JPS593324A - 電子はかり - Google Patents
電子はかりInfo
- Publication number
- JPS593324A JPS593324A JP11340982A JP11340982A JPS593324A JP S593324 A JPS593324 A JP S593324A JP 11340982 A JP11340982 A JP 11340982A JP 11340982 A JP11340982 A JP 11340982A JP S593324 A JPS593324 A JP S593324A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- data
- value
- average value
- time
- load
- Prior art date
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- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01G—WEIGHING
- G01G23/00—Auxiliary devices for weighing apparatus
- G01G23/18—Indicating devices, e.g. for remote indication; Recording devices; Scales, e.g. graduated
- G01G23/36—Indicating the weight by electrical means, e.g. using photoelectric cells
- G01G23/37—Indicating the weight by electrical means, e.g. using photoelectric cells involving digital counting
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
- Indication And Recording Devices For Special Purposes And Tariff Metering Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は電子はかりに関する。
一般に、高感度の電子はかりにおいては、微少振動等の
一時的外乱によりその表示が大きく変動する為、従来、
その表示は、所定時間間隔でサンプリングされるデータ
を多数個平均してその値を表示して上述の変動を抑制す
る方法が採られていた。しかし、この様な方法では、実
際に電子はかり上に載せられている荷重値に対する弄示
の応答が非常に遅くなる欠点があり、特に一定量はかり
取り作業等においては問題となっている。
一時的外乱によりその表示が大きく変動する為、従来、
その表示は、所定時間間隔でサンプリングされるデータ
を多数個平均してその値を表示して上述の変動を抑制す
る方法が採られていた。しかし、この様な方法では、実
際に電子はかり上に載せられている荷重値に対する弄示
の応答が非常に遅くなる欠点があり、特に一定量はかり
取り作業等においては問題となっている。
本発明は上記に鑑みなされたもので、荷重が軟せられて
から表示が安定するまでの時間をあらかじめ自動的に検
出し得るモードを備え、測定時においてその時１１月に
達するまでは刻々と少ないデータによる平均値を表示し
て応答性を向上させるとともに、その時間に達すればデ
ータ数を多くして求めた平均値を表示し得る電子はかり
の提供を目的とする。
から表示が安定するまでの時間をあらかじめ自動的に検
出し得るモードを備え、測定時においてその時１１月に
達するまでは刻々と少ないデータによる平均値を表示し
て応答性を向上させるとともに、その時間に達すればデ
ータ数を多くして求めた平均値を表示し得る電子はかり
の提供を目的とする。
本発明の特徴とするところは、所定時間間隔ごとにサン
