JPS58194084A - 表示パネルの製造方法 - Google Patents
表示パネルの製造方法Info
- Publication number
- JPS58194084A JPS58194084A JP7885782A JP7885782A JPS58194084A JP S58194084 A JPS58194084 A JP S58194084A JP 7885782 A JP7885782 A JP 7885782A JP 7885782 A JP7885782 A JP 7885782A JP S58194084 A JPS58194084 A JP S58194084A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- plating
- nickel
- transparent conductive
- conductive film
- alloy
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 5
- 238000007747 plating Methods 0.000 claims description 50
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 40
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 22
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 claims description 19
- 238000005530 etching Methods 0.000 claims description 17
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 claims description 14
- 239000000956 alloy Substances 0.000 claims description 14
- 229910000510 noble metal Inorganic materials 0.000 claims description 9
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 7
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 12
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 10
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 10
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 10
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 10
- OFNHPGDEEMZPFG-UHFFFAOYSA-N phosphanylidynenickel Chemical compound [P].[Ni] OFNHPGDEEMZPFG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 10
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 229910000990 Ni alloy Inorganic materials 0.000 description 7
- XOLBLPGZBRYERU-UHFFFAOYSA-N tin dioxide Chemical compound O=[Sn]=O XOLBLPGZBRYERU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 229910001887 tin oxide Inorganic materials 0.000 description 6
- 238000007772 electroless plating Methods 0.000 description 5
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 4
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 4
- 239000003054 catalyst Substances 0.000 description 3
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 3
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 3
- 229910003437 indium oxide Inorganic materials 0.000 description 3
- PJXISJQVUVHSOJ-UHFFFAOYSA-N indium(iii) oxide Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[In+3].[In+3] PJXISJQVUVHSOJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 3
