に比べてかなり劣る。一方、スピードは高い
伝達コンダンタンス特性のため速いという特徴を有して
いる。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】以上述べてきたCMO
S回路,バイポーラ回路の欠点を補うために、図3に示
すようなインバータ回路が知られている。このインバー
タはPMOS50,NMOS51,NPN53,PNPトランジスタ
(以下PNPと略す)54から成る。入力55が“0”レ
ベルの時、PMOS50はオンとなりNMOS51はオフとなる。し
たがってNPN53とPNP54のベース電位が上昇
し、NPN53はオンとなりPNP54はオフとなり、
出力56は“1”レベルとなる。入力55が“1”レベ
ルの時、PMOS50はオフとなりNMOS51はオンとなる。した
がってNPN53とPNP54のベース電位が低下し、
NPN53はオフとなりPNP54はオンとなり、出力
53は“0”レベルとなる。
【0007】しかし、例えば、NPN53がオンになっ
て出力56が“1”レベルとなった時、出力56は完全
に電源電位まで上がらず、電源電位−VBEまでしか上
がらない。ただし、VBEはNPN53のベース・エミ
ッタ間順電圧である。このため、次段の論理ゲートが完
全にオフにならず、次段の論理ゲートでDC電流が流れ
ることがある。また、次段の論理ゲートのNMOSのゲ
ートには、ゲート・ソース間に電源電圧分が印加されな
いので次段の論理ゲートのNMOSのオン抵抗が大きく
なり、次段の論理ゲートの高速化の妨げになることがあ
った。
【0008】また、IEEE Trans Electron Devicos vol.
ED−16,No.11,Nov,1969,p945〜951の
Fig.8には、図8に示す様なインバータ回路が記載され
ている。
【0009】このインバータ回路はPMOSトランジス
タ401,NMOSトランジスタ402,第1のNPN
トランジスタ501,第2のNPNトランジスタ502
から構成される。
【0010】このインバータ回路では第1及び第2のNP
N501,502 がオフになるとき、ベースに蓄積した寄生電
荷を強制的に抜取る手段がないため該NPN501,502 がオ
フに切換わる時間が長くなる。そのため第1,第2のNP
N501,502 がともにオンとなる状態が長く続き、消費電
力が増加するだけでなくスイッチング時間も遅くなる。
【0011】又、例えば、NPN501がオンになって出力が
“1”レベルになる時、図3と同様に出力レベルが完全
に電源電圧まで上がらず、同様の問題があった。
【0012】さらに、上記文献のFig.10には、図9に
示す様なインバータ回路が記憶されている。図9のイン
バータ回路は、図8のインバータ回路に、NMOSトラ
ンジスタ403及びPMOSトランジスタ404を設け
た構成となっている。NMOS403 は第1のNPN501がオンか
らオフになるとき、ベースに蓄積した寄生電荷を強制的
に抜取る手段であり、PMOS404 は第2のNPN502がオンか
らオフになるとき、ベースに蓄積した寄生電荷を強制的
に抜取る手段であり、これらによって図8のインバータ
回路よりは、若干、高速性が得られるが、NMOS403とPMO
S404のゲートが共に入力INに接続されるので入力容量
が大きくなり、回路の高速性が得られないという問題が
ある。また、PMOSトランジスタ404は、入力レベ
ルが“0”でオン状態になるが、このときのPMOS404 の
ゲート・ソース間の電位は、第2のNPN502の1VBE(例
えば、Siの場合は約0.7V)のみであるので、PMOS40
4 のドレイン電極ID は殆んど流れず、第2のNPN502の
ベースに蓄積した寄生電荷は、放電されず、回路の高速
性が得られないという問題点も有する。
【0013】又、例えば、NPN501がオンになって出力が
“1”レベルになる時、図3と同様に出力レベルが完全
に電源電圧まで上がらず、同様の問題があった。
【0014】また、米国特許第4,301,383 号には、図1
0に示す様なバッファ回路が記載されている。PMOS60
1,603,605、NMOS602,604、NPN701,702で構成される
