JPH034851B2 - - Google Patents
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- JPH034851B2 JPH034851B2 JP11340982A JP11340982A JPH034851B2 JP H034851 B2 JPH034851 B2 JP H034851B2 JP 11340982 A JP11340982 A JP 11340982A JP 11340982 A JP11340982 A JP 11340982A JP H034851 B2 JPH034851 B2 JP H034851B2
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- Japan
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01G—WEIGHING
- G01G23/00—Auxiliary devices for weighing apparatus
- G01G23/18—Indicating devices, e.g. for remote indication; Recording devices; Scales, e.g. graduated
- G01G23/36—Indicating the weight by electrical means, e.g. using photoelectric cells
- G01G23/37—Indicating the weight by electrical means, e.g. using photoelectric cells involving digital counting
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
- Indication And Recording Devices For Special Purposes And Tariff Metering Devices (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は電子はかりに関する。
一般に、高感度の電子はかりにおいては、微少
振動等の一時的外乱によりその表示が大きく変動
する為、従来、その表示は、所定時間間隔でサン
プリングされるデータを多数個平均してその値を
表示して上述の変動を抑制する方法が採られてい
た。しかし、この様な方法では、実際に電子はか
り上に載せられている荷重値に対する表示の応答
が非常に遅くなる欠点があり、特に一定量はかり
取り作業等においては問題となつている。
振動等の一時的外乱によりその表示が大きく変動
する為、従来、その表示は、所定時間間隔でサン
プリングされるデータを多数個平均してその値を
表示して上述の変動を抑制する方法が採られてい
た。しかし、この様な方法では、実際に電子はか
り上に載せられている荷重値に対する表示の応答
が非常に遅くなる欠点があり、特に一定量はかり
取り作業等においては問題となつている。
本発明は上記に鑑みなされたもので、荷重が載
せられてから表示が安定するまでの時間をあらか
じめ自動的に検出し得るモードを備え、測定時に
おいてその時間に達するまでは刻々と少ないデー
タによる平均値を表示して応答性を向上させると
ともに、その時間に達すればデータ数を多くして
求めた平均値を表示し得る電子はかりの提供を目
的とする。
せられてから表示が安定するまでの時間をあらか
じめ自動的に検出し得るモードを備え、測定時に
おいてその時間に達するまでは刻々と少ないデー
タによる平均値を表示して応答性を向上させると
ともに、その時間に達すればデータ数を多くして
求めた平均値を表示し得る電子はかりの提供を目
的とする。
本発明の特徴とするところは、所定時間間隔ご
とにサンプリングされるデータを、そのサンプリ
ングごとに最新の所定個数で平均化し、その平均
値がフルスケール近傍に設定された所定値以上に
なれば自動的に校正モードに移行し、その校正モ
ードでは、荷重が除去されたことを検出し、その
検出時点から平均値が所定回数連続して０になる
までの時点に要する時間を検出して取り込み、所
定値に達しない荷重であるときには測定モードと
して、上述の時間経過までは少ない平均化個数で
刻々と平均値表示をし、上述の時間経過すれば測
定値が安定したと判断して平均化の為のデータ数
を順次増加して平均値を算出、表示するよう構成
したことにある。
とにサンプリングされるデータを、そのサンプリ
ングごとに最新の所定個数で平均化し、その平均
値がフルスケール近傍に設定された所定値以上に
なれば自動的に校正モードに移行し、その校正モ
ードでは、荷重が除去されたことを検出し、その