- 238000000059 patterning Methods 0.000 description 3
- 239000002574 poison Substances 0.000 description 3
- 231100000614 poison Toxicity 0.000 description 3
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052796 boron Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 2
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 2
- ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N Boron Chemical compound [B] ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004593 Epoxy Substances 0.000 description 1
- PXGOKWXKJXAPGV-UHFFFAOYSA-N Fluorine Chemical compound FF PXGOKWXKJXAPGV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- CDBYLPFSWZWCQE-UHFFFAOYSA-L Sodium Carbonate Chemical compound [Na+].[Na+].[O-]C([O-])=O CDBYLPFSWZWCQE-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 239000000654 additive Substances 0.000 description 1
- 230000000996 additive effect Effects 0.000 description 1
- 229910052787 antimony Inorganic materials 0.000 description 1
- WATWJIUSRGPENY-UHFFFAOYSA-N antimony atom Chemical compound [Sb] WATWJIUSRGPENY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910000410 antimony oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- QZPSXPBJTPJTSZ-UHFFFAOYSA-N aqua regia Chemical compound Cl.O[N+]([O-])=O QZPSXPBJTPJTSZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000010953 base metal Substances 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- QDWJUBJKEHXSMT-UHFFFAOYSA-N boranylidynenickel Chemical compound [Ni]#B QDWJUBJKEHXSMT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000005388 borosilicate glass Substances 0.000 description 1
- 229920002301 cellulose acetate Polymers 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000001186 cumulative effect Effects 0.000 description 1
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 1
- 239000011737 fluorine Substances 0.000 description 1
- 229910052731 fluorine Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000007654 immersion Methods 0.000 description 1
- 229910052738 indium Inorganic materials 0.000 description 1
- APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N indium atom Chemical compound [In] APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000007733 ion plating Methods 0.000 description 1
