JPS6067954A - 電子写真感光体 - Google Patents
電子写真感光体Info
- Publication number
- JPS6067954A JPS6067954A JP20555483A JP20555483A JPS6067954A JP S6067954 A JPS6067954 A JP S6067954A JP 20555483 A JP20555483 A JP 20555483A JP 20555483 A JP20555483 A JP 20555483A JP S6067954 A JPS6067954 A JP S6067954A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- gas
- protective layer
- surface protective
- glow discharge
- hydrogen
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03G—ELECTROGRAPHY; ELECTROPHOTOGRAPHY; MAGNETOGRAPHY
- G03G5/00—Recording-members for original recording by exposure, e.g. to light, to heat or to electrons; Manufacture thereof; Selection of materials therefor
- G03G5/02—Charge-receiving layers
- G03G5/04—Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor
- G03G5/08—Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic
- G03G5/082—Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic and not being incorporated in a bonding material, e.g. vacuum deposited
- G03G5/08214—Silicon-based
- G03G5/08235—Silicon-based comprising three or four silicon-based layers
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Inorganic Chemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Photoreceptors In Electrophotography (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はアモルファスシリコン(以下、a−si。
)を光導電層とした電子写真感光体の改良に関する。
近年、電子写真技術゛の進歩は目覚しく、超高速複写機
やレーザービームプリンタなどの開発が活発に進められ
ており、これらの機器に用いられる感晃体は、長期間、
高速で使用されるため、動作の安定性及び耐久性が要求
されている。現在、電子写真感光体には、Se 、 C
dS 、 ZnO等の光電材、料が一般的に使用されて
いるが、a −Siは耐熱性、耐摩耗性、無公害性、光
感度特性等に優れているという理由から、a −Siの
電子写真感光体への応用が報告されて、いる。
やレーザービームプリンタなどの開発が活発に進められ
ており、これらの機器に用いられる感晃体は、長期間、
高速で使用されるため、動作の安定性及び耐久性が要求
されている。現在、電子写真感光体には、Se 、 C
dS 、 ZnO等の光電材、料が一般的に使用されて
いるが、a −Siは耐熱性、耐摩耗性、無公害性、光
感度特性等に優れているという理由から、a −Siの
電子写真感光体への応用が報告されて、いる。
しかしながら、安定した動作や著しく優れた耐久性がま
すます要求されている今日的状況では、いままで報告さ
れたa −Si、感光体では十分に対応しきれなくなり
つつあり、特に、超高速複写用の感光体に要求される特
性を十分に満足しえるものではない。
すます要求されている今日的状況では、いままで報告さ
れたa −Si、感光体では十分に対応しきれなくなり
つつあり、特に、超高速複写用の感光体に要求される特
性を十分に満足しえるものではない。
本発明は上記事情に鑑みて成されたもので、きわめて安
定した動作特性をもつとともに、著しく優れた耐久性を
有する、卸高速複写に好適な電子写真感光体を提供する
ことを目的とする。
