JPH02244122A - 液晶表示装置 - Google Patents
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- JPH02244122A JPH02244122A JP1063763A JP6376389A JPH02244122A JP H02244122 A JPH02244122 A JP H02244122A JP 1063763 A JP1063763 A JP 1063763A JP 6376389 A JP6376389 A JP 6376389A JP H02244122 A JPH02244122 A JP H02244122A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
〔産業上の利用分野〕
本発明は、液晶表示装置に係り、特に、薄膜トランジス
タ(TPT)と画素電極とを画素の一構成要素とするア
クティブ・マトリックス方式の液晶表示装置に適用して
有効な技術に関するものである。 〔従来の技術〕 アクティブ・マトリックス方式のカラー液晶表示装置は
、マトリックス状に複数の画素が配置された液晶表示部
(液晶表示パネル)を有している。 液晶表示部の各画素は、隣接する2本の走査信号線(ゲ
ート信号線または水平信号線とも称す)と隣接する2本
の映像信号線(ドレイン信号線または垂直信号線とも称
す)との交差領域内に配置されている。走査信号線は、
列方向(水平方向)に延在し、行方向(垂直方向)に複
数本配置されている。一方、映像信号線は、走査信号線
と交差する行方向に延在し、列方向に複数本配置されて
いる。 液晶表示部(液晶デイスプレィ)は、第1の透明ガラス
基板(下部透明ガラス基板)上に薄膜トランジスタおよ
び透明画素電極、薄膜トランジスタの保護膜、液晶分子
の向きを設定するための配向膜が順次設けられた第1の
基板(下部基板)と、第2の透明ガラス基板(上部透明
ガラス基板)上に遮光膜(ブラックマトリックス)、カ
ラーフィルタ、カラーフィルタの保護膜、共通透明画素
電極、配向膜が順次設けられた第2の基板(上部基板)
と、開基板の各配向膜の間に封入された液晶と、該液晶
のシール材とによって構成されている。 液晶表示部は、上記第1の基板と、上記第2の基板とを
別々に作製し、両基板の互いの配向膜が向き合うように
、開基板間に複数個の球状あるいは円筒状等のスペーサ
材を介在させることにより所定の間隔を置いて重ね合わ
せ、開基板間に液晶封入口から液晶を封入し、液晶封入
口を除く第1および第2の基板の縁周囲全体に沿って設
けられるシール材によって封止することによって組み立
てられる。なお、第1の基板側あるいは第2の基板側は
バックライトが配置される。バックライトが配置された
基板側と反対側の基板が表示画面となる。 上記のように、画素は、主として、液晶、この液晶を介
在させて配置された透明画素電極および共通透明画素電
極、薄膜トランジスタ、カラーフィルタで構成されてい
る。透明画素電極、薄膜トランジスタ、カラーフィルタ
のそれぞれは、画素ごとに設けられている。また、薄膜
トランジスタのソース電極、ドレイン電極のうち一方の
電極は。 透明画素電極に接続され、もう一方の電極は、映像信号
線に接続され、かつ、ゲート電極は、走査信号線に接続
されている。カラーフィルタは、アクリル樹脂等の樹脂
材料で構成される染色基材に染料を着色して構成され、
画素に対向する位置に各画素毎に構成され、染め分けら
れている。すなわち、カラーフィルタは、画素と同様に
、隣接する2本の走査信号線と隣接する2本の映像信号
線との交差領域内に構成されている。 また、第2の透明ガラス基板側からの薄膜トランジスタ
に対する遮光のために、走査信号線、映像信号線、薄膜
トランジスタに対応する部分(異色のカラーフィルタど
うしの間の部分)の第2の透明ガラス基板上に1例えば
、クロム(Or)等の金属や黒インキ等の黒色有機膜等
から成る遮光膜(ブラックマトリックス)が設けられて
いる。 これにより第2の透明ガラス基板側からの外部の自然光
(第2の基板側にバックライトを配置した場合は、バッ
クライトの光)が薄膜トランジスタに当たるのを防止す
ることができると共に、バックライトの光をさえぎるこ
とにより画素の輪郭が明確になるので、液晶表示のコン
トラストを向上させることができる。 次に、従来の液晶表示装置の製造方法についてさらに詳
しく説明する。まず、第1の透明ガラス基板上に薄膜ト
ランジスタおよび透明画素電極、薄膜トランジスタの保
護膜、配向膜を順次設け、配向膜に配向処理を施して第
1の基板を作製する。 配向処理は、液晶分子の向きを設定するために所定の細
溝を多数設ける処理である。 また、これと別の工程で第2の基板を作製する。 まず、走査信号線、映像信号線、薄膜トランジスタに対
応する部分の第2の透明ガラス基板上にCrや黒色イン
ク等から成る遮光膜(ブラックマトリックス)を選択的
に設ける0次に、遮光膜を設けた第2の透明ガラス基板
上にカラーフィルタを選択的に設ける。カラーフィルタ
を設けるには。 まず、第2の透明ガラス基板の表面に例えばアクリル樹
脂のような感光性可染樹脂から成る染色基材を設け、フ
ォトリソグラフィー技術で、例えばまず赤色フィルタ形
成領域以外の染色基材を除去する。この後、染色基材を
赤色染料で染め、固着処理を施し、赤色フィルタを設け
る9次に、同様な工程を施すことによって、緑色フィル
タ、青色フィルタを順次設ける。次に、カラーフィルタ
が設けられた透明ガラス基板上にカラーフィルタの保護
膜を設ける0次に、保護膜上に共通透明画素電極を設け
、所定の形状にパターニング(パターン化)する。次に
、共通透明画素電極が設けられた透明ガラス基板上に配
向膜を設け、配向膜に配向処理を施す。 その後、第1の基板と第2の基板の互いの配向膜が向き
合うように、開基板間に介在されたスペーサ材により所
定の間隔を置いて両基板を重ね合わせ1両基板間に液晶
封入口から液晶を封入し、基板周囲のシール材により液
晶を封止する。 なお、TPTを使用したアクティブマトリックス液晶表
示装置は、例えば、「日経エレクトロニクス」211頁
(1984年9月10日 日経マグロウヒJし社発行)
により公知である。 〔発明が解決しようとする課題〕 遮光膜として黒インキを用いる場合、遮光効果を得るた
めには、黒インキの膜厚として2〜3μm必要である。 透明ガラス基板上に遮光膜を設けた後、カラーフィルタ
を設けるが、カラーフィルタと遮光膜との間に間隙が存
在するとその部分は遮光できず、また遮光膜が設けられ
ていない領域のみにカラーフィルタを設けることは難し
いので、カラーフィルタは遮光膜上に一都電なって設け
られる。従って、透明ガラス基板上にカラーフィルタを
設けた状態においては、基板表面が平坦ではなく、遮光
膜とカラーフィルタの重なった部分の厚さが厚くなって
いる。基板表面が平坦でないと、もう一方の基板(下部
透明ガラス基板)と重ねて組み合わせるとき、周基板間
のギャップを制御するのが難しい、基板間ギャップが変
わると(一定でないと)、画素のスイッチング素子であ
る薄膜トランジスタのしきい値電圧、応答速度。 駆動電圧等の特性が変わってしまい、製品の信頼性が低
下し、歩留りが低下する問題がある。また。 基板間で所定のギャップを開けるために周基板間には例
えば球状の複数個のスペーサが介在されている。このス
ペーサを設けるには、両基板を重ね合わせる前に一方の
基板面上(一番表面にある配向膜上)にスペーサを分散
させて設けるので、所定の位置に設けることができない
、従って、スペーサが遮光膜とカラーフィルタの重なっ
た厚さの厚い箇所に配置された場合は、その箇所だけ基
板間ギャップが広くなる。このように局部的に基板間ギ
ャップが異なると、基板間に封止された液晶の屈折率が
局部的に変わり、表示画面上には色むらとなって現われ
る。このように透明ガラス基板上に遮光膜を設けた状態
が平坦でないと上記のような問題が生じる。 また、遮光膜としてCr等の金属膜を用いる場合は、黒
色インキより厚さが薄くてよいので、上記の問題につい
ては黒色インキより深刻ではない。 しかし、Cr膜を設けるには、真空蒸着法、スパッタ法
等を用いて膜を設けた後、フォトリソグラフィー法を用
いてパターニングして遮光膜を設ける。この方法では長
時間を要するため、生産性が悪く、製造コストが高くな
る問題がある。 本発明の目的は、透明ガラス基板上に遮光膜を平坦に設
けることにより遮光膜の膜厚の影響を低減でき、基板間
ギャップの制御が容易で、基板間ギャップを一定にする
ことができ、特性の変動や色むらをなくし、製品の信頼
性、歩留り、画質を向上させることができる液晶表示装
置を提供することにある。 本発明の他の目的は、遮光膜を安価に設け、製造コスト
を低下し、かつ、生産性を向上することにある。 〔課題を解決するための手段〕 上記の目的を達成するために、本発明の液晶表示装置は
、遮光膜が設けられる部分の透明ガラス基板表面に選択
的に凹部が設けられ、この凹部に遮光膜が平坦に埋め込
まれ、この遮光膜が設けられていない透明ガラス基板上
にカラーフィルタが設けられている(遮光膜とカラーフ
ィルタとは通常、−都電なって設けられる)、すなわち
、透明ガラス基板を予め遮光膜を設けるパターン形状に
エツチングし、エツチングした凹部に遮光膜を平坦に埋
め込む。 第1図は1本発明の液晶表示装置の構成の一例を示す概
略断面図である。図において、1は透明ガラス基板、2
は透明ガラス基板1の表面に選択的に設けられた凹部5
3は凹部2に平坦に埋め込まれた遮光膜、4は遮光膜3
が設けられていない透明ガラス基板1上に設けられたカ
ラーフィルタ(Rは赤色フィルタ、Gは緑色フィルタ、
Bは青色フィルタ)、5はスペーサ、6は透明ガラス基
板1とスペーサ5を介して重ね合わされた第2の透明ガ
ラス基板、7は透明ガラス基板1と6の間に封止された
液晶である。なお、この図では、配向膜1画素電極等は
図示省略しである。 〔作用〕 本発明では、透明ガラス基板を予めエツチングして設け
た凹部に遮光膜を平坦に埋め込む構成なので、透明ガラ
ス基板に遮光膜を設けた状態の基板表面は平坦であり、
カラーフィルタも平坦に設けることができる、従って、
基板間ギャップの制御が容易にでき、基板間ギャップを
一定にすることができるので、しきい値電圧等の特性の
変動を防止することができ、製品の信頼性1歩留りを向
上することができる。また、局部的に基板ギャップの広
い部分が生じるのを防止することができるので、液晶の
局部的な屈折率の変化に起因する色むらを防止すること
ができ、画質を向上させることができる。 また、本発明では、遮光膜として製造コストの安い黒イ
ンキを用いることができるので、製造コストを低減し、
生産性を向上することができる(Cr等の金属等の他の
材料膜を用いてもよい)。 〔実施例〕 第2図は1本発明を適用すべきアクティブ・マトリック
ス方式のカラー液晶表示装置の液晶表示部の一画素の要
部平面図、第3図は、第2図の■−■切断線で切った部
分とシール部周辺部の断面図、第4図は、第2図に示す
画素を複数配置した液晶表示部の要部平面図である。 第3図に示すように、下部透明ガラス基板5UB1の内
側(液晶側)の表面上に、薄膜トランジスタTPTおよ
び透明画素電極ITOが設けられている。下部透明ガラ
ス基板5UBIは例えば1.1mm程度の厚さで構成さ
れている。 本実施例の液晶表示装置は、第3図に示すように、遮光
膜が設けられる部分の透明ガラス基板5UB2の表面に
選択的に凹部が設けられ、この凹部に遮光膜BMが平坦
に埋め込まれ、この遮光膜BMが設けられていない透明
ガラス基板5UBZ上にカラーフィルタFILが設けら
れている。 本実施例では、透明ガラス基板5UB2に遮光膜BMを
設けた状態の基板表面は平坦であり、カラーフィルタF
ILも平坦に設けることができる。 従って、基板間ギャップの制御が容易にでき、基板間ギ
ャップを一定にすることができるので、薄膜トランジス
タTPTのしきい値電圧等の特性の変動を防止すること
ができ、製品の信頼性、歩留りを向上することができる
。また、局部的に基板ギャップの広い部分我生じるのを
防止することができるので、液晶LCの局部的な屈折率
の変化に起因する色むらを防止することができ、画質を
向上させることができる。 また、遮光膜BMとして製造コストの安い黒インキを用
いることができるので、製造コストを低減し、生産性を
向上することができる。 次に、第1図を用いて本実施例の液晶表示装置の製造方
法の要部について説明する。 まず、透明ガラス基板1上にフォトレジストを塗布し、
遮光膜のパターンを有するマスクを介して露光した後、
現像する。次に、フッ酸と硝酸を混合したエツチング液
に当該基板を浸漬し5透明ガラス基板1上のフォトレジ
スト膜の遮光膜を設けるべきパターン部分を所定の時間
エツチングして凹部2を設ける0次に、フォトレジスト
膜を剥離する0次に、黒色インキをロールコーティング
法等により基板全面に塗布する。黒色インキとしては、