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 229910000480 nickel oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- VTRUBDSFZJNXHI-UHFFFAOYSA-N oxoantimony Chemical compound [Sb]=O VTRUBDSFZJNXHI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- GNRSAWUEBMWBQH-UHFFFAOYSA-N oxonickel Chemical compound [Ni]=O GNRSAWUEBMWBQH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052763 palladium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052698 phosphorus Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000001259 photo etching Methods 0.000 description 1
- 239000002985 plastic film Substances 0.000 description 1
- 229920006255 plastic film Polymers 0.000 description 1
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 1
- 229920000728 polyester Polymers 0.000 description 1
- 239000010970 precious metal Substances 0.000 description 1
- 229910052703 rhodium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000007921 spray Substances 0.000 description 1
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 1
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 1
- 238000001771 vacuum deposition Methods 0.000 description 1
- 238000005406 washing Methods 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Landscapes
- Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
- Manufacturing Of Electric Cables (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は液晶パネル、エレクトロクロミック表示パネル
など表示パネルC以下液晶パネルを主体に述べる)の製
造方法に関するものであり特に金属配線された液晶パネ
ルに関するものである。
など表示パネルC以下液晶パネルを主体に述べる)の製
造方法に関するものであり特に金属配線された液晶パネ
ルに関するものである。
液晶パネルには透明導電膜が用いられているがパターン
の微細化にともない抵抗が問題になp必要とする画素以
外は金属配線で抵抗の大きなところを補っていこうとす
る動向がある。特に多1マトリクスパネルではパターン
ピッチH1μ程度が必要とされるため画素以外は金属配
線の必要性が生ずる。全面通常このような電極構造は、
ガラス上に透明導電膜を全面形成する工程→これをバタ
ーニングする工8(画素部とリード部を残して)→全面
にCr−AQを真空蒸着する工程→画素部とリード部以
下のCf −A4をエツチング除去する工程によって得
るか全面に透明導電膜を全面に形成す2− る工程→全面にCf −Agを形成する工程→リード部
のCr−Au郁ヲ残してCf−AlLをエツチングする
工程→リード部及び画素部を残して透明導電膜をエツチ
ングする工程によって得ていた。いずれの方法も透明導
電膜と金属リード部(Cr −’ Au )のパターン
あわせが非常に困難、透明導電膜、Cr 、 Auとそ
れぞれ独立してエツチングするエツチング液の必要性C
アンダーエツチングの問題)。
の微細化にともない抵抗が問題になp必要とする画素以
外は金属配線で抵抗の大きなところを補っていこうとす
る動向がある。特に多1マトリクスパネルではパターン
ピッチH1μ程度が必要とされるため画素以外は金属配
線の必要性が生ずる。全面通常このような電極構造は、
ガラス上に透明導電膜を全面形成する工程→これをバタ
ーニングする工8(画素部とリード部を残して)→全面
にCr−AQを真空蒸着する工程→画素部とリード部以
下のCf −A4をエツチング除去する工程によって得
るか全面に透明導電膜を全面に形成す2− る工程→全面にCf −Agを形成する工程→リード部
のCr−Au郁ヲ残してCf−AlLをエツチングする
工程→リード部及び画素部を残して透明導電膜をエツチ
ングする工程によって得ていた。いずれの方法も透明導
電膜と金属リード部(Cr −’ Au )のパターン
あわせが非常に困難、透明導電膜、Cr 、 Auとそ
れぞれ独立してエツチングするエツチング液の必要性C
アンダーエツチングの問題)。
Cf 、 Au被覆工程が真空法によるため高価である
