JPH06203379A - 磁気記録媒体の製造方法 - Google Patents

磁気記録媒体の製造方法

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JPH06203379A
JPH06203379A JP36011792A JP36011792A JPH06203379A JP H06203379 A JPH06203379 A JP H06203379A JP 36011792 A JP36011792 A JP 36011792A JP 36011792 A JP36011792 A JP 36011792A JP H06203379 A JPH06203379 A JP H06203379A
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JP
Japan
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recording medium
magnetic
magnetic recording
thin film
film
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Withdrawn
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JP36011792A
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English (en)
Inventor
Akira Kochiyama
彰 河内山
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Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【構成】プラスチック基板上に、Arガス圧0.5Pa
以下で下地膜をスパッタし、Arガス圧0.5Pa以上
で磁性薄膜をスパッタして磁気記録媒体を製造する。な
お、スパッタ装置内は2×10-4Paなる真空度として
からArガスを導入することが好ましい。下地膜はCr
又はMoよりなり、磁性薄膜はCoPt,CoPtC
r,CoPtCrTa,CoPtPdから選ばれる1種
よりなるものが好ましい。 【効果】プラスチック基板を用いても、クラックを発生
することなく、磁気特性が劣化することもない磁気記録
媒体とすることができ、コストが低減できる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、磁気記録媒体特に面内
方向記録を行うハードディスクに適用して好適な合金系
磁性層を有する磁気記録媒体のうち、特にプラスチック
基板を用いる磁気記録媒体の製造方法に係わる。
【0002】
【従来の技術】従来よりハードディスク用磁気記録媒体
として、CoCrTaやCoNiCr等のCo合金薄膜
を磁性層に用いたものが製造されているが、高出力・低
ノイズ化のためにCr膜下地を設けたり、さらなる磁気
特性の向上・高耐久性のためにCoPt系磁性薄膜を磁
性層に用いたり、と種々の研究がなされている。
【0003】上記CoPt系薄膜においては低温成膜
(無基板加熱)が可能であること、大きな出力が得られ
ること等の利点があるが、Ptが高価で磁気記録媒体の
コストが高くなってしまう等の問題もある。
【0004】そこで、上述した低温成膜が可能となった
ことを受けて、磁気記録媒体の基板として従来のAlや
ガラス以外に安価なプラスチックを用いることが検討さ
れ始めている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかし、プラスチック
基板を用いて従来通りに磁性層を成膜すると作成された
磁気記録媒体の磁気特性が劣化したり、クラックを生じ
たりといった問題がある。これを解消するために、磁性
層を成膜する前にプラスチック基板上にSiO2等を予
めコーティングしておく等の方法もあるが、これでは基
板のコストが高くなり、プラスチック基板を用いるメリ
ットがなくなってしまう。
【0006】そこで本発明は、かかる実情に鑑みて提案
されたものであり、基板にプラスチックを用い、低いコ
ストでも優れた特性を持つ磁気記録媒体を製造する方法
を提供することを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明は、上述の目的を
達成するために提案されたものである。即ち、本発明
は、基板上に下地膜を形成する工程と、磁性薄膜を形成
する工程とを有する磁気記録媒体の製造方法において、
上記下地膜はArガス圧0.5Pa以下で蒸着し、上記
磁性薄膜はArガス圧0.5Pa以下で蒸着することを
特徴とするものである。
【0008】上述のように下地層と磁性薄膜を成膜する
際の蒸着条件を適正化することによって、プラスチック
基板を用いてもクラックを発生させることなく、磁気特
性を劣化させることもなく磁気記録媒体を製造できる。
【0009】上記下地層の材料は任意であるが、特にC
r及びMoから選ばれる少なくとも1種からなることが
好ましい。例えば、Cr膜,Mo膜,CrとMoとの合
金膜であってもよい。膜厚は20〜200nmであるこ
とが好ましい。薄すぎると下地層を設けることによる効
果が不足し、厚すぎると下地層の成膜に要する時間が長
くなり生産性が低下する他、クラックも発生しやすくな
るからである。
【0010】また、磁性薄膜も任意であるが、成膜温度
等を考慮するとCoPt,CoPtCr,CoPtCr
Ta及びCoPtPdから選ばれる少なくとも1種から
なることが好ましい。上記の磁性薄膜は低温成膜が可能
であるため、プラスチック基板を用いた磁気記録媒体を
製造することが可能である。
【0011】なお、上記合金の組成は、Ptの含有量が
あまり高いとコストが高くなり、低すぎると良好な磁気
特性が得られないため、両者を勘案し適正な値に調整す
る必要がある。
【0012】上述の下地膜或いは磁性薄膜を蒸着形成す
