JPH06130130A - Ｌｓｉ測定用補助装置 - Google Patents
Ｌｓｉ測定用補助装置Info
- Publication number
- JPH06130130A JPH06130130A JP4279741A JP27974192A JPH06130130A JP H06130130 A JPH06130130 A JP H06130130A JP 4279741 A JP4279741 A JP 4279741A JP 27974192 A JP27974192 A JP 27974192A JP H06130130 A JPH06130130 A JP H06130130A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- lsi
- terminal group
- circuit
- measuring device
- output terminal
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- Withdrawn
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- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【構成】 被測定対象のＬＳＩの全ての端子と１：１で
対応する複数個の入力端子を有する入力端子群と、ＬＳ
Ｉ測定装置に対して信号を出力する複数個の出力端子を
有する出力端子群と、入力端子群と出力端子群との接続
状態の切替えを行うセレクタ回路と、セレクタ回路に対
して接続状態の指示を行うプログラム回路と、ＬＳＩ測
定装置から情報を入力してそれをプログラム回路に対し
て送出するインタフェース回路とを設ける。 【効果】 出力端子群の任意の出力端子においてＬＳＩ
の任意の端子の信号を観測することが可能となり、ま
た、ＬＳＩの端子と測定装置との接続の切替えのための
作業が不要となり、測定作業の能率を向上させることが
可能となる。
対応する複数個の入力端子を有する入力端子群と、ＬＳ
Ｉ測定装置に対して信号を出力する複数個の出力端子を
有する出力端子群と、入力端子群と出力端子群との接続
状態の切替えを行うセレクタ回路と、セレクタ回路に対
して接続状態の指示を行うプログラム回路と、ＬＳＩ測
定装置から情報を入力してそれをプログラム回路に対し
て送出するインタフェース回路とを設ける。 【効果】 出力端子群の任意の出力端子においてＬＳＩ
の任意の端子の信号を観測することが可能となり、ま
た、ＬＳＩの端子と測定装置との接続の切替えのための
作業が不要となり、測定作業の能率を向上させることが
可能となる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、ＬＳＩの特性を測定す
るとき、ＬＳＩと測定装置とを接続するために使用する
ＬＳＩ測定用補助装置に関する。
るとき、ＬＳＩと測定装置とを接続するために使用する
ＬＳＩ測定用補助装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】大規模集積回路（ＬＳＩ）の特性を測定
するとき、ＬＳＩと測定装置とを接続するために使用す
る従来のＬＳＩ測定用補助装置（アタッチメント）は、
被測定対象のＬＳＩの端子をＬＳＩ測定装置（測定装
置）に接続することを可能にするために、ＬＳＩの端子
の信号を外部に引出すこと目的として構成されている。
するとき、ＬＳＩと測定装置とを接続するために使用す
る従来のＬＳＩ測定用補助装置（アタッチメント）は、
被測定対象のＬＳＩの端子をＬＳＩ測定装置（測定装
置）に接続することを可能にするために、ＬＳＩの端子
の信号を外部に引出すこと目的として構成されている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】上述したように、従来
のＬＳＩ測定用のアタッチメントは、ＬＳＩの端子から
信号を外部に引出すだけの単純な構成であり、一つの信
号の観測から他の信号の観測に切替えるときは、ＬＳＩ
の端子と測定装置との接続の切替えのための作業が必要
であり、特に複数の信号の観測が必要な場合は、接続作
業に時間がかかり、測定作業の能率が低下するという欠
点を有している。
のＬＳＩ測定用のアタッチメントは、ＬＳＩの端子から
信号を外部に引出すだけの単純な構成であり、一つの信
号の観測から他の信号の観測に切替えるときは、ＬＳＩ
の端子と測定装置との接続の切替えのための作業が必要
であり、特に複数の信号の観測が必要な場合は、接続作
業に時間がかかり、測定作業の能率が低下するという欠
点を有している。
【０００４】
【課題を解決するための手段】本発明のＬＳＩ測定用補
助装置は、被測定対象のＬＳＩの全ての端子と１：１で
対応する複数個の入力端子を有する入力端子群と、ＬＳ
Ｉ測定装置に対して信号を出力する複数個の出力端子を
有する出力端子群と、前記入力端子群と前記出力端子群
との接続状態の切替えを行うセレクタ回路と、前記セレ
クタ回路の接続状態の指示を行うプログラム回路と、前
記ＬＳＩ測定装置から情報を入力してそれを前記プログ
ラム回路に対して送出するインタフェース回路とを備え
ている。
助装置は、被測定対象のＬＳＩの全ての端子と１：１で
対応する複数個の入力端子を有する入力端子群と、ＬＳ
Ｉ測定装置に対して信号を出力する複数個の出力端子を
有する出力端子群と、前記入力端子群と前記出力端子群
との接続状態の切替えを行うセレクタ回路と、前記セレ
クタ回路の接続状態の指示を行うプログラム回路と、前
記ＬＳＩ測定装置から情報を入力してそれを前記プログ
ラム回路に対して送出するインタフェース回路とを備え
ている。
【０００５】
【実施例】次に、本発明の実施例について図面を参照し
て説明する。
て説明する。
【０００６】図１は本発明の一実施例を示すブロック図