プリングされるデータを、そのサンプリングごとに最新
の所定個数で平均化し、その平均値がフルスケール近傍
に設定された所定値以上になれば自動的に校正モードに
移行し、その校正モードでは、荷重が除去されたことを
検出し、その検出時点から平均値が所定回数連続して０
になるまでの時点に要する時間を検出して取り込み、所
定値に達しない荷重であるときには測定モードとして、
上述の時間経過までは少ない平均化個数で刻々と平均値
表示をし、上述の時間経過すれば測定値が安定したと判
断して平均化の為のデータ数を１＠次増加して平均値を
算出、表示するよう構成したことにある。
プリングされるデータを、そのサンプリングごとに最新
の所定個数で平均化し、その平均値がフルスケール近傍
に設定された所定値以上になれば自動的に校正モードに
移行し、その校正モードでは、荷重が除去されたことを
検出し、その検出時点から平均値が所定回数連続して０
になるまでの時点に要する時間を検出して取り込み、所
定値に達しない荷重であるときには測定モードとして、
上述の時間経過までは少ない平均化個数で刻々と平均値
表示をし、上述の時間経過すれば測定値が安定したと判
断して平均化の為のデータ数を１＠次増加して平均値を
算出、表示するよう構成したことにある。
以下、図面に基づいて本発明の詳細な説明する。
第１図は本発明実施例の構成を示すブロック図である。
電子式荷重測定機構１からのデジタル変換データは、微
少時間例えば０．２秒間隔で刻々と入出力ボート２を介
して制御部３に出力される。制御部３はマイクロプロセ
ッサで構成され、中央処理装置ｃＰＵ、リードオンリメ
モリＩｔ ＯＭ 、ランダムアクセスメモリＲＡＭ等を
備えている。制御部３に導入されたデータは、ランダム
アクセスメモリＲＡＭのデータ記憶部分に格納され、ラ
ンダムアクセスメモリＲＡＭのデータ記憶部分はｐ＋を
個のデータ記憶エリアが設けられており％最新のサンプ
リングデータｄｏが到来するごとに最も古いデータが捨
てられ、従って常時ｄＯ＊ｄｌ・・・・・・ｄｐのデー
タが記憶されている。このランダムアクセスメモＩＪＲ
ＡＭは、上述のデータ記憶部以外に、後述する各種計算
結果の記憶および各種レジスタとして用いられる。制御
部３のリードオンリメモリｋＯＭには、後述する処理プ
ログラムが書き込まれている。制御部３にはまた。入出
力ボート２を介して各種定数等を入力する為等に用いら
れるキーボード４が接続され、更に入出力ボート２．イ
ンターフェース回路５を介して算出値を表示する表示器
６が接続されている。
少時間例えば０．２秒間隔で刻々と入出力ボート２を介
して制御部３に出力される。制御部３はマイクロプロセ
ッサで構成され、中央処理装置ｃＰＵ、リードオンリメ
モリＩｔ ＯＭ 、ランダムアクセスメモリＲＡＭ等を
備えている。制御部３に導入されたデータは、ランダム
アクセスメモリＲＡＭのデータ記憶部分に格納され、ラ
ンダムアクセスメモリＲＡＭのデータ記憶部分はｐ＋を
個のデータ記憶エリアが設けられており％最新のサンプ
リングデータｄｏが到来するごとに最も古いデータが捨
てられ、従って常時ｄＯ＊ｄｌ・・・・・・ｄｐのデー
タが記憶されている。このランダムアクセスメモＩＪＲ
ＡＭは、上述のデータ記憶部以外に、後述する各種計算
結果の記憶および各種レジスタとして用いられる。制御
部３のリードオンリメモリｋＯＭには、後述する処理プ
ログラムが書き込まれている。制御部３にはまた。入出
力ボート２を介して各種定数等を入力する為等に用いら
れるキーボード４が接続され、更に入出力ボート２．イ
ンターフェース回路５を介して算出値を表示する表示器
６が接続されている。
次に作用を述べる。第２図は本発明実施例の処理プログ
ラムを示すフローチャートである。ＳＴｌおよびＳ Ｔ
２において、ランダムアクセスメモリＲＡＭ内のデータ
がそれぞれシフトされて最新のサンプリングデータｄｏ
を取り込む。Ｓｒ１では最新の１個（例えば８個）のデ
ータを用いて平均値Ｗｏが算出され、その平均値Ｗｏが