例えばエポキシ、アクリル等の熱硬化型樹脂に黒色顔料
や染料を混合したものを用いる。次に、透明ガラス基板
1と平行に設けたスキージ(ゴム板)により不用の黒色
インキを取り除いた後、有機溶剤を染み込ませたスポン
ジを具備するローラで透明ガラス基板1の表面を拭き取
り、凹部2内のみに黒色インキを設ける。次に、黒色イ
ンキを熱硬化させ、遮光膜3を設ける。次に、透明ガラ
ス基板1上にカラーフィルタ4、カラーフィルタの保護
膜、画素電極、および配向膜の形成、ならびに配向膜の
配向処理を行ない、スペーサ5を介して他方の透明ガラ
ス基板6と接着し、周基板間に液晶7を充填して液晶表
示部を完成する。 これらの工程およびその他の工程については既に述べた
ので、説明を省略する。 なお、本実施例においては、第3図以外の図面において
ブラックマトリックスBMを図示省略しである。 第4図に示すように、各画素は、隣接する2本の走査信
号線(ゲート信号線または水平信号線)GLと、隣接す
る2本の映像信号線(ドレイン信号線または垂直信号線
)DLとの交差領域内(4本の信号線で囲まれた領域内
)に配置されている。 走査信号線GLは、第2図および第4図に示すように、
列方向(水平方向)に延在し、かつ行方向(垂直方向)
に複数本配置されている。映像信号線DLは1行方向に
延在し、かつ列方向に複数本配置されている。 各画素の薄膜トランジスタTPTは、画素内において3
つ(複数)に分割され、薄膜トランジスタ(分割薄膜ト
ランジスタ)TFTI、TPT2およびTPT3で構成
されている。薄膜トランジスタTPTI〜TFT3のそ
れぞれは、実質的に同一寸法(チャネル長とチャネル幅
が同じ)で構成されている。この分割された薄膜トラン
ジスタTPTI〜TFT3のそれぞれは、主にゲート電
極GT、絶縁膜GI、i型(真性、1ntrinsic
。 導電型決定不純物がドープされていない)シリコン(S
i)からなるi型半導体層AS、1対のソース電極SD
Iおよびドレイン電極SD2で構成されている。なお、
ソース・ドレインは本来その間のバイアス極性によって
決まり、この液晶表示装置の回路ではその極性は動作中
反転するので、ソース・ドレインは動作中入れ替わると
理解されたい、しかし、以下の説明でも、便宜上一方の
SDIをソース、他方のSn2をドレインと固定して表
現する。 ゲート電極GTは、第5図(所定の製造工程における画
素の要部平面図)に詳細に示すように、走査信号線OL
から行方向(第2図および第5図において下方向)に突
出する丁字形状で構成されている(丁字形状に分岐され
ている)、すなわち、ゲート電極GTは、映像信号線D
Lと実質的に平行に延在するように構成されている。ゲ
ート電極GTは、薄膜トランジスタTPTI〜TFT3
のそれぞれの形成領域まで突出するように構成されてい
る。薄膜トランジスタTPTI〜TFT3のそれぞれの
ゲート電極GTは、一体に(共通ゲート電極として)構
成されており、同一の走査信号線OLに連続して設けら
れている。ゲート電極GTは、薄膜トランジスタTPT
の形成領域において大きい段差をなるべく作らないよう
に、単層の第1導電膜g1で構成する。第1導電膜g1
は、例えばスパッタ法で設けられたクロム(Cr)膜を
用い、1100人程度0膜厚で設ける。 このゲート電極GTは、第2図、第3図および第6図(
所定の製造工程における画素の要部平面図)に示されて
いるように、i型半導体層ASを(下方から見て)完全
に覆うようにそれより太き目に設けられる。従って、下
部透明ガラス基板5UBIの下方に蛍光燈等のバックラ
イトを取り付けた場合、この不透明のCrゲート電極G
Tが影となって、半導体JilASにはバックライト光
が当たらず、上述した光照射による導電現象すなわちT
PTのオフ特性劣化は起きにくくなる。なお、ゲート電
極GTの本来の大きさは、ソース・ドレイン電極SDI
、802間をまたがるに最低限必要な(ゲート電極とソ
ース・ドレイン電極の位置合わせ余裕分も含めた)幅を
持ち、チャネル@Wを決めるその奥行き長さはソース・
ドレイン電極間の距離(チャネル長)Lとの比、すなわ
ち相互コンダクタンスgmを決定するファクタW/Lを
いくつにするかによって決められる。 この液晶表示装置におけるゲート電極の大きさはもちろ
ん、上述した本来の大きさよりも大きくされる。 ゲート電極GTのゲートおよび遮光の機能面からだけで
考えれば、ゲート電極GTおよびその配線GLは単一の
層で一体に設けてもよく、この場合不透明導電材料とし
てSiを含有させたアルミニウム(AM)、純AQ、お
よびパラジウム(Pd)を含有させたへΩ等を選ぶこと
ができる。 ここでは走査信号線GLは、第1導電膜g1およびその
上部に設けられた第2導電膜g2からなる複合膜で構成
されている。この走査信号線GLの第1導電膜g1は、
ゲート電極GTの第1導電膜g1と同一製造工程で設け
られ、かつ一体に構成されている。第2導電膜g2は例
えばスパッタ法で設けられたAM膜を用い、900〜4
000人程度の膜厚で設ける。第2導電膜g2は、走査
信号線OLの抵抗値を低減し、信号伝達速度の高速化(
画素の情報の書き込み特性)を図ることができるように
構成されている。 また、走査信号線OLは、第1導電膜g1の帽に比べて
第2導電膜g2の幅を小さく構成している。すなわち、
走査信号線GLは、その側壁の段差形状をゆるやかにす
ることができるので、その上層に設ける絶縁膜GIの表
面を平担化できるように構成されている。 絶縁膜GIは、薄膜トランジスタTPTI〜TFT3の
それぞれのゲート絶縁膜として使用される。絶縁膜GI
は、ゲート電極GTおよび走査信号線GLの上層に設け
られている。絶縁膜GIは例えばプラズマCVD法で設
けられた窒化珪素膜を用い、3500人程度0膜厚で設
ける。上述のように、絶縁膜GIの表面は、薄膜トラン
ジスタTPT1〜TFT3のそれぞれの形成領域および
走査信号線GLの形成領域において平担化されている。 i型半導体層Asは、第6図(所定の製造工程における
要部平面図)で詳細に示すように、複数に分割された薄
膜トランジスタTPT1〜TFT3のそれぞれのチャネ
ル形成領域として使用される。複数に分割された薄膜ト
ランジスタTPTI〜TFT3のそれぞれのi型半導体
層ASは、画素内において一体に構成されている。すな
わち、画素の分割された複数の薄膜トランジスタTPT
1〜TFT3のそれぞれは、1つの(共通の)j型半導
体層Asの島領域で構成されている。i型半導体層AS
は、非晶質シリコン膜または多結晶シリコン膜で形成し
、約20000程度の膜厚で設ける。 このi型半導体層ASは、供給ガスの成分を変えてSi
、N4からなる絶縁膜GIの形成に連続して、同じプラ
ズマCVD装置で、しかも下部透明ガラス基板5UB1
はその装置から外部に取り出すことなく設けられる。ま
た、オーミックコンタクト用のPをドープしたN+型半
導体層do(第3図)も同様に連続して約300人の厚
さに設けられる。その後、下部透明ガラス基板5UBI
はCVD装置から外に取り出され、フォトリソグラフィ
ー(写真処理)技術により、N+型半導体層dOおよび
i型半導体層ASは第2図、第3図および第6図に示す
ように独立した島状にバターニングされる。 このように、一画素において複数に分割された薄膜トラ
ンジスタTPTI〜TFT3のそれぞれのi型半導体層
ASを一体に構成することにより、薄膜トランジスタT
FTI−TFT3のそれぞれに共通のドレイン電極SD
2がi型半導体層AS(実際には、第1導電膜g1の膜
厚、N1型半導体層dOの膜厚およびi型半導体層AS
の膜厚とを加算した膜厚に相当する段差)をドレイン電
極SD2側からi型半導体層AS側に向って1度乗り越
えるだけなので、ドレイン電極SD2が断線する確率が
低くなり1点欠陥の発生する確率を低減することができ
る。すなわち、この液晶表示装置では、ドレイン電極S
D2がi型半導体層ASの段差を乗り越える際に画素内
に発生する点欠陥を3分の1に低減できる。 また、この液晶表示装置のレイアウトと異なるが、i型
半導体層ASを映像信号線DLが直接乗り越え、この乗
り越えた部分の映像信号mDLをドレイン電極SD2と
して構成する場合、映像信号線DL(ドレイン電極5D
2)がi型半導体層ASを乗り越える際の断線に起因す
る線欠陥の発生する確率を低減することができる。すな
わち、−画素内で複数に分割された薄膜トランジスタT
PTI〜TFT3のそれぞれのi型半導体層ASを一体
に構成することにより、映像信号線DL(ドレイン電極
5D2)がi型半導体層ASを1度だけしか乗り越えな
いためである(実際には、乗り始めと乗り終わりの2度
である)。 i型半導体層ASは、第2図、第6図および第7図(所
定の製造工程における画素の要部平面図)に詳細に示す
ように、走査信号線OLと映像信号線DLとの交差部(
クロスオーバ部)の両者間まで延在させて設けられてい
る。この延在させたi型半導体層ASは、交差部におけ
る走査信号aGLと映像信号線DLとの短絡を低減する
ように構成されている。 一画素内で複数に分割された薄膜トランジスタTPTI
〜TFT3のそれぞれのソース電極SDIと共通のドレ
イン電極SD2とは、第2図、第3図および第7図で詳
細に示すように、i型半導体層As上にそれぞれ離隔し
て設けられている。 ソース電極SDI、ドレイン電極SD2のそれぞれは、
回路のバイアス極性が変ると、動作上、ソースとドレイ
ンとが入れ替わるように構成されている。すなわち、薄
膜トランジスタTPTは、FET(電界効果トランジス
タ)と同様に双方向性である。 ソース電極SDI、ドレイン電極SD2のそれぞれは、
N+型半導体層doに接触する下層側から、第1導電膜
d1、第2導電膜d2.第3導電膜d3を順次重ね合わ
せて構成されている。ソース電極SD1の第1導電膜d
1、第2導電膜d2および第3導電膜d3は、ドレイン
電極SD2のそれぞれと同一製造工程で設けられる。 第1導電膜d1は、スパッタ法で設けたCr膜を用い、
500〜1000人の膜厚(この液晶表示装置では、6
00人程0の膜厚)で設ける。Cr膜は、膜厚を厚く設
けるとストレスが大きくなるので、2000人程度0膜
厚を越えない範囲で設けるs Cr膜は、N+型半導体
層dOとの接触が良好である。 Cr膜は、後述する第2導電膜d2のAQがN4′型半
導体層doに拡散することを防止する、所謂バリア層を
構成する。第1導電膜d1としては。 Cr膜の他に、高融点金属(Mo、Ti、Ta。 W)膜、高融点金属シリサイド(MoSi2、TiSi
、、TaSi、、WSi、)膜で設けてもよい。 第1導電膜d1をフォトリソグラフィー技術でパターニ
ングした後、同じフォトマスクを用いて、あるいは第1
導電膜d1をマスクとしてN+型半導体層doが除去さ
れる。すなわち、i型半導体層As上に残っていたN+
型半導体層doは第1導電膜d1以外の部分が自己整合
(セルファライン)で除去される。このとき、N+型半
導体層dOはその厚さ分はすべて除去されるようにエツ
チングされるのでi型半導体層ASも若干その表面部分
でエツチングされるが、その程度はエツチング時間で制
御すればよい。 その後、第2導電膜d2がAQをスパッタすることによ
り3000〜5500人の膜厚(この液晶表示装置では
、3500人程度0膜厚)に設けられる。AQ膜は、C
r膜に比べてストレスが小さく、厚い膜厚に設けること
が可能で、ソース電極SD1、ドレイン電極SD2およ
び映像信号線DLの抵抗値を低減するように構成されて
いる。すなわち、第2導電膜d2は、薄膜トランジスタ
TPTの動作速度の高速化および映像信号線DLの信号
伝達速度の高速化を図ることができるように構成されて
いる。従って、第2導電膜d2により、画素の書き込み
特性を向上することができる。第2導電膜d2としては
、AQ膜の他に、Siや銅(Cu)やPdを添加物とし
て含有させたAQ膜で設けてもよい。 第2導電膜d2がフォトリソグラフィー技術によりパタ
ーニングされた後、300〜2400人の膜厚(この液
晶表示装置では、1200人程度0膜厚)でスパッタ法
で設けられた透明導電膜(ITO:ネサ膜)によって、
第3導電膜d3が設けられる。 この第3導電膜d3は、ソース電極SD1.ドレイン電
極SD2および映像信号線DLを構成するとともに、透
明画素電極IT○を構成するようになっている。 ソース電極SDIおよびドレイン電極SD2の第1導電
膜d1は、第1導電膜d1と第2導電膜d2および第3
導電膜d3との間の製造工程においてマスク合わせずれ
が生じても、第2導電膜d2および第3導電膜d3に比
べて大きい寸法になるようにチャネルが設けられる側が
大きい寸法になるように構成されている(第1導電膜d
1〜第3導電膜d3のそれぞれのチャネル形成領域側が
オンザラインでもよい)。また、ソース電極SD1およ
びドレイン電極SD2の第1導電膜d1のそれぞれは、
薄膜トランジスタTPTのゲート長りを規定するように
構成されている。 このように、−画素内で複数に分割された薄膜トランジ
スタTPTI〜TFT3において、ソース電極SD1.