検出時点から平均値が所定回数連続して０になる
までの時点に要する時間を検出して取り込み、所
定値に達しない荷重であるときには測定モードと
して、上述の時間経過までは少ない平均化個数で
刻々と平均値表示をし、上述の時間経過すれば測
定値が安定したと判断して平均化の為のデータ数
を順次増加して平均値を算出、表示するよう構成
したことにある。
以下、図面に基づいて本発明の実施例を説明す
る。
る。
第１図は本発明実施例の構成を示すブロツク図
である。
である。
電子式荷重測定機構１からデジタル変換データ
は、微少時間例えば0.2秒間隔で刻々と入出力ポ
ート２を介して制御部３に出力される。制御部３
はマイクロプロセツサで構成され、中央処理装置
CPU，リードオンメモリROM，ランダムアクセ
スメモリRAM等を備えている。制御部３に導入
されたデータは、ランダムアクセスメモリRAM
のデータ記憶部分に格納され、ランダムアクセス
メモリRAMのデータ記憶部分はＰ＋１個のデー
タ記憶エリアが設けられており、最新のサンプリ
ングデータd0が到来するごとに最も古いデータが
捨てられ、従つて常時d0，d1……dpのデータが記
憶されている。このランダムアクセスメモリ
RAMは、上述のデータ記憶部以外に、後述する
各種計算結果の記憶および各種レジスタとして用
いられる。制御部３のリードオンメモリROMに
は、後述する処理プログラムが書き込まれてい
る。制御部３にはまた、入出力ポート２を介して
各種定数を入力する為等に用いられるキーボード
４が接続され、更に入出力ポート２，インターフ
エース回路５を介して算出値を表示する表示器６
が接続されている。
は、微少時間例えば0.2秒間隔で刻々と入出力ポ
ート２を介して制御部３に出力される。制御部３
はマイクロプロセツサで構成され、中央処理装置
CPU，リードオンメモリROM，ランダムアクセ
スメモリRAM等を備えている。制御部３に導入
されたデータは、ランダムアクセスメモリRAM
のデータ記憶部分に格納され、ランダムアクセス
メモリRAMのデータ記憶部分はＰ＋１個のデー
タ記憶エリアが設けられており、最新のサンプリ
ングデータd0が到来するごとに最も古いデータが
捨てられ、従つて常時d0，d1……dpのデータが記
憶されている。このランダムアクセスメモリ
RAMは、上述のデータ記憶部以外に、後述する
各種計算結果の記憶および各種レジスタとして用
いられる。制御部３のリードオンメモリROMに
は、後述する処理プログラムが書き込まれてい
る。制御部３にはまた、入出力ポート２を介して
各種定数を入力する為等に用いられるキーボード
４が接続され、更に入出力ポート２，インターフ
エース回路５を介して算出値を表示する表示器６
が接続されている。
次に作用を述べる。第２図は本発明実施例の処
理プログラムを示すフローチヤートである。ST
１およびST２において、ランダムアクセスメモ
リRAM内のデータがそれぞれシフトされて最新
のサンプリングデータd0を取り込む。ST４では
最新の１個（例えば３個）のデータを用いて平均
値W0が算出され、その平均値W0が０であれば
ST１５ないしST１８においてサンプリングデー
タ数を順次増加してＬ個のデータによる平均値
W0を算出してST１３およびST１４でそのＬ個
による平均値W0を表示する。ST５でW0が０で
ない場合、ST９でそのW0がひよう量値（フルス
ケール値）Wk以上であるかどうかを判断し、フ
ルスケール値以上であれば校正モードに進む。校
正モードでは、平均値の算出をST８において順
次カウントアツプされるレジスタＮの値に従つた
サンプリングデータ数による、すなわちＮ個のデ
ータによる平均値W0を算出（ST１１）するとと
もに、ST１２で応答時間測定フラグをONにセ
ツトし、上述のＮ個のデータによる平均値W0を
ST１３，ST１４で表示する。その状態で次のサ
ンプリングデータd0が到来すると、ST３におい
て応答時間測定フラグがONにセツトされている
のでST１９に進み、ST１９ではサンプリングデ
ータd0がフルスケール値Wk以上であるかを判断
し、Wk以上であればサンプリングデータd0がWk
以下になるのを待つ。このST１９は校正モード
において電子はかり上の荷重が除去されたことを
検出する為に設けられている。ST１９で荷重の
除去が検出されると、データのサンプリングごと
にレジスタＭの値を１カウントアツプしながら
（ST２０）、サンプリングデータd0が０以下にな
るのを待ち（ST２２）、０になればST２３でゼ
ロ以下通過フラグをONにセツトするとともに、
レジスタＪを１にセツトする（ST２４）。その状
態で次のサンプリングデータd0が到来したとき、
ST２１でゼロ以下通過フラグはONにセツトさ
れているのでST２５に進み、ST２５およびST
２６でレジスタＪの値をJnaxにまで順次カウント
アツプし、そのＪの値によるデータ数で平均値
