JPH0529521A - 半導体装置 - Google Patents
半導体装置Info
- Publication number
- JPH0529521A JPH0529521A JP17817791A JP17817791A JPH0529521A JP H0529521 A JPH0529521 A JP H0529521A JP 17817791 A JP17817791 A JP 17817791A JP 17817791 A JP17817791 A JP 17817791A JP H0529521 A JPH0529521 A JP H0529521A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- semiconductor device
- long side
- lead terminals
- package
- side portion
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 リード端子がヒートサイクルの影響を受け難
くなり、ヒートサイクルによるリード端子の強度低下を
抑えることができ、信頼性が向上する半導体装置を提供
する。 【構成】 リード端子2がパッケージ1の長辺部1aの
中央部から両端方向に割り付けされて突設され、かつ長
辺部1aの左右両端部にリード端子2が突設されな,い
空白部3が設けられている。
くなり、ヒートサイクルによるリード端子の強度低下を
抑えることができ、信頼性が向上する半導体装置を提供
する。 【構成】 リード端子2がパッケージ1の長辺部1aの
中央部から両端方向に割り付けされて突設され、かつ長
辺部1aの左右両端部にリード端子2が突設されな,い
空白部3が設けられている。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、パッケージが矩形状
である表面実装タイプの半導体装置に関する。
である表面実装タイプの半導体装置に関する。
【0002】
【従来の技術】たとえば、図3は従来の表面実装タイプ
の半導体装置、いわゆるTSOP(Thin Smal
l Outline Package)タイプIIの平面
図であり、図において、パッケージ1は矩形状に形成さ
れ、その両側長辺部1aには複数個のリード端子2が突
設されている。リード端子2は長辺部1aの両端部から
中央部に向かって割りつけされ、所定間隔おきに突設さ
れている。
の半導体装置、いわゆるTSOP(Thin Smal
l Outline Package)タイプIIの平面
図であり、図において、パッケージ1は矩形状に形成さ
れ、その両側長辺部1aには複数個のリード端子2が突
設されている。リード端子2は長辺部1aの両端部から
中央部に向かって割りつけされ、所定間隔おきに突設さ
れている。
【0003】ところで、この種の半導体装置において
は、パッケージ1と半導体チップ(図示せず)との熱膨
張係数の違いで、パッケージ1の中心部から離れた外側
のリード端子2ほどヒートサイクルによる影響を受け易
く、また長辺1aおよび短辺1bの長いものほどヒート
サイクルの影響を受け、リード端子2と半導体チップ
(図示せず)とのハンダ付け部の接着強度が低下し易い
ことが一般に知られている。
は、パッケージ1と半導体チップ(図示せず)との熱膨
張係数の違いで、パッケージ1の中心部から離れた外側
のリード端子2ほどヒートサイクルによる影響を受け易
く、また長辺1aおよび短辺1bの長いものほどヒート
サイクルの影響を受け、リード端子2と半導体チップ
(図示せず)とのハンダ付け部の接着強度が低下し易い
ことが一般に知られている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】従来の半導体装置は、
以上のように構成されているので、長辺部1aの一番外
側に突設されたリード端子2ではヒートサイクルの影響
を特に受け易く、ハンダ付け部の強度が著しく低下して
しまうという課題があった。
以上のように構成されているので、長辺部1aの一番外
側に突設されたリード端子2ではヒートサイクルの影響
を特に受け易く、ハンダ付け部の強度が著しく低下して
しまうという課題があった。
【0005】この発明は、このような課題を解決するた
めになされたもので、ヒートサイクルの影響を受け難
く、特に外側端部のリード端子のヒートサイクルによる
強度低下を抑えることを可能にした半導体装置を得るこ
とを目的とする。
めになされたもので、ヒートサイクルの影響を受け難
く、特に外側端部のリード端子のヒートサイクルによる
強度低下を抑えることを可能にした半導体装置を得るこ
とを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】この発明にかかる半導体
装置においては、リード端子がパッケージの長辺部の中
央部から両端方向に割り付けされて突設され、かつ、長
辺部の左右両端部にリード端子が突設されない空白部分
が設けられているものである。
装置においては、リード端子がパッケージの長辺部の中
央部から両端方向に割り付けされて突設され、かつ、長
辺部の左右両端部にリード端子が突設されない空白部分
が設けられているものである。
【0007】
【作用】この発明の半導体装置においては、ヒートサイ
クルの影響を受け易い、パッケージの中心部から離れた
長辺部の両端部には、リード端子が配設されておらず、
リード端子はヒートサイクルの影響を受け難くなる。
クルの影響を受け易い、パッケージの中心部から離れた
長辺部の両端部には、リード端子が配設されておらず、
リード端子はヒートサイクルの影響を受け難くなる。