回路であるが、PMOS601,NMOS602で構成される第1のイ
ンバータ回路の後段に、PMOS603,NMOS604で構成される
第2のインバータ回路があり、NPN702は2段のインバー
タ回路を介して駆動されることになり、遅延が生じて、
回路全体としての高速性が得られないという問題点を有
する。
【0015】この回路の場合、NPN701がオンになって出
力が“1”レベルになる時、PMOS605 がオンになり、PM
OS605 によって出力レベルは完全に電源電圧まで上昇す
る。従って図3のような問題は生じないが、図10の回
路を多入力に展開した場合、入力数に等しい数のPMO
Sが必要となり、高集積化の点で欠点があった。又、PM
OS605 は入力に接続されているので入力容量が大きくな
り、回路の高速性の点でも問題がある。
【0016】本発明の目的は、以上述べてきたCMOS
回路,バイポーラトランジスタ回路の欠点を補い、電界
効果トランジスタ及びバイポーラトランジスタからなる
高速で低消費電力のゲート回路を提供することにある。
【0017】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、バイポーラトランジスタで出力段を構成し、MOSト
ランジスタで論理を採るとともに、バイポーラトランジ
スタを駆動する回路を構成したバイポーラMOS複合回
路において、バイポーラトランジスタがオフになる時、
トランジスタから蓄積電荷を抜取る要素を設けるととも
に出力信号が電源電位まで振れるように、バイポーラト
ランジスタのベース・エミッタ間に入力端子と接続され
ないプルアップ手段を設けたことを特徴とする。
【0018】
【作用】バイポーラトランジスタで出力段を構成し、M
OSトランジスタで論理を採るとともにバイポーラトラ
ンジスタを駆動する回路を構成したバイポーラMOS複
合回路において、バイポーラトランジスタがオフになる
時、トランジスタから蓄積電荷を抜き取る要素を設ける
ことによって、バイポーラトランジスタがすばやくオフ
状態になり、貫通電流を少なくでき、高速,低消費電力
なバイポーラMOS複合回路を得ることができる。又、バ
イポーラトランジスタのベース・エミッタ間にプルアッ
プ手段を設けることによって、出力レベルを完全に電源
電圧まで上げることができ、次段の論理ゲートの低電力
化,高速化に寄与できる。
【0019】又、プルアップ手段が入力端子と接続され
ていないので、回路の入力容量を小さくでき、高速化に
寄与できる。
【0020】
【実施例】以下、本発明を実施例によって詳細に説明す
る。
【0021】(実施例1)図4は、トーテムポール出力
形インバータ回路を示す。
【0022】図4に於いて、14は、コレクタが電源端
子1に、エミッタが出力端子17に接続される第1のN
PNバイポーラトランジスタ(以下単に第1のNPNと
称す)、15は、コレクタが出力端子17に、エミッタ
が接地電位GNDである固定電位端子に接続される第2
のNPNのバイポーラトランジスタ(以下単に第2のN
PNと称す)、10は、ゲートが入力端子16に、ソー
ス及びドレインがそれぞれ第1のNPNのコレクタとベ
ースとに接続されるP型絶縁ゲート電界効果トランジス
タ(以下単にPMOSと称す)、11は、ゲートが入力
端子16に、ドレイン及びソースが第2のNPNのコレ
クタとベースとに接続されるN型絶縁ゲート電界効果ト
ランジスタ(以下単にNMOSと称す)、12及び13
は、第1,第2のNPNのベースとエミッタとの間に設
けられる抵抗である。
【0023】表1は本実施例の論理動作を示すものであ
る。
【0024】
【表1】
【0025】入力16が“0”レベルの時、PMOS10がオ
ンとなりNMOS11がオフとなる。したがって第1のNPN
14のベース電位が上昇し、第1のNPN14はオンと
なる。このとき、NMOS11がオフとなるので第2のNPN
のベース15への電流の供給が止るとともに、第2のN
PN15のベース及びNMOS11に蓄積された蓄積電荷が抵
抗13を介して接地電位CNDへ抜取られるので、第2
のNPN15は急速にオフになる。