定した動作特性をもつとともに、著しく優れた耐久性を
有する、卸高速複写に好適な電子写真感光体を提供する
ことを目的とする。
本発明の要旨は、導電性基板上に、望ましくは、a ’
−Si障壁層を形成し、その上に、a −Si光導電層
と、水素及びフッ素とともに窒素を含むa−81表面保
護層とを、グロー放電分解法によって、順次積層して成
る電子写真感光体において、フッ素含有シリコン化合物
と水素含有シリコン化合物のガス容積に対して、フッ素
含有シリコン化合物のガス容積を20〜50%とした雰
囲気の中でグロー放電を発生し、前記a −Si表面保
護層を形成したことを特徴とする電子写真感光体を提供
することにある。
−Si障壁層を形成し、その上に、a −Si光導電層
と、水素及びフッ素とともに窒素を含むa−81表面保
護層とを、グロー放電分解法によって、順次積層して成
る電子写真感光体において、フッ素含有シリコン化合物
と水素含有シリコン化合物のガス容積に対して、フッ素
含有シリコン化合物のガス容積を20〜50%とした雰
囲気の中でグロー放電を発生し、前記a −Si表面保
護層を形成したことを特徴とする電子写真感光体を提供
することにある。
以下、本発明の詳細な説明する。
本発明の電子写真感光体は、第1図(A)に示す通り、
導電性基板(1)上に、a −Si光導電層(2)及び
a −81表面保護層(31を順次積層して構成され、
望ましくは、第1図(Blに示す如く、導電性基板(1
)とa−Si−光導電層(2)の間E、a −Si障壁
層(4)を介在させるとよい。
導電性基板(1)上に、a −Si光導電層(2)及び
a −81表面保護層(31を順次積層して構成され、
望ましくは、第1図(Blに示す如く、導電性基板(1
)とa−Si−光導電層(2)の間E、a −Si障壁
層(4)を介在させるとよい。
a −Si−光導電層(2)には、水素及びフッ素の少
なくとも一種とともに、酸素、並びに周期律表第][a
族、特に硼素を含有させる。
なくとも一種とともに、酸素、並びに周期律表第][a
族、特に硼素を含有させる。
a −Si表面保護層(3)には、水素及びフッ素とと
もに、窒素、を含有し、更に、周律表第Ha族、特に硼
素を含有させてもよい。
もに、窒素、を含有し、更に、周律表第Ha族、特に硼
素を含有させてもよい。
a−6i、障壁層(4)には、水素及びフッ素の少なく
とも一種とともに、導電性基板(1)からの電荷の注入
を阻止させるため1例えば、酸素、窒素、炭素の少なく
とも一種、並びに周期律表第Ha族、特に硼素を含有さ
せる。
とも一種とともに、導電性基板(1)からの電荷の注入
を阻止させるため1例えば、酸素、窒素、炭素の少なく
とも一種、並びに周期律表第Ha族、特に硼素を含有さ
せる。
第1表は、a −Si障壁層(4)に酸素を含有した場
合について、個々の層の厚み及び含有量を示しである。
合について、個々の層の厚み及び含有量を示しである。
第 1 表
本
第1表について、a−3i障壁層(4)に含有させた酸
素にかえて、窒素、水素を含有した場合でも、それぞれ
の層の厚み並びに他の成分の含有量は何ら変更されるも
のではなく、 a −S’x障壁層(4)に、窒素、炭
素のそれぞれが単独に含有される場合、窒素含有量は0
.05〜55 atomic%、水素含有量は0.05
〜45 atOmi、c%である。
素にかえて、窒素、水素を含有した場合でも、それぞれ
の層の厚み並びに他の成分の含有量は何ら変更されるも
のではなく、 a −S’x障壁層(4)に、窒素、炭
素のそれぞれが単独に含有される場合、窒素含有量は0
.05〜55 atomic%、水素含有量は0.05
〜45 atOmi、c%である。
本発明によれば、a−Si表面保護層(3)をグロー放
電分解法により形成するに際し、窒素の出発原料ガス(
例えば%N3など)、並びに硼素の出全原料ガス(例え
ば、B2H6など)のガス流量を調整して、層内のそれ
ぞれの含有量を特定するとともに、SiF4などのフッ
素含有シリコン化合物と、SiH4などの水素含有シリ
コン化合物のそれぞれのガス容積を特定することにより
、きわめて安定した動作特性をもち、著しく優れた耐久
性を有する感光体となることが判った。
電分解法により形成するに際し、窒素の出発原料ガス(
例えば%N3など)、並びに硼素の出全原料ガス(例え
ば、B2H6など)のガス流量を調整して、層内のそれ
ぞれの含有量を特定するとともに、SiF4などのフッ
素含有シリコン化合物と、SiH4などの水素含有シリ
コン化合物のそれぞれのガス容積を特定することにより
、きわめて安定した動作特性をもち、著しく優れた耐久
性を有する感光体となることが判った。
即ち、フッ素含有シリコン化合物と水素含有シリコン化
合物のガス容積に対して、フッ素含有シリコン化合物の
ガス容積が20%未満となると、比較的大きい結合エネ