W0を算出し（ST２７）、そのＪ個のデータによ
る平均値W0が所定のａ回（例えば３回）連続し
て０になるまで（ST２８，ST２９，ST３０，
ST３１）、データサンプリングごとにレジスタＭ
の値が１カウントずつ増加して行き、所定回数ａ
連続してW0が０であればST３２に進み、レジス
タＭの値を静止時間レジスタに転送してｍ値とし
て記憶するとともに、応答時間測定フラグ、ゼロ
以下通過フラグをOFFにリセツトして校正モー
ドを終了する。この校正モードにおける上述のフ
ローは、以下に説明する意味を持つている。第３
図は一般的な電子はかりにおける荷重が除去され
てからの測定値のステツプ応答波形を示す特性図
であつて、荷重がおろされてから平均値が安定し
て０に静止するまでにはある時間を要することが
わかる。上述の校正モードでは、ST１９で荷重
除去を検出し、その時点からデータサンプリング
ごとにレジスタＭを１カウントアツプして、平均
値W0が所定のａ回連続して０になつた時点を静
止に至つたと判断し、その時点でのレジスタＭの
値をｍ値として静止時間レジスタに取り込んでお
り、このｍ値は第３図中時間ｔに対応するもので
ある。従つて、校正モードにおける荷重がフルス
ケール値であれば、その値以下の荷重を測定する
ときには、多くともｔ時間（ｍ値）経過すればデ
ータは静止するであろうということができる。第
２図フローチヤートに戻つて、ST９において１
個による平均値W0がフルスケール値Wkに達して
いなければ、測定モードに進み、その平均値W0
のフルスケール値Wkに対する割合を見極め、
W0／Wkが25％以下では0.5，25％を越え50％以
下では0.7，50％を越え64％以下なら0.8がそれぞ
れｍ値に乗ぜられ、64％を越えていればｍ値を、
m′とする。（ST３３，ST３４，ST３５，ST３
６，ST３７，ST３８，ST３９）。このm′は、測
定しようとする荷重のフルスケール値に対する割
合によつて補正されたｍ値であつて、この補正は
下記に基づいている。一般に電子はかりの振動周
期Ｔは、Ｐを桿体の重量、Ｗを皿および荷重重量
の和、ｋおよびk′を定数とすれば、 T2αk（Ｐ／k′＋Ｗ） で表わされ、従つて静止に要する時間も概略その
荷重重量の平方根に比例すると考えられ、ｍ値を
求めたフルスケール値に対する測定荷重の割合に
よつて段階的にその平方根を乗じて補正して
m′としている。ST４０では、１個のデータによ
る平均値W0がゼロでないとST５で判断されたと
きに荷重が乗せられたと判断してカウントアツプ
されるレジスタＮの値が、m′に達するまでは１
個のデータによる平均値W0を表示し、レジスタ
Ｎがm′を越えたときに、平均値算出の為のデー
タ数をサンプリングごとに順次増加して（Ｋ個）、
そのＫ個のデータによる平均値W0を表示する。
理プログラムを示すフローチヤートである。ST
１およびST２において、ランダムアクセスメモ
リRAM内のデータがそれぞれシフトされて最新
のサンプリングデータd0を取り込む。ST４では
最新の１個（例えば３個）のデータを用いて平均
値W0が算出され、その平均値W0が０であれば
ST１５ないしST１８においてサンプリングデー
タ数を順次増加してＬ個のデータによる平均値
W0を算出してST１３およびST１４でそのＬ個
による平均値W0を表示する。ST５でW0が０で
ない場合、ST９でそのW0がひよう量値（フルス
ケール値）Wk以上であるかどうかを判断し、フ
ルスケール値以上であれば校正モードに進む。校
正モードでは、平均値の算出をST８において順
次カウントアツプされるレジスタＮの値に従つた
サンプリングデータ数による、すなわちＮ個のデ
ータによる平均値W0を算出（ST１１）するとと
もに、ST１２で応答時間測定フラグをONにセ
ツトし、上述のＮ個のデータによる平均値W0を
ST１３，ST１４で表示する。その状態で次のサ
ンプリングデータd0が到来すると、ST３におい
て応答時間測定フラグがONにセツトされている
のでST１９に進み、ST１９ではサンプリングデ
ータd0がフルスケール値Wk以上であるかを判断
し、Wk以上であればサンプリングデータd0がWk
以下になるのを待つ。このST１９は校正モード
において電子はかり上の荷重が除去されたことを
検出する為に設けられている。ST１９で荷重の
除去が検出されると、データのサンプリングごと
にレジスタＭの値を１カウントアツプしながら
（ST２０）、サンプリングデータd0が０以下にな
るのを待ち（ST２２）、０になればST２３でゼ
ロ以下通過フラグをONにセツトするとともに、
レジスタＪを１にセツトする（ST２４）。その状
態で次のサンプリングデータd0が到来したとき、
ST２１でゼロ以下通過フラグはONにセツトさ
れているのでST２５に進み、ST２５およびST
２６でレジスタＪの値をJnaxにまで順次カウント
