JPH06100449B2 - 抵抗器における塗膜の検査装置 - Google Patents
抵抗器における塗膜の検査装置Info
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- JPH06100449B2 JPH06100449B2 JP61037697A JP3769786A JPH06100449B2 JP H06100449 B2 JPH06100449 B2 JP H06100449B2 JP 61037697 A JP61037697 A JP 61037697A JP 3769786 A JP3769786 A JP 3769786A JP H06100449 B2 JPH06100449 B2 JP H06100449B2
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- 238000000576 coating method Methods 0.000 title claims description 15
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- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 3
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- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
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Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、胴体の両端にキャップ状の端子を接合して成
る抵抗器における、当該胴体外周に塗布された塗膜の良
否を判別する検査装置に関するものである。
る抵抗器における、当該胴体外周に塗布された塗膜の良
否を判別する検査装置に関するものである。
いわゆるリードレス抵抗器1は、第4図に示すように、
絶縁性を有する磁器製の円注状ボビンBの外周面に抵抗
皮膜Cを形成し、ボビンBの両端にキャップ状の端子D,
Dを被嵌固着した後、両端子D,D部分を除く胴体Fにおけ
る抵抗皮膜Cの外周面に、耐絶縁性または非導電性塗料
の塗布による塗膜Eにて被覆することで製作されるが、
前記胴体Fの部分の塗膜Eの塗布形成に際しては、塗膜
が全く形成されない部分や塗膜の厚さが極めて薄い部分
を生じたり、反対に極めて厚い部分が生じる等不均一に
なることがある。
絶縁性を有する磁器製の円注状ボビンBの外周面に抵抗
皮膜Cを形成し、ボビンBの両端にキャップ状の端子D,
Dを被嵌固着した後、両端子D,D部分を除く胴体Fにおけ
る抵抗皮膜Cの外周面に、耐絶縁性または非導電性塗料
の塗布による塗膜Eにて被覆することで製作されるが、
前記胴体Fの部分の塗膜Eの塗布形成に際しては、塗膜
が全く形成されない部分や塗膜の厚さが極めて薄い部分
を生じたり、反対に極めて厚い部分が生じる等不均一に
なることがある。
従来、このような塗膜の良否(外観)を検査する装置と
して、肉眼による検査では検査者の個人差によるバラツ
キが大きいし、目の疲れによる非能率さがあるので、こ
れを無くすため、実開昭58−167407号公報には、円柱体
の直径を、当該円柱体の中心軸線に沿って3箇所以上で
計測することが第3図に開示されている。しかし、この
計測に際して使用する測定装置は、円柱体の外周面に3
点接触する接触子であり、機械的構造で、一定以上の幅
寸法を有するため、円柱状の抵抗器のように胴体部の直
径及び長さ寸法の小さいものでは、前記の接触子の接触
面が抵抗器の胴体部の長手方向(軸線方向)の複数箇所
に同時に接触してしまい、胴体部の長手方向中央部と端
子に近い箇所との胴体部の直径の差異を検出することが
できないのであった。
して、肉眼による検査では検査者の個人差によるバラツ
キが大きいし、目の疲れによる非能率さがあるので、こ
れを無くすため、実開昭58−167407号公報には、円柱体
の直径を、当該円柱体の中心軸線に沿って3箇所以上で