０であればＳＴＩ ５ないし８Ｔ１３においてサンプリ
ングデータ数を順次増υ口してＬ個のデータによる平均
値Ｗｏを算出して８Ｔｌ ９およびｓ ’ｒ １４でそ
のＬ個による平均値Ｗｏを表示する。８Ｔ５でＷ。
ラムを示すフローチャートである。ＳＴｌおよびＳ Ｔ
２において、ランダムアクセスメモリＲＡＭ内のデータ
がそれぞれシフトされて最新のサンプリングデータｄｏ
を取り込む。Ｓｒ１では最新の１個（例えば８個）のデ
ータを用いて平均値Ｗｏが算出され、その平均値Ｗｏが
０であればＳＴＩ ５ないし８Ｔ１３においてサンプリ
ングデータ数を順次増υ口してＬ個のデータによる平均
値Ｗｏを算出して８Ｔｌ ９およびｓ ’ｒ １４でそ
のＬ個による平均値Ｗｏを表示する。８Ｔ５でＷ。
が０でない場合、ｓｒｇでそのＷｏがひよう量値（フル
スケール値）鮨以上であるかどうかを判断し、フルスケ
ール値以上であれば校正モードに進む１校正モードでは
、平均値の算出をＳＴＢに詔いて順次カウントアツプさ
れるレジスタＮの値に従ったサンプリングデータ数１と
よる、すなわちＮ個のデータ化よる平均値ＷＯを算出（
ＳＴＩ １）するとともに、ｓ”ｒ１２で応答時間測定
フラグを０ＮＩＣセツトし、上述のＮ個のデータによる
平均値Ｗ６を８Ｔ１ｇ、３Ｔ１４で表示する。その状態
で次のサンプリングデータｄｏが到来すると、ＳＴＢに
おいて応答時間測定フラグがＯＮにセットされているの
で５Ｔ１９に進み、ｓＴｌｇではそのサンプリングデー
タｄ、がフルスケール値Ｗｋ以上であるかを判断し、
Ｗｌ（１１上であればサンプリングデータｄｏがＷｋ
以下になるのを待つ。
スケール値）鮨以上であるかどうかを判断し、フルスケ
ール値以上であれば校正モードに進む１校正モードでは
、平均値の算出をＳＴＢに詔いて順次カウントアツプさ
れるレジスタＮの値に従ったサンプリングデータ数１と
よる、すなわちＮ個のデータ化よる平均値ＷＯを算出（
ＳＴＩ １）するとともに、ｓ”ｒ１２で応答時間測定
フラグを０ＮＩＣセツトし、上述のＮ個のデータによる
平均値Ｗ６を８Ｔ１ｇ、３Ｔ１４で表示する。その状態
で次のサンプリングデータｄｏが到来すると、ＳＴＢに
おいて応答時間測定フラグがＯＮにセットされているの
で５Ｔ１９に進み、ｓＴｌｇではそのサンプリングデー
タｄ、がフルスケール値Ｗｋ以上であるかを判断し、
Ｗｌ（１１上であればサンプリングデータｄｏがＷｋ
以下になるのを待つ。
このＳＴＩ ９は校正モード１こおいて電子はかり上の
荷重が除去されたことを検出する為に設けられている。
荷重が除去されたことを検出する為に設けられている。
５Ｔ１９で荷重の除去が検出されると・データのサンプ
リングごとにレジスタＭの値を１カウントアツプしなが
ら（Ｓｒ２０）、サンブリングデータｄｏが０以下にな
るのを待ち（８Ｔ２２）、０になれば５Ｔ２９でゼロ以
下通過フラグをＯＮにセットするとともに、レジスタＪ
を１にセラトスる（Ｓｒ２４）、その状態で次のサンプ
リングデータｄｏが到来したとき、５Ｔ２１でゼロ以下
ｉｙＭ過フラグばＯＮにセットされているど偶斬李尤Ｓ
Ｔ２５に進み、５Ｔ２５および５Ｔ２６でレジスタ、
■の値を’Ｊｍａ工にまで順次カウントアツプし、その
Ｊの値によるデータ数で平均値Ｗ。
リングごとにレジスタＭの値を１カウントアツプしなが
ら（Ｓｒ２０）、サンブリングデータｄｏが０以下にな
るのを待ち（８Ｔ２２）、０になれば５Ｔ２９でゼロ以
下通過フラグをＯＮにセットするとともに、レジスタＪ
を１にセラトスる（Ｓｒ２４）、その状態で次のサンプ
リングデータｄｏが到来したとき、５Ｔ２１でゼロ以下
ｉｙＭ過フラグばＯＮにセットされているど偶斬李尤Ｓ
Ｔ２５に進み、５Ｔ２５および５Ｔ２６でレジスタ、
■の値を’Ｊｍａ工にまで順次カウントアツプし、その
Ｊの値によるデータ数で平均値Ｗ。
を算出しく５Ｔ２７）、その１個のデータによる平均値
Ｗｏが所定のａ回（例えば３０）連続して０になるまで
（Ｓｒ２８，５Ｔ２９，５Ｔ８０゜ｓ”ｒ３１）、デー
タサンプリングごとにレジスタＭの値が１カウントずつ
