JPS5852832A - 半導体装置 - Google Patents
半導体装置Info
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- JPS5852832A JPS5852832A JP56150603A JP15060381A JPS5852832A JP S5852832 A JPS5852832 A JP S5852832A JP 56150603 A JP56150603 A JP 56150603A JP 15060381 A JP15060381 A JP 15060381A JP S5852832 A JPS5852832 A JP S5852832A
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- semiconductor
- layers
- lead frame
- semiconductor device
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- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
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- H10W70/411—Chip-supporting parts, e.g. die pads
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- H10W90/756—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bond wires between a chip and a stacked lead frame, conducting package substrate or heat sink
Landscapes
- Die Bonding (AREA)
- Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は半導体装置に関する。
従来、集積回路(IC)や大規模集積回路(LSI)の
如き半導体装置の製造過程において半導体ペレットをリ
ードフレームのベレット取付部(タブ)に取り付ける場
合、まずリードフレームのベレット取付面に金(Au)
をめっきしておき、この金めつき層上にシリコン(81
)の半導体ベレットを載せて加熱し、Au−8i共晶合
金を作ることKよってペレット付けを行っている。
如き半導体装置の製造過程において半導体ペレットをリ
ードフレームのベレット取付部(タブ)に取り付ける場
合、まずリードフレームのベレット取付面に金(Au)
をめっきしておき、この金めつき層上にシリコン(81
)の半導体ベレットを載せて加熱し、Au−8i共晶合
金を作ることKよってペレット付けを行っている。
ところが、この従来方式では、ペレット付けのために金
材料を使用しているので、金価格の高騰によりコストが
相当高価になるという欠点がある。
材料を使用しているので、金価格の高騰によりコストが
相当高価になるという欠点がある。
また、ペレット付けの歩留りをより向上させることも強
く望まれている。
く望まれている。
したがって、本発明の目的は、前記従来技術の課題を解
決し、低コストでペレット付けを行うことのできる半導
体装置を提供するととKある。
決し、低コストでペレット付けを行うことのできる半導
体装置を提供するととKある。
この目的を達成するため、本発明による半導体装置は、
ベレットの裏面とリードフレームのベレット取付面とに
ニッケルーりん層を設けることによりペレット付けを行
うものである。
ベレットの裏面とリードフレームのベレット取付面とに
ニッケルーりん層を設けることによりペレット付けを行
うものである。
以下、本発明を図面に示す一実施例にしたがって詳細に
説明する。
説明する。
第1#Aは本発明の半導体装置に用いるリードフレーム
と半導体ペレットを分解状態で示す部分断面図、第2図
は本発WAによる半導体装置の−実施例を示す断面図で
ある。
と半導体ペレットを分解状態で示す部分断面図、第2図
は本発WAによる半導体装置の−実施例を示す断面図で
ある。
第1図に示すように1本発明の半導体装置に用いられる
リードフレーム1のベレット取付部すなわちタブ2の上
には、ニッケル(Ni )一つ/、(P)層3が蒸着ま
たはめっきKより形成されている。
リードフレーム1のベレット取付部すなわちタブ2の上
には、ニッケル(Ni )一つ/、(P)層3が蒸着ま
たはめっきKより形成されている。
一方、シリコン(St)よりなる半導体ベレット4の裏
面には、同じくニッケル(Ni )−りん(P)層5が
蒸着またはめっきにより形成されている。
面には、同じくニッケル(Ni )−りん(P)層5が
蒸着またはめっきにより形成されている。
前記両N1−P層3と5との間には、Niに濡れ易い材
料、たとえば鉛(pb)−すず(Sn)−銅(Cu)の
はんだ材料あるいは銀(Ag)ilよりなる介在金属層
6が介在されている。
料、たとえば鉛(pb)−すず(Sn)−銅(Cu)の
はんだ材料あるいは銀(Ag)ilよりなる介在金属層
6が介在されている。
第2図は第1図に示す構造を用いてペレット付けするこ
とKより得られた半導体装置の一実施例を示すものであ
る。すなわち、まずリードフレーム1のタブ2の上面と
、半導体ベレット4の裏面には、それぞれN1−P層3
と5が設けられ、これらの両N1−P層3と5との間に
介在金属層6を介在させて加熱しかつ半導体ベレット4
をコレット(図示せず)で吸着保持してスクラブ動作さ
せるととKより、N、ガスの如き不活性ガス中で3つの
層3.6.5を融合させてペレット付けを行うものであ
る。本実施例ではフラックスは使用する必要がない。
とKより得られた半導体装置の一実施例を示すものであ
る。すなわち、まずリードフレーム1のタブ2の上面と
、半導体ベレット4の裏面には、それぞれN1−P層3
と5が設けられ、これらの両N1−P層3と5との間に
介在金属層6を介在させて加熱しかつ半導体ベレット4
をコレット(図示せず)で吸着保持してスクラブ動作さ
せるととKより、N、ガスの如き不活性ガス中で3つの
層3.6.5を融合させてペレット付けを行うものであ
る。本実施例ではフラックスは使用する必要がない。
ペレット付けを終了した後、半導体ベレット4の電極パ
ッドとリードフレームlのインナーリード部とはワイヤ
7で電気的に接続される。さらK、半導体ベレット4.