ドレイン電極SD2のそれぞれの第1導電膜d1のチ
ャネル形成領域側を第2導電膜d2および第3導電膜d
3に比べて大きい寸法で構成することにより、ソース電
極SDI、ドレイン電極SD2のそれぞれの第1導電膜
d1間の寸法で、薄膜トランジスタTPTのゲート長り
を規定することができる。第1導電膜d1間の離隔寸法
(ゲート長L)は、加工精度(パターニング精度)で規
定することができるので、薄膜トランジスタTPTI〜
TFT3のそれぞれのゲート長りを均一にすることがで
きる。 ソース電極SDIは、上述のように、透明画素電極IT
Oに接続されている。ソース電極SDIは、i型半導体
層ASの段差形状(第1導電膜g1の膜厚、N“型半導
体層doの膜厚およびi型半導体層ASの膜厚とを加算
した膜厚に相当する段差)に沿って構成されている。具
体的には、ソース電極SDIは、i型半導体層ASの段
差形状に沿って設けられた第1導電膜d1と、この第1
導電膜d1の上部にそれに比べて透明画素電極工Toと
接続される側を小さい寸法で設けた第2導電膜d2と、
この第2導電膜から露出する第1導電膜d1に接続され
た第3導電膜d3とで構成されている。ソース電極SD
Iの第1導電膜d1は、N+型半導体層doとの接着性
が良好であり、かつ主に第2導電膜d2からの拡散物に
対するバリア層として構成されている。ソース電極SD
Iの第2導電膜d2は、第1導電膜d1のCr膜がスト
レスの増大のため厚く設けることができず、i型半導体
層ASの段差形状を乗り越えられないので、このi型半
導体層ASを乗り越えるために構成されている。すなわ
ち、第2導電膜d2は、厚く設けることでステップカバ
レッジ(段差被覆)を向上している。第2導電膜d2は
、厚く設けることができるので、ソース電極SDIの抵
抗値(ドレイン電極SD2や映像信号線DLについても
同様)の低減に大きく寄与している。第3導電膜d3は
、第2導電膜d2のi型半導体RASに起因する段差形
状を乗り越えることができないので、第2導電膜d2の
寸法を小さくすることで。 露出する第1導電膜d1に接続するように構成されてい
る。第1導電膜d1と第3導電膜d3とは、接着性が良
好であるばかりか、両者間の接続部の段差形状が小さい
ので、確実に接続することができる。 このように、薄膜トランジスタTPTのソース電極SD
Iを、少なくともi型半導体層ASに沿って設けられた
バリア層としての第1導電膜d1と、この第1導電膜d
1の上部に設けられ、第1導電膜d1に比べて比抵抗値
が小さく、かつ第1導電膜d】に比べて小さい寸法の第
2導電膜d2とで構成し、この第2導電膜d2から露出
する第1導電膜d1に透明画素電極ITOである第3導
電膜d3を接続することにより、薄膜トランジスタTP
Tと透明画素電極ITOとを確実に接続することができ
るので、断線に起因する点欠陥を低減することができる
。しかも、ソース電極SDIは、第1導電膜d1がバリ
ア効果を有するので、抵抗値の小さい第2導電膜d2(
AQ膜)を用いることができるので、抵抗値を低減する
ことができる。 ドレイン電極SD2は、映像信号線DLと一体に構成さ
れており、同一製造工程で設けられている。ドレイン電
極SD2は、映像信号線DLと交差する列方向に突出し
たL字形状で構成されている6すなわち、−画素内で複
数に分割された薄膜トランジスタTPTI〜TFT3の
それぞれのドレイン電極SD2は、同一の映像信号線D
Lに接続されている。 透明画素電極ITOは、各画素ごとに設けられており、
液晶表示部の画素電極の一方を構成する。 透明画素電極ITOは、−画素内で複数に分割された薄
膜トランジスタTPT1〜TFT3のそれぞれに対応し
て3つの透明画素電極(分割透明画素電極)ITOl、
IrO2およびIrO2に分割されている。透明画素電
極ITOIは、薄膜トランジスタTFTIのソース電極
SDIに接続されている。透明画素電極ITO2は、薄
膜トランジスタTPT2のソース電極SDIに接続され
ている。透明画素電極ITO3は、薄膜トランジスタT
FT3のソース電極SDIに接続されている。 透明画素電極IT0.1〜IT○3のそれぞれは、薄膜
トランジスタTPTI〜TFT3のそれぞれと同様に、
実質的に同一寸法で構成されている。 透明画素電極ITOI〜ITO3のそれぞれは、薄膜ト
ランジスタTPTI〜TFT3のそれぞれのi型半導体
層Asを一体に構成しである(分割されたそれぞれの薄
膜トランジスタTPTを一箇所に集中的に配置しである
)ので、L字形状で構成している。 このように、隣接する2本の走査信号線GLと隣接する
2本の映像信号I!DLとの交差領域内に配置された一
画素内で薄膜トランジスタTPTを複数の薄膜トランジ
スタTPTI〜TFT3に分割し、この複数に分割され
た薄膜トランジスタTPTI〜TFT3のそれぞれに複
数に分割した透明画素電極ITOI〜ITO3のそれぞ
れを接続することにより1画素の分割された一部分(例
えば、薄膜トランジスタTFTI)が点欠陥になるだけ
で、画素の全体としては点欠陥でなくなる(薄膜トラン
ジスタTFT2およびTFT3が点欠陥でない)ので、
画素全体としての点欠陥を低減することができる。 また、上記画素の分割された一部の点欠陥は、画素の全
体の面積に比べて小さい(この液晶表示装置の場合、画
素の3分の1の面積)ので、上記点欠陥を見にくくする
ことができる6、また、上記画素の分割された透明画素
電極IT01〜ITO3のそれぞれを実質的に同一寸法
で構成することにより1画素内の点欠陥の面積を均一に
することができる。 さらに、上記画素の分割された透明画素電極工TOI〜
IT○3のそれぞれを実質的に同一寸法で構成すること
により、透明画素電極ITOI〜ITO3のそれぞれと
上部透明ガラス基板5UB2の共通透明画素電極ITO
とで構成されるそれぞれの液晶容量(Cpix)と、こ
の透明画素電極ITOI〜ITO3のそれぞれに付加さ
れる透明画素電極ITOI〜ITO3とゲート電極GT
との重ね合わせで生じる重ね合わせ容量(Cgs)とを
均一にすることができる。すなわち、透明画素電極IT
OI〜ITO3のそれぞれは液晶容量および重ね合わせ
容量を均一にすることができるので、この重ね合わせ容
量に起因する液晶LCの液晶分子に印加されようとする
直流成分を均一とすることができ、この直流成分を相殺
する方法を採用した場合、各画素の液晶にかかる直流成
分のばらつきを小さくすることができる。 薄膜トランジスタTPTおよび透明画素電極ITO上に
は、保護膜PSVIが設けられている。 保護膜PSVIは、主に薄膜トランジスタTPTを湿気
等から保護するために設けられており、透明性が高く、
しかも耐湿性の良いものを使用する。 保護膜PSVIは、例えばプラズマCVD法で設けた酸
化珪素膜や窒化珪素膜で形成されており、5000〜1
1000人の膜厚(この液晶表示装置では8000人程
度0膜厚)で設ける。 薄膜トランジスタTFT上の保護膜PSVIの上部には
、外部光がチャネル形成領域として使用されるi型半導
体層ASに入射されないように、遮蔽膜LSが設けられ
ている。第2図に示すように、遮蔽膜LSは、点線で囲
まれた領域内に構成されている。遮蔽膜LSは、光に対
する遮蔽性が高い、例えばAQ膜やCr膜等で設けられ
ており、スパッタ法で1000人程度0膜厚に設ける。 従って、薄膜トランジスタTPTI〜TFT3の共通半
導体層ASは、上下にある遮光膜LSおよびゲート電極
GTによってサンドインチにされ、これによりi型半導
体層ASには外部の自然光やバックライト光が当たらな
くなる。遮光膜LSとゲート電極GTは半導体層ASよ
り寸法が太き目でほぼそれと相似形に設けられ、両者の
大きさはほぼ同じとされる(図では境界線が判るように
ゲート電極GTを遮光膜LSより小さ目に描いている)
。 なお、バックライトを上部透明ガラス基板5UB2側に
取り付け、下部透明ガラス基板5UBIを観察側(外部
露出側)とすることもでき、この場合は遮光膜LSはバ
ックライト光の、ゲート電極GTは自然光の遮光体とし
て働く。 薄膜トランジスタTPTは、ゲート電極GTに正のバイ
アスを印加すると、ソース−ドレイン間のチャネル抵抗
が小さくなり、バイアスを0にすると、チャネル抵抗は
大きくなるように構成されている。すなわち、薄膜トラ
ンジスタTPTは、透明画素電極ITOに印加される電
圧をゲート電極GTに印加するバイアスにより制御する
ように構成されている。 液晶LCは、下部透明ガラス基板5UBIと上部透明ガ
ラス基板5UB2との間に設けられた空間内で、液晶分
子の向きを設定する下部配向膜0RIIおよび上部配向
膜○RI2との間に封入されている。 下部配向膜0RIIは、下部透明ガラス基板5UBI側
の保護膜PSVIの上部に設けられる。 上部透明ガラス基板5UB2の内側(液晶側)の表面に
は、カラーフィルタFIL、保護膜PSv2、共通透明
画素電極(COM)ITOおよび上部配向膜○RI2が
順次積層して設けられている。 共通透明画素電極ITOは、下部透明ガラス基板5UB
I側に画素ごとに設けられた透明画素電極ITOに対向
し、隣接する他の共通透明画素電極ITOと一体に構成
されている。この共通透明画素電極ITOには、コモン
電圧V cowが印加されるように構成されている。コ
モン電圧Vcomは、映像信号1/1ADLに印加され
るロウレベルの駆動電圧V d winとハイレベルの
駆動電圧V d waxとの中間電位である。 カラーフィルタFILは、アクリル樹脂等の樹脂材料で
形成される染色基材に染料を着色して構成されている。 カラーフィルタFILは、画素に対向する位置に各画素
ごとに構成され、染め分けられている。すなわち、カラ
ーフィルタFILは、画素と同様に、隣接する2本の走
査信号線GLと隣接する2本の映像信号wADLとの交
差領域内に構成されている。各画素は、カラーフィルタ
FILの個々の所定の色フイルタ内において、複数に分
割されている。 カラーフィルタFILは、次のように設けることができ
る。まず、上部透明ガラス基板5UB2の表面に染色基
材を設け、フォトリソグラフィー技術で赤色フィルタ形
成領域以外の染色基材を除去する。この後、染色基材を
赤色染料で染め、固着処理を施し、赤色フィルタRを設
ける0次に、同様な工程を施すことによって、緑色フィ
ルタG、青色フィルタBを順次設ける。 このように、カラーフィルタFILの各色フィルタを各
画素と対向する交差領域内に設ける:とにより、カラー
フィルタFILの各色フイルタ間に、走査信号線GL、
映像信号@DLのそれぞれが存在するので、それらの存
在に相当する分、各画素とカラーフィルタFILの各色
フィルタとの位置合わせ余裕寸法を確保する(位置合わ
せマージンを大きくする)ことができる。さらに、カラ
ーフィルタFILの各色フィルタを設ける際に、異色フ
ィルタ間の位置合わせ余裕寸法を確保することができる
。 すなわち、この液晶表示装置では、隣接する2本の走査
信号線GLと隣接する2本の映像信号線DLとの交差領
域内に画素を構成し、この画素を複数に分割し、この画
素に対向する位置にカラーフィルタFILの各色フィル
タを設けることにより、上述の点欠陥を低減することが
できるとともに、各画素と各色フィルタとの位置合わせ
余裕寸法を確保することができる。 保護膜PSV2は、カラーフィルタFILを異なる色に
染め分けた染料が液晶LCに漏れることを防止するため
に設けられている。保護膜PSv2は1例えばアクリル
樹脂、エポキシ樹脂等の透明樹脂材料で形成されている
。 この液晶表示装置は、下部透明ガラス基板5UBl側の
それぞれの層と、上部透明ガラス基板5UB2側のそれ
ぞれの1とを別々に設け、その後、下部透明ガラス基板
5UBIと上部透明ガラス基板5UB2とを重ね合わせ
、両者間に液晶LCを封入することによって組み立てら
れる。 液晶表示部の各画素は、第4図に示すように、走査信号
A!GLが延在する方向と同一列方向に複数配置され、
画素列X工l x、、 x3. X4)・・・のそれぞ
れを構成している。各画素列X1.X、、X、。 X4.・・・のそれぞれの画素は、薄膜トランジスタT
FTI〜TFT3および透明画素電極ITO1〜ITO
3の配置位置を列単位において同一に構成している。す
なわち、画素列X1.x、、・・・のそれぞれの画素は
、薄膜トランジスタTPTI〜TFT3の配置位置を左
側、透明画素電極ITOI〜ITO3の配置位置を右側
に構成している。画素列X、、X、、・・・のそれぞれ
の行方向の次段の画素列X、、X4.・・・のそれぞれ
の画素は、画素列X工、X1.・・・のそれぞれの画素
を映像信号線DLに対して線対称で配置した画素で構成
されている。 すなわち、画素列X、、 X、、・・・のそれぞれの画
素は、薄膜トランジスタTPTI〜TFT3の配置位置
を右側、透明画素電極ITOI〜ITO3の配置位置を
左側に構成している。そして、画素列XztX4.・・
・のそれぞれの画素は、画素列X1゜Xl、・・・のそ
れぞれの画素に対し、列方向に半画素間隔移動させて(
ずらして)配置されている。 すなわち、画素列Xの各画素間隔を1.0 (1,0ピ
ツチ)とすると、次段の画素列Xは、各画素間隔を1.