るに際しては、蒸着装置の内部圧を2×10-4Pa以下
としてからArガスを導入することが好ましい。上記範
囲を越えると、作成された磁気記録媒体の保磁力Hcが
十分なものではなくなってしまう。
【0013】
【作用】磁性薄膜上に観測されるクラックは、形成され
た膜から受ける引っ張り応力のためにプラスチック基板
自体の表面でクラックを生じているために起こるもので
ある。プラスチック基板に対して下地層と磁性薄膜を成
膜するとき、先ず低いArガス圧で下地膜を形成してか
ら、それより高いArガス圧で磁性薄膜を形成すると前
記応力が緩和され、プラスチック基板や磁性薄膜におけ
るクラックの発生が解消される。
【0014】また、特にプラスチック基板にCr及びM
oからなる下地層とCoPt系の磁性薄膜を形成すれば
特別な前処理等を施す必要もなく、従来のハードディス
ク用磁気記録媒体と同様の工程で製造することが可能で
ある。
【0015】
【実施例】以下、本発明を適用した具体的な実施例につ
いて、実験結果に基づき詳細に説明する。本実施例にお
いては、プラスチック基板にCr又はMoからなる下地
膜と、CoPt,CoPtCr,CoPtCrTa及び
CoPtPdから選ばれる少なくとも1種からなる磁性
薄膜をスパッタにより形成して磁気記録媒体を作成する
こととする。
【0016】先ず、プラスチック基板上にCr又はMo
からなる下地膜をスパッタにより形成した。このとき、
Arガス圧や膜厚を種々変化させることによって、形成
された膜の表面状態がどのように変化するか観察した。
Arガス圧、下地膜の材料、膜厚を表1に示したような
値に設定してa〜hのサンプルを作成し、クラックの有
無を調べた。結果を表1に併せて示す。
【0017】
【表1】
【0018】表1より、ガス圧が高いほど、また膜厚が
厚いほどクラックを生じやすいことがわかる。つまり、
プラスチック基板を用いてハードディスク用磁気記録媒
体を作成する場合、下地膜のスパッタ条件としてArガ
ス圧を0.6Pa以下に、さらに膜厚が厚い場合はそれ
以下にする必要がある。
【0019】次に、プラスチック基板に下地膜を成膜さ
せる際のArガス圧と磁性薄膜を成膜する際のArガス
圧とを種々に変化させてスパッタを行い磁気記録媒体を
作成した。なお、下地膜はCr又はMoを、磁性薄膜は
CoPtをスパッタして得たものである。
【0020】作成されたサンプルについてクラックの有
無と磁気特性とを調べた。磁気特性が良好でクラックも
無いものは■、クラックはないが磁気特性が不良のもの
は●、クラックが発生しているものは▲として、それぞ
れの結果を図1に各サンプルが作成されたArガス圧の
点にプロットすることによって示す。
【0021】これより、図中斜線部で示したサンプル、
即ち、磁性薄膜形成時のArガス圧が0.5Pa以上で
あり、下地膜形成時野Arガス圧が0.5Pa以下とし
て作成されたサンプルは、優れた磁気特性を有しクラッ
クも発生していないことがわかった。
【0022】ここで、本発明の条件で作成したサンプル
と、そうでないサンプルについて、走査電子顕微鏡で観
察することにした。本発明の方法で作成した実施例1の
サンプルは、蒸着装置内を真空度1×10-4Paとして
からArガスを導入し、プラスチック基板に0.4Pa
のArガス圧でCrからなる下地膜を成膜し、1Paの
Arガス圧でCoPtからなる磁性薄膜を成膜した。
【0023】一方、プラスチック基板に1PaのArガ
ス圧でCrからなる下地膜を成膜したものを比較例1の
サンプルとした。
【0024】比較例1のサンプルの表面を走査電子顕微
鏡で観察したものが図2、比較例1のサンプルに形成さ
れているCr膜を化学エッチングにより取り除いた後の
プラスチック基板表面を同様に観察したものが図3であ
る。図3においても、図2と同様なクラックが観測でき
る。これより、膜表面に発生するクラックはプラスチッ
ク基板自体にクラックを生じることによって発生したも
のであるといえる。
【0025】一方、実施例1のサンプルの表面を同様に
観察したところ、このサンプルの表面は小さなクラック
すら発生していないことがわかった。
【0026】なお、実施例1のサンプルの磁気特性は保
磁力が2078Oe、残留磁束密度膜厚積が518Gμ
mであった。
【0027】
【発明の効果】以上の説明からも明らかなように、本発
明の磁気記録媒体の製造方法によると、プラスチック基
板を用いてハードディスク用の磁気記録媒体を作成する
ことが可能となり、コストを低減することができる。し
かも、従来のAlやガラス基板を用いたものと同様の工
程で製造することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】各サンプル作成されたArガス圧と特性を示す
特性図である。
【図2】サンプル表面のクロム薄膜を示す走査電子顕微
鏡写真である。
【図3】プラスチック基板表面の粒子構造を示す走査電
子顕微鏡写真である。
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成5年2月15日
【手続補正1】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】請求項1
【補正方法】変更
【補正内容】
【手続補正2】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】請求項4
【補正方法】変更
【補正内容】
【手続補正3】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0007
【補正方法】変更
【補正内容】
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明は、上述の目的を
達成するために提案されたものである。即ち、本発明
は、基板上に下地膜を形成する工程と、磁性薄膜を形成
する工程とを有する磁気記録媒体の製造方法において、
上記下地膜はArガス圧0.5Pa以下で蒸着し、上記
磁性薄膜はArガス圧0.5Pa以上で蒸着することを
特徴とするものである。

