JPH0687468B2 - 半導体装置の製造方法 - Google Patents
半導体装置の製造方法Info
- Publication number
- JPH0687468B2 JPH0687468B2 JP62111254A JP11125487A JPH0687468B2 JP H0687468 B2 JPH0687468 B2 JP H0687468B2 JP 62111254 A JP62111254 A JP 62111254A JP 11125487 A JP11125487 A JP 11125487A JP H0687468 B2 JPH0687468 B2 JP H0687468B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- resin
- semiconductor device
- pellet
- frame
- manufacturing semiconductor
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims description 20
- 238000000034 method Methods 0.000 title description 8
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title description 5
- 229920005989 resin Polymers 0.000 claims description 25
- 239000011347 resin Substances 0.000 claims description 25
- 239000008188 pellet Substances 0.000 claims description 15
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 7
- 238000000465 moulding Methods 0.000 claims description 5
- 239000004593 Epoxy Substances 0.000 claims description 4
- 239000011521 glass Substances 0.000 claims description 4
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 description 7
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 description 7
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 7
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 2
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 2
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 2
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)
- Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は半導体装置の製造方法に関し、特にプラスチッ
ク ピン グリッド アレイ型パッケージを有する半導
体装置の樹脂封止方法に関する。
ク ピン グリッド アレイ型パッケージを有する半導
体装置の樹脂封止方法に関する。
従来、プラスチック ピン グリッド アレイ型パッケ
ージを用いた半導体装置の製造工程において、半導体ペ
レット(以下単にペレットという)の樹脂封止は次のよ
うな方法により行なわれていた。
ージを用いた半導体装置の製造工程において、半導体ペ
レット(以下単にペレットという)の樹脂封止は次のよ
うな方法により行なわれていた。
すなわち第2図に示すように、配線等が形成された基板
7上にペレット6を固着したのち、配線とペレット6と
を金属細線により接続する。次にペレット6を囲んでAl
等からなる枠2を設け、この枠2内にエポキシ樹脂11A
を注入して硬化させる。続いてAl等からなるキャップ10
にエポキシ樹脂11Bを注入し、このキャップ10を枠2の
上にかぶせ内部のエポキシ樹脂11Bを硬化させて封止を
完了する。
7上にペレット6を固着したのち、配線とペレット6と
を金属細線により接続する。次にペレット6を囲んでAl
等からなる枠2を設け、この枠2内にエポキシ樹脂11A
を注入して硬化させる。続いてAl等からなるキャップ10
にエポキシ樹脂11Bを注入し、このキャップ10を枠2の
上にかぶせ内部のエポキシ樹脂11Bを硬化させて封止を
完了する。
上述した従来の樹脂の封止方法では、キャップ10中の樹
脂の量を一定に保つことが難しく、またキャップ10をか
ぶせた時に樹脂がはみ出し外観を悪化させたり、またキ
ャップ内に気泡が残り半導体装置の耐湿性を低下させる
という欠点があった。
脂の量を一定に保つことが難しく、またキャップ10をか
ぶせた時に樹脂がはみ出し外観を悪化させたり、またキ
ャップ内に気泡が残り半導体装置の耐湿性を低下させる
という欠点があった。
本発明の目的は、耐湿性の向上した半導体装置の製造方
法を提供することにある。
法を提供することにある。
本発明の半導体装置の製造方法は、ガラスエポキシ基板
上に搭載された半導体ペレットの周囲を枠でかこみ、こ
の枠内に第1の樹脂を注入して半導体ペレットを封止す
る工程と、前記ガラスエポキシ基板を成型治具の上型お
よび下型ではさみ第2の樹脂を注入して前記第1の樹脂
で封止された前記半導体ペレットを封止する工程とを含
んで構成される。
上に搭載された半導体ペレットの周囲を枠でかこみ、こ
の枠内に第1の樹脂を注入して半導体ペレットを封止す
る工程と、前記ガラスエポキシ基板を成型治具の上型お
よび下型ではさみ第2の樹脂を注入して前記第1の樹脂
で封止された前記半導体ペレットを封止する工程とを含
んで構成される。
次に、本発明の実施例について図面を参照して説明す
る。
る。
第1図(a),(b)は本発明の一実施例を説明するた
めの工程順に示した治具及び半導体装置の断面図であ
る。
めの工程順に示した治具及び半導体装置の断面図であ
る。
まず第1図(a)に示すように、従来と同じ工程により
配線等が形成されたガラスエポキシからなる基板7上に
ペレット6を固着し、その周囲をAl等からなる枠2で囲
みこの中に第1の樹脂3としてエポキシ樹脂を注入し封
止する。
配線等が形成されたガラスエポキシからなる基板7上に
ペレット6を固着し、その周囲をAl等からなる枠2で囲
みこの中に第1の樹脂3としてエポキシ樹脂を注入し封
止する。
次にこの第1の樹脂3で封止されたペレット6を成形治
具の下型7の上にのせて上型1をかぶせ、注入口9より
第2の樹脂8としてエポキシ樹脂を注入する。
具の下型7の上にのせて上型1をかぶせ、注入口9より
第2の樹脂8としてエポキシ樹脂を注入する。
次に第1図(b)に示すように、第2の樹脂8を硬化さ
せたのち上型1及び下型7からとり出し半導体装置の成
型による樹脂封止を終了させる。
せたのち上型1及び下型7からとり出し半導体装置の成
型による樹脂封止を終了させる。