である。
である。
【０００７】図１の実施例は、被測定対象のＬＳＩ（図
示省略）の全ての端子と１：１で対応する複数個の入力
端子を有する入力端子群１と、ＬＳＩ測定装置に対して
信号を出力する任意の数の複数個の出力端子を有する出
力端子群３と、入力端子群１と出力端子群３との接続状
態の切替えを行うセレクタ回路２と、セレクタ回路２に
対して接続状態の指示を行うプログラム回路４と、測定
装置（図示省略）から入力した情報をプログラム回路４
に対して伝達するインタフェース回路（Ｉ／Ｆ回路）５
とを備えている。
示省略）の全ての端子と１：１で対応する複数個の入力
端子を有する入力端子群１と、ＬＳＩ測定装置に対して
信号を出力する任意の数の複数個の出力端子を有する出
力端子群３と、入力端子群１と出力端子群３との接続状
態の切替えを行うセレクタ回路２と、セレクタ回路２に
対して接続状態の指示を行うプログラム回路４と、測定
装置（図示省略）から入力した情報をプログラム回路４
に対して伝達するインタフェース回路（Ｉ／Ｆ回路）５
とを備えている。
【０００８】入力端子１は、被測定対象のＬＳＩの全て
の端子から信号を取込み、それらをセレクタ回路２に送
る。セレクタ回路２は、プログラム回路４からのデータ
によって入力端子群１と出力端子群３との接続状態の切
替えを行う。プログラム回路４は、Ｉ／Ｆ回路５を介し
て測定装置から入力した情報に対応したデータをセレク
タ回路２に対して送出する。
の端子から信号を取込み、それらをセレクタ回路２に送
る。セレクタ回路２は、プログラム回路４からのデータ
によって入力端子群１と出力端子群３との接続状態の切
替えを行う。プログラム回路４は、Ｉ／Ｆ回路５を介し
て測定装置から入力した情報に対応したデータをセレク
タ回路２に対して送出する。
【０００９】これにより測定装置は、出力端子群３の任
意の出力端子において、ＬＳＩの任意の端子の信号を観
測することが可能となる。
意の出力端子において、ＬＳＩの任意の端子の信号を観
測することが可能となる。
【００１０】
【発明の効果】以上説明したように、本発明のＬＳＩ測
定用補助装置は、被測定対象のＬＳＩの全ての端子と
１：１で対応する複数個の入力端子を有する入力端子群
と、ＬＳＩ測定装置に対して信号を出力する複数個の出
力端子を有する出力端子群と、入力端子群と出力端子群
との接続状態の切替えを行うセレクタ回路と、セレクタ
回路に対して接続状態の指示を行うプログラム回路と、
ＬＳＩ測定装置から情報を入力してそれをプログラム回
路に対して送出するインタフェース回路とを設けること
により、出力端子群の任意の出力端子においてＬＳＩの
任意の端子の信号を観測することが可能となり、また、
ＬＳＩの端子と測定装置との接続の切替えのための作業
が不要となり、測定作業の能率を向上させることが可能
となるという効果がある。
定用補助装置は、被測定対象のＬＳＩの全ての端子と
１：１で対応する複数個の入力端子を有する入力端子群
と、ＬＳＩ測定装置に対して信号を出力する複数個の出
力端子を有する出力端子群と、入力端子群と出力端子群
との接続状態の切替えを行うセレクタ回路と、セレクタ
回路に対して接続状態の指示を行うプログラム回路と、
ＬＳＩ測定装置から情報を入力してそれをプログラム回
路に対して送出するインタフェース回路とを設けること
により、出力端子群の任意の出力端子においてＬＳＩの
任意の端子の信号を観測することが可能となり、また、
ＬＳＩの端子と測定装置との接続の切替えのための作業
が不要となり、測定作業の能率を向上させることが可能
となるという効果がある。
【図１】本発明の一実施例を示すブロック図である。
１ 入力端子群 ２ セレクタ回路 ３ 出力端子群 ４ プログラム回路 ５ インタフェース回路（Ｉ／Ｆ回路）
Claims (1)
- 【請求項１】 被測定対象のＬＳＩの全ての端子と１：
１で対応する複数個の入力端子を有する入力端子群と、
ＬＳＩ測定装置に対して信号を出力する複数個の出力端
子を有する出力端子群と、前記入力端子群と前記出力端
子群との接続状態の切替えを行うセレクタ回路と、前記
セレクタ回路の接続状態の指示を行うプログラム回路
と、前記ＬＳＩ測定装置から情報を入力してそれを前記
プログラム回路に対して送出するインタフェース回路と
を備えることを特徴とするＬＳＩ測定用補助装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4279741A JPH06130130A (ja) | 1992-10-19 | 1992-10-19 | Ｌｓｉ測定用補助装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4279741A JPH06130130A (ja) | 1992-10-19 | 1992-10-19 | Ｌｓｉ測定用補助装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06130130A true JPH06130130A (ja) | 1994-05-13 |
Family
ID=17615252
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4279741A Withdrawn JPH06130130A (ja) | 1992-10-19 | 1992-10-19 | Ｌｓｉ測定用補助装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06130130A (ja) |
-
1992
- 1992-10-19 JP JP4279741A patent/JPH06130130A/ja not_active Withdrawn
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20000104 |