ワイヤ71タブ2.インナーリード部等を含むベレット
取付領域はレジン8でモールドすることKより封止され
る。
ッドとリードフレームlのインナーリード部とはワイヤ
7で電気的に接続される。さらK、半導体ベレット4.
ワイヤ71タブ2.インナーリード部等を含むベレット
取付領域はレジン8でモールドすることKより封止され
る。
本実施例においては、ペレット付けのために高価な金材
料を使用していないので、コストが大幅に低減される上
に、N1−P層の使用により確実なペレット付けが行わ
れ、ペレット付けの歩留りが向上する。また、フラック
スを用いないので、フラックス残渣の洗浄除去のための
工数とコストを低減できる。
料を使用していないので、コストが大幅に低減される上
に、N1−P層の使用により確実なペレット付けが行わ
れ、ペレット付けの歩留りが向上する。また、フラック
スを用いないので、フラックス残渣の洗浄除去のための
工数とコストを低減できる。
なお、半導体ベレット4の裏面KNi−P層5を設ける
場合、それらの関にたとえばチタンC1)。
場合、それらの関にたとえばチタンC1)。
チタン−ニッケル、クローム(Cr)−ニッケル等の金
属層を介在させてもよい。
属層を介在させてもよい。
また、ワイヤ7としてアルミニウム(A1)ワイヤを用
いる場合、リードフレーム1のインナーリード部のワイ
ヤボンディング面にアルミニウム層(図示せず)を蒸着
、めっき等で形成しておくのが好ましい。
いる場合、リードフレーム1のインナーリード部のワイ
ヤボンディング面にアルミニウム層(図示せず)を蒸着
、めっき等で形成しておくのが好ましい。
さらに、本発明はレジンモールド型パッケージよりなる
半導体装置に限定されるものではなく、セラミック型や
サーディツプ型等のパッケージよりなるものも含まれる
。
半導体装置に限定されるものではなく、セラミック型や
サーディツプ型等のパッケージよりなるものも含まれる
。
以上説明したように1本発明によれば、ペレット付けの
コストを著しく低減することができる。
コストを著しく低減することができる。
第1図は本発明に用いるリードフレームと半導体ベレッ
トを分解状態で示す部分断面図、第2図は本発明による
半導体装置の一実施例の断面図である。 1・・・+7− トフレーム、2・・・タブ、3・・・
ニッケルーりん(Ni−P)層、4・・・半導体ベレッ
ト、5・・・ニッケルーりん(Ni−P)層、6・・・
介在金属層、7・・・ワイヤ、8・・・レジン。
トを分解状態で示す部分断面図、第2図は本発明による
半導体装置の一実施例の断面図である。 1・・・+7− トフレーム、2・・・タブ、3・・・
ニッケルーりん(Ni−P)層、4・・・半導体ベレッ
ト、5・・・ニッケルーりん(Ni−P)層、6・・・
介在金属層、7・・・ワイヤ、8・・・レジン。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、ベレットの裏面トリードフレームのベレット取付面
とにニッケルーりん層を設け、両ニッケルーりん層間に
介在金属層を介在させてペレット付けしたことをq#黴
とする半導体装置。 2、介在金属層として鉛−すず−銅のはんだ材料を介在
させたことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の半
導体装置。 3、ニッケルーりん層を蒸着またはめっきとより形成し
たことを1!#徴とする特許請求の範囲第1項記載の半
導体装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56150603A JPS5852832A (ja) | 1981-09-25 | 1981-09-25 | 半導体装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56150603A JPS5852832A (ja) | 1981-09-25 | 1981-09-25 | 半導体装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5852832A true JPS5852832A (ja) | 1983-03-29 |
Family
ID=15500486
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56150603A Pending JPS5852832A (ja) | 1981-09-25 | 1981-09-25 | 半導体装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5852832A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61235136A (ja) * | 1985-04-11 | 1986-10-20 | 大石産業株式会社 | 製袋用シ−トのパ−フオレ−シヨン法 |
| JPS62101425A (ja) * | 1985-10-29 | 1987-05-11 | 三菱樹脂株式会社 | 筒状製袋品の製造方法 |
| EP3093882A4 (en) * | 2014-01-10 | 2017-09-27 | Furukawa Electric Co. Ltd. | Electronic circuit device |
| WO2019131433A1 (ja) * | 2017-12-26 | 2019-07-04 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | 金属膜、金属膜を備える電子部品、及び金属膜の製造方法 |
-
1981
- 1981-09-25 JP JP56150603A patent/JPS5852832A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61235136A (ja) * | 1985-04-11 | 1986-10-20 | 大石産業株式会社 | 製袋用シ−トのパ−フオレ−シヨン法 |
| JPS62101425A (ja) * | 1985-10-29 | 1987-05-11 | 三菱樹脂株式会社 | 筒状製袋品の製造方法 |
| EP3093882A4 (en) * | 2014-01-10 | 2017-09-27 | Furukawa Electric Co. Ltd. | Electronic circuit device |
| WO2019131433A1 (ja) * | 2017-12-26 | 2019-07-04 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | 金属膜、金属膜を備える電子部品、及び金属膜の製造方法 |
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