0とし、前段の画素列Xに対して列方向に0.5画素間
隔(0,5ピツチ)ずれている、各画素間を行方向に延
在する映像信号線DLは、各画素列X間において、半画
素間隔分(0,5ピツチ分)列方向に延在するように構
成されている。 このように液晶表示部において、薄膜トランジスタTP
Tおよび透明画素電極ITOの配置位置が同一である画
素を列方向に複数配置して画素列Xを構成し、画素列X
の次段の画素列Xを、前段の画素列Xの画素を映像信号
線DLに対して線対称で配置した画素で構成し、次段の
画素列を前段の画素列に対して半画素間隔移動させて構
成することにより、第8図(画素とカラーフィルタとを
重ね合わせた状態における要部平面図)で示すように、
前段の画素列Xの所定の色フィルタが設けられた画素(
例えば、画素列X、の赤色フィルタRが設けられた画素
)と次段の画素列Xの同一色フィルタが設けられた画素
(例えば、画素列X4の赤色フィルタRが設けられた画
素)とを1.5画素間隔(1,5ピツチ)l隔すること
ができる。すなわち、前段の画素列Xの画素は、最も近
傍の次段の画素列の同一色フィルタが設けられた画素と
常時1.5画素間隔分離隔するように構成されており、
カラーフィルタFILはROBの三角形配置構造を構成
している。カラーフィルタFILのRGBの三角形配置
構造は、各色の混色を良くすることができるので、カラ
ー画像の解像度を向上することができる。 また、映像信号線DLは、各画素列X間において、半画
素間隔分しか列方向に延在しないので、隣接する映像信
号線DLと交差しなくなる。従って、映像信号線DLの
引き回しを無くシ、その占有面積を低減することができ
、また、映像信号線DLの迂回を無くシ、多層配線構造
を廃止することができる。 この液晶表示部の構成を回路的に示すと、第9図(液晶
表示部の等価回路図)に示すようになる。 第9図に示すXiG、Xi+IG、・・・は、緑色フィ
ルタGが設けられる画素に接続された映像信号線DLで
ある。 X i B 、 X i + I B 、−・
は、青色フィルタBが設けられる画素に接続された映像
信号線DLである。Xi+IR,Xi+2R,・・・は
。 赤色フィルタRが設けられる画素に接続された映像信号
線DLである。これらの映像信号線DLは。 映像信号駆動回路で選択される。Yiは第4図および第
8図に示す画素列X、を選択する走査信号線GLである
。同様に、Yi+1.Yi+2.・・・のそれぞれは1
画素列X、、 X、、・・・のそれぞれを選択する走査
信号線GLである。これらの走査信号線GLは、垂直走
査回路に接続されている。 第3図の中央部は一画素部分の断面を示しているが、左
側は下部透明ガラス基板5UBIおよび上部透明ガラス
基板5UB2の左側縁部分で外部引出配線の存在する部
分の断面を示している。右側は、透明ガラス基板5UB
Iおよび5UB2の左側縁部分で外部引出配線の存在し
ない部分の断面を示している。 第3図の左側、右側のそれぞれに示すシール材SLは、
液晶LCを封止するように構成されており、液晶封入口
(図示していない)を除く透明ガラス基板5UBIおよ
び5UB2の総周囲全体に沿って設けられている。シー
ル材SLは、例えばエポキシ樹脂で形成されている。 上部透明ガラス基板5UB2側の共通透明画素電極IT
Oは、少なくとも一箇所において、銀ペースト材SIL
によって、下部透明ガラス基板5UBl側に設けられた
外部引出配線に接続されている。この外部引出配線は、
上述したゲート電極GT、ソース電極SD1.ドレイン
電極SD2のそれぞれと同一製造工程で設けられる。 配向膜0RIIおよび0RI2.透明画素電極ITO1
共通透明画素電極ITO1保護膜psv1およびPSV
2、絶縁膜GIのそれぞれの層は。 シール材SLの内側に設けられる。偏光板POLは、下
部透明ガラス基板5UBI、上部透明ガラス基板5UB
2のそれぞれの外側の表面に設けられている。 第10図は、別の構成の液晶表示装置の液晶表示部の一
画素を示す平面図(本実施例の断面図は第3図と同じで
ある)、第11図は第3図のA−A切断線で切った部分
の断面図、第12図は第10図に示す画素を複数配置し
た液晶表示部の要部平面図、第13図〜第15図は第1
0図に示す画素の所定の製造工程における要部平面図、
第16図は第12図に示す画素とカラーフィルタとを重
ね合わせた状態における要部平面図である。 この液晶表示装置においては、液晶表示部の各画素の開
口率を向上することができるとともに、液晶にかかる直
流成分を小さくし、液晶表示部の点欠陥を低減し、かつ
黒むらを低減することができる。 この液晶表示装置は、第10図に示すように、液晶表示
部の各画素内のi型半導体層ASが薄膜トランジスタT
FTI〜TFT3ごとに分割して構成されている。すな
わち、−画素内で複数に分割された薄膜トランジスタT
PTI〜TFT3のそれぞれは、独立したi型半導体層
ASの島領域で構成されている。 また、薄膜トランジスタTPTI〜TFT3のそれぞれ
に接続される透明画素電極ITOI〜ITO3のそれぞ
れは、薄膜トランジスタTPT 1〜TFT3と接続さ
れる辺と反対側の辺において、行方向の次段の走査信号
線OLと重ね合わされている。この重ね合わせは、透明
画素電極ITOI〜ITO3のそれぞれを一方の電極と
し、次段の走査信号IIAGLを他方の電極とする保持
容量素子(静電容量素子) Caddを構成する。この
保持容量素子Caddの誘電体膜は、薄膜トランジスタ
TPTのゲート絶縁膜として使用される絶縁膜GIと同
一層で構成されている。 ゲート電極GTは、第2図等に示した液晶表示装置と同
様、i型半導体層ASより太き目に設けられるが、この
液晶表示装置では薄膜トランジスタTPTI〜TFT3
が独立したi型半導体層ASごとに設けられているため
、各薄膜トランジスタTPTごとに太き目のパターンが
設けられている。 また、上部透明ガラス基板5UB2の走査信号線GL、
映像信号線DL、薄膜トランジスタTPTに対応する部
分にブラックマトリックスパターンBMが設けられてい
るから、画素の輪郭が明瞭になるので、コントラストが
向上するとともに、外部の自然光が薄膜トランジスタT
PTに当たるのを防止することができる。 第10図に示される画素の等価回路を第17図に示す、
第17図において、上述と同様に、Cgsは薄膜トラン
ジスタTPTのゲート電極GTおよびソース電極SDl
で形成される重ね合わせ容量である6重ね合わせ容量C
gsの誘電体膜は絶縁膜GIである。l Cpixは透
明画素電極ITO(p r x)および共通透明画素電
極ITO(C0M)間で形成される液晶容量である。液
晶容量Cpixの誘電体膜は液晶LC1保護膜PSV1
および配向膜0RII、0RI2である。なお、VLc
は中点電位である。 保持容量素子Caddは、薄膜トランジスタTPTがス
イッチングするとき、中点電位(画素電極電位)vlc
に対するゲート電位変化ΔVgの影響を低減するように
働く。この様子を式で表すと次式となる。 Δ V lc = ((Cgs/(Cgs+Cadd+
Cpix))X ΔV。 ここで、ΔVlcはΔVgによる中点電位の変化分を表
わす、この変化分ΔVlcは液晶に加わる直流成分の原
因となるが、保持容量素子Caddの保持容量を大きく
すればする程、その値を小さくすることができる。また
、保持容量素子Caddは放電時間を長くする作用もあ
り、薄膜トランジスタTPTがオフした後の映像情報を
長く蓄積する。液晶LCに印加される直流成分の低減は
、液晶LCの寿命を向上し、液晶表示画面の切り替え時
に前の画像が残るいわゆる焼き付きを低減することがで
きる。 上述したように、ゲート電極GTは半導体層ASを完全
に覆うように大きく設けられている分。 ソース・ドレイン電極SDI、Sn2とのオーバラップ
面積が増え、従って、寄生容量Cgsが大きくなり中点
電位vlcはゲート(走査)信号Vgの影響を受は易く
なるという逆効果が生じる。しかし、保持容量素子Ca
ddを設けることによりこのデメリットも解消すること
ができる。 また、2本の走査信号線GLと2本の映像信号線DLと
の交差領域内に画素を有する液晶表示装置において、上
記2本の走査信号線GLのうちの一方の走査信号線GL
で選択される画素の薄膜トランジスタTPTを複数に分
割し、この分割された薄膜トランジスタTPTI〜TF
T3のそれぞれに透明画素電極ITOを複数に分割した
ITO1〜ITO3をそれぞれ接続し、この分割された
透明画素電極ITOI〜ITO3のそれぞれにこの画素
電極ITOを一方の電極とし、上記2本の走査信号線G
Lのうちの他方の走査信号線GLを容量電極線として用
いて他方の電極とする保持容量素子Caddを構成する
ことにより、上述のように、画素の分割された一部分が
点欠陥になるだけで、画素の全体としては点欠陥でなく
なるので、画素の点欠陥を低減することができるととも
に、保持容量素子Caddで液晶LCに加わる直流成分
を低減することができるので、液晶LCの寿命を向上す
ることができる。特に、画素を分割することにより、薄
膜トランジスタTPTのゲート電極GTとソース電極S
DIまたはドレイン電極SD2との短絡に起因する点欠
陥を低減することができるとともに、透明画素電極IT
OI〜ITO3のそれぞれと保持容量素子Caddの他
方の電極(容量電極線)との短絡に起因する点欠陥を低
減することができる。後者側の点欠陥はこの液晶表示装
置の場合、3分の1になる。この結果、上記画素の分割
された一部の点欠陥は、画素の全体の面積に比べて小さ
いので、上記点欠陥を見にくくすることができる。 保持容量素子Caddの保持容量は、画素の書き込み特
性から、液晶容量Cpixに対して4〜8倍(4・Cp
ix(Cadd< 8 ・Cpix) 、重ね合わせ容
量Cgsに対して8〜32倍(8・Cgs<Cadd<
32・Cgs)程度の値に設定する。 また、走査信号線GLを第1導電膜(Cr膜)glに第
2導電膜(AJ膜)g2を重ね合わせた複合膜で構成し
、保持容量素子Caddの他方の電極、すなわち容量電
極線の分岐された部分を上記複合膜のうちの一層の第1
導電膜g1からなる単層膜で構成することにより、走査
信号線GLの抵抗値を低減し、書き込み特性を向上する
ことができるとともに、保持容量素子Caddの他方の
電極に基づく段差部に沿って確実に保持容量素子Cad
dの一方の電極(透明画素電極ITO)を絶縁膜GI上
に接着させることができるので、保持容量素子Cadd
の一方の電極の断線を低減することができる。 また、保持容量素子Caddの他方の電極を単層の第1
導電膜g1で構成し、AQ膜である第2導電膜g2を構
成しないことにより、AQ膜のヒロックによる保持容量
素子Caddの他方の電極と一方の電極との短絡を防止
することができる。 保持容量素子Caddを構成するために重ね合わされる
透明画素電極ITOI〜ITO3のそれぞれと容量電極
線の分岐された部分との間の一部には、ソース電極SD
Iと同様に、分岐された部分の段差形状を乗り越える際
に透明画素電極ITOが断線しないように、第1導電膜
d1および第2導電膜d2で構成された島領域が設けら
れている。 この島領域は、透明画素電極ITOの面積(開口率)を
低下しないように、できる限り小さく構成する。 このように、保持容量素子Caddの一方の電極とその
誘電体膜として使用される絶縁膜GIとの間に、第1導
電膜d1とその上に設けられた第1導電膜d1に比べて