計測することが第3図に開示されている。しかし、この
計測に際して使用する測定装置は、円柱体の外周面に3
点接触する接触子であり、機械的構造で、一定以上の幅
寸法を有するため、円柱状の抵抗器のように胴体部の直
径及び長さ寸法の小さいものでは、前記の接触子の接触
面が抵抗器の胴体部の長手方向(軸線方向)の複数箇所
に同時に接触してしまい、胴体部の長手方向中央部と端
子に近い箇所との胴体部の直径の差異を検出することが
できないのであった。
従って、抵抗器1の胴体F外周形状が第5図(a)のよ
うに胴体Fの軸線方向に沿う長手中途部の外径が両端の
キャップ状端子D,D部分の外径より大きくなる太鼓状に
脹れた形状になったり、反対に第5図(b)のように胴
体Fの軸線方向に沿う長手中途部の外径が両端のキャッ
プ状端子D,D部分の外径より小さくなったり、その他第
5図(c)に示すように、胴体Fの長手方向に沿って一
方の外径が大きく他方に行くに従って小さくなる等、種
々の不良形状であることを測定することができないので
あった。
うに胴体Fの軸線方向に沿う長手中途部の外径が両端の
キャップ状端子D,D部分の外径より大きくなる太鼓状に
脹れた形状になったり、反対に第5図(b)のように胴
体Fの軸線方向に沿う長手中途部の外径が両端のキャッ
プ状端子D,D部分の外径より小さくなったり、その他第
5図(c)に示すように、胴体Fの長手方向に沿って一
方の外径が大きく他方に行くに従って小さくなる等、種
々の不良形状であることを測定することができないので
あった。
しかも、接触子によって抵抗器の塗膜をこすることにな
るから、当該接触点における塗膜が剥離し、または塗膜
の厚さが検査の作業のために減少する等、この種抵抗器
として致命的な不良が検査によって発生するおそれがあ
った。
るから、当該接触点における塗膜が剥離し、または塗膜
の厚さが検査の作業のために減少する等、この種抵抗器
として致命的な不良が検査によって発生するおそれがあ
った。
この不都合を解消する手段として、特開昭60−76134号
公報には、抵抗器等の円柱状部材をその軸線と直交方向
方向に進行移送させ、その移送中の円柱状部材を光源と
イメージセンサ(ラインセンサ)で挟んで撮像し、円柱
状部材の外観を検査する構成が開示されている。
公報には、抵抗器等の円柱状部材をその軸線と直交方向
方向に進行移送させ、その移送中の円柱状部材を光源と
イメージセンサ(ラインセンサ)で挟んで撮像し、円柱
状部材の外観を検査する構成が開示されている。
この装置によれば、円柱状部材の左右両側の軸状リード
部は左右一対のチェンコンベヤに設けた凹溝付き支持体
に支持されているが、円柱状部材自体が自転するもので
はないため、この構成のままでは、前記光源からの光軸
線と平行な方向の抵抗器等の円柱状部材の直径を測定す
ることができず、別途の手段にて、当該円柱状部材を軸
線回りに回転(自転)させる必要があった。
部は左右一対のチェンコンベヤに設けた凹溝付き支持体
に支持されているが、円柱状部材自体が自転するもので
はないため、この構成のままでは、前記光源からの光軸
線と平行な方向の抵抗器等の円柱状部材の直径を測定す
ることができず、別途の手段にて、当該円柱状部材を軸
線回りに回転(自転)させる必要があった。
本発明は、前記の従来の問題を解決するためになされた
ものであり、光学的な非接触のイメージセンサを用い、
且つ移送手段を工夫することにより、従来では不可能で
あった超小型の抵抗器における胴体の複数箇所の外径
(外観)を正確且つ迅速に検査できる装置を提供するこ
とを目的とするものである。
ものであり、光学的な非接触のイメージセンサを用い、
且つ移送手段を工夫することにより、従来では不可能で
あった超小型の抵抗器における胴体の複数箇所の外径
(外観)を正確且つ迅速に検査できる装置を提供するこ
とを目的とするものである。
そのため本発明の抵抗器における塗膜の検査装置は、外
周が塗膜された胴体の両端にキャップ状の端子を備えて
成る抵抗器を、胴体及び端子の水平軸線回りに自転しつ
つ前記水平軸線と直角の横方向に進行させる移送手段
と、該移送中の抵抗器を挟んで対峙させて配設する光源
とイメージセンサとから成り、前記移送手段をテーブル
表面に沿って移動するベルトコンベヤであって、該ベル
