JPS589155B2 - イオンプレ−テイングソウチ - Google Patents
イオンプレ−テイングソウチInfo
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- JPS589155B2 JPS589155B2 JP3203275A JP3203275A JPS589155B2 JP S589155 B2 JPS589155 B2 JP S589155B2 JP 3203275 A JP3203275 A JP 3203275A JP 3203275 A JP3203275 A JP 3203275A JP S589155 B2 JPS589155 B2 JP S589155B2
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- substrate
- plate
- shutter
- ion plating
- high frequency
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- Expired
Links
- 238000007733 ion plating Methods 0.000 title claims description 8
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 26
- 239000000126 substance Substances 0.000 claims description 15
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 claims description 9
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 claims description 9
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 6
- -1 argon ions Chemical class 0.000 description 5
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 5
- 239000012495 reaction gas Substances 0.000 description 5
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 4
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 4
- 239000000463 material Substances 0.000 description 4
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 230000007935 neutral effect Effects 0.000 description 1
- 239000000376 reactant Substances 0.000 description 1
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 1
- 238000007738 vacuum evaporation Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Physical Vapour Deposition (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は真空中で基板上に被膜を生成させるイオンプレ
ーテイング装置に関するものである。
ーテイング装置に関するものである。
真空中で基板上に被膜を生成させる方法には、真空蒸着
とスパッタリングによるものとがあるが、蒸着物質をエ
ネルギー的にみた場合、前者は加熱温度が2300°K
の場合でも約0.2eV、後者は平均10eV程度であ
って蒸着物質は殆んど中性の原子又は分子である。
とスパッタリングによるものとがあるが、蒸着物質をエ
ネルギー的にみた場合、前者は加熱温度が2300°K
の場合でも約0.2eV、後者は平均10eV程度であ
って蒸着物質は殆んど中性の原子又は分子である。
これに対し、蒸着物質の蒸発源と被膜を生成させる基板
との間に電圧を印加して蒸発物質を積極的にイオン化し
、これを加速して基板に射突させると、従来の真空蒸着
又はスパッタリングによる被膜よりはるかに強固で密着
力のすぐれた被膜のえられることが1963年米国のM
ATTOXによって発表され、これをイオンプレーテイ
ング法と称している。
との間に電圧を印加して蒸発物質を積極的にイオン化し
、これを加速して基板に射突させると、従来の真空蒸着
又はスパッタリングによる被膜よりはるかに強固で密着
力のすぐれた被膜のえられることが1963年米国のM
ATTOXによって発表され、これをイオンプレーテイ
ング法と称している。
このイオンプレーティング法には直流グロー放電による
ものと、高周波グロー放電によるものとがあって、それ
ぞれ長短があり、用途によって使い分けているが、これ
らに共通した点は、基板上に被膜を生成させる際、蒸発
物質の蒸発源と基板との間に設ける蒸気遮蔽板の配置お
よび電位が基板上に生成される被膜に大きく影響する。
ものと、高周波グロー放電によるものとがあって、それ
ぞれ長短があり、用途によって使い分けているが、これ
らに共通した点は、基板上に被膜を生成させる際、蒸発
物質の蒸発源と基板との間に設ける蒸気遮蔽板の配置お
よび電位が基板上に生成される被膜に大きく影響する。
第1図は高周波グロー放電を用いた従来のイオンプレー
テイング装置である。
テイング装置である。
同図において、1は真空容器、2は蒸発物質3の蒸発源
で例えば抵抗加熱式のボートよりなり電源4によって加
熱される。
で例えば抵抗加熱式のボートよりなり電源4によって加
熱される。
6は被膜生成用の基板5を保持する保持板で、マスト7
によって支持されている。
によって支持されている。