比抵抗値が小さく、かつ寸法が小さい第2導電膜d2と
で設けられた下地層を構成し、上記一方の電極(第3導
電膜d3)を上記下地層の第2導電膜d2から露出する
第1導電膜d1に接続することにより、保持容量素子C
addの他方の電極に基づく段差部に沿って確実に保持
容量素子Caddの一方の電極を接着させることができ
るので、保持容量素子Caddの一方の電極の断線を低
減することができる。 画素の透明画素電極ITOに保持容量素子Caddを設
けた液晶表示装置の液晶表示部は、第19図(液晶表示
部を示す等価回路図)に示すように構成されている。液
晶表示部は1画素、走査信号線GLおよび映像信号線D
Lを含む単位基本パターンの繰り返しで構成されている
。容量電極線として使用される最終段の走査信号線GL
(または初段の走査信号線GL)は、第19図に示すよ
うに、共通透明画素電極(Vcom) I T Oに接
続される。共通透明画素電極IT○は、第3図に示すよ
うに、液晶表示装置の周縁部において銀ペースト材SL
によって外部引出配線に接続されている。 しかも、この外部引出配線の一部の導電層(glおよび
g2)は走査信号線GLと同一製造工程で構成されてい
る。この結果、最終段の走査信号線GL(容量電極線)
は、共通透明画素電極IT○に簡単に接続することがで
きる。 このように、容量電極線の最終段を画素の共通透明画素
電極(Vcom) I T Oに接続することにより、
最終段の容量電極線は外部引出配線の一部の導電層と一
体に構成することができ、しかも共通透明画素電極IT
Oはこの外部引出配線に接続されているので、簡単な構
成で最終段の容量電極線を共通透明画素電極ITOに接
続することができる。 また、液晶表示装置は、特願昭62−95125号に記
載される直流相殺方式(DCキャンセル方式)に基づき
、第18図(タイムチャート)に示すように、走査信号
線DLの駆動電圧を制御することによって、さらに液晶
LCに加わる直流成分を低減することができる。第18
図において、Viは任意の走査信号線GLの駆動電圧、
Vi+1はその次段の走査信号線GLの駆動電圧である
。 Veeは走査信号線GLに印加されるロウレベルの駆動
電圧Vdm1n、Vddは走査信号線GLに印加される
ハイレベルの駆動電圧V d waxである。 各時刻1=11〜t4における中点電位’V1c (第
17図参照)の電圧変化分ΔV工〜Δv4は1画素の合
計の容量(Cgs十Cpix+ Cadd)をCとする
と、次式のようになる。 ΔV z = −(Cgs/ C)・V 2ΔV2=+
(Cgs/C)(V1+V2)−(Cadd/C)・V
2 ΔV 3 = −(Cgs/ C)・V 1+(Cad
d/C)(V 1 +V 2)Δv4=−(Cadd/
C)・vl ここで、走査信号線GLに印加される駆動電圧が充分で
あれば(下記
タ(TPT)と画素電極とを画素の一構成要素とするア
クティブ・マトリックス方式の液晶表示装置に適用して
有効な技術に関するものである。 〔従来の技術〕 アクティブ・マトリックス方式のカラー液晶表示装置は
、マトリックス状に複数の画素が配置された液晶表示部
(液晶表示パネル)を有している。 液晶表示部の各画素は、隣接する2本の走査信号線(ゲ
ート信号線または水平信号線とも称す)と隣接する2本
の映像信号線(ドレイン信号線または垂直信号線とも称
す)との交差領域内に配置されている。走査信号線は、
列方向(水平方向)に延在し、行方向(垂直方向)に複
数本配置されている。一方、映像信号線は、走査信号線
と交差する行方向に延在し、列方向に複数本配置されて
いる。 液晶表示部(液晶デイスプレィ)は、第1の透明ガラス
基板(下部透明ガラス基板)上に薄膜トランジスタおよ
び透明画素電極、薄膜トランジスタの保護膜、液晶分子
の向きを設定するための配向膜が順次設けられた第1の
基板(下部基板)と、第2の透明ガラス基板(上部透明
ガラス基板)上に遮光膜(ブラックマトリックス)、カ
ラーフィルタ、カラーフィルタの保護膜、共通透明画素
電極、配向膜が順次設けられた第2の基板(上部基板)
と、開基板の各配向膜の間に封入された液晶と、該液晶
のシール材とによって構成されている。 液晶表示部は、上記第1の基板と、上記第2の基板とを
別々に作製し、両基板の互いの配向膜が向き合うように
、開基板間に複数個の球状あるいは円筒状等のスペーサ
材を介在させることにより所定の間隔を置いて重ね合わ
せ、開基板間に液晶封入口から液晶を封入し、液晶封入
口を除く第1および第2の基板の縁周囲全体に沿って設
けられるシール材によって封止することによって組み立
てられる。なお、第1の基板側あるいは第2の基板側は
バックライトが配置される。バックライトが配置された
基板側と反対側の基板が表示画面となる。 上記のように、画素は、主として、液晶、この液晶を介
在させて配置された透明画素電極および共通透明画素電
極、薄膜トランジスタ、カラーフィルタで構成されてい
る。透明画素電極、薄膜トランジスタ、カラーフィルタ
のそれぞれは、画素ごとに設けられている。また、薄膜
トランジスタのソース電極、ドレイン電極のうち一方の
電極は。 透明画素電極に接続され、もう一方の電極は、映像信号
線に接続され、かつ、ゲート電極は、走査信号線に接続
されている。カラーフィルタは、アクリル樹脂等の樹脂
材料で構成される染色基材に染料を着色して構成され、
画素に対向する位置に各画素毎に構成され、染め分けら
れている。すなわち、カラーフィルタは、画素と同様に
、隣接する2本の走査信号線と隣接する2本の映像信号
線との交差領域内に構成されている。 また、第2の透明ガラス基板側からの薄膜トランジスタ
に対する遮光のために、走査信号線、映像信号線、薄膜
トランジスタに対応する部分(異色のカラーフィルタど
うしの間の部分)の第2の透明ガラス基板上に1例えば
、クロム(Or)等の金属や黒インキ等の黒色有機膜等
から成る遮光膜(ブラックマトリックス)が設けられて
いる。 これにより第2の透明ガラス基板側からの外部の自然光
(第2の基板側にバックライトを配置した場合は、バッ
クライトの光)が薄膜トランジスタに当たるのを防止す
ることができると共に、バックライトの光をさえぎるこ
とにより画素の輪郭が明確になるので、液晶表示のコン
トラストを向上させることができる。 次に、従来の液晶表示装置の製造方法についてさらに詳
しく説明する。まず、第1の透明ガラス基板上に薄膜ト
ランジスタおよび透明画素電極、薄膜トランジスタの保
護膜、配向膜を順次設け、配向膜に配向処理を施して第
1の基板を作製する。 配向処理は、液晶分子の向きを設定するために所定の細
溝を多数設ける処理である。 また、これと別の工程で第2の基板を作製する。 まず、走査信号線、映像信号線、薄膜トランジスタに対
応する部分の第2の透明ガラス基板上にCrや黒色イン
ク等から成る遮光膜(ブラックマトリックス)を選択的
に設ける0次に、遮光膜を設けた第2の透明ガラス基板
上にカラーフィルタを選択的に設ける。カラーフィルタ
を設けるには。 まず、第2の透明ガラス基板の表面に例えばアクリル樹
脂のような感光性可染樹脂から成る染色基材を設け、フ
ォトリソグラフィー技術で、例えばまず赤色フィルタ形
成領域以外の染色基材を除去する。この後、染色基材を
赤色染料で染め、固着処理を施し、赤色フィルタを設け
る9次に、同様な工程を施すことによって、緑色フィル
タ、青色フィルタを順次設ける。次に、カラーフィルタ
が設けられた透明ガラス基板上にカラーフィルタの保護
膜を設ける0次に、保護膜上に共通透明画素電極を設け
、所定の形状にパターニング(パターン化)する。次に
、共通透明画素電極が設けられた透明ガラス基板上に配
向膜を設け、配向膜に配向処理を施す。 その後、第1の基板と第2の基板の互いの配向膜が向き
合うように、開基板間に介在されたスペーサ材により所
定の間隔を置いて両基板を重ね合わせ1両基板間に液晶
封入口から液晶を封入し、基板周囲のシール材により液
晶を封止する。 なお、TPTを使用したアクティブマトリックス液晶表
示装置は、例えば、「日経エレクトロニクス」211頁
(1984年9月10日 日経マグロウヒJし社発行)
により公知である。 〔発明が解決しようとする課題〕 遮光膜として黒インキを用いる場合、遮光効果を得るた
めには、黒インキの膜厚として2〜3μm必要である。 透明ガラス基板上に遮光膜を設けた後、カラーフィルタ
を設けるが、カラーフィルタと遮光膜との間に間隙が存
在するとその部分は遮光できず、また遮光膜が設けられ
ていない領域のみにカラーフィルタを設けることは難し
いので、カラーフィルタは遮光膜上に一都電なって設け
られる。従って、透明ガラス基板上にカラーフィルタを
設けた状態においては、基板表面が平坦ではなく、遮光
膜とカラーフィルタの重なった部分の厚さが厚くなって
いる。基板表面が平坦でないと、もう一方の基板(下部
透明ガラス基板)と重ねて組み合わせるとき、周基板間
のギャップを制御するのが難しい、基板間ギャップが変
わると(一定でないと)、画素のスイッチング素子であ
る薄膜トランジスタのしきい値電圧、応答速度。 駆動電圧等の特性が変わってしまい、製品の信頼性が低
下し、歩留りが低下する問題がある。また。 基板間で所定のギャップを開けるために周基板間には例
えば球状の複数個のスペーサが介在されている。このス
ペーサを設けるには、両基板を重ね合わせる前に一方の
基板面上(一番表面にある配向膜上)にスペーサを分散
させて設けるので、所定の位置に設けることができない
、従って、スペーサが遮光膜とカラーフィルタの重なっ
た厚さの厚い箇所に配置された場合は、その箇所だけ基
板間ギャップが広くなる。このように局部的に基板間ギ
ャップが異なると、基板間に封止された液晶の屈折率が
局部的に変わり、表示画面上には色むらとなって現われ
る。このように透明ガラス基板上に遮光膜を設けた状態
が平坦でないと上記のような問題が生じる。 また、遮光膜としてCr等の金属膜を用いる場合は、黒
色インキより厚さが薄くてよいので、上記の問題につい
ては黒色インキより深刻ではない。 しかし、Cr膜を設けるには、真空蒸着法、スパッタ法
等を用いて膜を設けた後、フォトリソグラフィー法を用
いてパターニングして遮光膜を設ける。この方法では長
時間を要するため、生産性が悪く、製造コストが高くな
る問題がある。 本発明の目的は、透明ガラス基板上に遮光膜を平坦に設
けることにより遮光膜の膜厚の影響を低減でき、基板間
ギャップの制御が容易で、基板間ギャップを一定にする
ことができ、特性の変動や色むらをなくし、製品の信頼
性、歩留り、画質を向上させることができる液晶表示装
置を提供することにある。 本発明の他の目的は、遮光膜を安価に設け、製造コスト
を低下し、かつ、生産性を向上することにある。 〔課題を解決するための手段〕 上記の目的を達成するために、本発明の液晶表示装置は
、遮光膜が設けられる部分の透明ガラス基板表面に選択
的に凹部が設けられ、この凹部に遮光膜が平坦に埋め込
まれ、この遮光膜が設けられていない透明ガラス基板上
にカラーフィルタが設けられている(遮光膜とカラーフ
ィルタとは通常、−都電なって設けられる)、すなわち
、透明ガラス基板を予め遮光膜を設けるパターン形状に
エツチングし、エツチングした凹部に遮光膜を平坦に埋
め込む。 第1図は1本発明の液晶表示装置の構成の一例を示す概
略断面図である。図において、1は透明ガラス基板、2
は透明ガラス基板1の表面に選択的に設けられた凹部5
