JPS633342B2 - - Google Patents

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Publication number
JPS633342B2
JPS633342B2 JP58120567A JP12056783A JPS633342B2 JP S633342 B2 JPS633342 B2 JP S633342B2 JP 58120567 A JP58120567 A JP 58120567A JP 12056783 A JP12056783 A JP 12056783A JP S633342 B2 JPS633342 B2 JP S633342B2
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JP
Japan
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flops
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scan
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Expired
Application number
JP58120567A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS6014348A (ja
Inventor
Toshiro Tanaka
Katsuyuki Okada
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NTT Inc
Original Assignee
Nippon Telegraph and Telephone Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Telegraph and Telephone Corp filed Critical Nippon Telegraph and Telephone Corp
Priority to JP58120567A priority Critical patent/JPS6014348A/ja
Publication of JPS6014348A publication Critical patent/JPS6014348A/ja
Publication of JPS633342B2 publication Critical patent/JPS633342B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317Testing of digital circuits
    • G01R31/3181Functional testing
    • G01R31/3185Reconfiguring for testing, e.g. LSSD, partitioning
    • G01R31/318533Reconfiguring for testing, e.g. LSSD, partitioning using scanning techniques, e.g. LSSD, Boundary Scan, JTAG
    • G01R31/318536Scan chain arrangements, e.g. connections, test bus, analog signals