トコンベヤには適宜間隔にて前記抵抗器が嵌まって自転
し得る係合孔を備えるように構成し、前記イメージセン
サにて前記係合孔内の抵抗器における胴体の水平軸線方
向に適宜隔てて少なくとも3箇所の外径の大小を比較検
出するように構成したものである。
周が塗膜された胴体の両端にキャップ状の端子を備えて
成る抵抗器を、胴体及び端子の水平軸線回りに自転しつ
つ前記水平軸線と直角の横方向に進行させる移送手段
と、該移送中の抵抗器を挟んで対峙させて配設する光源
とイメージセンサとから成り、前記移送手段をテーブル
表面に沿って移動するベルトコンベヤであって、該ベル
トコンベヤには適宜間隔にて前記抵抗器が嵌まって自転
し得る係合孔を備えるように構成し、前記イメージセン
サにて前記係合孔内の抵抗器における胴体の水平軸線方
向に適宜隔てて少なくとも3箇所の外径の大小を比較検
出するように構成したものである。
このように、本発明に従えば、抵抗器の胴体の外径を非
接触式の光学系のイメージセンサにて検出するから、被
検査物である抵抗器の胴体の外周に接触するものがな
く、塗膜が検査によって剥離する等の事故が無くなる。
そして、照射する光線の幅も極度に小さくすることがで
きるので、抵抗器の胴体の長さが極端に短くても、任意
の箇所を複数箇所にわたって別々に検出することができ
る。
接触式の光学系のイメージセンサにて検出するから、被
検査物である抵抗器の胴体の外周に接触するものがな
く、塗膜が検査によって剥離する等の事故が無くなる。
そして、照射する光線の幅も極度に小さくすることがで
きるので、抵抗器の胴体の長さが極端に短くても、任意
の箇所を複数箇所にわたって別々に検出することができ
る。
また、本発明では、胴体の水平軸線方向(長手方向)の
少なくとも3箇所の外径の大小を比較検出するのである
から、抵抗器の胴体の外径が長手方向に沿って変化する
ことにより、第5図におけるような種々の胴体外形状の
不良を簡単に判別することができる。
少なくとも3箇所の外径の大小を比較検出するのである
から、抵抗器の胴体の外径が長手方向に沿って変化する
ことにより、第5図におけるような種々の胴体外形状の
不良を簡単に判別することができる。
さらに、移送手段は、テーブル表面に沿って移動するベ
ルトコンベヤであって、該ベルトコンベヤには適宜間隔
にて前記抵抗器が嵌まって自転し得る係合孔を備えよう
に構成されているので、各係合孔に嵌まった抵抗器の下
面はテーブルに接触し、ベルトコンベヤの移動により、
前記係合孔内で抵抗器が位置ずれすることなくその胴体
の水平軸線回りに自転させながら連続して検査できるか
ら、胴体の外側の一周を総て検査でき、一側面のみ欠陥
があっても検出できる。
ルトコンベヤであって、該ベルトコンベヤには適宜間隔
にて前記抵抗器が嵌まって自転し得る係合孔を備えよう
に構成されているので、各係合孔に嵌まった抵抗器の下
面はテーブルに接触し、ベルトコンベヤの移動により、
前記係合孔内で抵抗器が位置ずれすることなくその胴体
の水平軸線回りに自転させながら連続して検査できるか
ら、胴体の外側の一周を総て検査でき、一側面のみ欠陥
があっても検出できる。
従って、肉眼による検査のバラツキや非能率性をなく
し、超小型の抵抗器の外径や外観の正確な検査を連続的
に且つ迅速に実行できる効果を奏する。
し、超小型の抵抗器の外径や外観の正確な検査を連続的
に且つ迅速に実行できる効果を奏する。
次に本発明を実施例を説明すると、図における検査装置
2は、テーブル3の上面に矢印(イ)方向に移動する係
合孔4付きのベルトコンベヤ5を上下に挟んで対峙させ
て配設する3対の光源6及びイメージセンサ7とからな
る。
2は、テーブル3の上面に矢印(イ)方向に移動する係
合孔4付きのベルトコンベヤ5を上下に挟んで対峙させ
て配設する3対の光源6及びイメージセンサ7とからな
る。
テーブル3には、抵抗器1がその左右両端のキャップ状
端子D,Dの下面を支持する進行方向長手の凹溝8が凹み
形成され、一方、ベルトコンベヤ5には、前記凹溝8の
上方に略一致して抵抗器1が全体として嵌挿し得る係合
孔4が穿設される。該係合孔4の略中央部には、光源6
からの照射光線が向上きに貫通できるように大形部4aに
形成されており、従って、ベルトコンベヤ5の進行につ