増加して行き、所定回数（ａ）連続してＷｏがＯであれ
ばＳｒ１２に進み、レジスタＭの値を静止時間レジスタ
に転送してｍ値として肥便するとともに、応答時間測定
フラグ。
Ｗｏが所定のａ回（例えば３０）連続して０になるまで
（Ｓｒ２８，５Ｔ２９，５Ｔ８０゜ｓ”ｒ３１）、デー
タサンプリングごとにレジスタＭの値が１カウントずつ
増加して行き、所定回数（ａ）連続してＷｏがＯであれ
ばＳｒ１２に進み、レジスタＭの値を静止時間レジスタ
に転送してｍ値として肥便するとともに、応答時間測定
フラグ。
ゼロ以下通過フラグをＯＦＦにリセットして校正モード
を終了する。この校正モードにおける上述のフローは、
以下に説明する意味を持っている。
を終了する。この校正モードにおける上述のフローは、
以下に説明する意味を持っている。
第８ＷＪは一般的な電子はかりにおける荷重が除去され
てか゛らの測定値のステップ応答波形を示す特性図であ
って、荷重が初ろされてから平均値が安定して０＃こ静
止するまでにはある時間を要することがわかる。上述の
校正そ−ドでは、５Ｔｉ９で荷重除去を検出し、その時
点からデータサンプリングごとにレジスタＭを１カウン
トアツプして、平均値Ｗｏが所定のａ回連続して０１こ
なった時点を静止番と至ったと判断し、その時点でのレ
ジスタＭの値をｍ値として静止時間レジスタに取り込ん
でおり、このｍ値は第８図中時間ｔに対応するものであ
る。従って１校正モードに壌ける荷重がフルスケール値
であれば、その値以下の荷重を測定するときには、多く
ともｔ時間（ｍ値）経過すればデータは静止するであろ
うということができる。
てか゛らの測定値のステップ応答波形を示す特性図であ
って、荷重が初ろされてから平均値が安定して０＃こ静
止するまでにはある時間を要することがわかる。上述の
校正そ−ドでは、５Ｔｉ９で荷重除去を検出し、その時
点からデータサンプリングごとにレジスタＭを１カウン
トアツプして、平均値Ｗｏが所定のａ回連続して０１こ
なった時点を静止番と至ったと判断し、その時点でのレ
ジスタＭの値をｍ値として静止時間レジスタに取り込ん
でおり、このｍ値は第８図中時間ｔに対応するものであ
る。従って１校正モードに壌ける荷重がフルスケール値
であれば、その値以下の荷重を測定するときには、多く
ともｔ時間（ｍ値）経過すればデータは静止するであろ
うということができる。
第２図フローチャート化戻って、５Ｔ９ｉこおいて１個
による平均値Ｗ、がフルスケール値Ｗｋに達していなけ
れば、測定そ−ドに進み、その平均値Ｗｏのフルスケー
ル値Ｗｋに対する割合を見極め、Ｗｏ ／ Ｗｋが２６
％以下でＪＪｏ、５．２５９６を越、＋Ｌ５０％以下で
は０．７．５０％を越え６４％以下なら０．８がそれぞ
れｍ値番こ乗ぜられ、６４％を越えていればｍ値を、ｍ
とする。（Ｓｒ８３，５Ｔ９４．５Ｔ８５，５Ｔ８６，
８Ｔ８７，５ＴＡＢ。
による平均値Ｗ、がフルスケール値Ｗｋに達していなけ
れば、測定そ−ドに進み、その平均値Ｗｏのフルスケー
ル値Ｗｋに対する割合を見極め、Ｗｏ ／ Ｗｋが２６
％以下でＪＪｏ、５．２５９６を越、＋Ｌ５０％以下で
は０．７．５０％を越え６４％以下なら０．８がそれぞ
れｍ値番こ乗ぜられ、６４％を越えていればｍ値を、ｍ
とする。（Ｓｒ８３，５Ｔ９４．５Ｔ８５，５Ｔ８６，
８Ｔ８７，５ＴＡＢ。
５Ｔ８９）、このｍ′は、測定しようとする荷重のフル
スケール値化対する割合によって補正されたｍ値であっ
て、この補正は下記に基づいている。
スケール値化対する割合によって補正されたｍ値であっ
て、この補正は下記に基づいている。
一般１こ電子はかりの振動周期Ｔは、Ｐを環体の重量、
Ｗを朋および荷重重量の和、ｋセよびゾを定＃七すれば
、 Ｔ”ｃｚｋ （ｐ７に′＋ｖｙ） で表わされ、従って静止に要する時間も概略その荷重重
量の平方根に比例すると考えられ１ｍ値を求めたフルス
ケール値に対する測定荷重の割合ξこよって段階的にそ
の平方根を乗じて補正してｍとしているａｓＴ４０では
、１個のデータ１こよる平均値ＷｏがゼロでないとＳ
