JPH02202051A - 半導体装置 - Google Patents

半導体装置

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Publication number
JPH02202051A
JPH02202051A JP2168089A JP2168089A JPH02202051A JP H02202051 A JPH02202051 A JP H02202051A JP 2168089 A JP2168089 A JP 2168089A JP 2168089 A JP2168089 A JP 2168089A JP H02202051 A JPH02202051 A JP H02202051A
Authority
JP
Japan
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power
polysilicon
power supply
capacitance
power wiring
Prior art date
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Pending
Application number
JP2168089A
Other languages
English (en)
Inventor
Kimiharu Kimura
公治 木村
Kenji Tomigami
健司 冨上
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、半導体素子において電源ノイズの低減のた
めの電源間容量の構造に関するものである。
〔従来の技術〕
第2囚は従来の半導体装置において電源間容量の構造を
示す正面臼、第3図は第2図のx、Xにおける断面口で
ある。
図において、(1)はアルミ、(2月よ第2ポリシリコ
ン、(3)は第1ポリシリコン、(4)は酸化膜、(5
月よP′基板である。
次に動作について説明する。電源間容量の構造は、第1
ポリシリコン(3)をVssの電位にし、第2ポリシリ
コン(2)をVcc(Dfft位として、第1ポリシリ
コン(3)と第2ポリシリコン(2)の重なる部分を電
源間容量としている。
〔発明が解決しようとする課題〕
従来の半導体装置の電源間容量は以上のように構成され
°Cいるので、第1ポリシリコンと第2ポリシリコンの
重なりにより容量を作っているため、電源間容量を増や
すには、対向面積が大きくなり、チップサイズが大きく
なるという問題点があった。
この発明は、上記のような問題点を解消するためになさ
れたもので、電源間容量の構造を変えることにより電源
間容量を増やし、電源ノイズの低減を図ることを目的と
する。
〔課題を解決するための手段〕
この発明に係る半導体装置の電源間容量の構造は、電源
配線のアルミの下に第1ポリシリコンと第2ポリシリコ
ンの電源配線を敷き、同一電位の電源配線で異なる電位
の電源配線をはさんだものである。
〔作用〕
この発明における電源間容量の構造は、電源配線のアル
ミの下に第1ポリシリコンと第2ポリシリコンの電源配
線を敷き、同一電位の電源配線で異なる電位の電源配線
をはさむことにより、電源間容量が増し、電源ノイズを
低減できる。
〔実施例〕
以下、この発明の一実施例を図について説明する。第1
図は、半導体装置の電源配線のアルミの下に第1ポリシ
リコンと第2ポリシリコンの電源配線を敷き、同一電位
の電源配線で異なる電位の電源配線をはさんだ電源間容
量の構造を示す断面図である。
図において、(1)〜(5)は@2図の従来例に示した
ものと同等であるので説明を省略する。
次に動作について説明する。
電源間容量の構造を、電源配線のアルミ(1)の下にア
ルミ(1)の電位と異なる電位の第2ポリシリコン(2
)を敷き、その下にアルミ(1)と同電位の第1ポリシ
リコン(3)を敷くことにより、電源間容量を増やすこ
とができる。
この発明は、電源配線のアルミ(1)、第1ポリシリコ
ン(3)、第2ポリシリコン(2)により、同一電源で
異なる電源をはさむことを限定する。
〔発明の効果〕
以上のように、この発明によれば、電源配線のアルミと
第1ポリシリコンで第2ポリシリコンをはさむことによ
り、電源間容量を増やすことができるので、電源ノイズ
を低減できる効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例による半導体装置の電源間
容量の構造を示す断面図、第2図は、従来の半導体装置
の電源間容量の構造を示す正面図、第3図は、第2図の
X、Xにおける断面図である。 図において(1〕はアルE 、(2)は第2ポリシリコ
ン、(3)は第1ポリシリコン、(4)は酸化膜、(5
)はP−基板である。 なお、図中、同一符号は同一、又は相当部分を示す。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 電源間容量において、電源ノイズの低減を目的とし、よ
    り電源間容量を増やすために、電源配線のアルミの下に
    第1ポリシリコンと第2ポリシリコンの電源配線を敷き
    、同一電位の電源配線で異なる電位の電源配線をはさむ
    ことを特徴とする半導体装置。
JP2168089A 1989-01-31 1989-01-31 半導体装置 Pending JPH02202051A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7239005B2 (en) 2003-07-18 2007-07-03 Yamaha Corporation Semiconductor device with bypass capacitor
US8299518B2 (en) 2008-03-17 2012-10-30 Liquid Design Systems Inc. Semiconductor device and bypass capacitor module

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7239005B2 (en) 2003-07-18 2007-07-03 Yamaha Corporation Semiconductor device with bypass capacitor
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