3は凹部2に平坦に埋め込まれた遮光膜、4は遮光膜3
が設けられていない透明ガラス基板1上に設けられたカ
ラーフィルタ(Rは赤色フィルタ、Gは緑色フィルタ、
Bは青色フィルタ)、5はスペーサ、6は透明ガラス基
板1とスペーサ5を介して重ね合わされた第2の透明ガ
ラス基板、7は透明ガラス基板1と6の間に封止された
液晶である。なお、この図では、配向膜1画素電極等は
図示省略しである。 〔作用〕 本発明では、透明ガラス基板を予めエツチングして設け
た凹部に遮光膜を平坦に埋め込む構成なので、透明ガラ
ス基板に遮光膜を設けた状態の基板表面は平坦であり、
カラーフィルタも平坦に設けることができる、従って、
基板間ギャップの制御が容易にでき、基板間ギャップを
一定にすることができるので、しきい値電圧等の特性の
変動を防止することができ、製品の信頼性1歩留りを向
上することができる。また、局部的に基板ギャップの広
い部分が生じるのを防止することができるので、液晶の
局部的な屈折率の変化に起因する色むらを防止すること
ができ、画質を向上させることができる。 また、本発明では、遮光膜として製造コストの安い黒イ
ンキを用いることができるので、製造コストを低減し、
生産性を向上することができる(Cr等の金属等の他の
材料膜を用いてもよい)。 〔実施例〕 第2図は1本発明を適用すべきアクティブ・マトリック
ス方式のカラー液晶表示装置の液晶表示部の一画素の要
部平面図、第3図は、第2図の■−■切断線で切った部
分とシール部周辺部の断面図、第4図は、第2図に示す
画素を複数配置した液晶表示部の要部平面図である。 第3図に示すように、下部透明ガラス基板5UB1の内
側(液晶側)の表面上に、薄膜トランジスタTPTおよ
び透明画素電極ITOが設けられている。下部透明ガラ
ス基板5UBIは例えば1.1mm程度の厚さで構成さ
れている。 本実施例の液晶表示装置は、第3図に示すように、遮光
膜が設けられる部分の透明ガラス基板5UB2の表面に
選択的に凹部が設けられ、この凹部に遮光膜BMが平坦
に埋め込まれ、この遮光膜BMが設けられていない透明
ガラス基板5UBZ上にカラーフィルタFILが設けら
れている。 本実施例では、透明ガラス基板5UB2に遮光膜BMを
設けた状態の基板表面は平坦であり、カラーフィルタF
ILも平坦に設けることができる。 従って、基板間ギャップの制御が容易にでき、基板間ギ
ャップを一定にすることができるので、薄膜トランジス
タTPTのしきい値電圧等の特性の変動を防止すること
ができ、製品の信頼性、歩留りを向上することができる
。また、局部的に基板ギャップの広い部分我生じるのを
防止することができるので、液晶LCの局部的な屈折率
の変化に起因する色むらを防止することができ、画質を
向上させることができる。 また、遮光膜BMとして製造コストの安い黒インキを用
いることができるので、製造コストを低減し、生産性を
向上することができる。 次に、第1図を用いて本実施例の液晶表示装置の製造方
法の要部について説明する。 まず、透明ガラス基板1上にフォトレジストを塗布し、
遮光膜のパターンを有するマスクを介して露光した後、
現像する。次に、フッ酸と硝酸を混合したエツチング液
に当該基板を浸漬し5透明ガラス基板1上のフォトレジ
スト膜の遮光膜を設けるべきパターン部分を所定の時間
エツチングして凹部2を設ける0次に、フォトレジスト
膜を剥離する0次に、黒色インキをロールコーティング
法等により基板全面に塗布する。黒色インキとしては、
例えばエポキシ、アクリル等の熱硬化型樹脂に黒色顔料
や染料を混合したものを用いる。次に、透明ガラス基板
1と平行に設けたスキージ(ゴム板)により不用の黒色
インキを取り除いた後、有機溶剤を染み込ませたスポン
ジを具備するローラで透明ガラス基板1の表面を拭き取
り、凹部2内のみに黒色インキを設ける。次に、黒色イ
ンキを熱硬化させ、遮光膜3を設ける。次に、透明ガラ
ス基板1上にカラーフィルタ4、カラーフィルタの保護
膜、画素電極、および配向膜の形成、ならびに配向膜の
配向処理を行ない、スペーサ5を介して他方の透明ガラ
ス基板6と接着し、周基板間に液晶7を充填して液晶表
示部を完成する。 これらの工程およびその他の工程については既に述べた
ので、説明を省略する。 なお、本実施例においては、第3図以外の図面において
ブラックマトリックスBMを図示省略しである。 第4図に示すように、各画素は、隣接する2本の走査信
号線(ゲート信号線または水平信号線)GLと、隣接す
る2本の映像信号線(ドレイン信号線または垂直信号線
)DLとの交差領域内(4本の信号線で囲まれた領域内
)に配置されている。 走査信号線GLは、第2図および第4図に示すように、
列方向(水平方向)に延在し、かつ行方向(垂直方向)
に複数本配置されている。映像信号線DLは1行方向に
延在し、かつ列方向に複数本配置されている。 各画素の薄膜トランジスタTPTは、画素内において3
つ(複数)に分割され、薄膜トランジスタ(分割薄膜ト
ランジスタ)TFTI、TPT2およびTPT3で構成
されている。薄膜トランジスタTPTI〜TFT3のそ
れぞれは、実質的に同一寸法(チャネル長とチャネル幅
が同じ)で構成されている。この分割された薄膜トラン
ジスタTPTI〜TFT3のそれぞれは、主にゲート電
極GT、絶縁膜GI、i型(真性、1ntrinsic
。 導電型決定不純物がドープされていない)シリコン(S
i)からなるi型半導体層AS、1対のソース電極SD
Iおよびドレイン電極SD2で構成されている。なお、
ソース・ドレインは本来その間のバイアス極性によって
決まり、この液晶表示装置の回路ではその極性は動作中
反転するので、ソース・ドレインは動作中入れ替わると
理解されたい、しかし、以下の説明でも、便宜上一方の
SDIをソース、他方のSn2をドレインと固定して表
現する。 ゲート電極GTは、第5図(所定の製造工程における画
素の要部平面図)に詳細に示すように、走査信号線OL
から行方向(第2図および第5図において下方向)に突
出する丁字形状で構成されている(丁字形状に分岐され
ている)、すなわち、ゲート電極GTは、映像信号線D
Lと実質的に平行に延在するように構成されている。ゲ
ート電極GTは、薄膜トランジスタTPTI〜TFT3
のそれぞれの形成領域まで突出するように構成されてい
る。薄膜トランジスタTPTI〜TFT3のそれぞれの
ゲート電極GTは、一体に(共通ゲート電極として)構
成されており、同一の走査信号線OLに連続して設けら
れている。ゲート電極GTは、薄膜トランジスタTPT
の形成領域において大きい段差をなるべく作らないよう
に、単層の第1導電膜g1で構成する。第1導電膜g1
は、例えばスパッタ法で設けられたクロム(Cr)膜を
用い、1100人程度0膜厚で設ける。 このゲート電極GTは、第2図、第3図および第6図(
所定の製造工程における画素の要部平面図)に示されて
いるように、i型半導体層ASを(下方から見て)完全
に覆うようにそれより太き目に設けられる。従って、下
部透明ガラス基板5UBIの下方に蛍光燈等のバックラ
イトを取り付けた場合、この不透明のCrゲート電極G
Tが影となって、半導体JilASにはバックライト光
が当たらず、上述した光照射による導電現象すなわちT
PTのオフ特性劣化は起きにくくなる。なお、ゲート電
極GTの本来の大きさは、ソース・ドレイン電極SDI
、802間をまたがるに最低限必要な(ゲート電極とソ
ース・ドレイン電極の位置合わせ余裕分も含めた)幅を
持ち、チャネル@Wを決めるその奥行き長さはソース・
ドレイン電極間の距離(チャネル長)Lとの比、すなわ
ち相互コンダクタンスgmを決定するファクタW/Lを
いくつにするかによって決められる。 この液晶表示装置におけるゲート電極の大きさはもちろ
ん、上述した本来の大きさよりも大きくされる。 ゲート電極GTのゲートおよび遮光の機能面からだけで
考えれば、ゲート電極GTおよびその配線GLは単一の
層で一体に設けてもよく、この場合不透明導電材料とし
てSiを含有させたアルミニウム(AM)、純AQ、お
よびパラジウム(Pd)を含有させたへΩ等を選ぶこと
ができる。 ここでは走査信号線GLは、第1導電膜g1およびその
上部に設けられた第2導電膜g2からなる複合膜で構成
されている。この走査信号線GLの第1導電膜g1は、
ゲート電極GTの第1導電膜g1と同一製造工程で設け
られ、かつ一体に構成されている。第2導電膜g2は例
えばスパッタ法で設けられたAM膜を用い、900〜4
000人程度の膜厚で設ける。第2導電膜g2は、走査
信号線OLの抵抗値を低減し、信号伝達速度の高速化(
画素の情報の書き込み特性)を図ることができるように
構成されている。 また、走査信号線OLは、第1導電膜g1の帽に比べて
第2導電膜g2の幅を小さく構成している。すなわち、
走査信号線GLは、その側壁の段差形状をゆるやかにす
ることができるので、その上層に設ける絶縁膜GIの表
面を平担化できるように構成されている。 絶縁膜GIは、薄膜トランジスタTPTI〜TFT3の
それぞれのゲート絶縁膜として使用される。絶縁膜GI
は、ゲート電極GTおよび走査信号線GLの上層に設け
られている。絶縁膜GIは例えばプラズマCVD法で設
けられた窒化珪素膜を用い、3500人程度0膜厚で設
ける。上述のように、絶縁膜GIの表面は、薄膜トラン
ジスタTPT1〜TFT3のそれぞれの形成領域および
走査信号線GLの形成領域において平担化されている。 i型半導体層Asは、第6図(所定の製造工程における
要部平面図)で詳細に示すように、複数に分割された薄
膜トランジスタTPT1〜TFT3のそれぞれのチャネ
ル形成領域として使用される。複数に分割された薄膜ト
ランジスタTPTI〜TFT3のそれぞれのi型半導体
層ASは、画素内において一体に構成されている。すな
わち、画素の分割された複数の薄膜トランジスタTPT
1〜TFT3のそれぞれは、1つの(共通の)j型半導
体層Asの島領域で構成されている。i型半導体層AS
は、非晶質シリコン膜または多結晶シリコン膜で形成し
、約20000程度の膜厚で設ける。 このi型半導体層ASは、供給ガスの成分を変えてSi
、N4からなる絶縁膜GIの形成に連続して、同じプラ
ズマCVD装置で、しかも下部透明ガラス基板5UB1
はその装置から外部に取り出すことなく設けられる。ま
た、オーミックコンタクト用のPをドープしたN+型半
導体層do(第3図)も同様に連続して約300人の厚
さに設けられる。その後、下部透明ガラス基板5UBI
はCVD装置から外に取り出され、フォトリソグラフィ
ー(写真処理)技術により、N+型半導体層dOおよび
i型半導体層ASは第2図、第3図および第6図に示す
ように独立した島状にバターニングされる。 このように、一画素において複数に分割された薄膜トラ
ンジスタTPTI〜TFT3のそれぞれのi型半導体層
ASを一体に構成することにより、薄膜トランジスタT
FTI−TFT3のそれぞれに共通のドレイン電極SD
2がi型半導体層AS(実際には、第1導電膜g1の膜
厚、N1型半導体層dOの膜厚およびi型半導体層AS
の膜厚とを加算した膜厚に相当する段差)をドレイン電
極SD2側からi型半導体層AS側に向って1度乗り越
えるだけなので、ドレイン電極SD2が断線する確率が
低くなり1点欠陥の発生する確率を低減することができ
る。すなわち、この液晶表示装置では、ドレイン電極S
D2がi型半導体層ASの段差を乗り越える際に画素内