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基板上に下地膜を形成する工程と、磁性
    薄膜を形成する工程とを有する磁気記録媒体の製造方法
    において、 上記下地膜はArガス圧0.5Pa以下で蒸着し、上記
    磁性薄膜はArガス圧0.5Pa以下で蒸着することを
    特徴とする磁気記録媒体の製造方法。
  2. 【請求項2】 下地層がCr及びMoから選ばれる少な
    くとも1種からなることを特徴とする請求項1記載の磁
    気記録媒体の製造方法。
  3. 【請求項3】 磁性薄膜がCoPt,CoPtCr,C
    oPtCrTa及びCoPtPdから選ばれる少なくと
    も1種であることを特徴とする請求項1又は2記載の磁
    気記録媒体の製造方法。
  4. 【請求項4】 下地膜又は磁性薄膜を形成するに際し、
    蒸着装置の内部圧を2×10-4PaとしてからArガス
    を導入することを特徴とする請求項1,2又は3記載の
    磁気記録媒体の製造方法。
JP36011792A 1992-12-28 1992-12-28 磁気記録媒体の製造方法 Withdrawn JPH06203379A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2000038224A1 (en) * 1998-12-22 2000-06-29 Cvc Products, Inc. Semiconductor chip interconnect barrier material and fabrication method

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2000038224A1 (en) * 1998-12-22 2000-06-29 Cvc Products, Inc. Semiconductor chip interconnect barrier material and fabrication method

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