Ｔ５で判断されたときに荷重が乗せられたと判断してカ
ウントアツプされるレジスタＮの値か、ｍに達するまで
は１個のデータによる平均（ｉ！ Ｗ。を表示し、レジ
スタＮがｍを越えたときに、平均値算出の為のデータ数
をサンプリングごとに順次増加して（Ｋ個）、そのに個
のデータによる平均値Ｗｏを表示する。
Ｗを朋および荷重重量の和、ｋセよびゾを定＃七すれば
、 Ｔ”ｃｚｋ （ｐ７に′＋ｖｙ） で表わされ、従って静止に要する時間も概略その荷重重
量の平方根に比例すると考えられ１ｍ値を求めたフルス
ケール値に対する測定荷重の割合ξこよって段階的にそ
の平方根を乗じて補正してｍとしているａｓＴ４０では
、１個のデータ１こよる平均値ＷｏがゼロでないとＳ
Ｔ５で判断されたときに荷重が乗せられたと判断してカ
ウントアツプされるレジスタＮの値か、ｍに達するまで
は１個のデータによる平均（ｉ！ Ｗ。を表示し、レジ
スタＮがｍを越えたときに、平均値算出の為のデータ数
をサンプリングごとに順次増加して（Ｋ個）、そのに個
のデータによる平均値Ｗｏを表示する。
以上説明したように、本発明によれば、あらかじめ設定
されたフルスケール近傍の所定値以上の荷重を載せたと
きに自動的に校正モードに移行して、この電子はかり個
有の静止に要する時間が検出されて記憶され、・測定モ
ードでは、荷重が載せられてからの時間が上述の記憶さ
れた時間に達するまでは少ない平均化個数の゛データで
平均値を算出して刻々と表示し、上述の記憶された時間
に達すれば測定値が安定したものとしてデータサンプリ
ングごとに平均値算出の為のデータ数を順次増加して算
出された平均値を表示する為、荷重変化中の応答性が改
善されるとともに、荷重値が安定すればより正確な平均
値が自動的に算出、表示される。上述のことは１例えば
一定量はかり取り作業に彰いて、あらかじめその一定量
を記憶させておくことによってその荷重における靜正に
要する時間が判明し、自動はかり取り作業時にその荷重
付近まで迅速に投入が可能となる０例えば静止に要する
時間が２秒であるとすると、２秒間に試料の投入を行い
、投入を中断すると後は増加された効となる。
されたフルスケール近傍の所定値以上の荷重を載せたと
きに自動的に校正モードに移行して、この電子はかり個
有の静止に要する時間が検出されて記憶され、・測定モ
ードでは、荷重が載せられてからの時間が上述の記憶さ
れた時間に達するまでは少ない平均化個数の゛データで
平均値を算出して刻々と表示し、上述の記憶された時間
に達すれば測定値が安定したものとしてデータサンプリ
ングごとに平均値算出の為のデータ数を順次増加して算
出された平均値を表示する為、荷重変化中の応答性が改
善されるとともに、荷重値が安定すればより正確な平均
値が自動的に算出、表示される。上述のことは１例えば
一定量はかり取り作業に彰いて、あらかじめその一定量
を記憶させておくことによってその荷重における靜正に
要する時間が判明し、自動はかり取り作業時にその荷重
付近まで迅速に投入が可能となる０例えば静止に要する
時間が２秒であるとすると、２秒間に試料の投入を行い
、投入を中断すると後は増加された効となる。
また本発明による校正そ−ドでは、静止時間の検出に際
して、電子はかり上Ｊこ蛾置された荷重を除去して測定
値が０に安定するまでの時間を検出している為、電子は
かり上に荷重を？置してからその荷重値に測定値が安定
するまでの時間を検出する場合等のように載置の仕方蕃
こよる検出値の相違が出現しにくく、常に正確な静止時
間を採取することができる。
して、電子はかり上Ｊこ蛾置された荷重を除去して測定
値が０に安定するまでの時間を検出している為、電子は
かり上に荷重を？置してからその荷重値に測定値が安定
するまでの時間を検出する場合等のように載置の仕方蕃
こよる検出値の相違が出現しにくく、常に正確な静止時
間を採取することができる。
′ｆＪ１図は本発明実施例の構成を示すブロック図、第
２図はその処理プログラムを示すフローチャート、第８
図は電子はかりにおける測定値のステップ応答特性図で