れて、その各係合孔4に嵌挿された抵抗器1は端子D,D
の軸線回りに自転しながら、矢印(イ)方向に移送され
る。
端子D,Dの下面を支持する進行方向長手の凹溝8が凹み
形成され、一方、ベルトコンベヤ5には、前記凹溝8の
上方に略一致して抵抗器1が全体として嵌挿し得る係合
孔4が穿設される。該係合孔4の略中央部には、光源6
からの照射光線が向上きに貫通できるように大形部4aに
形成されており、従って、ベルトコンベヤ5の進行につ
れて、その各係合孔4に嵌挿された抵抗器1は端子D,D
の軸線回りに自転しながら、矢印(イ)方向に移送され
る。
前記3対の光源6a,6b,6cとイメージセンサ7a,7b,7cとの
対は、抵抗器1の胴体Fの長手方向に適宜間隔寸法
(h)だけ隔てた所定の(I)ライン,(II)ライン,
(III)ラインの箇所の外径を各自検出できるように配
置されている。
対は、抵抗器1の胴体Fの長手方向に適宜間隔寸法
(h)だけ隔てた所定の(I)ライン,(II)ライン,
(III)ラインの箇所の外径を各自検出できるように配
置されている。
前記各光源6a,6b,6cは可視光線または赤外線等の照射光
線を発する発光ダイオード等を用い、テーブル3の凹溝
8の底部にベルトコンベヤ5の進行方向に適宜間隔にて
設けられる。
線を発する発光ダイオード等を用い、テーブル3の凹溝
8の底部にベルトコンベヤ5の進行方向に適宜間隔にて
設けられる。
他方、前記各光源の箇所に対応して対峙配設される各イ
メージセンサ7a,7b,7cは、ホトダイオードを前記各ライ
ンに沿って14μm等の微小間隔で多数配設した多数の画
素を備えるようにして組立てられた1次元CCD(Charge
Coupled Device)等からなり、光源とイメージセン
サとの間の抵抗器1の胴体Fにより遮られた光線位置の
変化を電気的に検出することにより、当該胴体Fのの外
径を非接触式に測定できるように構成したもので、各イ
メージセンサ7a,7b,7cはリンクユニット9を介してコン
トローラ10に接続されている。
メージセンサ7a,7b,7cは、ホトダイオードを前記各ライ
ンに沿って14μm等の微小間隔で多数配設した多数の画
素を備えるようにして組立てられた1次元CCD(Charge
Coupled Device)等からなり、光源とイメージセン
サとの間の抵抗器1の胴体Fにより遮られた光線位置の
変化を電気的に検出することにより、当該胴体Fのの外
径を非接触式に測定できるように構成したもので、各イ
メージセンサ7a,7b,7cはリンクユニット9を介してコン
トローラ10に接続されている。
なお、符号11は前記検査装置2の後方のベルトコンベヤ
5上方位置に配設された真空吸着装置で、前記検査装置
2により不良と判定された抵抗器1を吸着除去するもの
である。
5上方位置に配設された真空吸着装置で、前記検査装置
2により不良と判定された抵抗器1を吸着除去するもの
である。
この構成において、第1図及び第2図に示すように、ベ
ルトコンベヤ5の各係合孔に嵌まって自転しながら移送
される各抵抗器1の胴体Fは、その左端の(I)ライン
の箇所の光源6aとイメージセンサ7aの対にて外径が検出
され、(II)ラインにおける外径は光源6bとイメージセ
ンサ7bの対にて検出され、(III)ラインにおける外径
は光源6cとイメージセンサ7cとの対にて各々検出される
ことになる。
ルトコンベヤ5の各係合孔に嵌まって自転しながら移送
される各抵抗器1の胴体Fは、その左端の(I)ライン
の箇所の光源6aとイメージセンサ7aの対にて外径が検出
され、(II)ラインにおける外径は光源6bとイメージセ
ンサ7bの対にて検出され、(III)ラインにおける外径
は光源6cとイメージセンサ7cとの対にて各々検出される
ことになる。
従って、前記リンクユニット9を介してコントローラ10
において各ラインの外径測定の結果を比較することによ
り、(II)ラインにおける外径の測定値がその左右両側
の(I),(III)ラインにおける測定値より大きいと
判断されると、抵抗器1の胴体Fの外径形状が、第5図
(a)のごとく中央部の外径が大きい太鼓状である場合
に相当し、このような形状において、(II)ラインにお
ける外径がキャップ状端子Dの直径より大きいと、集積