8はボート2と基板5の間に設けられた高周波電極で、
9はその高周波電源である。
9はその高周波電源である。
10は高周波電極8と基板5との間に高電圧を印加する
直流電源で、そのいづれの側を負電位にしてもよいが、
この実施例では基板6の側を負電位とする。
直流電源で、そのいづれの側を負電位にしてもよいが、
この実施例では基板6の側を負電位とする。
11は反応ガス導入管、12はそのバリアプルリークバ
ルブである。
ルブである。
13はマスト7、高周波電極8およびボート2の支持体
が真空容器10台板14を貫通する部分に設けた絶縁ブ
ツシング、15は図示してない真空ポンプによる排気口
である。
が真空容器10台板14を貫通する部分に設けた絶縁ブ
ツシング、15は図示してない真空ポンプによる排気口
である。
16は高周波電極8とボート2の間に設けた遮蔽板で、
シャッター窓17を有する。
シャッター窓17を有する。
18はシャッター窓17を開閉するシャッター板で、1
9はその操作棒である。
9はその操作棒である。
ボート2はその一端が接地されている。遮蔽板16およ
びシャッター板18は接地する場合と接地しない場合が
あるが、この実施例においては接地電位にあるものとす
る。
びシャッター板18は接地する場合と接地しない場合が
あるが、この実施例においては接地電位にあるものとす
る。
真空容器内の空気を排気した後、高周波電源9をたとえ
ば13.56MHzで動作させると高周波電極8とシャ
ッター板18との間にグロー放電が発生する。
ば13.56MHzで動作させると高周波電極8とシャ
ッター板18との間にグロー放電が発生する。
目的に応じて反応ガス導入管11からパルブ12を調節
して、例えばアルゴンガスを導入し、真空容器1内を1
0−3〜10−4Torrに保持すると、基板5の表面
はアルゴンイオンの射突によりクリーニングされる。
して、例えばアルゴンガスを導入し、真空容器1内を1
0−3〜10−4Torrに保持すると、基板5の表面
はアルゴンイオンの射突によりクリーニングされる。
そして電源4によりボート2を加熱すると蒸発物質3が
蒸発するのでシャッター板18を開くと、蒸発物質3の
一部が高周波電界によってイオン化され、直流電源10
によって加速され、基板5に吸引される。
蒸発するのでシャッター板18を開くと、蒸発物質3の
一部が高周波電界によってイオン化され、直流電源10
によって加速され、基板5に吸引される。
ところで、この装置はシャツタ{18を開くと容器内の
電界に急峻な変化が生じ、その結果、グロー放電の状態
が瞬時変化する。
電界に急峻な変化が生じ、その結果、グロー放電の状態
が瞬時変化する。
したがって、アルゴンイオンと蒸発物質イオンとの割合
を所定の値に制御しようとするとき、シャッター板開放
前にアルゴンイオンの量を調整してもシャッター板を開
放したときの電界の変化によってアルゴンイオンの量が
変化する。
を所定の値に制御しようとするとき、シャッター板開放
前にアルゴンイオンの量を調整してもシャッター板を開
放したときの電界の変化によってアルゴンイオンの量が
変化する。
そしてシャッター板開放と同時に蒸発物質のイオンが含
まれるのでアルゴンイオンと蒸発物質イオンとの適正な
割合を作業開始前に設定することが困難となる。
まれるのでアルゴンイオンと蒸発物質イオンとの適正な
割合を作業開始前に設定することが困難となる。
このことは導入するガスがN2,O2,C2H2のよう
な反応性ガスで蒸発物質との間の化学反応によって被膜
を生成させようとする場合に著しい障害となる。
な反応性ガスで蒸発物質との間の化学反応によって被膜
を生成させようとする場合に著しい障害となる。
たとえばN2とTiとによってTiNの被膜を生成しよ
うとする場合に初期にTi2N3の被膜が発生して純粋
のTiNがえられないことである。
うとする場合に初期にTi2N3の被膜が発生して純粋
のTiNがえられないことである。
本発明は以上のような障害のないイオンプレーテイング
装置とすることを目的とするものであって、蒸発物質を
加熱蒸発させる蒸発源と被膜を生成させる基板との間に
グロー放電を発生させる電極を備えた真空容器内におい
て、前記基板の前面にこれと近接して遮蔽板を設け、該
遮蔽板のシャッター窓を開閉するシャッター板を前記基
板とほぼ同電位に保持することを特徴とする。
装置とすることを目的とするものであって、蒸発物質を
加熱蒸発させる蒸発源と被膜を生成させる基板との間に
グロー放電を発生させる電極を備えた真空容器内におい
て、前記基板の前面にこれと近接して遮蔽板を設け、該
遮蔽板のシャッター窓を開閉するシャッター板を前記基
板とほぼ同電位に保持することを特徴とする。
以下、その実施例を第2図および第3図について説明す
る。
る。
第2図において、1ないし15は第1図のものと,同等
であるからその説明を省略する。
であるからその説明を省略する。
20は本発明のシャッター板で、基板5の前面にスタン
ド21によって支持された遮蔽板22のシャッター窓2
3を開閉する。
ド21によって支持された遮蔽板22のシャッター窓2
3を開閉する。
このシャッター板20ぱ絶縁性物質よりなる支柱24と
アーム25によって結合されている。
アーム25によって結合されている。
26は支柱24に続く操作棒で、該操作棒26を回動す
ることによってシャッター板20は第3図に点線で示す
ように水平方向に移動し、シャッター窓23を開閉する
。
ることによってシャッター板20は第3図に点線で示す
ように水平方向に移動し、シャッター窓23を開閉する
。
なおシャッター板20および遮蔽板22は導線27によ
って基板5と同電位が与えてある。
って基板5と同電位が与えてある。
本発明の装置は以上の構成を有するので、真空容器1内
の空気を排気口15から排気して10−5〜10−6T
orr程度の真空にした後、パルブ12を調節して反応
ガス例えばN2を導入管11から真空容器1内に導入し
、5×10−4Torr程度にする。
の空気を排気口15から排気して10−5〜10−6T
orr程度の真空にした後、パルブ12を調節して反応
ガス例えばN2を導入管11から真空容器1内に導入し
、5×10−4Torr程度にする。