【0026】したがって、第1のNPN14のエミッタ
電流は図示しない容量性負荷を充電し出力17は急速に
“1”レベルとなる。
【0027】入力16が“1”レベルの時、PMOS10がオ
フとなりNMOS11がオンとなる。このとき、PMOS10がオフ
となるので第1のNPN14のベースへの電流の供給が
止まるとともに、第1のNPN14のベースB及びPMOS
10に蓄積された蓄積電荷が抵抗12,NMOS11,NPN15 ,
抵抗13を介して接地電位GNDへ抜取られるので、第
1のNPN14は急速にオフになる。また、NMOS11がオ
ンとなり、ドレインとソースとの間が短絡されるので、
第2のNPN15のベースには出力17からの電流と、
前述した様な第1のNPN14のベース及びPMOS10に蓄
積された蓄積電荷の電流とが共に供給され、第2のNP
N15は急速にオンとなる。したがって、出力17は急
速に“0”レベルとなる。
【0028】ここで、抵抗12の働きについて更に述べ
る。前述した様に抵抗12は、PMOS10及び第1のNPN
14がオンからオフに切換わるとき、PMOS10及び第1の
NPN14のベースに蓄積された蓄積電荷を抜取り、第
1のNPN14を急速にオフさせる働きと、この抜取っ
た電荷をオンとなったNMOS11を介して第2のNPNのベー
スに供給して、第2のNPNを急速にオンさせる働きと
を持つ。
【0029】さらに、抵抗12がPMOS10のドレインとNM
OS11のドレインとの間に設けられているので、電源端子
1と接地電位GNDとの間に導電バスが生じることな
く、低消費電力が達成できる。つまり、仮に抵抗12が
PMOS10のドレインとGNDとを接続する様に設けられた
場合、入力16が“0”レベルのとき、電源端子1とG
NDとの間に導電バスが生じ、常に電流が流れ、消費電
力が大きくなるが本実施例では導電バスが生じない。
【0030】また、本実施例に於いては、抵抗12が出
力端子17にも接続されていることによって、入力16
が“0”レベルのとき、PMOS10と抵抗12(電位伝達手
段)とを介して、出力17の電位を電源端子1の電位ま
で上昇させることができ、出力のフル振幅化が図れノイ
ズマージンを十分確保できる。
【0031】また、次段の論理ゲートのPMOSが完全
にオフになるので次段の論理ゲートでDC電流が流れる
ことがなく低消費電力化に寄与する。また、次段の論理
ゲートのNMOSのゲートにはゲート,ソース間に電源
電圧分印加されるので、次段の論理ゲートのNMOSの
オン抵抗が小さくなり、次段の論理ゲートの高速化に寄
与する。
【0032】又、抵抗12は入力端子に接続されていな
いので、入力容量の増加を招かない。
【0033】次に抵抗13の働きについて更に述べる。
前述した様に抵抗13はNMOS11及び第2のNPN15が
オンからオフに切替るとき、NMOS11及び第2のNPN1
5のベースBに蓄積された蓄積電荷を抜取り、第2のN
PN15を急速にオフさせる働きを持つ。更に本実施例
においては、入力16が“1”レベルのとき抵抗13と
NMOS11とを介して、出力17を“0”レベルまで下降さ
せることができ、ノイズマージンを十分確保できる。ま
た、上述と同様な効果が次段の論理ゲートで得られる。
【0034】また、本実施例においては、バイポーラト
ランジスタはNPNトランジスタのみ使用するのでスイ
ッチング特性を一致させやすい。
【0035】なお、NMOS11,バイポーラトランジスタ1
5及び抵抗13からなる部分を論理回路におけるダブル
ダウン回路あるいはスイッチング手段とみなすことがで
きるのは容易に理解できるであろう。
【0036】(実施例2)図5は本発明の第2の実施例
となる2入力NAND回路である。
【0037】図5に於いて、26は、コレクタが電源端
子1に、エミッタが出力端子29が接続される第1のN
PN、27は、コレクタが出力端子29に、エミッタが
接地電位GNDである固定電位端子に接続される第2の
NPN、28は2個の入力端子、20及び21は、各ゲ
ートがそれぞれ異なる入力端子28に、各ソース及び各
ドレインが、第1のNPN26のコレクタとベースとの
間に並列にそれぞれ接続されるPMOS、22及び23