回路の基板上に抵抗器1を載置するときの接着不良が起
こり易いから不良品と判断される。また、前記の場合に
おいて、(I),(III)ラインにおける外径の測定値
が基準値に達していないときには、絶縁不良または耐湿
不良の可能性があるとして不良の判断をし、さらに、そ
の両ラインにおける測定値が基準に達していても(II)
ラインとの大小比較によるテーパー角度の算出から端子
Dとの付け根箇所における外径が予測でき、それらが規
定値を越えるまたは不足するときも不良と判断すること
ができる。
において各ラインの外径測定の結果を比較することによ
り、(II)ラインにおける外径の測定値がその左右両側
の(I),(III)ラインにおける測定値より大きいと
判断されると、抵抗器1の胴体Fの外径形状が、第5図
(a)のごとく中央部の外径が大きい太鼓状である場合
に相当し、このような形状において、(II)ラインにお
ける外径がキャップ状端子Dの直径より大きいと、集積
回路の基板上に抵抗器1を載置するときの接着不良が起
こり易いから不良品と判断される。また、前記の場合に
おいて、(I),(III)ラインにおける外径の測定値
が基準値に達していないときには、絶縁不良または耐湿
不良の可能性があるとして不良の判断をし、さらに、そ
の両ラインにおける測定値が基準に達していても(II)
ラインとの大小比較によるテーパー角度の算出から端子
Dとの付け根箇所における外径が予測でき、それらが規
定値を越えるまたは不足するときも不良と判断すること
ができる。
同様にして、(II)ラインにおける外径の測定値がその
左右両側の(I),(III)ラインにおける測定値より
小さいと判断されると、抵抗器1の胴体Fの外径形状
が、第5図(b)のごとく中央部の外径がくびれた鼓状
である場合に相当し、その場合に当該中央部の直径が規
定値より小さいと、絶縁不良または耐湿不良の可能性が
あるとして不良の判断をし、さらに左右両側の(I),
(III)ラインの外径が大き過ぎるときには、抵抗器1
の基板上への接着性能が不良になるので、不良と判断す
る。
左右両側の(I),(III)ラインにおける測定値より
小さいと判断されると、抵抗器1の胴体Fの外径形状
が、第5図(b)のごとく中央部の外径がくびれた鼓状
である場合に相当し、その場合に当該中央部の直径が規
定値より小さいと、絶縁不良または耐湿不良の可能性が
あるとして不良の判断をし、さらに左右両側の(I),
(III)ラインの外径が大き過ぎるときには、抵抗器1
の基板上への接着性能が不良になるので、不良と判断す
る。
さらに、ラインの(I),(II),(III)の順に外径
が小さくなれば、第5図の(c)に示す円錐状の可能性
が大きいと判断し、その大小比較から算出されるテーパ
ー角度から胴体Fと端子Dとの付け根箇所の外径を算出
して、規定値の範囲内にあるか否かの判断をすることが
できる。
が小さくなれば、第5図の(c)に示す円錐状の可能性
が大きいと判断し、その大小比較から算出されるテーパ
ー角度から胴体Fと端子Dとの付け根箇所の外径を算出
して、規定値の範囲内にあるか否かの判断をすることが
できる。
いずれにしても、前記と同様に不良と判断するときに
は、後方の真空吸着装置11にて吸着除去すれば良いので
ある。
は、後方の真空吸着装置11にて吸着除去すれば良いので
ある。
なお、前記実施例においては、複数対の光源とイメージ
センサとを、抵抗器の胴体左右両側箇所においてその進
行方向に適宜隔てて配設することにより、複数のイメー
ジセンサの配置の干渉を防止して超小型の抵抗器の胴体
外径の複数箇所を測定できるようにしているが、イメー
ジセンサ等の寸法が許すときには、左右に平行状に配設
しても良い。
センサとを、抵抗器の胴体左右両側箇所においてその進
行方向に適宜隔てて配設することにより、複数のイメー
ジセンサの配置の干渉を防止して超小型の抵抗器の胴体
外径の複数箇所を測定できるようにしているが、イメー
ジセンサ等の寸法が許すときには、左右に平行状に配設
しても良い。
さらに、本発明は左右両側の端子D,Dの外側にリード線
が突出しているような抵抗器においても適用できること
はいうまでもない。
が突出しているような抵抗器においても適用できること
はいうまでもない。
第1図から第3図までは本発明の実施例装置を示し、第