ある。 １・・・電子式荷重測定！ｌ！病。 ２・・・人出力ボート％ ３・・・制御部、６・・・
表示部。 特許出願人 株式会社島津製作所 代理人弁理士西１）新
２図はその処理プログラムを示すフローチャート、第８
図は電子はかりにおける測定値のステップ応答特性図で
ある。 １・・・電子式荷重測定！ｌ！病。 ２・・・人出力ボート％ ３・・・制御部、６・・・
表示部。 特許出願人 株式会社島津製作所 代理人弁理士西１）新
Claims (3)
- （１） ！子穴荷重測定機構のデジタル変換データを
所定時間間隔でサンプリングして配憶する手段と、上記
サンプリングごとに最新の所定個数のデータの平均値を
算出する手段と、その平均値が当該電子はかりのフルス
ケール値近傍に設定された所定値以上又は未満であると
きに校正モード又は測定モードと判別する手段と１校正
モードにおいて当該電子はかり上の荷重が除去されたこ
とを検出し、その検出を基点として一ヒ記平均値が所定
回数連続して０になるまでの所要時間を検出して配憶す
る校正モード実行手段と。 測定モードにおいて荷重が載置されたことを検出し、そ
の検出から上記所要時間に達するまではと配所定個数の
データの平均値を表示するとともに、上記所要時間に達
すると上記サンプリングごとに順次データ数を増加して
平均値を算出して表示する測定モード実行手段を備えた
電子はかり。 - （２）上記所定値が、上記フルスケール値であることを
特徴とする特許請求の範囲第１項記載の電子はかり。 - （３）上ｎ己測定モードにおける荷重の上記フルスケー
ル値書こ対する割合に応じて、上記所要時間を補正する
よう構成された特許請求の範囲第１項又は第２項記数の
電子はかり。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11340982A JPS593324A (ja) | 1982-06-30 | 1982-06-30 | 電子はかり |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11340982A JPS593324A (ja) | 1982-06-30 | 1982-06-30 | 電子はかり |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS593324A true JPS593324A (ja) | 1984-01-10 |
| JPH034851B2 JPH034851B2 (ja) | 1991-01-24 |
Family
ID=14611540
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11340982A Granted JPS593324A (ja) | 1982-06-30 | 1982-06-30 | 電子はかり |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS593324A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62118927A (ja) * | 1985-11-19 | 1987-05-30 | Toyo Echo Kk | 包装成形機 |
-
1982
- 1982-06-30 JP JP11340982A patent/JPS593324A/ja active Granted
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62118927A (ja) * | 1985-11-19 | 1987-05-30 | Toyo Echo Kk | 包装成形機 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH034851B2 (ja) | 1991-01-24 |
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