JPS6234719B2 - - Google Patents

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JPS6234719B2
JPS6234719B2 JP56195609A JP19560981A JPS6234719B2 JP S6234719 B2 JPS6234719 B2 JP S6234719B2 JP 56195609 A JP56195609 A JP 56195609A JP 19560981 A JP19560981 A JP 19560981A JP S6234719 B2 JPS6234719 B2 JP S6234719B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
single crystal
temperature
electric field
litao
predetermined
Prior art date
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Expired
Application number
JP56195609A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS5899200A (ja
Inventor
Kenji Enokida
Yoshinori Okada
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Tokyo Shibaura Electric Co Ltd filed Critical Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
Priority to JP56195609A priority Critical patent/JPS5899200A/ja
Publication of JPS5899200A publication Critical patent/JPS5899200A/ja
Publication of JPS6234719B2 publication Critical patent/JPS6234719B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B33/00After-treatment of single crystals or homogeneous polycrystalline material with defined structure
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B29/00Single crystals or homogeneous polycrystalline material with defined structure characterised by the material or by their shape
    • C30B29/10Inorganic compounds or compositions
    • C30B29/16Oxides
    • C30B29/22Complex oxides
    • C30B29/30Niobates; Vanadates; Tantalates

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Inorganic Chemistry (AREA)
  • Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
  • Inorganic Insulating Materials (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 発明の技術分野 本発明はリチウムタンタレート(以下LiTaO3
と記す)単結晶の単一分域の方法に関する。
発明の技術的背景と問題点 LiTaO3単結晶を単一分域化することは公知で
ある。(特公昭47−8450号、特開昭54−15196号
等)。
例えばX軸引上げLiTaO3単結晶を単一分域化
する為には第1図に示すようにヒータ1で加熱で
きるようにした電気炉2内に引上げた単結晶3を
Z面に電極4を設け、スイツチ7を投入してリー
ド線5から電圧6を加えられるようにしておく。
このときのLiTaO3単結晶の加熱曲線(実線)お
よび電圧印加特性(破線)を第2図に示す。多く
の場合単結晶の温度上昇は200℃/時間、t0からt2
までの保持温度はキユリー点TCより高い650℃、
温度降下は200℃/時間である。一定温度に保持
し始める時間t0から20分後t1において電圧を印加
し、さらに20分後t2から温度を降下させ、t1から
1時間後t3で電圧を切る。以上の操作により
LiTaO3単結晶の単一分域化は終了する。
さてこのようにして得られる単一分極化した
LiTaO3単結晶は、分極化終了時点で単結晶のク
ラツクが観察されることがある。このクラツクの
大きさは種々様々で大きいものはX軸方向に長さ
10cm外周面での幅1mm程度から小さいものは肉眼
でやつと見つかる程度のものまである。又クラツ
クの方向もX軸方向とは限らない。数多くの実験
中に発生したクラツク発生率は約5%であつた。
単結晶に発生するクラツクは生産コスト面だけ
でなく単結晶の品質特性面からみても好ましい現
象ではなく極力減少しなければならない。
発明の目的 本発明は上記欠点をなくすためになされたもの
でクラツクの少ないLiTaO3単結晶の単一分域化
方法を提供することを目的とする。
発明の概要 発明者等は分極化後のクラツクを減少させるべ
く分極化の方法における種々の要因について実験
研究を行う中で単結晶の電圧印加条件もクラツク
の一原因になつていることを見出しこの発明を完
成した。
すなわち本発明はLiTaO3単結晶のZ軸の両端
に電界印加のための電極を設け、この単結晶を所
定の温度に加熱し、この所定温度において前記単
結晶に所定の電界を印加する工程を有する単結晶
の単一分域化方法において、前記所定の電界の印
加は前記単結晶の温度が500℃以下のときに開始
することを特徴とするLiTaO3単結晶の単一分極
化方法である。
数多くの実験の結果、所定の電界印加を開始す
るときの単結晶の温度はクラツク発生率に関係し
ていることを見出した。第3図に実験により求め
た電界印加が開始するときの単結晶の温度とクラ
ツク発生率との関係を示す。
図から明らかなように所定電界の印加は単結晶
の温度が500℃以下のときクラツク発生率が減少
し、400℃以下では著しく減少することがわか
る。
発明の実施例 以下実施例により本発明を説明する。
第1図に示すように直径2インチのLiTaO3
結晶3のZ軸の両端に電極4、電気炉2内に挿入
し、スイツチ7を投入してリード線5から電圧を
60V印加する。次に電気炉2のヒータ1に通電
し、徐々に熱して炉温を高める。単結晶温度が
650℃になつたら20分間維持すると単結晶はほゞ
単一分域化される。その後炉温を徐々に下降させ
単結晶温度が150℃になつたら電界の印加をやめ
60℃になつてから単結晶を取り出すことにより単
一分域化処理は終了する。
この方法により得られた単結晶のクラツク発生
率は約2%であつた。
以上の実施例では電気炉の昇温開始前に単結晶
への電界の印加を開始したが、電気炉の昇温途中
であつても500℃以下のときに開始すればクラツ
ク発生率は減少する。
【図面の簡単な説明】
第1図はLiTaO3単結晶の単一分域化を行う装
置の概略図、第2図は従来のLiTaO3単結晶の加
熱曲線及び電圧印加特性を示す図、第3図は電界
印加を開始するときの単結晶の温度とクラツク発
生率との関係を示す図である。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 リチウムタンタレート(LiTaO3)単結晶の両
    端に電界印加のための電極を設け、前記単結晶を
    所定の温度に加熱し、この所定温度において前記
    単結晶に所定の電界を印加する工程を有する単結
    晶の単一分域化方法において、前記所定の電界の
    印加は前記単結晶の温度が500℃以下のときに開
    始することを特徴とするリチウムタンタレート単
    結晶の単一分域化方法。
JP56195609A 1981-12-07 1981-12-07 リチウムタンタレ−ト単結晶の単一分域化方法 Granted JPS5899200A (ja)

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JPS5899200A JPS5899200A (ja) 1983-06-13
JPS6234719B2 true JPS6234719B2 (ja) 1987-07-28

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11236298A (ja) * 1997-12-05 1999-08-31 Crystal Technol Inc フォトリソグラフィー法に使用するための結晶および電磁線吸収能を増大させるための該結晶の前状態調節法

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5932438B2 (ja) * 1976-11-22 1984-08-08 株式会社東芝 単結晶の単一分域化方法

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JPS5899200A (ja) 1983-06-13

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