アツプし、そのＪの値によるデータ数で平均値
W0を算出し（ST２７）、そのＪ個のデータによ
る平均値W0が所定のａ回（例えば３回）連続し
て０になるまで（ST２８，ST２９，ST３０，
ST３１）、データサンプリングごとにレジスタＭ
の値が１カウントずつ増加して行き、所定回数ａ
連続してW0が０であればST３２に進み、レジス
タＭの値を静止時間レジスタに転送してｍ値とし
て記憶するとともに、応答時間測定フラグ、ゼロ
以下通過フラグをOFFにリセツトして校正モー
ドを終了する。この校正モードにおける上述のフ
ローは、以下に説明する意味を持つている。第３
図は一般的な電子はかりにおける荷重が除去され
てからの測定値のステツプ応答波形を示す特性図
であつて、荷重がおろされてから平均値が安定し
て０に静止するまでにはある時間を要することが
わかる。上述の校正モードでは、ST１９で荷重
除去を検出し、その時点からデータサンプリング
ごとにレジスタＭを１カウントアツプして、平均
値W0が所定のａ回連続して０になつた時点を静
止に至つたと判断し、その時点でのレジスタＭの
値をｍ値として静止時間レジスタに取り込んでお
り、このｍ値は第３図中時間ｔに対応するもので
ある。従つて、校正モードにおける荷重がフルス
ケール値であれば、その値以下の荷重を測定する
ときには、多くともｔ時間（ｍ値）経過すればデ
ータは静止するであろうということができる。第
２図フローチヤートに戻つて、ST９において１
個による平均値W0がフルスケール値Wkに達して
いなければ、測定モードに進み、その平均値W0
のフルスケール値Wkに対する割合を見極め、
W0／Wkが25％以下では0.5，25％を越え50％以
下では0.7，50％を越え64％以下なら0.8がそれぞ
れｍ値に乗ぜられ、64％を越えていればｍ値を、
m′とする。（ST３３，ST３４，ST３５，ST３
６，ST３７，ST３８，ST３９）。このm′は、測
定しようとする荷重のフルスケール値に対する割
合によつて補正されたｍ値であつて、この補正は
下記に基づいている。一般に電子はかりの振動周
期Ｔは、Ｐを桿体の重量、Ｗを皿および荷重重量
の和、ｋおよびk′を定数とすれば、 T2αk（Ｐ／k′＋Ｗ） で表わされ、従つて静止に要する時間も概略その
荷重重量の平方根に比例すると考えられ、ｍ値を
求めたフルスケール値に対する測定荷重の割合に
よつて段階的にその平方根を乗じて補正して
m′としている。ST４０では、１個のデータによ
る平均値W0がゼロでないとST５で判断されたと
きに荷重が乗せられたと判断してカウントアツプ
されるレジスタＮの値が、m′に達するまでは１
個のデータによる平均値W0を表示し、レジスタ
Ｎがm′を越えたときに、平均値算出の為のデー
タ数をサンプリングごとに順次増加して（Ｋ個）、
そのＫ個のデータによる平均値W0を表示する。
以上説明したように、本発明によれば、あらか
じめ設定されたフルスケール均傍の所定値以上の
荷重を載せたときに自動的に校正モードに移行し
て、この電子はかり個有の静止に要する時間が検
出されて記憶され、測定モードでは、荷重が載せ
られてからの時間が上述の記憶された時間に達す
るまでは少ない平均化個数のデータで平均値を算
出して刻々と表示し、上述の記憶された時間に達
すれば測定値が安定したものとしてデータサンプ
リングごとに平均値算出の為のデータ数を順次増
加して算出された平均値を表示する為、荷重変化
中の応答性が改善されるとともに、荷重値が安定
すればより正確な平均値が自動的に算出、表示さ
れる。上述のことは、例えば一定量はかり取り作
業において、あらかじめその一定量を記憶させて
おくことによつてその荷重における静止に要する
時間が判明し、自動はかり取り作業時にその荷重
付近まで迅速に投入が可能となる。例えば静止に
要する時間が２秒であるとすると、数秒間に試料
の投入を行い、投入を中断すると後は増加された
個数による平均値が表示され、つぎたしに要する
残量が正確に情報提供でき、自動はかり取り作業
に有効となる。
じめ設定されたフルスケール均傍の所定値以上の
荷重を載せたときに自動的に校正モードに移行し
て、この電子はかり個有の静止に要する時間が検
出されて記憶され、測定モードでは、荷重が載せ
られてからの時間が上述の記憶された時間に達す
るまでは少ない平均化個数のデータで平均値を算
出して刻々と表示し、上述の記憶された時間に達
すれば測定値が安定したものとしてデータサンプ
リングごとに平均値算出の為のデータ数を順次増
加して算出された平均値を表示する為、荷重変化
中の応答性が改善されるとともに、荷重値が安定
すればより正確な平均値が自動的に算出、表示さ
れる。上述のことは、例えば一定量はかり取り作
業において、あらかじめその一定量を記憶させて
おくことによつてその荷重における静止に要する