ルギをもった5i−Fが減少して耐久性の向上に寄与せ
ず、 50%を超えると、シリコン原子のダングリング
ボンドが増加して、電荷受容量の低下とともに光感度の
劣化を招くことになり、20〜50%の範囲となるよう
に設定するとよい。フッ素含有シリコン化合物には、S
i、F4. Sj−gFe 、 5iareなど種々の
化合物があり、水素含有シリコン化合物事こは、SiH
+ 、 SigHa 。
合物のガス容積に対して、フッ素含有シリコン化合物の
ガス容積が20%未満となると、比較的大きい結合エネ
ルギをもった5i−Fが減少して耐久性の向上に寄与せ
ず、 50%を超えると、シリコン原子のダングリング
ボンドが増加して、電荷受容量の低下とともに光感度の
劣化を招くことになり、20〜50%の範囲となるよう
に設定するとよい。フッ素含有シリコン化合物には、S
i、F4. Sj−gFe 、 5iareなど種々の
化合物があり、水素含有シリコン化合物事こは、SiH
+ 、 SigHa 。
SisHgなど種々の化合物がある。そして、上記シリ
コン化合物ガスやBRH6ガスなどは、Ar、Hθなど
の希ガスやH1!ガスなどがキャリアガスとして使われ
ており、本発明によれば、表面保護層(3)をグロー放
電分解法により形成する雰囲気ガス中、50〜90%の
範囲に設定するのがよい。
コン化合物ガスやBRH6ガスなどは、Ar、Hθなど
の希ガスやH1!ガスなどがキャリアガスとして使われ
ており、本発明によれば、表面保護層(3)をグロー放
電分解法により形成する雰囲気ガス中、50〜90%の
範囲に設定するのがよい。
かかる条件憂こよって形成したa −81表面保護層(
3)は、窒素の含有量を最低で1 atom、tc%、
最大でも55 ato+uLQ%まで高めることができ
、これにより、5jJN4を生成して感光体の耐久性を
上げるという所期の目的を達成することができる。好適
1こは、電荷保持能力を一層向上させるため、窒素の含
有量を10〜55 atomtc%の範囲に設定すると
よい。そして、窒素が1.□ atomtc%以下では
、耐久性の向上は見られず、且つ表面電位が低く、電荷
保持能力が向上しない。
3)は、窒素の含有量を最低で1 atom、tc%、
最大でも55 ato+uLQ%まで高めることができ
、これにより、5jJN4を生成して感光体の耐久性を
上げるという所期の目的を達成することができる。好適
1こは、電荷保持能力を一層向上させるため、窒素の含
有量を10〜55 atomtc%の範囲に設定すると
よい。そして、窒素が1.□ atomtc%以下では
、耐久性の向上は見られず、且つ表面電位が低く、電荷
保持能力が向上しない。
また、表面保護ff 1310層厚は0.018m以下
で耐久性の向上は見られず、且つ表面電位が低く、電荷
保持能力が向上しない。そして、0.5μm以上では光
感度が低下傾向を示すと同時に、残留電位が大きくなる
。従って、表面保護層(3)の層厚は0.01〜0.5
μm、好ましくは0.05〜0.15μmの範囲がよい
。尚、この層厚は、表面保護層+31の窒素含有量が多
くなれば層厚を小さく、逆にこれらの含有量が小さくな
れば、層厚を大きくするように、上記の適正範囲内で決
定される。
で耐久性の向上は見られず、且つ表面電位が低く、電荷
保持能力が向上しない。そして、0.5μm以上では光
感度が低下傾向を示すと同時に、残留電位が大きくなる
。従って、表面保護層(3)の層厚は0.01〜0.5
μm、好ましくは0.05〜0.15μmの範囲がよい
。尚、この層厚は、表面保護層+31の窒素含有量が多
くなれば層厚を小さく、逆にこれらの含有量が小さくな
れば、層厚を大きくするように、上記の適正範囲内で決
定される。
光導電層(2)については、酸素含有量を5 X 10
=atomi、c%以上とすると光感度が大幅に低下し
、また逆に10 atomtc%以下であると、酸素原
子のその大きな電気陰性度によりダングリングボンドの
電子を充分にとり込むことができず、よって暗抵抗にし
て10 Ω・国以上のa −Si光導電一層を得ること
ができず、光導電層(2)の酸素含有量は棒 10 〜5 X 10 atomic%の範囲カヨイ。
=atomi、c%以上とすると光感度が大幅に低下し
、また逆に10 atomtc%以下であると、酸素原
子のその大きな電気陰性度によりダングリングボンドの
電子を充分にとり込むことができず、よって暗抵抗にし
て10 Ω・国以上のa −Si光導電一層を得ること
ができず、光導電層(2)の酸素含有量は棒 10 〜5 X 10 atomic%の範囲カヨイ。
障壁層(4)は光導電層(2)中で発生するキャリアを
導電性基板(1)へ円滑に輸送し、且つ導電性基板T1
)からの電荷の注入を阻止する役目をする。これに対し