は、各ゲートがそれぞれ異なる入力端子28に、各ドレ
イン及び各ソースが第2のNPN27のコレクタとベー
スとの間に直列にそれぞれ接続されるNMOS、24は
PMOS20,21のドレイン、第1のNPN26 のベースとNMOS22
のドレイン、出力端子とを接続する抵抗、25は第2の
NPN27 のベースとエミッタとを接続する抵抗である。
【0038】表2は本実施例の論理動作を示すものであ
る。
【0039】
【表2】
【0040】まず入力28のどちらかが“0”レベルの
時、PMOS20,21のどちらかがオンとなり、NMOS22,23の
どちらかがオフとなる。したがって第1のNPN26の
ベース電位が上昇し、第1のNPN26はオンとなる。
このとき、NMOS22,23のうちどちらかがオフとなるので
第2のNPN27のベースへの電流の供給が止るととも
に、第2のNPN27のベース及びNMOS22,23に蓄積さ
れた蓄積電荷が抜取られるので、第2のNPN27は急
速にオフになる。
【0041】したがって、第1のNPN26のエミッタ
電流は図示しない容量性負荷を充電し出力29は、急速
に“1”レベルとなる。
【0042】入力28の両方が“0”レベルの時、PMOS
20,21の両方がオンとなり、NMOS22,23の両方がオフと
なる。したがって動作は上記と同じで出力29は“1”
となる。
【0043】一方入力28の両方が“1”レベルの時、
PMOS20,21の両方がオフとなり、NMOS22,23の両方がオ
ンとなる。このとき、PMOS20,21が共にオフとなるの
で、第1のNPN26のベースへ電流の供給が止まると
ともに、第1のNPN26 のベース及びPMOS20,21に蓄積さ
れた蓄積電荷が抜取られるので、第1のNPN26 は急速に
オフになる。また、NMOS22,23がオンとなり、ドレイン
とソースとの間が短絡されるので、第2のNPN27の
ベースには出力29からの電流と、前述した様な第1の
NPN26のベース及びPMOS20,21に蓄積された蓄積電
荷の電流とが共に供給され第2のNPN27は急速にオ
ンとなる。したがって、出力29は急速に“0”レベル
となる。
【0044】本実施例に於いても、第1の実施例と同様
な効果が達成できる。NMOS22,23、バイポーラトランジ
スタ27,抵抗25から成る部分を論理回路におけるプ
ルダウン回路あるいはスイッチング手段とみなすことが
できるのは容易に理解できるであろう。
【0045】尚、本実施例では2入力NAND回路を例
にとって説明したが、3入力NAND,4入力NAND等の
一般のk入力NAND回路(k≧2)に、本発明は適用
できる。又、多入力になっても抵抗の数を増やす必要は
ない。
【0046】(実施例3)図6は本発明の第3の実施例
となる2入力NOR回路である。
【0047】図6に於いて、36は、コレクタが電源端
子1に、エミッタが出力端子39に接続される第1のN
PN、37は、コレクタが出力端子39に、エミッタが
接地電位GNDに接続される第2のNPN、38は2個
の入力端子、30及び31は、各ゲートがそれぞれ異な
る入力端子38に、各ソース及び各ドレインが、第1の
NPN36のコレクタとベースとの間に直列にそれぞれ
接続されるPMOS,32及び33は、各ゲートがそれ
ぞれ異なる入力端子38に、各ドレイン及び各ソースが
第2のNPN37のコレクタとベースとの間に並列にそ
れぞれ接続されるNMOS、34はPMOS31のドレインと
NMOS32,33のドレイン,出力端子39とを接続する抵
抗、35は第2のNPN37のベースとエミッタとを接
続する抵抗である。
【0048】表3は本実施例の論理動作を示すものであ
る。
【0049】
【表3】
【0050】まず入力38が両方が“0”レベルの時、
PNOS30,31の両方にオンとなり、NMOS32,33の両方がオ
フとなる。したがって第1のNPN36のベース電位が
上昇し、第1のNPN36はオンとなる。このとき、NM
OS32,33が共にオフとなるので第2のNPN37のベ
ースへの電流の供給が止まるとともに、第2のNPN3
7のベース及びNMOS32,33に蓄積された蓄積電荷が抜取
