JPH0626184B2 - 水素化非晶質シリコン・炭素膜の製造方法 - Google Patents

水素化非晶質シリコン・炭素膜の製造方法

Info

Publication number
JPH0626184B2
JPH0626184B2 JP9687286A JP9687286A JPH0626184B2 JP H0626184 B2 JPH0626184 B2 JP H0626184B2 JP 9687286 A JP9687286 A JP 9687286A JP 9687286 A JP9687286 A JP 9687286A JP H0626184 B2 JPH0626184 B2 JP H0626184B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
amorphous silicon
hydrogenated amorphous
substrate
carbon
carbon film
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP9687286A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS62254420A (ja
Inventor
宏比古 泉
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ulvac Inc
Original Assignee
Ulvac Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ulvac Inc filed Critical Ulvac Inc
Priority to JP9687286A priority Critical patent/JPH0626184B2/ja
Publication of JPS62254420A publication Critical patent/JPS62254420A/ja
Publication of JPH0626184B2 publication Critical patent/JPH0626184B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) この発明は、水素化非晶質シリコン・炭素(水素を含む
シリコンおよび炭素の混非晶)の膜の製造方法に関す
る。詳しく言えば、水素化非晶質シリコン・炭素を基体
の表面上に堆積させて、その膜を形成する方法に関す
る。かかる水素化非晶質シリコン・炭素膜は、光学的バ
ンドギヤツプが比較的大きいという特性を有し、従つて
これを板状の透明基体の表面上に形成したものは、例え
ば太陽電池の窓材に適する。
(従来の技術) 従来、水素化非晶質シリコン・炭素膜を基体の表面上に
形成するには、分子内にシリコン原子を有する基体状物
質(例えば、モノシラン、ジシラン、トリシラン、弗化
シラン)と分子内に炭素原子を有する気体状物質(例え
ばメタン、エチレン、アセチレン、エタン、プロパン)
の混合物を、真空容器内の基体上に供給すると共にプラ
ズマ分解または光分解させて、これら分解反応を経て水
素化非晶質シリコン・炭素を基体の表面上に沈積させる
プラズマCVD(化学気相成長)法または光CVD法が採用さ
れた。
(発明が解決しようとする問題点) 上述したようなプラズマCVD法または光CVD法では、水素
化非晶質シリコン・炭素に含有される炭素の生成源とし
て、分子内に炭素原子を有する気体状物質が使用されて
いるが、かかる気体状物質の分子は、炭素原子が他の原
子と作る結合エネルギが、シリコンにおけるそれと比べ
て大きいため、極めて安定であり、従つてプラズマまた
は光による分解効率が低く、故に、膜の中に炭素が十分
に取込まれず、水素化非晶質シリコン・炭素膜の生成速
度が遅いばかりでなく、かかる膜において三次元的なネ
ツトワーク構造の発達が十分でなく膜質が粗悪になる。
この発明は、従来の水素化非晶質シリコン・炭素膜の製
造方法の上述したような欠点を除去することを、主な課
題とする。
(問題点を解決するための手段) この課題を解決するため、この発明によれば、光分解を
利用する技術において、従来使用された分子内に炭素原
子を有する気体状物質の代りに、気体状メチレンが使用
される。
(作用) 周知のように、メチレンは、CH2のように二価の炭素原
子を含む不安定中間体であるから、メチレンを使用すれ
ば、光による分解効率が高くなる。
(実施例) 以下、図面を参照しながら、この発明による水素化非晶
質シリコン・炭素膜の製造方法の実施例について説明す
る。
第1図に示されるCVD装置は、真空容器10を有し、こ
の真空容器10は、排気口11、第1送入口12および
第2送入口13を備える。排気口11は、排気弁(図示
なし)を介して、真空排気装置(図示なし)に連結さ
れ、第1送入口12は、第1送入弁(図示なし)を介し
て、分子内にシリコンを含む気体(例えばジシラン)の
源(図示なし)に連結される。第2送入口13は、第2
送入弁(図示なし)を介して、ジアゾメタン源(図示な
し)に連結され、第2送入口13とこれに連結された第
2送入弁との間の気体通路14は、この気体通路14を
通過する気体に紫外線を照射するための紫外光源15を
備える。
真空容器10の中には、板状の基体16を水平に載置支
持するための支持機構17で支持された基体16を加熱
するための加熱機構18、および支持機構17で支持さ
れた基体16の上方に位置する励起紫外線光源19が配
置される。符号20および21は、紫外光源15および
励起紫外線光源19にそれぞれ接続された電源を示す。
かかる第1図図示のCVD装置において、支持機構17の
上に、例えば石英ガラスまたは硬質ガラスからなる透明
の板状基体16を載置したのちに、真空容器10の内部
空間22が、排気口11に連結された真空排気装置の運
転によつて、10-5〜 10-7 トールのような真空まで排
気される。かかる排気が完了したのちに、加熱機構18
の付勢によつて、基体16が室温〜400℃の温度まで
加熱される。次いで、励起紫外光源19(これから放射
される光の波長は70〜300nm)および紫外光源1
5(これから放射される波長は200〜300nm)が
点灯され、これに続いて、第1送入口12に連結される
ジシラン源から、ジシランが毎分10〜100sccmの割
合で内部空間22に送入され、また気体通路14を介して
第2送入口13に連結されるジアゾメタン源から、ジア
ゾメタンが毎分10〜100sccmの割合で気体通路14
に送入される。
このようにすると、気体通路14に送入されたジアゾメ
タンは、紫外光源15からの紫外線の照射を受けて光分
解し、この光分解によつて生成されたCH2が、第2送入
口13を通つて内部空間22に流入する。このCH2は、
第1送入口12を通つて内部空間22に流入するジシラ
ンと共に、基体16上に供給され、かつ励起紫外線光源
19からの光の照射によつて光分解する。この光分解に
よつて、シリコンおよび炭素ラジカルが生成され、これ
らが基体16の表面上に堆積して、水素化非晶質シリコ
ン・炭素の膜が形成される。この膜の形成速度は、上述
した作業条件で、毎分0.1〜5nmの程度である。
上述した実施例で、CH2の生成にジアゾメタン(CH2N2
の光分解が使用されているが、ジアゾメタン以外の例え
ばケテン(C2H2O)の光分解によつて、CH2を生成するよ
うにしてもよい。また、分子内にシリコン原子を有する
気体状物質としてジシラン(Si2H6)を採用する例を挙
げたが、かかる気体状物質として、モノシラン(Si
Hs)、トリシラン(Si3H8)、弗化シラン(Si FXH4-X、x
=1,2,3,4)なども採用できる。さらに、励起紫外線光
源19に、エキシマレーザー等の紫外線レーザーも採用
できる。
(発明の効果) この発明の水素化非晶質シリコン・炭素膜の製造方法
は、二価の炭素原子を含む不安定中間体であるメチレン
の光分解を利用するので、水素化非晶質シリコン・炭素
膜の生成速度が早く、この膜の中で三次元的ネツトワー
ク構造が十分に発達し、よつて良好な膜質のものが得ら
れる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、この発明の製造方法を実施するためのCVD装
置の図解図である。 図面において、10は真空容器、11は真空排気装置に
連結する排気口、12は分子内にシリコン原子を有する
気体状物質の源に連結する第1送入口、13は光分解に
よつてメチレンを生成する物質の源とこの源からの物質
を光分解する手段とに連結する第2送入口、16は基
体、19は前記気体状物質とメチレンの混合物の光分解
のための励起紫外線光源を示す。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】モノシラン、ジシラン、トリシラン及び弗
    化シランから選ばれた分子内にシリコン原子を有する気
    体状物質と気体状メチレンとの混合物を、基体上に供給
    し、紫外線ランプもしくは紫外線レーザーを照射して、
    基体表面上で光分解反応を起させ、水素化非晶質シリコ
    ン・炭素を基体の表面上に堆積させることを特徴とする
    水素化非晶質シリコン・炭素膜の製造方法。
JP9687286A 1986-04-28 1986-04-28 水素化非晶質シリコン・炭素膜の製造方法 Expired - Fee Related JPH0626184B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP9687286A JPH0626184B2 (ja) 1986-04-28 1986-04-28 水素化非晶質シリコン・炭素膜の製造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP9687286A JPH0626184B2 (ja) 1986-04-28 1986-04-28 水素化非晶質シリコン・炭素膜の製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS62254420A JPS62254420A (ja) 1987-11-06
JPH0626184B2 true JPH0626184B2 (ja) 1994-04-06