、この障壁層(4)がない場合には、導電性基板(1)
からの電荷の注入阻止が有効になされず、表面電位が低
下し、暗減衰速度が大きくなる。
導電性基板(1)へ円滑に輸送し、且つ導電性基板T1
)からの電荷の注入を阻止する役目をする。これに対し
、この障壁層(4)がない場合には、導電性基板(1)
からの電荷の注入阻止が有効になされず、表面電位が低
下し、暗減衰速度が大きくなる。
前記障壁層(4)が有効に働くためには、酸素、窒素、
炭素の含有量をそれぞれ0.05〜60 atom1c
%、0.05〜55 atomi−0%、0.05〜4
5 atomic%の範囲とするのがよく、これらの少
なくとも一種がo、o s atom1c%以下では導
電性基板(1)からの電荷の注入阻止が十分でないため
、表面電位が不十分で暗減衰速度が大きくなり、それぞ
れが単独で上記最大値を越えると、光キャリアがトラッ
プされ、残留電位が増加する。尚、この障壁層について
、酸素、窒素、炭素のうちから2種もしくは3種と組み
合わせて含有してもよく、その組み合わせ次第によって
、それぞれの含有量が適宜決定される。
炭素の含有量をそれぞれ0.05〜60 atom1c
%、0.05〜55 atomi−0%、0.05〜4
5 atomic%の範囲とするのがよく、これらの少
なくとも一種がo、o s atom1c%以下では導
電性基板(1)からの電荷の注入阻止が十分でないため
、表面電位が不十分で暗減衰速度が大きくなり、それぞ
れが単独で上記最大値を越えると、光キャリアがトラッ
プされ、残留電位が増加する。尚、この障壁層について
、酸素、窒素、炭素のうちから2種もしくは3種と組み
合わせて含有してもよく、その組み合わせ次第によって
、それぞれの含有量が適宜決定される。
本発明のa −Sj−[子写真感光体においては、a
−Si光導電層の上に、窒素を含むa −Si、表面保
護層をグロー放電分解法によって積層する場合、フッ素
含有シリコン化合物と水素含有シリコン化合物のガス容
積に対して、フッ素含有シリコン化合物のガス容積を2
0〜50%とした雰囲気の中でグロー放電を発生してa
−Si表面保護層を形成したため、窒素を含有させて
達成される安定した動作特性及び耐久性が、更に一層向
上し、特に、超高速複写用の感光体に好適となる。
−Si光導電層の上に、窒素を含むa −Si、表面保
護層をグロー放電分解法によって積層する場合、フッ素
含有シリコン化合物と水素含有シリコン化合物のガス容
積に対して、フッ素含有シリコン化合物のガス容積を2
0〜50%とした雰囲気の中でグロー放電を発生してa
−Si表面保護層を形成したため、窒素を含有させて
達成される安定した動作特性及び耐久性が、更に一層向
上し、特に、超高速複写用の感光体に好適となる。
次に、a −Si層を生成するための容量結合型グロー
放電分解装置を第2図に基づいて説明する。
放電分解装置を第2図に基づいて説明する。
図中の第1.第2.第3.第4.第5タンク(5)+6
1 +71 +8) 19)には、それぞれ5j−F+
、 SIH+ 、 B++Ha 。
1 +71 +8) 19)には、それぞれ5j−F+
、 SIH+ 、 B++Ha 。
Os 、 Nsガスが密封されている。また、SiF+
。
。
SiH+ 、 BsHaガス何れもキャリアーガスは水
素である。これらのガスは対応する第1.第2.第3、
第4及び第5調整弁(1(1(111(13Q31 (
141を開放することにより放出され、その流量がマス
フローコントローフacJwe回(181G!lにより
規制され、第1.第2及び第3タンク+51 (61(
71からのガスはflf、l主管■へ、また、第4及び
第5タンク+81 +91からの酸素ガス及び窒素ガス
は第2主管QOへ送られる。尚、(2)(至)は止め弁
である。第1.第2主管(211(21)を通じて流れ
るガスは反応管c!4へと送り込まれる。が、この反応
管内部の基盤の周囲には容量結合型放電用[1m(ハ)
が配設されており、それ自体の高周波電力は50wat
ts乃至3 kj−1owattsが、また周波数はI
MHz乃至数10 MHzが適当である。反応管(財
)内部には、その上にa −Si、膜が形成される。例
えば、アルミニウムやNFSAガラスのような基板(至
)がモーター(5)により回転可能であるターンテーブ
ル(ハ)上に載置されており、該基板(至)自体は適当
な加熱手段により、約50乃至300℃好ましくは約1
50乃至250℃の温度に均一加熱されている。また、
反応管c24の内部はa −85−膜形成時に高度の真
空状態(放電圧0.5乃至2.0 TOrr )を必要
とすることにより回転ポンプのと拡散ポンプ(至)に連
結されている。
素である。これらのガスは対応する第1.第2.第3、
第4及び第5調整弁(1(1(111(13Q31 (