時間が判明し、自動はかり取り作業時にその荷重
付近まで迅速に投入が可能となる。例えば静止に
要する時間が２秒であるとすると、数秒間に試料
の投入を行い、投入を中断すると後は増加された
個数による平均値が表示され、つぎたしに要する
残量が正確に情報提供でき、自動はかり取り作業
に有効となる。
また本発明による校正モードでは、静止時間の
検出に際して、電子はかり上に載置された荷重を
除去して測定値が０に安定するまでの時間を検出
している為、電子はかり上に荷重を載置してから
その荷重値に測定値が安定するまでの時間を検出
する場合等のように載置の仕方による検出値の相
違が出現しにくく、常に正確な静止時間を採取す
ることができる。
検出に際して、電子はかり上に載置された荷重を
除去して測定値が０に安定するまでの時間を検出
している為、電子はかり上に荷重を載置してから
その荷重値に測定値が安定するまでの時間を検出
する場合等のように載置の仕方による検出値の相
違が出現しにくく、常に正確な静止時間を採取す
ることができる。
第１図は本発明実施例の構成を示すブロツク
図、第２図はその処理プログラムを示すフローチ
ヤート、第３図は電子はかりにおける測定値のス
テツプ応答特性図である。 １…電子式荷重測定機構、２…入出力ポート、
３…制御部、６…表示部。
図、第２図はその処理プログラムを示すフローチ
ヤート、第３図は電子はかりにおける測定値のス
テツプ応答特性図である。 １…電子式荷重測定機構、２…入出力ポート、
３…制御部、６…表示部。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 電子式荷重測定機構のデジタル変換データを
所定時間間隔でサンプリングして記憶する手段
と、上記サンプリングごとに最新の所定固数のデ
ータの平均値を算出する手段と、その平均値が当
該電子はかりのフルスケール値近傍に設定された
所定値以上又は未満であるときに校正モード又は
測定モードと判別する手段と、校正モードにおい
て当該電子はかり上の荷重が除去されたことを検
出し、その検出を基点として上記平均値が所定回
数連続して０になるまでの所要時間を検出して記
憶する校正モード実行手段と、測定モードにおい
て荷重が載置されたことを検出し、その検出から
上記所要時間に達するまでは上記所定個数のデー
タの平均値を表示するとともに、上記所要時間に
達すると上記サンプリングごとに順次データ数を
増加して平均値を算出して表示する測定モード実
行手段を備えた電子はかり。 ２ 上記所定値が、上記フルスケール値であるこ
とを特徴とする特許請求の範囲第１項記載の電子
はかり。 ３ 上記測定モードにおける荷重の上記フルスケ
ール値に対する割合に応じて、上記所要時間を補
正するよう構成された特許請求の範囲第１項又は
第２項記載の電子はかり。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11340982A JPS593324A (ja) | 1982-06-30 | 1982-06-30 | 電子はかり |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11340982A JPS593324A (ja) | 1982-06-30 | 1982-06-30 | 電子はかり |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS593324A JPS593324A (ja) | 1984-01-10 |
| JPH034851B2 true JPH034851B2 (ja) | 1991-01-24 |
Family
ID=14611540
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11340982A Granted JPS593324A (ja) | 1982-06-30 | 1982-06-30 | 電子はかり |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS593324A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0780487B2 (ja) * | 1985-11-19 | 1995-08-30 | 東洋エコ−株式会社 | 包装成形機 |
-
1982
- 1982-06-30 JP JP11340982A patent/JPS593324A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS593324A (ja) | 1984-01-10 |
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