に発生する点欠陥を3分の1に低減できる。 また、この液晶表示装置のレイアウトと異なるが、i型
半導体層ASを映像信号線DLが直接乗り越え、この乗
り越えた部分の映像信号mDLをドレイン電極SD2と
して構成する場合、映像信号線DL(ドレイン電極5D
2)がi型半導体層ASを乗り越える際の断線に起因す
る線欠陥の発生する確率を低減することができる。すな
わち、−画素内で複数に分割された薄膜トランジスタT
PTI〜TFT3のそれぞれのi型半導体層ASを一体
に構成することにより、映像信号線DL(ドレイン電極
5D2)がi型半導体層ASを1度だけしか乗り越えな
いためである(実際には、乗り始めと乗り終わりの2度
である)。 i型半導体層ASは、第2図、第6図および第7図(所
定の製造工程における画素の要部平面図)に詳細に示す
ように、走査信号線OLと映像信号線DLとの交差部(
クロスオーバ部)の両者間まで延在させて設けられてい
る。この延在させたi型半導体層ASは、交差部におけ
る走査信号aGLと映像信号線DLとの短絡を低減する
ように構成されている。 一画素内で複数に分割された薄膜トランジスタTPTI
〜TFT3のそれぞれのソース電極SDIと共通のドレ
イン電極SD2とは、第2図、第3図および第7図で詳
細に示すように、i型半導体層As上にそれぞれ離隔し
て設けられている。 ソース電極SDI、ドレイン電極SD2のそれぞれは、
回路のバイアス極性が変ると、動作上、ソースとドレイ
ンとが入れ替わるように構成されている。すなわち、薄
膜トランジスタTPTは、FET(電界効果トランジス
タ)と同様に双方向性である。 ソース電極SDI、ドレイン電極SD2のそれぞれは、
N+型半導体層doに接触する下層側から、第1導電膜
d1、第2導電膜d2.第3導電膜d3を順次重ね合わ
せて構成されている。ソース電極SD1の第1導電膜d
1、第2導電膜d2および第3導電膜d3は、ドレイン
電極SD2のそれぞれと同一製造工程で設けられる。 第1導電膜d1は、スパッタ法で設けたCr膜を用い、
500〜1000人の膜厚(この液晶表示装置では、6
00人程0の膜厚)で設ける。Cr膜は、膜厚を厚く設
けるとストレスが大きくなるので、2000人程度0膜
厚を越えない範囲で設けるs Cr膜は、N+型半導体
層dOとの接触が良好である。 Cr膜は、後述する第2導電膜d2のAQがN4′型半
導体層doに拡散することを防止する、所謂バリア層を
構成する。第1導電膜d1としては。 Cr膜の他に、高融点金属(Mo、Ti、Ta。 W)膜、高融点金属シリサイド(MoSi2、TiSi
、、TaSi、、WSi、)膜で設けてもよい。 第1導電膜d1をフォトリソグラフィー技術でパターニ
ングした後、同じフォトマスクを用いて、あるいは第1
導電膜d1をマスクとしてN+型半導体層doが除去さ
れる。すなわち、i型半導体層As上に残っていたN+
型半導体層doは第1導電膜d1以外の部分が自己整合
(セルファライン)で除去される。このとき、N+型半
導体層dOはその厚さ分はすべて除去されるようにエツ
チングされるのでi型半導体層ASも若干その表面部分
でエツチングされるが、その程度はエツチング時間で制
御すればよい。 その後、第2導電膜d2がAQをスパッタすることによ
り3000〜5500人の膜厚(この液晶表示装置では
、3500人程度0膜厚)に設けられる。AQ膜は、C
r膜に比べてストレスが小さく、厚い膜厚に設けること
が可能で、ソース電極SD1、ドレイン電極SD2およ
び映像信号線DLの抵抗値を低減するように構成されて
いる。すなわち、第2導電膜d2は、薄膜トランジスタ
TPTの動作速度の高速化および映像信号線DLの信号
伝達速度の高速化を図ることができるように構成されて
いる。従って、第2導電膜d2により、画素の書き込み
特性を向上することができる。第2導電膜d2としては
、AQ膜の他に、Siや銅(Cu)やPdを添加物とし
て含有させたAQ膜で設けてもよい。 第2導電膜d2がフォトリソグラフィー技術によりパタ
ーニングされた後、300〜2400人の膜厚(この液
晶表示装置では、1200人程度0膜厚)でスパッタ法
で設けられた透明導電膜(ITO:ネサ膜)によって、
第3導電膜d3が設けられる。 この第3導電膜d3は、ソース電極SD1.ドレイン電
極SD2および映像信号線DLを構成するとともに、透
明画素電極IT○を構成するようになっている。 ソース電極SDIおよびドレイン電極SD2の第1導電
膜d1は、第1導電膜d1と第2導電膜d2および第3
導電膜d3との間の製造工程においてマスク合わせずれ
が生じても、第2導電膜d2および第3導電膜d3に比
べて大きい寸法になるようにチャネルが設けられる側が
大きい寸法になるように構成されている(第1導電膜d
1〜第3導電膜d3のそれぞれのチャネル形成領域側が
オンザラインでもよい)。また、ソース電極SD1およ
びドレイン電極SD2の第1導電膜d1のそれぞれは、
薄膜トランジスタTPTのゲート長りを規定するように
構成されている。 このように、−画素内で複数に分割された薄膜トランジ
スタTPTI〜TFT3において、ソース電極SD1.
ドレイン電極SD2のそれぞれの第1導電膜d1のチ
ャネル形成領域側を第2導電膜d2および第3導電膜d
3に比べて大きい寸法で構成することにより、ソース電
極SDI、ドレイン電極SD2のそれぞれの第1導電膜
d1間の寸法で、薄膜トランジスタTPTのゲート長り
を規定することができる。第1導電膜d1間の離隔寸法
(ゲート長L)は、加工精度(パターニング精度)で規
定することができるので、薄膜トランジスタTPTI〜
TFT3のそれぞれのゲート長りを均一にすることがで
きる。 ソース電極SDIは、上述のように、透明画素電極IT
Oに接続されている。ソース電極SDIは、i型半導体
層ASの段差形状(第1導電膜g1の膜厚、N“型半導
体層doの膜厚およびi型半導体層ASの膜厚とを加算
した膜厚に相当する段差)に沿って構成されている。具
体的には、ソース電極SDIは、i型半導体層ASの段
差形状に沿って設けられた第1導電膜d1と、この第1
導電膜d1の上部にそれに比べて透明画素電極工Toと
接続される側を小さい寸法で設けた第2導電膜d2と、
この第2導電膜から露出する第1導電膜d1に接続され
た第3導電膜d3とで構成されている。ソース電極SD
Iの第1導電膜d1は、N+型半導体層doとの接着性
が良好であり、かつ主に第2導電膜d2からの拡散物に
対するバリア層として構成されている。ソース電極SD
Iの第2導電膜d2は、第1導電膜d1のCr膜がスト
レスの増大のため厚く設けることができず、i型半導体
層ASの段差形状を乗り越えられないので、このi型半
導体層ASを乗り越えるために構成されている。すなわ
ち、第2導電膜d2は、厚く設けることでステップカバ
レッジ(段差被覆)を向上している。第2導電膜d2は
、厚く設けることができるので、ソース電極SDIの抵
抗値(ドレイン電極SD2や映像信号線DLについても
同様)の低減に大きく寄与している。第3導電膜d3は
、第2導電膜d2のi型半導体RASに起因する段差形
状を乗り越えることができないので、第2導電膜d2の
寸法を小さくすることで。 露出する第1導電膜d1に接続するように構成されてい
る。第1導電膜d1と第3導電膜d3とは、接着性が良
好であるばかりか、両者間の接続部の段差形状が小さい
ので、確実に接続することができる。 このように、薄膜トランジスタTPTのソース電極SD
Iを、少なくともi型半導体層ASに沿って設けられた
バリア層としての第1導電膜d1と、この第1導電膜d
1の上部に設けられ、第1導電膜d1に比べて比抵抗値
が小さく、かつ第1導電膜d】に比べて小さい寸法の第
2導電膜d2とで構成し、この第2導電膜d2から露出
する第1導電膜d1に透明画素電極ITOである第3導
電膜d3を接続することにより、薄膜トランジスタTP
Tと透明画素電極ITOとを確実に接続することができ
るので、断線に起因する点欠陥を低減することができる
。しかも、ソース電極SDIは、第1導電膜d1がバリ
ア効果を有するので、抵抗値の小さい第2導電膜d2(
AQ膜)を用いることができるので、抵抗値を低減する
ことができる。 ドレイン電極SD2は、映像信号線DLと一体に構成さ
れており、同一製造工程で設けられている。ドレイン電
極SD2は、映像信号線DLと交差する列方向に突出し
たL字形状で構成されている6すなわち、−画素内で複
数に分割された薄膜トランジスタTPTI〜TFT3の
それぞれのドレイン電極SD2は、同一の映像信号線D
Lに接続されている。 透明画素電極ITOは、各画素ごとに設けられており、
液晶表示部の画素電極の一方を構成する。 透明画素電極ITOは、−画素内で複数に分割された薄
膜トランジスタTPT1〜TFT3のそれぞれに対応し
て3つの透明画素電極(分割透明画素電極)ITOl、
IrO2およびIrO2に分割されている。透明画素電
極ITOIは、薄膜トランジスタTFTIのソース電極
SDIに接続されている。透明画素電極ITO2は、薄
膜トランジスタTPT2のソース電極SDIに接続され
ている。透明画素電極ITO3は、薄膜トランジスタT
FT3のソース電極SDIに接続されている。 透明画素電極IT0.1〜IT○3のそれぞれは、薄膜
トランジスタTPTI〜TFT3のそれぞれと同様に、
実質的に同一寸法で構成されている。 透明画素電極ITOI〜ITO3のそれぞれは、薄膜ト
ランジスタTPTI〜TFT3のそれぞれのi型半導体
層Asを一体に構成しである(分割されたそれぞれの薄
膜トランジスタTPTを一箇所に集中的に配置しである
)ので、L字形状で構成している。 このように、隣接する2本の走査信号線GLと隣接する
2本の映像信号I!DLとの交差領域内に配置された一
画素内で薄膜トランジスタTPTを複数の薄膜トランジ
スタTPTI〜TFT3に分割し、この複数に分割され
た薄膜トランジスタTPTI〜TFT3のそれぞれに複
数に分割した透明画素電極ITOI〜ITO3のそれぞ
れを接続することにより1画素の分割された一部分(例
えば、薄膜トランジスタTFTI)が点欠陥になるだけ
で、画素の全体としては点欠陥でなくなる(薄膜トラン
ジスタTFT2およびTFT3が点欠陥でない)ので、
画素全体としての点欠陥を低減することができる。 また、上記画素の分割された一部の点欠陥は、画素の全
体の面積に比べて小さい(この液晶表示装置の場合、画
素の3分の1の面積)ので、上記点欠陥を見にくくする
ことができる6、また、上記画素の分割された透明画素
電極IT01〜ITO3のそれぞれを実質的に同一寸法
で構成することにより1画素内の点欠陥の面積を均一に
することができる。 さらに、上記画素の分割された透明画素電極工TOI〜
IT○3のそれぞれを実質的に同一寸法で構成すること
により、透明画素電極ITOI〜ITO3のそれぞれと
上部透明ガラス基板5UB2の共通透明画素電極ITO
とで構成されるそれぞれの液晶容量(Cpix)と、こ
の透明画素電極ITOI〜ITO3のそれぞれに付加さ
れる透明画素電極ITOI〜ITO3とゲート電極GT
との重ね合わせで生じる重ね合わせ容量(Cgs)とを
均一にすることができる。すなわち、透明画素電極IT
OI〜ITO3のそれぞれは液晶容量および重ね合わせ
容量を均一にすることができるので、この重ね合わせ容
量に起因する液晶LCの液晶分子に印加されようとする