141を開放することにより放出され、その流量がマス
フローコントローフacJwe回(181G!lにより
規制され、第1.第2及び第3タンク+51 (61(
71からのガスはflf、l主管■へ、また、第4及び
第5タンク+81 +91からの酸素ガス及び窒素ガス
は第2主管QOへ送られる。尚、(2)(至)は止め弁
である。第1.第2主管(211(21)を通じて流れ
るガスは反応管c!4へと送り込まれる。が、この反応
管内部の基盤の周囲には容量結合型放電用[1m(ハ)
が配設されており、それ自体の高周波電力は50wat
ts乃至3 kj−1owattsが、また周波数はI
MHz乃至数10 MHzが適当である。反応管(財
)内部には、その上にa −Si、膜が形成される。例
えば、アルミニウムやNFSAガラスのような基板(至
)がモーター(5)により回転可能であるターンテーブ
ル(ハ)上に載置されており、該基板(至)自体は適当
な加熱手段により、約50乃至300℃好ましくは約1
50乃至250℃の温度に均一加熱されている。また、
反応管c24の内部はa −85−膜形成時に高度の真
空状態(放電圧0.5乃至2.0 TOrr )を必要
とすることにより回転ポンプのと拡散ポンプ(至)に連
結されている。
以上の構成のグロー放電分解装置において、例えば、窒
素を含有するa −Si膜を基板(至)上に形成すると
きは、第1及び/又は第2調整弁α(1(IDとともに
、第5調整弁a4を開放して第1.第2タンク(51(
61よりSiF+ガス、 SiH+ガスを、第5タンク
(9)より窒素ガスを、また硼素も含有させるときは第
3調整弁Ilzをも開放して、第3タンク(7)よりB
9H6ガスを放出する。放出量はマスフローコン) v
x −7(151(lfi(171Q9 sr Xり規
制すtl−1SiF4if ス及ヒ/又は5iftガス
の流量が特定され、それにBgHaガスが混合されたガ
スが第1主管(至)を介して、また、それとともにSi
F+及び/又はSIH+に対し一定のモル比にある窒素
ガスが第2主管C!υを介して反応管(財)へと送り込
まれる。そして反応室@内部が0.5乃至2.OTOr
r程度の真空状態、基板温度が50乃至300℃、容量
型放電用電極(ハ)の高周波電力が50 watts乃
至3 kilowatts 、また周波数が1乃至数1
0 MHzに設定されていることに損保って、グロー放
電が起こり、ガスが分解して、基板上にフッ素、水素及
び窒素を含有したa −Si膜、或いは、それに加えて
適量の硼素を含有したa−81膜が約lO乃至2500
A 7分の成膜速度で形成される。
素を含有するa −Si膜を基板(至)上に形成すると
きは、第1及び/又は第2調整弁α(1(IDとともに
、第5調整弁a4を開放して第1.第2タンク(51(
61よりSiF+ガス、 SiH+ガスを、第5タンク
(9)より窒素ガスを、また硼素も含有させるときは第
3調整弁Ilzをも開放して、第3タンク(7)よりB
9H6ガスを放出する。放出量はマスフローコン) v
x −7(151(lfi(171Q9 sr Xり規
制すtl−1SiF4if ス及ヒ/又は5iftガス
の流量が特定され、それにBgHaガスが混合されたガ
スが第1主管(至)を介して、また、それとともにSi
F+及び/又はSIH+に対し一定のモル比にある窒素
ガスが第2主管C!υを介して反応管(財)へと送り込
まれる。そして反応室@内部が0.5乃至2.OTOr
r程度の真空状態、基板温度が50乃至300℃、容量
型放電用電極(ハ)の高周波電力が50 watts乃
至3 kilowatts 、また周波数が1乃至数1
0 MHzに設定されていることに損保って、グロー放
電が起こり、ガスが分解して、基板上にフッ素、水素及
び窒素を含有したa −Si膜、或いは、それに加えて
適量の硼素を含有したa−81膜が約lO乃至2500
A 7分の成膜速度で形成される。
以下、本発明の実施例について説明する。
〔実施例1〕
上述した第2図に示すグロー放電分解装置でa−Si光
導電層とa −Si−表面保護層を形成し、この感光体
の耐久性を試験した。
導電層とa −Si−表面保護層を形成し、この感光体
の耐久性を試験した。
即ち、前記グロー放電分解装置のターンテープ/I/@
上に円筒状のアルミニウム基板(1)を載置し、第1タ
ンク(5)より水素をキャリアーガスとじたSIF 4
ガス(流量130800M )を、第2タンク(6)よ
り水素をキャリアーガスとした5j−H4ガス(流量1
908QOM )を、第3タンク(7)より水素をキャ
リアーガスとしたB9H6ガス(流量f3Q BQQM
)を。
上に円筒状のアルミニウム基板(1)を載置し、第1タ
ンク(5)より水素をキャリアーガスとじたSIF 4
ガス(流量130800M )を、第2タンク(6)よ