等々の欠点を有していた。
等々の欠点を有していた。
本発明の目的は真空法では不用能な透明導電膜上のみに
メッキする技術を使って歩留りの良い金属配線液晶パネ
ルを得ることにある。
メッキする技術を使って歩留りの良い金属配線液晶パネ
ルを得ることにある。
本発明の液晶パネルを列記すれば、
1、透明導電膜を全面に形成する工程
2゜ フォトエツチング法で必要とする画素、リード部
を除いてパターニングする工程 3、残された(画素及びリード部)透明導電膜上のみに
無電解ニッケルメッキ又はその合金メッキする工程 3− 4、必要な画素を除いてニッケルメッキ又はその合金メ
ッキ被膜をエツチング除去する工程5゜ニッケル又はそ
の合金メッキ部に貴金属メッキを施す工程 又は前記1〜3同様で 4! ニッケル又はその合金メッキ部に貴金属メッキを
施す工程 5: 必要な画素を除いて貴金属メッキ被膜及びニッケ
ル又はその合金被膜ヲエッチングする工程 から成る。
を除いてパターニングする工程 3、残された(画素及びリード部)透明導電膜上のみに
無電解ニッケルメッキ又はその合金メッキする工程 3− 4、必要な画素を除いてニッケルメッキ又はその合金メ
ッキ被膜をエツチング除去する工程5゜ニッケル又はそ
の合金メッキ部に貴金属メッキを施す工程 又は前記1〜3同様で 4! ニッケル又はその合金メッキ部に貴金属メッキを
施す工程 5: 必要な画素を除いて貴金属メッキ被膜及びニッケ
ル又はその合金被膜ヲエッチングする工程 から成る。
前記ニッケル又はニッケル合金被膜のエツチングは、例
えば非エツチング部をレジスト抜法のエツチング液(常
温)に30秒程度(被膜厚に応じて変動)浸漬して行な
う。
えば非エツチング部をレジスト抜法のエツチング液(常
温)に30秒程度(被膜厚に応じて変動)浸漬して行な
う。
又、前記貴金属c%に金、銀)被膜のエツチングは、非
エツチング部へレジストを塗布後、王水に浸漬すること
により行なう。この後レジストを剥離する。本発明によ
れば前記方法のようなパターン位置合せ(透明導電膜と
金属リード部)の問題がほとんどなく(大きなパターン
である画素部の合わせたけてあり多少ずれても実用上問
題とならない)、安価に金属リード付き液晶パネルが得
られる。
エツチング部へレジストを塗布後、王水に浸漬すること
により行なう。この後レジストを剥離する。本発明によ
れば前記方法のようなパターン位置合せ(透明導電膜と
金属リード部)の問題がほとんどなく(大きなパターン
である画素部の合わせたけてあり多少ずれても実用上問
題とならない)、安価に金属リード付き液晶パネルが得
られる。
本発明に用いられる透明な絶縁基板としてソーダガラス
、石英ガラス、ホウケイ酸ガラス等の無機ガラス、ポリ
エステル、エポキシ、酢酸セルロース等のプラスチック
フィルムが考えられる。液晶のモードによっては片側基
板は不透明でも良く、セラミック上に本発明の電極構造
を構成しても良い。いかにしても信号電極が本発明の電
極構造を有す。用いられる透明導電膜としては酸化ヌズ
系(酸化スズ又は酸化スズにアンチモン、ホウ素、フッ
素等をドーピングしたもの)でも良いし酸化インジウム
系(酸化インジウム又は酸化スズをド5− 一ブしたもの等)でも良い。これらはCVD法、真空蒸
着法、スパッタ法、イオンプレイティング法、印刷焼成
法、浸漬焼付は法、スプレー法、パイロゾルCVD法等
によシ得られる。
、石英ガラス、ホウケイ酸ガラス等の無機ガラス、ポリ
エステル、エポキシ、酢酸セルロース等のプラスチック
フィルムが考えられる。液晶のモードによっては片側基
板は不透明でも良く、セラミック上に本発明の電極構造
を構成しても良い。いかにしても信号電極が本発明の電
極構造を有す。用いられる透明導電膜としては酸化ヌズ
系(酸化スズ又は酸化スズにアンチモン、ホウ素、フッ
素等をドーピングしたもの)でも良いし酸化インジウム
系(酸化インジウム又は酸化スズをド5− 一ブしたもの等)でも良い。これらはCVD法、真空蒸
着法、スパッタ法、イオンプレイティング法、印刷焼成
法、浸漬焼付は法、スプレー法、パイロゾルCVD法等
によシ得られる。
これらの透明導電膜は所定のフォト工程を経てHす、
HC,i、k 、 Cf*ンCγ1 レドツクヌ系等
を用いてエツチングパターニングされる。次に透明電極
上にのみニッケルメッキ又はその合金メッキする方法と
しては、通常の5n(J2→PdCA2→Napメツキ
工程のPd(4,工程後に触媒毒であるPb、 8bを
含んだ溶液に浸漬する。又は−液タイプの時はニッケル
メッキ又はその合金メッキ前に前記触媒毒に浸漬すると
とによシ選択的なメッキが得られる。
HC,i、k 、 Cf*ンCγ1 レドツクヌ系等
を用いてエツチングパターニングされる。次に透明電極
上にのみニッケルメッキ又はその合金メッキする方法と
しては、通常の5n(J2→PdCA2→Napメツキ
工程のPd(4,工程後に触媒毒であるPb、 8bを
含んだ溶液に浸漬する。又は−液タイプの時はニッケル
メッキ又はその合金メッキ前に前記触媒毒に浸漬すると
とによシ選択的なメッキが得られる。
ニッケルメッキ又はニッケル合金メッキの膜厚は500
X〜100OOAが適当であシ密着性からして100O
A〜6000Aが適当である。ニッケル又はニッケル合
金としてはニッケル基をペースにNZ’−P 、 N1
−B 、 Nff1−Co−P 、 ID −Cu−p
、 Hi−Co−Cr−P等が用いられるが特にtB
−p、ui−B は密着性、メッキ液の安定度等が優