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は論理回路の出力を保持し、かつ独立
に動作するレジスタを少くとも2つもつ論理装置
におけるスキヤンレジスタ構成方法に関する。
論理装置、例えば1つのLSI内に含まれている
レジスタ(スキヤンレジスタ)を選択し、そのス
キヤンレジスタに外部よりスキヤンパスを通じて
シリアルなテストデータを入力し、そのスキヤン
レジスタのデータを前記LSIの論理回路へ入力し
てその論理回路をテストすることが行われてい
る。このテストを行うため論理回路の出力が並列
に与えられるレジスタをスキヤンレジスタに構成
する必要がある。このスキヤンレジスタを構成す
るため従来においては次のようにして行われてい
た。
即ち例えばLSIとされた論理装置内において第
1図に示すように論理回路1の出力が、クロツク
で動作するフリツプフロツプ2〜5から成るレ
ジスタ6へ並列に格納されるように構成されてい
る場合に、第2図に示すように論理回路1の各ビ
ツト出力は選択回路7〜10へそれぞれ供給さ
れ、選択回路7〜10の各出力はそれぞれフリツ
プフロツプ2〜5へ供給され、これらフリツプフ
ロツプ2〜5の出力はクロツクとは排他的なク
ロツクで動作するフリツプフロツプ11〜14
へ供給される。フリツプフロツプ11〜13の出
力はそれぞれ選択回路8〜10の他方の入力側へ
供給される。選択回路7の他方の入力側は外部端
子15に接続され、フリツプフロツプ14の出力
側は外部端子16に接続される。選択回路7〜1
0は端子17の制御信号によりその2つの入力の
一方を選択して出力する。
常時は論理回路1の出力が選択回路7〜10で
選択されてフリツプフロツプ2〜5に並列に入力
され、図に示してない他の論理回路へ供給され
る。端子17にスキヤンモードに設定する制御信
号が与えられると選択回路7は外部端子15を、
選択回路8〜10はフリツプフロツプ11〜13
の出力をそれぞれ選択し、外部端子15よりのテ
ストデータはクロツクでフリツプフロツプ2へ
入力され、これよりクロツクでフリツプフロツ
プ11にシフトされ、次にクロツクが印加され
ると、フリツプフロツプ11のデータは選択回路
8を通してフリツプフロツプ3へシフトし、以下
同様の動作を行い、最終的には外部端子16にデ
ータが出力される。このようにしてフリツプフロ
ツプ2〜5(レジスタ6)はスキヤンレジスタと
して構成される。
このように従来においてはレジスタ6をスキヤ
ンレジスタ化するには選択回路7〜10及びフリ
ツプフロツプ11〜14を付加する必要があるた
め、比較的多くの金物量を必要とする欠点があつ
た。なおフリツプフロツプ2〜5を直接直列に接
続する場合は1クロツクでフリツプフロツプ2の
内容がフリツプフロツプ5へ達しスキヤンレジス
タとして動作できない。
〈発明の概要〉 この発明の目的は少ない金物量の付加でスキヤ
ンレジスタを構成することができるスキヤンレジ
スタ構成方法を提供することにある。
論理装置には一般に独立に動作する、つまり動
作クロツクが異なるレジスタが存在している。こ
の発明によればこれら独立に動作するレジスタを
ビツトごとに交互に直列に接続することによりス
キヤンレジスタを構成する。
〈実施例〉 第3図はこの発明によるスキヤンレジスタ構成
方法の実施例を示す。一つの論理装置内に論理回
路20及び30が設けられてあり、フリツプフロ
ツプ25〜28よりなるレジスタ29に論理回路
20の出力が保持され、フリツプフロツプ35〜
38よりなるレジスタ39に論理回路30の出力
が保持される。フリツプフロツプ25〜28はク
ロツクで動作し、フリツプフロツプ35〜38
はクロツクで動作し、つまりフリツプフロツプ
25〜28と独立に動作するものである。
この発明においては論理回路20の出力側とフ
リツプフロツプ25〜28との間にそれぞれ第1
選択回路21〜24が挿入され、また論理回路3
0の出力側とフリツプフロツプ35〜38との間
に第2選択回路31〜34がそれぞれ挿入され
る。第1選択回路21の他方の入力側に外部端子
15が接続され、第1選択回路22〜24の他方
の入力側にフリツプフロツプ35〜37の出力側
がそれぞれ接続される。第2選択回路31〜34
の他方の入力側にフリツプフロツプ25〜28の
出力側がそれぞれ接続され、フリツプフロツプ3
8の出力側は外部端子16に接続される。選択回
路21〜24及び31〜34は端子17の制御信
号によりその入力が切換えられる。
外部端子17に制御信号を与えて選択回路21
〜24及び31〜34をスキヤンモードに設定す
ると、端子15のデータはクロツクでフリツプ
フロツプ25に入力され、クロツクでフリツプ
フロツプ25のデータは選択回路31を通してフ
リツプフロツプ35にシフトされ、次にクロツク
でフリツプフロツプ35のデータは選択回路2
2を通してフリツプフロツプ26にシフトされ、
以下同様にしてレジスタ29,39の各フリツプ
フロツプを交互に順次通り、端子16にデータは
出力される。つまりレジスタ29,39によりス
キヤンレジスタが構成される。なおフリツプフロ
ツプ25〜28の各出力はレジスタ29の各ビツ
ト出力を構成し、フリツプフロツプ35〜38の
各出力はレジスタ39の各ビツト出力を構成して
いる。
〈効果〉 このようにこの発明によればフリツプフロツプ
25〜28から成るレジスタ29及びフリツプフ
ロツプ35〜38から成るレジスタ39をスキヤ
ンレジスタ化するにはそれぞれ選択回路21〜2
4,31〜34を付加するだけで実現でき、第1
図に示した従来の構成方法によれば各レジスタに
対しその構成フリツプフロツプと同数のフリツプ
フロツプを更に設けた場合と比較して構成金物量
を削減することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は論理回路とその出力レジスタを示す
図、第2図は第1図に示したレジスタを従来方法
により構成したスキヤンレジスタを示す図、第3
図はこの発明によるスキヤンレジスタ構成方法の
一実施例を示す図である。 20,30:論理回路、21〜24,31〜3
4:選択回路、25〜28:クロツクで動作す
るフリツプフロツプ、35〜38:クロツクで
動作するフリツプフロツプ、29,39:レジス
タ。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 論理回路の出力を保持し、かつ独立に動作す
    るレジスタを少くとも2つもつ論理装置におい
    て、第1レジスタの各ビツトごとに第1セレクタ
    が設けられ、その第1セレクタは第1レジスタと
    対応する論理回路の出力と、第1レジスタとは独
    立に動作する第2レジスタの1つのビツト出力と
    の一方を選択するものであり、上記第2レジスタ
    の各ビツトごとに第2セレクタが設けられ、その
    第2セレクタは第2レジスタと対応する論理回路
    の出力と、第1レジスタの1つのビツト出力との
    一方を選択するものであり、外部端子より入力さ
    れた制御信号により上記第1セレクタ及び第2セ
    レクタを制御して第1レジスタと第2レジスタと
    を1ビツトごとに交互に直列に接続して1つのス
    キヤンレジスタを構成することを特徴とするスキ
    ヤンレジスタ構成方法。
JP58120567A 1983-07-01 1983-07-01 スキヤンレジスタ構成方法 Granted JPS6014348A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP58120567A JPS6014348A (ja) 1983-07-01 1983-07-01 スキヤンレジスタ構成方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP58120567A JPS6014348A (ja) 1983-07-01 1983-07-01 スキヤンレジスタ構成方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS6014348A JPS6014348A (ja) 1985-01-24
JPS633342B2 true JPS633342B2 (ja) 1988-01-22

Family

ID=14789498

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JP58120567A Granted JPS6014348A (ja) 1983-07-01 1983-07-01 スキヤンレジスタ構成方法

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JPS6014348A (ja) 1985-01-24

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