そして高周波電源9をスイッチインして高周波電極8と
ボート2との間に高周波グロー放電を発生させる。
ボート2との間に高周波グロー放電を発生させる。
しかる後、ボート2を電源4で加熱し、蒸発物質3例え
ばTiを蒸発させる。
ばTiを蒸発させる。
このときTiNの生成に最適の条件かえられるよう高周
源電源9、電源4、パルブ12を調整し、調整が終って
からシャーター窓23を開くと基板5にTiNの被膜を
生成させることができる。
源電源9、電源4、パルブ12を調整し、調整が終って
からシャーター窓23を開くと基板5にTiNの被膜を
生成させることができる。
従来の装置(第1図)はシャッター板が高周波電極8と
ボート2との間にあっただめ、シャッター板の開閉によ
って高周波グロー放電の状態が変化して、前述のように
、最初から反応ガスと蒸発物質を適正な割合に設定する
ことが困難であったが、本発明の装置(第2図)はシャ
ッター板20を基板5の前面にこれと近接して配置し、
かつ、これと同電位に保持してあるのでその開閉は高周
波電界に影響がなく、したがって、最初に設定した適正
の反応ガスイオンの量と蒸発物質イオンの量とによって
良質の被膜を生成することができる。
ボート2との間にあっただめ、シャッター板の開閉によ
って高周波グロー放電の状態が変化して、前述のように
、最初から反応ガスと蒸発物質を適正な割合に設定する
ことが困難であったが、本発明の装置(第2図)はシャ
ッター板20を基板5の前面にこれと近接して配置し、
かつ、これと同電位に保持してあるのでその開閉は高周
波電界に影響がなく、したがって、最初に設定した適正
の反応ガスイオンの量と蒸発物質イオンの量とによって
良質の被膜を生成することができる。
なお、以上高周波グロー放電の場合について述べたが、
低周波グロー放電および直流グロー放亀の場合にも、本
発明を適用することができる。
低周波グロー放電および直流グロー放亀の場合にも、本
発明を適用することができる。
第1図:従来のイオンプレーテイング装置の縦断面図、
第2図二本発明の実施例の縦断面図、第3図:第2図の
シャッター板の平面図。 記号1・・・真空容器、2・・・光源(ボート)、3・
・・蒸発物質、4・・・電源、5・・・基板、6・・・
保持板、7・・・マスト、8・・・高周波電極、9・・
・高周波電源、10・・・直流電源、11・・・反応ガ
ス導入管、12・・・パルブ、13・・・プツシング、
14・・・台板、15・・・排気口、20・・・シャッ
ター板、21・・・スタンド、22・・・遮蔽板、23
・・・シャッター窓、24・・・支柱、25・・・アー
ム、26・・・操作棒、27・・・導線。
第2図二本発明の実施例の縦断面図、第3図:第2図の
シャッター板の平面図。 記号1・・・真空容器、2・・・光源(ボート)、3・
・・蒸発物質、4・・・電源、5・・・基板、6・・・
保持板、7・・・マスト、8・・・高周波電極、9・・
・高周波電源、10・・・直流電源、11・・・反応ガ
ス導入管、12・・・パルブ、13・・・プツシング、
14・・・台板、15・・・排気口、20・・・シャッ
ター板、21・・・スタンド、22・・・遮蔽板、23
・・・シャッター窓、24・・・支柱、25・・・アー
ム、26・・・操作棒、27・・・導線。
Claims (1)
- 1蒸発物質を加熱蒸発させる蒸発源と被膜を生成させる
基板との間にグロー放電を発生させる電極を備えた真空
容器内において、前記基板の前面にこれと近接して遮蔽
板を設け、この遮蔽板のシャッター窓を開閉するシャッ
ター板を前記基板とほソ同電位に保持することを特徴と
するイオンプレーテイング装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3203275A JPS589155B2 (ja) | 1975-03-17 | 1975-03-17 | イオンプレ−テイングソウチ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3203275A JPS589155B2 (ja) | 1975-03-17 | 1975-03-17 | イオンプレ−テイングソウチ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS51106640A JPS51106640A (en) | 1976-09-21 |
| JPS589155B2 true JPS589155B2 (ja) | 1983-02-19 |
Family
ID=12347518
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3203275A Expired JPS589155B2 (ja) | 1975-03-17 | 1975-03-17 | イオンプレ−テイングソウチ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS589155B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0383555U (ja) * | 1989-12-18 | 1991-08-26 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN106244985B (zh) * | 2016-09-22 | 2019-01-11 | 铜陵市铜创电子科技有限公司 | 一种金属化薄膜加工用镀膜机构 |
-
1975
- 1975-03-17 JP JP3203275A patent/JPS589155B2/ja not_active Expired
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0383555U (ja) * | 1989-12-18 | 1991-08-26 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS51106640A (en) | 1976-09-21 |
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