6一 れている。P、Bの含有量け1wt%〜21)wt%で
ある。これらを無電解メッキした後、密着性を向上させ
るため常温に1週間以上放置するか、50℃〜500℃
で熱処理を行なっても良い。
X〜100OOAが適当であシ密着性からして100O
A〜6000Aが適当である。ニッケル又はニッケル合
金としてはニッケル基をペースにNZ’−P 、 N1
−B 、 Nff1−Co−P 、 ID −Cu−p
、 Hi−Co−Cr−P等が用いられるが特にtB
−p、ui−B は密着性、メッキ液の安定度等が優
6一 れている。P、Bの含有量け1wt%〜21)wt%で
ある。これらを無電解メッキした後、密着性を向上させ
るため常温に1週間以上放置するか、50℃〜500℃
で熱処理を行なっても良い。
前記ニッケル又はニッケル合金被膜を形成後熱処理する
場合は、下層との密着性等が向上するもののその表面に
導通性がやや劣る酸化ニッケルが形成されるが、この酸
化ニッケルを除去するため塩化第二鉄の浴中に浸漬させ
るようにしてもよい。
場合は、下層との密着性等が向上するもののその表面に
導通性がやや劣る酸化ニッケルが形成されるが、この酸
化ニッケルを除去するため塩化第二鉄の浴中に浸漬させ
るようにしてもよい。
貴金属メッキはニッケル又はその合金メッキの抵抗をさ
らに低下させるにニッケル又はその合金メッキを厚くし
て抵抗を下げると基板との密着性の問題が生ずる)ため
であり、安定性、メッキの答易さ、比抵抗からして金、
銀、Pd 、 Pt、 Rh。
らに低下させるにニッケル又はその合金メッキを厚くし
て抵抗を下げると基板との密着性の問題が生ずる)ため
であり、安定性、メッキの答易さ、比抵抗からして金、
銀、Pd 、 Pt、 Rh。
Ru等が、これらの合金又はその他の卑金属との合金が
良い。使い方からして無電解メッキが良い。
良い。使い方からして無電解メッキが良い。
又無電解メッキでも置換型メッキ液が使い易い。
これらの貴金属メッキの厚みは50 A〜4000Aで
あシ、さらに望ましくは500A〜3000Aである。
あシ、さらに望ましくは500A〜3000Aである。
あまり厚くするとコストが高ぐなシ、又7−
透明導電膜との密着性も劣る。薄すぎると抵抗が十分低
下しないのでおのずから適当な膜厚は貴金属の固有比抵
抗によって決まってくる。この貴金属無電解メッキを施
してから下層金属層等との密着性向上のため、常温に1
週間以上放置するか、80℃〜500℃で熱処理を行な
ってもよいがこの熱処理のみを行なう他、前記熱処理と
併用してもよい。
下しないのでおのずから適当な膜厚は貴金属の固有比抵
抗によって決まってくる。この貴金属無電解メッキを施
してから下層金属層等との密着性向上のため、常温に1
週間以上放置するか、80℃〜500℃で熱処理を行な
ってもよいがこの熱処理のみを行なう他、前記熱処理と
併用してもよい。
以下実施例によって本発明の詳細な説明する。
実施例1
第1図のように、上パネル基板の走査電極(鎖線)に対
し下パネル基板に四重マ) IJクスパネル用に信号電
極である透明導電膜(5%の酸化スズをドープした酸化
インジウム)をエツチング形成した。リード部lのピッ
チは10μ画累部2のサイズは70μである。次に無電
解メッキプロセスとして1液性の増感剤である日立化成
社製HE31QIBで5分間処理し、触媒毒を含んだ日
立化成社製H8201で10分間処理し、水洗後、カニ
ゼン社&’568D無電解ニッケルリンメッキ液を用8
− いて60℃で3分間処理し、透明導電膜上のみに(第2
図斜線部)ニッケルリンメッキを200OA施した。次
妬フオト工程を経て画素上のニッケルリンメッキを第3
図のように前述の方法によりエツチング除去した。A−
8間の抵抗測定をしたところ第1図ではHI KΩ、第
3図では500Ωであった。次に日本エンゲルハルト社
製置換無電解金メッキ液で60℃、加分装置換型メッキ
した。A−8間の抵抗はH1Ωであった。第1図で走査
電極と組み合わせ16行×80桁(5×7ドツト)−!
−duty2 で四重マトリクスの液晶パネルを作成したところ端子か
ら遠い所はON状態でもハーフトーンになシ表示むらが
生じた。しかし同様のパネルを第3図の構成で作成した
ところ表示むらを生じなかった。又前述の従来方法で作
成したパネルは電極の切れ、ショート、ズレ等の不良が
90%あったが、本発明によって得たものは30チの不
良(全て用μ部の透明導電膜のエツチング切れ)のみで
あった。
し下パネル基板に四重マ) IJクスパネル用に信号電
極である透明導電膜(5%の酸化スズをドープした酸化
インジウム)をエツチング形成した。リード部lのピッ
チは10μ画累部2のサイズは70μである。次に無電
解メッキプロセスとして1液性の増感剤である日立化成
社製HE31QIBで5分間処理し、触媒毒を含んだ日
立化成社製H8201で10分間処理し、水洗後、カニ
ゼン社&’568D無電解ニッケルリンメッキ液を用8
− いて60℃で3分間処理し、透明導電膜上のみに(第2
図斜線部)ニッケルリンメッキを200OA施した。次
妬フオト工程を経て画素上のニッケルリンメッキを第3
図のように前述の方法によりエツチング除去した。A−
8間の抵抗測定をしたところ第1図ではHI KΩ、第
3図では500Ωであった。次に日本エンゲルハルト社
製置換無電解金メッキ液で60℃、加分装置換型メッキ
した。A−8間の抵抗はH1Ωであった。第1図で走査
電極と組み合わせ16行×80桁(5×7ドツト)−!