られるので、第2のNPN37は急速にオフになる。
【0051】したがって、第1のNPN36のエミッタ
電流は図示しない容量性負荷を充電し出力39は急速に
“1”レベルとなる。
【0052】入力38のどちらかが“1”レベルの時、
PMOS30,31のどちらかがオフとなり、NMOS32,33のどち
らかがオンとなる。このとき、PMOS30,31のどちらかが
オフとなるので第1のNPN36のベースへの電流の供
給が止まるとともに、第1のNPN36のベース及びPM
OS30,31のうちどちらかに蓄積された蓄積電荷が抜取ら
れるので、第1のNPN36は急速にオフになる。ま
た、NMOS32,33のどちらかがオンとなり、ドレインとソ
ースとの間が短絡されるので、第2のNPN37 のベースに
は出力39からの電流と、前述した様な第1のNPN36 の
ベース及びPMOS30,31のうちどちらかに蓄積された蓄積
電荷の電流とが共に供給され、第2のNPN37は急速
にオンとなる。したがって、出力39は急速に“0”レ
ベルとなる。
【0053】入力38の両方が“1”レベルの時、PMOS
30,31の両方がオフとなり、NMOS32,33の両方がオンと
なる。したがって動作は上記と同じで出力39は“0”
レベルとなる。
【0054】本実施例に於いても、第1の実施例と同様
な効果が達成できる。NMOS32,33、バイポーラトランジ
スタ37,抵抗35から成る部分を論理回路におけるプ
ルダウン回路あるいはスイッチング手段とみなすことが
できるのは容易に理解できるであろう。
【0055】尚、本実施例では2入力NOR回路を例に
とって説明したが、3入力NOR,4入力NOR等の一
般のk入力NOR回路(k≧2)に、本発明は適用でき
る。又、多入力になっても抵抗の数を増やす必要はな
い。
【0056】(実施例4)図7は本発明の第4の実施例
となる、出力部に図4に示したインバータ回路を使用し
たラッチを示す。
【0057】図7に於いて、42はラッチパルス401
の反転を作るCMOSインバータ、40はデータ入力4
00を伝達するトランスファゲート、43は記憶部を構
成するCMOSインバータ、41はトランスファゲート
であり、図4と同一符号は同一物及び相当物を示す。
【0058】データ入力400をラッチする際にはラッ
チパルス401を“1”にする。するとトランスファゲ
ート40は、オンとなりトランスファゲート41はオフ
となりデータを書込まれる。その後ラッチパルス401
を“0”にするとトランスファゲート40はオフとな
り、トランスファゲート41はオンとなる。したがって
インバータ43,トーテムポール出力形インバータ及び
トランスファゲート41でデータを保持する。
【0059】本実施例によればCMOS駆動段とバイポ
ーラ出力段2段の最小構成のラッチ回路及びCMOS回
路でBiCMOS回路をあるいはBiCMOS回路でCMOS回路を
駆動するという回路方式が実現でき、高速,低消費電力
及び高集積のLSI化が可能となる。
【0060】
【発明の効果】以上述べた様に本発明によれば、バイポ
ーラトランジスタの高駆動能力と電界効果トランジスタ
の低消費電力特性を兼ね備えた回路を最小段階で構成
し、高速,低消費電力の半導体集積回路装置を得ること
ができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】従来のCMOS回路図。
【図2】従来のTTL回路図。
【図3】従来例であるインバータ回路図。
【図4】本発明の第1の実施例であるインバータ回路。
【図5】本発明の第2の実施例である2入力NAND回
路。
【図6】本発明の第3の実施例である2入力NOR回
路。
【図7】本発明の第4の実施例であるラッチ回路。
【図8】従来例のインバータ回路。
【図9】従来例のインバータ回路。
【図10】従来例のインバータ回路。
【符号の説明】
10…PMOSトランジスタ、11,90,110,1
23…NMOSトランジスタ、12,13…抵抗、1
4,15…NPNトランジスタ、100…PチャネルJ
FET、125,126…ショットキーバリヤダイオー
ド付NPNトランジスタ。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 西尾 洋二 茨城県日立市幸町3丁目1番1号 株式会 社日立製作所日立研究所内 (72)発明者 久保木 茂雄 茨城県日立市幸町3丁目1番1号 株式会 社日立製作所日立研究所内 (72)発明者 岩村 将弘 茨城県日立市幸町3丁目1番1号 株式会 社日立製作所日立研究所内

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】第1の電位に接続された第1導電型のコレ
    クタ,出力端子に接続された第1導電型のエミッタ、及
    び第2導電型のベースを持つ第1のバイポーラトランジ
    スタと、 前記第1のバイポーラトランジスタのベースとコレクタ
    間に接続された第1の電界効果トランジスタと、 前記第1のバイポーラトランジスタのベースとエミッタ
    間に接続された電位伝達手段と、 前記出力端子と第2の電位間に接続されたスイッチング
    手段を具備し、 前記第1の電界効果トランジスタのゲートとスイッチン
    グ手段が入力端子に接続されていることを特徴とする半
    導体集積回路装置。
  2. 【請求項2】クレーム1において、前記第1の電界効果
    トランジスタが第2導電型であることを特徴とする半導
    体集積回路装置。
  3. 【請求項3】クレーム1において、前記電位伝達手段が
    抵抗から成ることを特徴とする半導体集積回路装置。
  4. 【請求項4】クレーム1において、前記第1のバイポー
    ラトランジスタがターンオフする時、前記スイッチング
    手段がターンオンし、前記第1のバイポーラトランジス
    タがターンオンする時、前記スイッチング手段がターン
    オフするように、前記第1のバイポーラトランジスタと
    前記スイッチング手段が相補的に動作することを特徴と
    する半導体集積回路装置。
  5. 【請求項5】第1の電位に接続された第1導電型のコレ
    クタ,出力端子に接続された第1導電型のエミッタ、及
    び第2導電型のベースを持つ第1のバイポーラトランジ
    スタと、 前記第1のバイポーラトランジスタのベースとコレクタ
    間に接続された第1の電界効果トランジスタと、 前記第1のバイポーラトランジスタのベースとエミッタ
    間に接続された電位伝達手段と、 前記出力端子と第2の電位間に接続されたスイッチング
    手段と、 前記出力端子と入力端子の間に接続されたフィードバッ
    ク手段を具備し、 前記第1の電界効果トランジスタのゲート及び前記スイ
    ッチング手段が、前記入力端子に接続されていることを
    特徴とする半導体集積回路装置。
  6. 【請求項6】第1の電位に接続された第1導電型のコレ
    クタ,出力端子に接続された第1導電型のエミッタ、及
    び第2導電型のベースを持つ第1のバイポーラトランジ
    スタと、 前記第1のバイポーラトランジスタのベースとコレクタ
    間に接続された第1の電界効果トランジスタと、 前記第1のバイポーラトランジスタのベースとエミッタ
    間に接続された電位伝達手段と、 前記出力端子と第2の電位間に接続されたスイッチング
    手段と、 入力端子に出力信号を出力するCMOS回路を具備し、 前記第1の電界効果トランジスタのゲート及びスイッチ
    ング手段が、前記入力端子に接続されていることを特徴
    とする半導体集積回路装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS55100734A (en) * 1979-01-26 1980-07-31 Hitachi Ltd Output buffer circuit with latch function
JPS55154826A (en) * 1979-05-21 1980-12-02 Exxon Research Engineering Co Switching circuit

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