JPH0792393B2 - 被試験モジュールの表示方法 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 ［概要］ 本発明は複数の被試験モジュールをプローブを使用する
などして電気的特性を試験するとき、モジュールの状態
を表示する方法に関し、 複数の被試験モジュールに対し、試験開始時と試験中に
グラフィック表示のような表示手段を使用して効果的に
時間管理を行うことの出来る表示方法を提供することを
目的とし、 複数の被試験モジュールの電気的特性を個別に試験する
ためのプログラムにより制御されるプロセッサと、試験
結果を表示する表示装置とを具備し、前記プログラム処
理により各試験モジュールの状態を表示する方法におい
て、前記プロセッサには必要な試験の対称となるモジュ
ール全数について試験開始時にモジュール表示する手段
と、次に試験すべきモジュールに対してのみ前記表示を
変更する手段と、試験済みモジュールに対してのみ前記
個別表示を行う手段を具備し、前記手段により被試験モ
ジュールの試験を順次に実行し、結果を表示することで
構成する。

［産業上の利用分野］ 本発明は複数の被試験モジュールをプローブを使用する
などして電気的特性を試験するとき、モジュールの状態
を表示する方法に関する。

従来、プリント基板上に搭載した集積回路のような複数
の被試験モジュールについて、プロセッサを使用してプ
ロービングにより電気的試験を行っていた。そのとき、
試験開始時からの時間経過を表示することは実行されて
いるが、モジュールと試験項目が複数あるため、要試験
時間に対し残時間を把握することは難しかった。そのた
め試験残時間を知ることの出来る技術を開発することが
要求された。

［従来の技術］ 第４図に示すように、プリント基板上に搭載した集積回
路のような複数の被試験モジュールについて、電気的試
験を行いその結果を表示することは公知である。第４図
において、１は中央処理装置（プロセッサ）、２はグラ
フィックディスプレィ装置、３はプローブなどの機構制
御部、４−1,4−２……は複数の被試験モジュール、５
はプリント基板、６はプローブ、７−1,7−２……はプ
ローブピンを示す。プリント基板５に搭載した被試験モ
ジュール４−1,4−２……について個別にプローブ６の
ピンを接触させる。機構制御部３により所定の順序に従
ってモジュールを試験する。例えば直流電圧印加時の各
部の電圧、次に微小振幅交流電圧を印加したときの各部
の電圧のように測定し、結果はその都度中央処理装置１
に伝送する。中央処理装置１では結果データによりモジ
ュールの良否を判断し、ディスプレィ装置２に対し良の
ときは緑に、不良のときは赤のように個別に表示する。
次いで、他のモジュールに対しプローブ６を移動させて
試験・判断を行い、そのモジュールの状態を前記表示と
入れ換えて表示する。試験を開始したときからの経過時
間を表示することは、簡単なタイマを使用することで可
能となる。

［発明が解決しようとする課題］ 被試験モジュールをプリント基板に搭載したとき、モジ
ュールの数量は一定せず、プリント基板の種類によって
定まっている。また類似プリント基板であっても、搭載
するモジュールの構成・個数を変更することがある。そ
のためモジュールの試験項目によって要試験時間が一定
せず、プリント基板上のモジュール数が同じであっても
要試験時間に長短を生じる。そのため試験開始時からの
経過時間は判っても、終了時刻または残りの試験に要す
る時間は、オペレータの勘に頼って判断するか、モジュ
ールテスト用のプログラムを人手によって詳細に調査し
て見当を付けることか出来るのみである。このため、次
の試験に対する準備が遅れたり、他の作業に取り掛かっ
て集中的に実行することが困難となった。

本発明の目的は前述の欠点を改善し、複数の被試験モジ
ュールに対し、試験開始時と試験中にグラフィック表示
のような表示手段を使用して効果的に時間管理を行うこ
との出来る表示方法を提供することにある。

［課題を解決するための手段］ 第１図は本発明の原理構成を示す図である。第１図にお
いて、１はプロセッサ、２は試験結果を表示する表示装
置、４−1,4−２……は被試験モジュール、７はモジュ
ール全数を表示する手段、８は次に試験すべきモジュー
ルの表示変更手段、９は試験済みモジュールの個別表示
手段を示す。

複数の被試験モジュール４−1,4−２……の電気的特性
を個別に試験するためのプログラムにより制御されるプ
ロセッサ１と、試験結果を表示する表示装置２とを具備
し、前記プログラム処理により各被試験モジュール４−
1,4−２……の状態を表示する方法において、本発明は
下記の構成とする。即ち、前記プロセッサには必要な試
験の対称となるモジュール全数について試験開始時にそ
のモジュールを表示する手段７と、次に試験すべきモジ
ュールに対してのみ前記表示を変更する手段８と、試験
済みモジュールに対してのみ前記個別表示を行う手段９
とを具備し、前記手段7,8,9により被試験モジュールの
試験を順次に実行し、結果を表示することで構成する。

［作用］ 被試験モジュール４−1,4−２……と、処理プログラム
が定まって試験を開始するとき、モジュール全数を表示
する手段７により試験プログラムを続出す。その結果モ
ジュール全数に対する表示を、試験結果を表示する表示
装置２に表示することが出来る。このとき、モジュール
配列に表示配列を対応する画面を使用し、モジュール存
在位置に対応させ、例えば水色に着色して置くと見易
い。次にプロセッサ（中央処理装置）１により試験プロ
グラムを動作させモジュールを順次に試験する。最初に
試験すべきモジュールについてプロセッサは水色の表示
を変更する手段８を動作させて、水色から例えば黄色に
変更させる。試験プログラムは当該モジュールについて
試験を行い、その結果データはプロセッサ１に伝送され
判断される。試験の結果について「試験済みモジュール
の個別表示手段９」により良品・不良品に応じて色を変
え当該モジュールのみの表示をする。例えば良品のとき
黄色が緑となるように変更する。そして次に試験すべき
モジュールについて例えば水色から黄色に変更する。こ
のように色を変えることにより、表示装置２を見るだけ
で、試験済みと未試験のモジュール数を色分けして判断
でき、しかも試験済みのものの良否も直ぐ判る。この表
示はリアルタイムで行われる。そしてプログラムが所定
数のモジュールを当初に設定表示するから、その表示数
は試験が全部終わるまで当然変更されない。

［実施例］ 第２図は本発明についての動作フローチャートを示す。
第２において、処理開始後ステップにおいて、試験プ
ログラムを読み全試験対象モジュールを水色に着色す
る。次にステップにおいて、試験プログラムより次に
試験すべきモジュールを獲得する。ステップにおい
て、試験が終了するかどうかを判断する。終了している
ときはステップに進み、いないときはステップに進
んで終了する。ステップにおいては、次に試験すべき
モジュールを黄色に着色する。そしてステップに進
み、１モジュールの試験を行う。次にステップにおい
て測定値を取得する。ステップにおいてモジュールの
良否の判定を行う。ステップにおいて良と判断したと
きステップに進み、不良のときはステップに進む。
ステップでは該当モジュールを緑色に着色する。また
ステップでは、該当モジュールを赤色に着色する。そ
してステップまたはステップが終了したとき、ステ
ップへ進み、処理を繰り返す。

第３図は試験結果を表示する表示装置３の画面の一例を
示す図である。第３図において、10はCRTのような表示
装置の画面、11は被試験モジュール64個をプリント基板
などに搭載したときの状態を示す区画で、試験すべきモ
ジュールを搭載した小区画を例えば水色で表示する。プ
リント基板の配線回路の都合などで、モジュールを基板
上に搭載していてもその時の試験プログラムでは試験処
理を行わないこともあり、更に試験途中での残時間を把
握するために、この所定数の着色表示は有効である。

なお、当初のモジュール試験処理において、不良と判断
されたものを、半田付けの不良のように容易に対処でき
るときは、その処理を行った後、「リトライ試験」を行
うことがあり、その場合に本発明を応用することが有効
である。即ち、当初の試験における不良モジュールのみ
を試験対象モジュールとして選択する処理プログラムを
含ませる。次にリトライ用試験プログラムは通常の試験
プログラムと同様に動作を開始する。そのため例えば水
色に着色表示したモジュールは再試験により緑、または
赤色に再表示がなされる。ここで赤色に表示されたもの
は、半田付け不良のうよな簡易な不良でなく、大きな障
害のあることが判る。

以上の説明はプリント基板に搭載したモジュールの試験
についての説明であったが、本発明はそれに限らず、区
画の枠対に単独に存在するもの、または筐体に直接組込
んだものであっても、同様に適用することが出来る。

［発明の効果］ このようにして本発明によると、被試験モジュールにつ
いて試験開始時における総モジュール数と、試験中の試
験対象残モジュール数が、表示装置を一見するだけで明
確に判り、試験総時間・試験残時間を容易に把握するこ
とが出来る。そのため数時間を要するような大量のモジ
ュールを試験するときも、試験装置の稼動効率や作業者
の作業効率の向上に大きく寄与することが出来る。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の原理構成を示す図、 第２図は本発明についての動作フローチャートを示す
図、 第３図は試験結果を表示する表示装置の画面の例を示す
図、 第４図は従来の表示装置の構成を示す図である。 １……プロセッサ（中央処理装置） ２……表示装置 ４−1,4−２……被試験モジュール ７……全数表示手段 ８……次に試験すべきものの表示変更手段 ９……個別表示手段

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】複数の被試験モジュール（４−１）（４−
   ２）……の電気的特性を個別に試験するためのプログラ
   ムにより制御されるプロセッサ（１）と、試験結果を表
   示する表示装置（２）とを具備し、前記プログラム処理
   により各被試験モジュール（４−１）（４−２）……の
   状態を表示する方法において、 前記プロセッサ（１）には必要な試験の対称となるモジ
   ュール全数について試験開始時にそのモジュールを表示
   する手段（７）と、 次に試験すべきモジュールに対してのみ前記表示を変更
   する手段（８）と、 試験済みモジュールに対してのみ前記個別表示を行う手
   段（９）とを具備し、 前記手段（７）（８）（９）により被試験モジュールの
   試験を順次に実行し、結果を表示すること を特徴とする被試験モジュールの表示方法。