Family

ID=14176519

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP9687286A Expired - Fee Related JPH0626184B2 (ja) 1986-04-28 1986-04-28 水素化非晶質シリコン・炭素膜の製造方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0626184B2 (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN118610398B (zh) * 2024-05-22 2025-06-06 浙江格源新材料科技有限公司 一种光解硅烷制备得到的硅碳负极及其制备方法

Also Published As

Publication number Publication date
JPS62254420A (ja) 1987-11-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH0626184B2 (ja) 水素化非晶質シリコン・炭素膜の製造方法
JPS63137174A (ja) 光化学気相成長法による機能性堆積膜の形成方法
JPH0626185B2 (ja) 水素化非晶質シリコン・炭素膜の製造方法
JPH0351675B2 (ja)
JP3084395B2 (ja) 半導体薄膜の堆積方法
JPH07221026A (ja) 高品質半導体薄膜の形成方法
EP0407088B1 (en) Method of forming an amorphous semiconductor film
Gianinoni et al. Laser-assisted CVD of amorphous materials
JPS6190418A (ja) 堆積膜形成方法
JPS60219728A (ja) 堆積膜の形成法
JPS60218827A (ja) 堆積膜形成方法
JP2659401B2 (ja) 炭素含有シリコン薄膜の形成方法
JPS6027121A (ja) 光cvd装置
JPH03214724A (ja) 薄膜製造方法
JPS60218828A (ja) 堆積膜形成方法
JPS6247945B2 (ja)
JPH059516B2 (ja)
JPH0364909A (ja) 半導体薄膜
JPS6189626A (ja) 堆積膜形成法
JPS60200965A (ja) アモルフアス炭化けい素薄膜の製造方法
JPS61170573A (ja) 光cvd装置
JPH0544818B2 (ja)
JPH07122497A (ja) 薄膜形成装置と薄膜形成方法
JPS60219734A (ja) 堆積膜の形成法
JPS60219736A (ja) 堆積膜の形成法

Legal Events

Date Code Title Description
R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees