JPS62126367A - 論理用集積回路 - Google Patents

論理用集積回路

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JPS62126367A
JPS62126367A JP60266419A JP26641985A JPS62126367A JP S62126367 A JPS62126367 A JP S62126367A JP 60266419 A JP60266419 A JP 60266419A JP 26641985 A JP26641985 A JP 26641985A JP S62126367 A JPS62126367 A JP S62126367A
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JP
Japan
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Application number
JP60266419A
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English (en)
Inventor
Kenzo Okawa
大川 健三
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NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は論理用集積回路(以下論理用LSI回路という
)、特に内部論理回路ならびに接続された周辺の論理回
路の試験を容易にするための論理用1.SI回路に関す
る。
(従来の技術) 従来、論理用LSI回路または複数の論理用LSI回路
を接続して論理用の電子回路パッケージを構成し、これ
らの重子回路パッケージまたは複数の電子回路パブケー
ジを接続1.て機能装置を構成する方法が多用されてい
る。このような電子回路パッケージにおいて、パッケー
ジの正常性あるいは故障診断の試験のために、パッケー
ジの入力端子に複数の入カバターンを与え、それぞれの
入カバターンに対応して高力端子から得られる化カバタ
ーンが期待通りであるかどうかを調べる方法がとらtl
ている。
(発明が解決しようとする問題点) し5かしながら、電子回路パッケージを構成する論理用
LSI回路の数が多いとか、論理用LSI1j路の内部
論理回路が大規模になるに従い、電子回路パッケージの
試験のために大量の入力バタンを与えなければ、故障の
判定はもとより、故障場所(故障論理用LSI回路)を
特定することができす、試験用に大型のコンピュータを
要するとか、長時間を要するという問題点を有している
。
本発明の目的は上記の問題点を除去し、使用する論3”
II用LSI回路の少なくとも1個の入出力線に、それ
ぞれパラレルイン・パラレルアウトのできるシフトレジ
スタを設けることKよシ、必要に応じ電子回路パッケー
ジの内部を切分けて、データ(試験バタン)を出入れす
ることができて試験を容易にする論理用り、8I回路を
提供することにある。
(問題点を解決するための手段) オ発明は複数の入力線と覆砂の出力線とを有する論理用
LSI回路において、入力機と内部論理回路とのml、
ならびに内部論理回路と出力線との間にパラレルイン・
パラレルアウトのできるシフトレジスタを設け、入力線
側に設けたシフトアウト線と出力1仙1に設けたシフト
イン線とを接続する。またこの2組のシフトレジスタの
モードを同時に切替えるモード切替えを有し、さらにま
たこの2組のシフトレジスタに入力されるクロック信号
線と、このクロック信号を同時に制御するクロック制御
線を有して構成される。
通常、本論理用LSI回路は他の論理用LSI回路とM
、列に接続されて電子回路パッケージを構成し1通常の
論理動作においては、本論理用LSI回路の前記のシフ
トレジスタのパラレルイン端子に与えられた入力は、そ
のま\パラレルアウト端子から出力され、これらのシフ
トレジスタは論理演算には関与しない。しかし本論理用
LSI回路にモード切替信号が与えられると、パラレル
イン端子に与えられる入力は遮断されて、入力側に設け
たシフトレジスタのシフトイン線から直列にデータを入
力して、出力側のシフトレジスタと入力側のシフトレジ
スタにデータをセットすることができる。このあとこの
電、子回路パッケージの演算用クロックによっては、ク
ロック制御線によってシフトレジスタへのクロックを一
旦停止し、セットされた入力データに基づいて論理用L
8Iを動作し、本論テ用LSIの前段力・らの出力を入
力側に設けられたシフトレジスタに取込み、また本論理
用LSIでの演算結果を出力線側のシフトレジスタに取
込んで、再びシフトモードに切替えてこれらのシフトレ
ジスタの内容を、出力線側のシフトアウト線から直列の
データとして外部に増出すことができる。またこの時に
電子回路パッケージの並列入カバターンも設定し、並列
出カバターンも入手することにより、本論理用LSIの
内部演算の→ならず、側周辺の論理用LSIの演a結果
も同時に入手でき、電子回路パッケージを分割した試験
を多量の中間端子を設けることなく、また少ない試験用
パターンで同時に試験することができる。
(実施例) 以下、木琴i%の実施例について図面を参照して詳細に
訝°明する。
第1図は本発明の一実施例のブロック図で、複数の入力
線と複数の出力線とを有する論理用LSI回路において
、入力線仰1と出力線仰lとに、それぞれパラレルイン
・パラレルアウトのできるシフトレジスタを設けた場合
を示している。
図において、入力m (11+1にパラレルイン・パラ
レルアウトのでさるシフトレジスタ(以下ASI(、G
)1が設けられ、パラレル入力線AA、AB・・・AM
とこの入力機に対応するパラレル出力、@!AQA。
AQB・・・AQMと、シフトイン線SINと金有し、
出力線AQAはシフトアラ1−aiAsO’l”i兼ね
ている。またパラレル出力線は内部論理回路(以下LS
IA)2に人力され、l、5IA2の出力縁上出力線1
111に設けられたパラレルイン・パラレルアウトので
きるシフトレジスタ(以下BSH,G)3のパラレル入
力iHA、BB・・・BNに接続されている。
またH2BO3のパラレル出力?fMBQA、HQH・
・・BQNがパラレル入力機と対応して設けられ、シフ
トイン、IJBINがASIもG1のシフトアウト#A
S OTと接続きれ、シフトアウト線s o ’rが出
力線BQAと兼ねている。−万モード切替線(以下MD
SW) 4がAs)l、Glお工びBSRG3のモード
切替入力線に接続され、クロック線(以下CLK)がゲ
ー)GAを介して同じ(ASRGIお工ひB8几G3 
に入力されている。ゲートGAの別の入力端子にはクロ
ック制御i(以下CI、KC)に否定入力が接続されて
いるう 以上のm成において、Ml)SW 4に論理値”0”が
与えられていると@は、ASRGIおよびB 81(、
G3は共にそれぞれ内部に有する選択ゲー)SELによ
りパラレルモードに設定され、それぞれの入力はそれぞ
れの選択ゲート5ELK接続されたD型フリップ70ツ
ブに与えられ、常時CI、に6がら与えられるクロック
の立上りで入力全保持し、クロックの立下りで保持信号
全出力する。lおCLK5は常時論fM!i+(iが”
0”で、クロックを停止させる時のみ@1”が入力され
る。従ってMDSW4が0”の時FiLSIA2は前段
からのパラレル入力を受けて、論理演算を行ないパラレ
ル出力全後段に送出することになる。
次にMDSW4に論理値@1”が与えられたときは、A
Sl(G1お↓びBS几G3は共にそれぞれ上記の選択
ゲート8ELK工りシリアルモードに設定され、それぞ
れのパラレル入力線は切断されて、シリアルイン線SI
Nからの入力がクロックに従って、先ずAelGlのD
型7リツプフロツプにIlkm次移送され、シリアルア
ウト、1%A30TからBSRG3のシリアルインdB
SINに送られ、次にHIO2のD型〕゛リップフロン
プに順次移送されて、シリアルアウト巌S OTに送出
されることとなる。
第2図は第1図の論理用LSI回路ならひに従来の論理
用LSI回路を用いて電子回路パッケージを構成した一
実施例のブロック因で、第1、第2、第3、第4お工び
第5の論理用LSI回路(以下それぞれAL81 、L
ILSI、CLSI、L)LSIお工びBLSI) 2
1 、22 、23 、24および25が直列に接続さ
れ、1つの論理用LSI回路のパラレル出力が次段のパ
ラレル人力となっている。
ALSI21  にはこの電子回路パッケージのパラレ
ル入力T I Nが接続され、ELδ125からこのぼ
子回路パッケージのパラレル出力TOTに接続されてい
る。またHL8I22お↓びDi、5I24は本発明の
論理用LSI回路で構成されていて、BLSI22のシ
フトアウト線1ED1,5I24のシフトイ/線に接続
されて、BLSI 22のシフトイ/線お工ひDLSI
24のシフトアウト線はそれぞれ電子回路パッケージの
シフトイン[8INお工ひシフトアラ)巌SOTとなっ
ている。さらにHL、5I22お工びDL8124のそ
れぞれのモード切替線MDSW4 、クロック制御線C
I、KC5お工ひクロック〜CLK6は共に1列に接続
されて、電子1gj路パッケージの外部接続端子に接続
されている。
以上の構成において、電子回路パッケージ?機能装置に
接続して動作全行なう場合にはMD S W 4に常時
論理値″0”が与えられていて、WJ1図において説明
したごとく、BLSI 22 、 DL、8124のそ
れぞれの人出力g111に設けられたシフトレジスタは
パラレルモードとなっていて、論理@算に関与すること
なく、T’ I Nに与えられた人力データViALS
I 21 、 BLSI 22 、、、El、Sl 2
5の論理回路を経てTOTに出力データを送出する。
−万、MDSW4に論理値”1”を与えたときは、BL
SI 22 、 DLSI 24のそれぞれの入出力側
に設けられたシフトレジスタはシリアルモードに切替え
られ、SINからクロックに同期して直列データを与え
ることにより、DL8I24の出力側と入力9111、
さらにBL8122の出力(tillと入力端のシフト
レジスタに任意のデータをセットすることかでさる。そ
こで所要のデータがセ・’z )された時点でCLKC
5の論理値を”15としシフトレジスタヘノクロックの
供給を停止すれは、上記のシフトレジスタのセットデー
タをそのまま保持させることができる。次いで必要に応
じTINに任意のデータをセットして、MDSW4の論
理値を10′に変え、CLKC5の論理値t”o″にし
て、クロック1発分の後直ちにMD8W4の論理値を”
loに変えると、TINに与えられた入力データのAl
。
5I21による演算結果がHl、5I22の入力端1シ
フトレジスタにセy)され、BLSI22の人力4JA
IIシフトレジスタに保持された人力データに対するB
LSI22による演算結果がこの出力1111のシフト
レジスタにセットされ、以下同様に入力データの演算結
果が次のシフトレジスタにセットサして、さらにこの結
果データがSOTを介して直列データとして外部に送出
される。なおELSI25の出力データのみTOTから
一度に並列出力される。
従って本回路構成をとることにより、電子回路パッケー
ジの入力端子と本発明の論理用LSI回路の人力1則な
らびに出力illのシフトレジスタとに所定の試験デー
タをセットし、個々の論理回路の演算結果全−回の動作
により人手することができる。
なお以上第2図の実施例では従来の論理用LSI回路と
、不発明の論理用LSI回路とを交互に接続したものと
したが、必要応じ任意の位置に不発明の論理用LSI回
路全配置しても一同に拘はない。
(発明の効果) 以上詳細に説明したとおシ、論理(ロ)路パッケージに
本発明の論理用LSI1g1路會配直することにより、
電子回路パッケージの入力端子ならひに出力端子のみな
らず、僅かに追加された入出方縁と制御線とに工り、論
理演算回路中に多数の中間端子を設けて、電子回路パッ
ケージを分割して試験すると同様の試験を行なうことが
でき、このため゛1電子路パッケージの試験を著しく簡
易化でさると云う効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は不発明の一実施4/11のブロック図、第2図
は不発明の論理用LSI1pJ路を含んだ電子回路パッ
ケージの一実施例のブロック図である。 1.3・・・パラレルイン・パラレルアウトのでさるシ
フトレジスタ(As)LG 、 BSR(j)、  2
,21゜23.25・・・論理用LSI回路(L、81
A、AI、、9I 。 CLS I 、 ELS I )、4・・・モード切替
線(MD8’W)、5・・・クロック制御線(CI、K
C)、6・・・クロッ/線(CLK)、22.24・・
・本発明の論理用LSI回路(BLSl、Dl、SI)
。         7・ \代理人 弁理士  内 
原   晋 第 2 図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 複数の入力線と複数の出力線とを有する論理用LSI回
    路において、 入力線と内部論理回路との間および内部論理回路と出力
    線との間とにそれぞれ設けたパラレルインパラレルアウ
    トのできる2組のシフトレジスタと、 この2組のシフトレジスタのモードを同時に切替えるモ
    ード切替線と、 この2組のシフトレジスタに入力されるクロック信号を
    同時に制御するクロック制御線と、入力線側に設けられ
    た前記シフトレジスタのシフトアウト線と出力線側に設
    けられた前記シフトレジスタのシフトイン線とを接続す
    る接続線とを有することを特徴とする論理用集積回路。
JP60266419A 1985-11-26 1985-11-26 論理用集積回路 Pending JPS62126367A (ja)

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JP60266419A JPS62126367A (ja) 1985-11-26 1985-11-26 論理用集積回路

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JP60266419A JPS62126367A (ja) 1985-11-26 1985-11-26 論理用集積回路

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JPS62126367A true JPS62126367A (ja) 1987-06-08

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ID=17430668

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JP60266419A Pending JPS62126367A (ja) 1985-11-26 1985-11-26 論理用集積回路

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01110275A (ja) * 1987-09-28 1989-04-26 Plessey Overseas Plc 試験重畳回路

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5674668A (en) * 1979-11-22 1981-06-20 Nec Corp Logical device
JPS5789155A (en) * 1980-11-25 1982-06-03 Nec Corp Integrated logical operation circuit

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