−duty2 で四重マトリクスの液晶パネルを作成したところ端子か
ら遠い所はON状態でもハーフトーンになシ表示むらが
生じた。しかし同様のパネルを第3図の構成で作成した
ところ表示むらを生じなかった。又前述の従来方法で作
成したパネルは電極の切れ、ショート、ズレ等の不良が
90%あったが、本発明によって得たものは30チの不
良(全て用μ部の透明導電膜のエツチング切れ)のみで
あった。
本発明によって得られた金属リード部は前述の無電解ニ
ッケルリンメッキよシ、又は前記無電解金9− メッキ後に80℃〜500℃で熱処理して、基板−\の
密着性の向上耐摩耗性の向上をはかっても良い。
ッケルリンメッキよシ、又は前記無電解金9− メッキ後に80℃〜500℃で熱処理して、基板−\の
密着性の向上耐摩耗性の向上をはかっても良い。
実施例2
実施例1において無電解ニッケルリンメッキ後に置換型
無電解銀メツキ液である高純度化学社製Ei−90’O
を用い80℃で30分間施した。次に画素部を残して、
銀及びニッケルリン被膜を前述のエツチング方法を用い
て次々にエツチングして第3図のような信号電極基板を
作成した。A −8間の抵抗は40Ωであった。効果は
実施例1と同様であった。
無電解銀メツキ液である高純度化学社製Ei−90’O
を用い80℃で30分間施した。次に画素部を残して、
銀及びニッケルリン被膜を前述のエツチング方法を用い
て次々にエツチングして第3図のような信号電極基板を
作成した。A −8間の抵抗は40Ωであった。効果は
実施例1と同様であった。
実施例3
実施例1で無電解ニッケルリンメッキの代わりに上材工
IJJJ(ベルニッケル)の無電解ニッケルボロンメッ
キ液を用い3500Aメツキした。後は同様の処理でパ
ネルとしたところ効果は同じであった。
IJJJ(ベルニッケル)の無電解ニッケルボロンメッ
キ液を用い3500Aメツキした。後は同様の処理でパ
ネルとしたところ効果は同じであった。
実施例4
実施例1で酸化インジウム系透明導電膜の代わH1−
りに5wt%の酸化アンチモンをドープした酸化スズを
用いた。A−B間の抵抗は100にΩであった。次に無
電解ニッケルリンメッキ、無電解金メツキ後のA−B間
の抵抗は実施例1と同様であった。パネルとしての効果
は同様であった。
用いた。A−B間の抵抗は100にΩであった。次に無
電解ニッケルリンメッキ、無電解金メツキ後のA−B間
の抵抗は実施例1と同様であった。パネルとしての効果
は同様であった。
実施例5
実施例1のプロセスで金メッキの代わりに無電5Pd)
ツキ(高純度化学社P d−5) f:1500A施し
た。A −B間の抵抗は80Ωであった。パネルとして
の特性は実施例1と同様であった。
ツキ(高純度化学社P d−5) f:1500A施し
た。A −B間の抵抗は80Ωであった。パネルとして
の特性は実施例1と同様であった。
以上実施例によって本発明を説明したが本発明の表示パ
ネルの製造方法により金属リード部を有する表示パネル
の歩留シの大巾なアップがはかられ、その工業的意義は
太きい。
ネルの製造方法により金属リード部を有する表示パネル
の歩留シの大巾なアップがはかられ、その工業的意義は
太きい。
本発明によシ得られた表示パネルばα−Nパネル液晶テ
レビ、時計、電車等の表示パネルとして応用可能である
。
レビ、時計、電車等の表示パネルとして応用可能である
。
第1図・−一般の四重マトリクスパネルの透明導電膜構
造図。 第2図・・本発明により透明導電膜上にのみニッケルリ
ンメッキした電極構造図 第3図・・本発明による画素部を除きニッケルリンメッ
キプラス金又は釧メッキされた信号電極構造図 以 上 出願人 株式会社睡訪精工舎 沖 1図 ′72図
造図。 第2図・・本発明により透明導電膜上にのみニッケルリ
ンメッキした電極構造図 第3図・・本発明による画素部を除きニッケルリンメッ
キプラス金又は釧メッキされた信号電極構造図 以 上 出願人 株式会社睡訪精工舎 沖 1図 ′72図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 】、少なくとも1方が透明な絶縁基板上に形成された透
明導電膜をバターニングする工程、バターニングされた
透明導電股上にのみ選択的に無電解ニッケル又はその合
金メッキする工程、該ニッケル又はその合金メッキ被膜
上に貴金属メッキを施す工程、必要とされる画素上の貴
金属被膜及びニッケル又はその合金メッキ被膜をエツチ
ングする工程を含むことを特徴とする表示パネルの製造
方法。 2゜少なくとも1方が透明な絶縁基板上に形成された透
明導電膜をバターニングする工程、バターニングされた
透明導電膜上にのみ選択的に無電解ニッケル又はその合
金メッキする工程、必要な画素上のニッケル又はその合
金メッキ被膜をエツチングする工程、残された該ニッケ
ル又はその合金1− メッキ被膜上に貴金属メッキを施す工程を含むことを特
徴とする表示パネルの製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7885782A JPS58194084A (ja) | 1982-05-10 | 1982-05-10 | 表示パネルの製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7885782A JPS58194084A (ja) | 1982-05-10 | 1982-05-10 | 表示パネルの製造方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58194084A true JPS58194084A (ja) | 1983-11-11 |