1図は概略側面図、第2図は第1図のII−II線で示す拡
大断面図、第3図は第2図のIII−III線視平面図、第4
図及び第5図は各々抵抗器の形状を示す説明図である。 1……抵抗器、2……検査装置、3,20……テーブル、22
……接触子、4……係合孔、5……ベルトコンベヤ、6,
6a,6b,6c……光源、7,7a,7b,7c……イメージセンサ、8
……凹溝、9……リンクユニット9、10……コントロー
ラ。
1図は概略側面図、第2図は第1図のII−II線で示す拡
大断面図、第3図は第2図のIII−III線視平面図、第4
図及び第5図は各々抵抗器の形状を示す説明図である。 1……抵抗器、2……検査装置、3,20……テーブル、22
……接触子、4……係合孔、5……ベルトコンベヤ、6,
6a,6b,6c……光源、7,7a,7b,7c……イメージセンサ、8
……凹溝、9……リンクユニット9、10……コントロー
ラ。
Claims (1)
- 【請求項1】外周が塗膜された胴体の両端にキャップ状
の端子を備えて成る抵抗器を、胴体及び端子の水平軸線
回りに自転しつつ前記水平軸線と直角の横方向に進行さ
せる移送手段と、該移送中の抵抗器を挟んで対峙させて
配設する光源とイメージセンサとから成り、前記移送手
段をテーブル表面に沿って移動するベルトコンベヤであ
って、該ベルトコンベヤには適宜間隔にて前記抵抗器が
嵌まって自転し得る係合孔を備えるように構成し、前記
イメージセンサにて前記係合孔内の抵抗器における胴体
の水平軸線方向に適宜隔てて少なくとも3箇所の外径の
大小を比較検出することを特徴とする抵抗器における塗
膜の検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61037697A JPH06100449B2 (ja) | 1986-02-21 | 1986-02-21 | 抵抗器における塗膜の検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61037697A JPH06100449B2 (ja) | 1986-02-21 | 1986-02-21 | 抵抗器における塗膜の検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62194406A JPS62194406A (ja) | 1987-08-26 |
| JPH06100449B2 true JPH06100449B2 (ja) | 1994-12-12 |
Family
ID=12504735
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61037697A Expired - Lifetime JPH06100449B2 (ja) | 1986-02-21 | 1986-02-21 | 抵抗器における塗膜の検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06100449B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002324703A (ja) * | 2001-04-26 | 2002-11-08 | Koa Corp | 電子部品の表面観察方法およびその観察装置 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58167407U (ja) * | 1982-05-04 | 1983-11-08 | 大日本印刷株式会社 | 円柱体の径測定装置 |
| JPS6076134A (ja) * | 1983-09-30 | 1985-04-30 | Nec Kansai Ltd | 軸状部材の外観検査装置 |
-
1986
- 1986-02-21 JP JP61037697A patent/JPH06100449B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS62194406A (ja) | 1987-08-26 |
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