り水素をキャリアーガスとした5j−H4ガス(流量1
908QOM )を、第3タンク(7)より水素をキャ
リアーガスとしたB9H6ガス(流量f3Q BQQM
)を。
更に、第4タンク(8)より酸素ガス(流量1.48Q
QM)を放出し、これらのガス流量の割合に応じて、グ
ロー放電雰囲気のガス組成が決められる。これにより、
アルミニウム基板(1)上に酸素を約lO−10−8a
to%、硼素を約200 ppm 、水素及びフッ素が
合計して約15 atomtc%含有する厚さ10μm
のa−−8j−光導電層を得た。このときの製造条件は
放電圧を0.6 Torr%基板温度を200℃、高周
波電力を200 watts 、膜形成速度を14 A
/ sec とした。更に、同様の方法で、SV+ガ
スを20 sccM、SiH4ガスを30 secM
、 B9H6ガスを1258QQM 。
QM)を放出し、これらのガス流量の割合に応じて、グ
ロー放電雰囲気のガス組成が決められる。これにより、
アルミニウム基板(1)上に酸素を約lO−10−8a
to%、硼素を約200 ppm 、水素及びフッ素が
合計して約15 atomtc%含有する厚さ10μm
のa−−8j−光導電層を得た。このときの製造条件は
放電圧を0.6 Torr%基板温度を200℃、高周
波電力を200 watts 、膜形成速度を14 A
/ sec とした。更に、同様の方法で、SV+ガ
スを20 sccM、SiH4ガスを30 secM
、 B9H6ガスを1258QQM 。
更に、第5タンク(9)より窒素ガスを2080膜Mの
流量として放出した以外は同一の条件の下で上記a−S
i光導電層上にa −Si表面保護層を形成した。
流量として放出した以外は同一の条件の下で上記a−S
i光導電層上にa −Si表面保護層を形成した。
この時、グロー放電の雰囲気において、5j−F+とS
iH+のガス容積に対するSiF4.F/ス容積を約4
0%に設定し、キャリアーガスとして使ったH9ガスは
約80%となった。これにより、窒素を約20atom
、i−c%、硼素を約200 ppm 、フッ素及び水
素が合計して約5 atomic%含有する厚さQ、l
/jmのa −81表面保護層を得た。
iH+のガス容積に対するSiF4.F/ス容積を約4
0%に設定し、キャリアーガスとして使ったH9ガスは
約80%となった。これにより、窒素を約20atom
、i−c%、硼素を約200 ppm 、フッ素及び水
素が合計して約5 atomic%含有する厚さQ、l
/jmのa −81表面保護層を得た。
かかる電子写真感光体によれば、長波長領域も含めて光
感度特性が優れていることを確認し、更に、暗中で5.
6 kVのコロナチャージャで帯電し、暗中での表面電
位の経時変化並びに770 nmの単色光照射直後の表
面電位の経時変化を追ったところ、表面電位が700v
以上と大幅に高く、暗減衰も遅く、電荷保持能力にも優
れていることが認められ、この結果、半導体レーザを用
いたレーザービームプリンタへの応用など今後の幅広い
用途に対応できることが判った。
感度特性が優れていることを確認し、更に、暗中で5.
6 kVのコロナチャージャで帯電し、暗中での表面電
位の経時変化並びに770 nmの単色光照射直後の表
面電位の経時変化を追ったところ、表面電位が700v
以上と大幅に高く、暗減衰も遅く、電荷保持能力にも優
れていることが認められ、この結果、半導体レーザを用
いたレーザービームプリンタへの応用など今後の幅広い
用途に対応できることが判った。
かくして得られた電子写真感光体について、5.6kv
ノコロナチヤージヤによる帯電をした後に、画像露光し
磁気ブラシ現象を行った結果、画像濃度が高く、高コン
トラストで良好な画像が得られ、40M回の繰り返しテ
スト後においても、濃度低下、白地のかぶり、ドフへ表
面の傷による白抜けなど、初期画像からの劣化は全く見
られず、耐久性も良好であることが確認−された。
ノコロナチヤージヤによる帯電をした後に、画像露光し
磁気ブラシ現象を行った結果、画像濃度が高く、高コン
トラストで良好な画像が得られ、40M回の繰り返しテ
スト後においても、濃度低下、白地のかぶり、ドフへ表
面の傷による白抜けなど、初期画像からの劣化は全く見
られず、耐久性も良好であることが確認−された。
〔実施例2〕
前記実施例1で得られた感光体において、アルミニウム
基板11)と光導電層(2)の間に、次の製作条件lこ
よって形成した障壁層(4)を介在させた電子写真感光
体をつくった。
基板11)と光導電層(2)の間に、次の製作条件lこ
よって形成した障壁層(4)を介在させた電子写真感光
体をつくった。
即ち、第2図に示すグロ・−放電分解装置でSiF+ガ
スを20 sccM 、 SiH+カスをβQ 8(3
0M 、 B9H6ffスを125 SC0M 、 N