このようにして形成された半導体装置においては、第1
の樹脂3上に第2の樹脂8が密着して形成されているた
め耐湿性は向上する。
の樹脂3上に第2の樹脂8が密着して形成されているた
め耐湿性は向上する。
尚、上記実施例においては第1及び第2の樹脂としてエ
ポキシ樹脂を用いた場合について説明したが、シリコン
樹脂等他の耐湿性樹脂を用いることができる。
ポキシ樹脂を用いた場合について説明したが、シリコン
樹脂等他の耐湿性樹脂を用いることができる。
以上説明したように本発明は、基板上に固着されたペレ
ットを第1の樹脂で封止したのち、更に成型法により第
2の樹脂で封止することにより、半導体装置の耐湿性を
向上させるとができる効果がある。
ットを第1の樹脂で封止したのち、更に成型法により第
2の樹脂で封止することにより、半導体装置の耐湿性を
向上させるとができる効果がある。
第1図(a),(b)は、本発明の一実施例を説明する
ための半導体装置の断面図、第2図は従来の半導体装置
の一例の断面図である。 1…上型、2…枠、3…第1の樹脂、4…基板、6…ペ
レット、7…下型、8…第2の樹脂、9…注入口、10…
キャップ、11A,11B…エポキシ樹脂。
ための半導体装置の断面図、第2図は従来の半導体装置
の一例の断面図である。 1…上型、2…枠、3…第1の樹脂、4…基板、6…ペ
レット、7…下型、8…第2の樹脂、9…注入口、10…
キャップ、11A,11B…エポキシ樹脂。
Claims (1)
- 【請求項1】ガラスエポキシ基板上に搭載された半導体
ペレットの周囲を枠でかこみ、この枠内に第1の樹脂を
注入して半導体ペレットを封止する工程と、前記ガラス
エポキシ基板を成型治具の上型および下型ではさみ第2
の樹脂を注入して前記第1の樹脂で封止された前記半導
体ペレットを封止する工程とを含むことを特徴とする半
導体装置の製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62111254A JPH0687468B2 (ja) | 1987-05-06 | 1987-05-06 | 半導体装置の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62111254A JPH0687468B2 (ja) | 1987-05-06 | 1987-05-06 | 半導体装置の製造方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63274152A JPS63274152A (ja) | 1988-11-11 |
| JPH0687468B2 true JPH0687468B2 (ja) | 1994-11-02 |
Family
ID=14556522
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62111254A Expired - Lifetime JPH0687468B2 (ja) | 1987-05-06 | 1987-05-06 | 半導体装置の製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0687468B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2723195B2 (ja) * | 1990-12-14 | 1998-03-09 | 松下電工株式会社 | 半導体パッケージ |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5833857A (ja) * | 1981-08-21 | 1983-02-28 | Nec Corp | 半導体装置 |
| JPS58165334A (ja) * | 1982-03-25 | 1983-09-30 | Nitto Electric Ind Co Ltd | 樹脂封止型半導体装置の製造方法 |
-
1987
- 1987-05-06 JP JP62111254A patent/JPH0687468B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS63274152A (ja) | 1988-11-11 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4766095A (en) | Method of manufacturing eprom device | |
| GB2280062B (en) | Method of packaging a power semiconductor device and package produced by the method | |
| JPH01192154A (ja) | リードフレーム | |
| JP3411448B2 (ja) | 半導体素子の樹脂封止金型及び半導体装置の製造方法 | |
| EP1211721A1 (en) | Improved electronic device package and corresponding manufacturing method | |
| JP3727446B2 (ja) | 半導体装置の樹脂封止成形金型 | |
| JPH05138691A (ja) | 液状樹脂射出成形金型 | |
| JPH0745765A (ja) | 樹脂封止型半導体装置の樹脂封止法 | |
| US5672550A (en) | Method of encapsulating semiconductor devices using a lead frame with resin tablets arranged on lead frame | |
| JPS63274152A (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
| JP2666630B2 (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
| JPH05198707A (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
| JPS6154633A (ja) | 半導体樹脂封止用金型 | |
| JPS5839868Y2 (ja) | 樹脂封止金型 | |
| KR100653607B1 (ko) | 복수의 보조-런너를 갖는 반도체 칩 패키지용 수지 성형장치 | |
| JP3092568B2 (ja) | 樹脂封止型半導体装置製造金型 | |
| JPS62183533A (ja) | 半導体装置の樹脂封止方法 | |
| JPH0434304B2 (ja) | ||
| JPS62150755A (ja) | 電子装置およびその製造方法 | |
| JPS58137219A (ja) | 樹脂封止型半導体装置の製造方法 | |
| JP2587539B2 (ja) | 半導体装置の樹脂封止用金型 | |
| JPS6276727A (ja) | 樹脂封止型半導体装置の製法およびそれに用いるトランスフア−成形金型 | |
| JPH02228045A (ja) | 半導体装置とその装置方法および封止用金型 | |
| JPH04179242A (ja) | 半導体素子の封止方法 | |
| JPH0669260A (ja) | 半導体装置及びその製造方法 |