【0008】
【実施例】実施例1 図1は、この発明にかかる半導体装置の一例を示すもの
で、図において、パッケージ1は矩形状に形成され、そ
の長辺部1aに複数個のリード端子2が突設されてい
る。リード端子2は長辺部1aの中央部の一定範囲N内
に所定間隔おきに突設され、その左右外側部分には、リ
ード端子2が全く突設されない空白部3が形成されてい
る。また、リード端子2は長辺部1aの中央部から両端
方向に向かってそれぞれ割りつけされ、突設されてい
る。
で、図において、パッケージ1は矩形状に形成され、そ
の長辺部1aに複数個のリード端子2が突設されてい
る。リード端子2は長辺部1aの中央部の一定範囲N内
に所定間隔おきに突設され、その左右外側部分には、リ
ード端子2が全く突設されない空白部3が形成されてい
る。また、リード端子2は長辺部1aの中央部から両端
方向に向かってそれぞれ割りつけされ、突設されてい
る。
【0009】実施例2 図2は、この発明の他の実施例を示すもので、リード端
子2は、短辺部1bの長さLと同等か、あるいはこれよ
り短い領域N内に、可能な限り設置間隔を狭くして長辺
部1aの中央部に集中的に突設されている。このような
構成とすることにより、ヒートサイクルによるリード端
子2のハンダ付け強度の低下を抑えることができ、製品
としての信頼性が高められる。
子2は、短辺部1bの長さLと同等か、あるいはこれよ
り短い領域N内に、可能な限り設置間隔を狭くして長辺
部1aの中央部に集中的に突設されている。このような
構成とすることにより、ヒートサイクルによるリード端
子2のハンダ付け強度の低下を抑えることができ、製品
としての信頼性が高められる。
【0010】
【発明の効果】以上説明したように、この発明の半導体
装置によれば、長辺部の両端部にリード端子が突設され
ない充分な空白部が設けられているため、リード端子が
ヒートサイクルの影響を受け難くなり、ヒートサイクル
によるリード端子の強度低下を抑えることができ、信頼
性が向上するという効果がある。
装置によれば、長辺部の両端部にリード端子が突設され
ない充分な空白部が設けられているため、リード端子が
ヒートサイクルの影響を受け難くなり、ヒートサイクル
によるリード端子の強度低下を抑えることができ、信頼
性が向上するという効果がある。
【図1】この発明の半導体装置の一実施例を示す平面図
である。
である。
【図2】この発明の半導体装置の他の一実施例を示す平
面図である。
面図である。
【図3】従来の半導体装置の一例を示す平面図である。
1a 長辺部 1b 短辺部 2 リード端子 3 空白部
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 【請求項1】 パッケージが矩形状である表面実装タイ
プの半導体装置において、パッケージの長辺部に複数個
のリード端子がパッケージの中央部から両端方向に割り
つけして突設され、かつ前記長辺部の両端部には前記リ
ード端子のない空白部が設けられてなることを特徴とす
る半導体装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17817791A JPH0529521A (ja) | 1991-07-18 | 1991-07-18 | 半導体装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17817791A JPH0529521A (ja) | 1991-07-18 | 1991-07-18 | 半導体装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0529521A true JPH0529521A (ja) | 1993-02-05 |
Family
ID=16043957
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17817791A Pending JPH0529521A (ja) | 1991-07-18 | 1991-07-18 | 半導体装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0529521A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH06317012A (ja) * | 1993-05-06 | 1994-11-15 | Sumitomo Metal Mining Co Ltd | Alc製造用型枠 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0357258A (ja) * | 1989-07-26 | 1991-03-12 | Nec Kansai Ltd | 樹脂モールド型電子部品 |
-
1991
- 1991-07-18 JP JP17817791A patent/JPH0529521A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0357258A (ja) * | 1989-07-26 | 1991-03-12 | Nec Kansai Ltd | 樹脂モールド型電子部品 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH06317012A (ja) * | 1993-05-06 | 1994-11-15 | Sumitomo Metal Mining Co Ltd | Alc製造用型枠 |
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