Rガスを0.8 BOOM (D流量とした以外は実施
例1の条件の下でアルミニウム基板(1)上に窒素を約
o、s atom1c%、硼素を約200 ppm 。
スを20 sccM 、 SiH+カスをβQ 8(3
0M 、 B9H6ffスを125 SC0M 、 N
Rガスを0.8 BOOM (D流量とした以外は実施
例1の条件の下でアルミニウム基板(1)上に窒素を約
o、s atom1c%、硼素を約200 ppm 。
フッ素及び水素が合計して約5 atomiQ%含有す
る厚さ2μ解のa −Si障壁層を得た。次いで、この
上に、実施例1と全く同一のa −Si光導電層及びa
−81表面保護層を順次積層して電子写真感光体を得
た。
る厚さ2μ解のa −Si障壁層を得た。次いで、この
上に、実施例1と全く同一のa −Si光導電層及びa
−81表面保護層を順次積層して電子写真感光体を得
た。
かくして得られた電子写真感光体について、55kVの
コロナチャージャによる帯電をした後に、画像露光し磁
気ブラシ現象を行った結果、画像濃度が高く、高コント
ラストで良好な画像が得られ、荀万回の繰り返しテスト
後においても、 濃度低下、白地のかぶり、ドラム表面
の傷による白抜けなど、初期画像からの劣化は全く見ら
れず、耐久性も良好であることが確認された。
コロナチャージャによる帯電をした後に、画像露光し磁
気ブラシ現象を行った結果、画像濃度が高く、高コント
ラストで良好な画像が得られ、荀万回の繰り返しテスト
後においても、 濃度低下、白地のかぶり、ドラム表面
の傷による白抜けなど、初期画像からの劣化は全く見ら
れず、耐久性も良好であることが確認された。
更に、本例により得られた電子写真感光体は、長波長領
域も含めて光感度特性が優れていることに加え、5.6
kVのコロナチャージャで帯電して、暗中での表面電
位の経時変化並びに77Q n1Tlの単色光照射直後
の表面電位の経時変化によれば、その表面電位が実施例
1よりも一段と大幅に高く、850■以上となり、電荷
保持能力にも好適となることが判った。゛ 〔実施例3〕 実施例1で述べた表面保護層を形成する場合、第1タン
ク(5)より水素をキャリアーガスとしたSiF+ガス
、並びに第2タンク(6)より水素をキャリアーガスと
したSiH4ガスのそれぞれの放出量を変えて、グロー
放電雰囲気のガス組成を第2表のように幾通りにもして
、感光体(Al (Bl (C1及び(Dlを製作した
。但し、その他の製作条件は実施例1と全く同一にした
。
域も含めて光感度特性が優れていることに加え、5.6
kVのコロナチャージャで帯電して、暗中での表面電
位の経時変化並びに77Q n1Tlの単色光照射直後
の表面電位の経時変化によれば、その表面電位が実施例
1よりも一段と大幅に高く、850■以上となり、電荷
保持能力にも好適となることが判った。゛ 〔実施例3〕 実施例1で述べた表面保護層を形成する場合、第1タン
ク(5)より水素をキャリアーガスとしたSiF+ガス
、並びに第2タンク(6)より水素をキャリアーガスと
したSiH4ガスのそれぞれの放出量を変えて、グロー
放電雰囲気のガス組成を第2表のように幾通りにもして
、感光体(Al (Bl (C1及び(Dlを製作した
。但し、その他の製作条件は実施例1と全く同一にした
。
かかる感光体の耐久性試験を実施例1で述べた方法によ
って確認したところ、第2表の通りである。尚、第2表
中の耐久性試験の評価は、初期画像からの劣化が認めら
れた限界の繰り返し回数を目安とした。
って確認したところ、第2表の通りである。尚、第2表
中の耐久性試験の評価は、初期画像からの劣化が認めら
れた限界の繰り返し回数を目安とした。
第 2 表
第2表から明らかなように、感光体(B)(C)は、4
0M回の繰り返しテストをおこなっても、濃度低下。
0M回の繰り返しテストをおこなっても、濃度低下。
白地のかぶり、ドラム表面の傷による白抜けなど。
初期画像からの劣化が見られず、耐久性が著しく向上し
、これにより、超高速複写用の感光体として十分に満足
しえるものとなることが判った。然るに、感光体(At
(DJでは、せいぜい、20万回、15万回であり、
在来のa −Si感光体とほぼ同じレベルであった。
、これにより、超高速複写用の感光体として十分に満足
しえるものとなることが判った。然るに、感光体(At
(DJでは、せいぜい、20万回、15万回であり、
在来のa −Si感光体とほぼ同じレベルであった。
上述した実施例から明らかなようIこ、本発明のa −
Si感光体は、光導電層の上に表面保護層が積層されて
おり、その表面保護層をグロー放電分解装置によって形
成するに際し、フッ素含有シリコン化合物と水素含有シ
リコン化合物のガス組成を特定することにより、きわめ
て安定した動作特性並びに優れた耐久性が獲得され、そ
の結果、今後、ますます要求される超高速複写用の感光
体として期待される。
Si感光体は、光導電層の上に表面保護層が積層されて
おり、その表面保護層をグロー放電分解装置によって形
成するに際し、フッ素含有シリコン化合物と水素含有シ
リコン化合物のガス組成を特定することにより、きわめ
て安定した動作特性並びに優れた耐久性が獲得され、そ
の結果、今後、ますます要求される超高速複写用の感光
体として期待される。
第1図は本発明に係る感光体の拡大断面図、第2図はア
モルファスシリコン層を形成するだめのグロー放電分解
装置を示す概略図である。 (11−・・導電性基板 (2)・・・アモルファスシリコン光導電層!31−・
・アモルファスシリコン表面保護層+4)−・・アモル
ファスシリコン障壁層特許出願人 京セラ株式会社 同 河 村 孝 夫
モルファスシリコン層を形成するだめのグロー放電分解
装置を示す概略図である。 (11−・・導電性基板 (2)・・・アモルファスシリコン光導電層!31−・
・アモルファスシリコン表面保護層+4)−・・アモル
ファスシリコン障壁層特許出願人 京セラ株式会社 同 河 村 孝 夫
Claims (6)
- (1)導電性基板上に、アモルファスシリコン光導電層
と、水素及びフッ素とともに窒素を含むアモルファスシ
リコン表面保護層とを、グロー放電分解法によって、順
次積層して成る電子写真感光体において、フッ素含有シ
リコン化合物と水素含有シリコン化合物のガス容積に対
して、フッ素含有シリコン化合物のガス容積を20〜5
0%とした雰囲気の中でグロー放電を発生し、前記アモ
ルファスシリコン表面保護層を形成したことを特徴とす
る電子写真感光体。 - (2)導電性基板上に、アモルファスシリコン障壁層と
゛、アモルファスシリコン光導電層と、水素及びフッ素
とともに窒素を含むアモルファスシリコン表面保護層と
を、グロー放電分解法によって、順次積層して成る電子
写真感光体において、フッ素含有シ)コン化合物と水素
含有シリコン化合物のガス容積に対して、フッ素含有シ
リコン化合物のガス容積を20〜50%とした雰囲気の
中でグロー放電を発生し、前記アモルファスシリコン表
面保護層を形成したことを特徴とする電子写真感光体。 - (3) 前記グロー放電分解用ガスとともに、キャリア
ーガスとして水素ガス、希ガスの少なくとも一種がグロ
ー放電の雰囲気ガスを占め、その割合が50〜90%と
したことを特徴とする特許請求の範囲第1項又は第2項
記載の電子写真感光体。 - (4) 前記フッ素含有シリコン化合物がSiF4であ
ることを特徴とする特許請求の範囲第1項又は第2項記
載の電子写真感光体。 - (5)前記水素含有シリコン化合物がSi、H+である
ことを特徴とする特許請求の範囲第1項又は第2項記載
の電子写真感光体。 - (6) 前記アモルファスシリコン表面保護層に周期律
表第ma族が含まれていることを特徴とする特許請求の
範囲第1項又は第2項記載の電子写真感光体。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20555483A JPS6067954A (ja) | 1983-10-31 | 1983-10-31 | 電子写真感光体 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20555483A JPS6067954A (ja) | 1983-10-31 | 1983-10-31 | 電子写真感光体 |
Related Parent Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17664483A Division JPS6067952A (ja) | 1983-09-25 | 1983-09-25 | 電子写真感光体 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6067954A true JPS6067954A (ja) | 1985-04-18 |
Family
ID=16508810
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP20555483A Pending JPS6067954A (ja) | 1983-10-31 | 1983-10-31 | 電子写真感光体 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6067954A (ja) |
-
1983
- 1983-10-31 JP JP20555483A patent/JPS6067954A/ja active Pending
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