| JPH0364869B2 JPH0364869B2 (ja) | 1991-10-08 |
Family
ID=13673492
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7885782A Granted JPS58194084A (ja) | 1982-05-10 | 1982-05-10 | 表示パネルの製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58194084A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP6616637B2 (ja) * | 2015-09-18 | 2019-12-04 | 石原ケミカル株式会社 | 透明導電膜上への導電性皮膜形成方法 |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5463770A (en) * | 1977-10-14 | 1979-05-22 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | Electrochromic display plate |
| JPS556346A (en) * | 1978-06-27 | 1980-01-17 | Sharp Kk | Electrode pattern and method of forming same |
| JPS5548935A (en) * | 1978-10-03 | 1980-04-08 | Sharp Corp | Forming of electrode pattern |
| JPS56143275U (ja) * | 1980-03-27 | 1981-10-29 |
-
1982
- 1982-05-10 JP JP7885782A patent/JPS58194084A/ja active Granted
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5463770A (en) * | 1977-10-14 | 1979-05-22 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | Electrochromic display plate |
| JPS556346A (en) * | 1978-06-27 | 1980-01-17 | Sharp Kk | Electrode pattern and method of forming same |
| JPS5548935A (en) * | 1978-10-03 | 1980-04-08 | Sharp Corp | Forming of electrode pattern |
| JPS56143275U (ja) * | 1980-03-27 | 1981-10-29 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0364869B2 (ja) | 1991-10-08 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4478690A (en) | Method of partially metallizing electrically conductive non-metallic patterns | |
| JP3480697B2 (ja) | Cog型液晶表示装置の製造方法 | |
| JPS58194084A (ja) | 表示パネルの製造方法 | |
| JPH0470613B2 (ja) | ||
| JPS63228535A (ja) | 電極パタ−ン形成方法 | |
| JPH0269720A (ja) | パネル基板 | |
| JPH05335424A (ja) | 絶縁層を介した上部電極と下部電極の導通方法及びその構造 | |
| JP3299167B2 (ja) | 埋設電極付き基板の製造方法 | |
| JPS6441194A (en) | Manufacture of thin film electroluminescent element | |
| JPH027475B2 (ja) | ||
| JPS60245781A (ja) | 透明導電膜パタ−ン上へのめつき方法 | |
| JPH0239044B2 (ja) | ||
| JP3208187B2 (ja) | 表示素子の端子引出部の製造方法 | |
| EP0445881A1 (en) | Method of manufacturing conductor tracks | |
| JP3047183B2 (ja) | 液晶装置の製造方法 | |
| JPS60161686A (ja) | 薄膜非線形素子の製造方法 | |
| JPH0331823A (ja) | 液晶表示装置及び電極基板の製造方法 | |
| JPS589123A (ja) | 液晶パネルの電極構造 | |
| JPS60245782A (ja) | 透明導電膜パタ−ン上へのめつき方法 | |
| JPH0143933B2 (ja) | ||
| JPH0373083B2 (ja) | ||
| JPS63271318A (ja) | 表示装置用電極板 | |
| JPH0470612B2 (ja) | ||
| JPS5840527A (ja) | 液晶パネル基板の製造方法 | |
| JPH0634438B2 (ja) | 配線電極の形成方法 |