直流成分を均一とすることができ、この直流成分を相殺
する方法を採用した場合、各画素の液晶にかかる直流成
分のばらつきを小さくすることができる。 薄膜トランジスタTPTおよび透明画素電極ITO上に
は、保護膜PSVIが設けられている。 保護膜PSVIは、主に薄膜トランジスタTPTを湿気
等から保護するために設けられており、透明性が高く、
しかも耐湿性の良いものを使用する。 保護膜PSVIは、例えばプラズマCVD法で設けた酸
化珪素膜や窒化珪素膜で形成されており、5000〜1
1000人の膜厚(この液晶表示装置では8000人程
度0膜厚)で設ける。 薄膜トランジスタTFT上の保護膜PSVIの上部には
、外部光がチャネル形成領域として使用されるi型半導
体層ASに入射されないように、遮蔽膜LSが設けられ
ている。第2図に示すように、遮蔽膜LSは、点線で囲
まれた領域内に構成されている。遮蔽膜LSは、光に対
する遮蔽性が高い、例えばAQ膜やCr膜等で設けられ
ており、スパッタ法で1000人程度0膜厚に設ける。 従って、薄膜トランジスタTPTI〜TFT3の共通半
導体層ASは、上下にある遮光膜LSおよびゲート電極
GTによってサンドインチにされ、これによりi型半導
体層ASには外部の自然光やバックライト光が当たらな
くなる。遮光膜LSとゲート電極GTは半導体層ASよ
り寸法が太き目でほぼそれと相似形に設けられ、両者の
大きさはほぼ同じとされる(図では境界線が判るように
ゲート電極GTを遮光膜LSより小さ目に描いている)
。 なお、バックライトを上部透明ガラス基板5UB2側に
取り付け、下部透明ガラス基板5UBIを観察側(外部
露出側)とすることもでき、この場合は遮光膜LSはバ
ックライト光の、ゲート電極GTは自然光の遮光体とし
て働く。 薄膜トランジスタTPTは、ゲート電極GTに正のバイ
アスを印加すると、ソース−ドレイン間のチャネル抵抗
が小さくなり、バイアスを0にすると、チャネル抵抗は
大きくなるように構成されている。すなわち、薄膜トラ
ンジスタTPTは、透明画素電極ITOに印加される電
圧をゲート電極GTに印加するバイアスにより制御する
ように構成されている。 液晶LCは、下部透明ガラス基板5UBIと上部透明ガ
ラス基板5UB2との間に設けられた空間内で、液晶分
子の向きを設定する下部配向膜0RIIおよび上部配向
膜○RI2との間に封入されている。 下部配向膜0RIIは、下部透明ガラス基板5UBI側
の保護膜PSVIの上部に設けられる。 上部透明ガラス基板5UB2の内側(液晶側)の表面に
は、カラーフィルタFIL、保護膜PSv2、共通透明
画素電極(COM)ITOおよび上部配向膜○RI2が
順次積層して設けられている。 共通透明画素電極ITOは、下部透明ガラス基板5UB
I側に画素ごとに設けられた透明画素電極ITOに対向
し、隣接する他の共通透明画素電極ITOと一体に構成
されている。この共通透明画素電極ITOには、コモン
電圧V cowが印加されるように構成されている。コ
モン電圧Vcomは、映像信号1/1ADLに印加され
るロウレベルの駆動電圧V d winとハイレベルの
駆動電圧V d waxとの中間電位である。 カラーフィルタFILは、アクリル樹脂等の樹脂材料で
形成される染色基材に染料を着色して構成されている。 カラーフィルタFILは、画素に対向する位置に各画素
ごとに構成され、染め分けられている。すなわち、カラ
ーフィルタFILは、画素と同様に、隣接する2本の走
査信号線GLと隣接する2本の映像信号wADLとの交
差領域内に構成されている。各画素は、カラーフィルタ
FILの個々の所定の色フイルタ内において、複数に分
割されている。 カラーフィルタFILは、次のように設けることができ
る。まず、上部透明ガラス基板5UB2の表面に染色基
材を設け、フォトリソグラフィー技術で赤色フィルタ形
成領域以外の染色基材を除去する。この後、染色基材を
赤色染料で染め、固着処理を施し、赤色フィルタRを設
ける0次に、同様な工程を施すことによって、緑色フィ
ルタG、青色フィルタBを順次設ける。 このように、カラーフィルタFILの各色フィルタを各
画素と対向する交差領域内に設ける:とにより、カラー
フィルタFILの各色フイルタ間に、走査信号線GL、
映像信号@DLのそれぞれが存在するので、それらの存
在に相当する分、各画素とカラーフィルタFILの各色
フィルタとの位置合わせ余裕寸法を確保する(位置合わ
せマージンを大きくする)ことができる。さらに、カラ
ーフィルタFILの各色フィルタを設ける際に、異色フ
ィルタ間の位置合わせ余裕寸法を確保することができる
。 すなわち、この液晶表示装置では、隣接する2本の走査
信号線GLと隣接する2本の映像信号線DLとの交差領
域内に画素を構成し、この画素を複数に分割し、この画
素に対向する位置にカラーフィルタFILの各色フィル
タを設けることにより、上述の点欠陥を低減することが
できるとともに、各画素と各色フィルタとの位置合わせ
余裕寸法を確保することができる。 保護膜PSV2は、カラーフィルタFILを異なる色に
染め分けた染料が液晶LCに漏れることを防止するため
に設けられている。保護膜PSv2は1例えばアクリル
樹脂、エポキシ樹脂等の透明樹脂材料で形成されている
。 この液晶表示装置は、下部透明ガラス基板5UBl側の
それぞれの層と、上部透明ガラス基板5UB2側のそれ
ぞれの1とを別々に設け、その後、下部透明ガラス基板
5UBIと上部透明ガラス基板5UB2とを重ね合わせ
、両者間に液晶LCを封入することによって組み立てら
れる。 液晶表示部の各画素は、第4図に示すように、走査信号
A!GLが延在する方向と同一列方向に複数配置され、
画素列X工l x、、 x3. X4)・・・のそれぞ
れを構成している。各画素列X1.X、、X、。 X4.・・・のそれぞれの画素は、薄膜トランジスタT
FTI〜TFT3および透明画素電極ITO1〜ITO
3の配置位置を列単位において同一に構成している。す
なわち、画素列X1.x、、・・・のそれぞれの画素は
、薄膜トランジスタTPTI〜TFT3の配置位置を左
側、透明画素電極ITOI〜ITO3の配置位置を右側
に構成している。画素列X、、X、、・・・のそれぞれ
の行方向の次段の画素列X、、X4.・・・のそれぞれ
の画素は、画素列X工、X1.・・・のそれぞれの画素
を映像信号線DLに対して線対称で配置した画素で構成
されている。 すなわち、画素列X、、 X、、・・・のそれぞれの画
素は、薄膜トランジスタTPTI〜TFT3の配置位置
を右側、透明画素電極ITOI〜ITO3の配置位置を
左側に構成している。そして、画素列XztX4.・・
・のそれぞれの画素は、画素列X1゜Xl、・・・のそ
れぞれの画素に対し、列方向に半画素間隔移動させて(
ずらして)配置されている。 すなわち、画素列Xの各画素間隔を1.0 (1,0ピ
ツチ)とすると、次段の画素列Xは、各画素間隔を1.
0とし、前段の画素列Xに対して列方向に0.5画素間
隔(0,5ピツチ)ずれている、各画素間を行方向に延
在する映像信号線DLは、各画素列X間において、半画
素間隔分(0,5ピツチ分)列方向に延在するように構
成されている。 このように液晶表示部において、薄膜トランジスタTP
Tおよび透明画素電極ITOの配置位置が同一である画
素を列方向に複数配置して画素列Xを構成し、画素列X
の次段の画素列Xを、前段の画素列Xの画素を映像信号
線DLに対して線対称で配置した画素で構成し、次段の
画素列を前段の画素列に対して半画素間隔移動させて構
成することにより、第8図(画素とカラーフィルタとを
重ね合わせた状態における要部平面図)で示すように、
前段の画素列Xの所定の色フィルタが設けられた画素(
例えば、画素列X、の赤色フィルタRが設けられた画素
)と次段の画素列Xの同一色フィルタが設けられた画素
(例えば、画素列X4の赤色フィルタRが設けられた画
素)とを1.5画素間隔(1,5ピツチ)l隔すること
ができる。すなわち、前段の画素列Xの画素は、最も近
傍の次段の画素列の同一色フィルタが設けられた画素と
常時1.5画素間隔分離隔するように構成されており、
カラーフィルタFILはROBの三角形配置構造を構成
している。カラーフィルタFILのRGBの三角形配置
構造は、各色の混色を良くすることができるので、カラ
ー画像の解像度を向上することができる。 また、映像信号線DLは、各画素列X間において、半画
素間隔分しか列方向に延在しないので、隣接する映像信
号線DLと交差しなくなる。従って、映像信号線DLの
引き回しを無くシ、その占有面積を低減することができ
、また、映像信号線DLの迂回を無くシ、多層配線構造
を廃止することができる。 この液晶表示部の構成を回路的に示すと、第9図(液晶
表示部の等価回路図)に示すようになる。 第9図に示すXiG、Xi+IG、・・・は、緑色フィ
ルタGが設けられる画素に接続された映像信号線DLで
ある。 X i B 、 X i + I B 、−・
は、青色フィルタBが設けられる画素に接続された映像
信号線DLである。Xi+IR,Xi+2R,・・・は
。 赤色フィルタRが設けられる画素に接続された映像信号
線DLである。これらの映像信号線DLは。 映像信号駆動回路で選択される。Yiは第4図および第
8図に示す画素列X、を選択する走査信号線GLである
。同様に、Yi+1.Yi+2.・・・のそれぞれは1
画素列X、、 X、、・・・のそれぞれを選択する走査
信号線GLである。これらの走査信号線GLは、垂直走
査回路に接続されている。 第3図の中央部は一画素部分の断面を示しているが、左
側は下部透明ガラス基板5UBIおよび上部透明ガラス
基板5UB2の左側縁部分で外部引出配線の存在する部
分の断面を示している。右側は、透明ガラス基板5UB
Iおよび5UB2の左側縁部分で外部引出配線の存在し
ない部分の断面を示している。 第3図の左側、右側のそれぞれに示すシール材SLは、
液晶LCを封止するように構成されており、液晶封入口
(図示していない)を除く透明ガラス基板5UBIおよ
び5UB2の総周囲全体に沿って設けられている。シー
ル材SLは、例えばエポキシ樹脂で形成されている。 上部透明ガラス基板5UB2側の共通透明画素電極IT
Oは、少なくとも一箇所において、銀ペースト材SIL
によって、下部透明ガラス基板5UBl側に設けられた
外部引出配線に接続されている。この外部引出配線は、
上述したゲート電極GT、ソース電極SD1.ドレイン
電極SD2のそれぞれと同一製造工程で設けられる。 配向膜0RIIおよび0RI2.透明画素電極ITO1
共通透明画素電極ITO1保護膜psv1およびPSV
2、絶縁膜GIのそれぞれの層は。 シール材SLの内側に設けられる。偏光板POLは、下
部透明ガラス基板5UBI、上部透明ガラス基板5UB
2のそれぞれの外側の表面に設けられている。 第10図は、別の構成の液晶表示装置の液晶表示部の一
画素を示す平面図(本実施例の断面図は第3図と同じで
ある)、第11図は第3図のA−A切断線で切った部分
の断面図、第12図は第10図に示す画素を複数配置し
た液晶表示部の要部平面図、第13図〜第15図は第1
0図に示す画素の所定の製造工程における要部平面図、
第16図は第12図に示す画素とカラーフィルタとを重
ね合わせた状態における要部平面図である。 この液晶表示装置においては、液晶表示部の各画素の開
口率を向上することができるとともに、液晶にかかる直
流成分を小さくし、液晶表示部の点欠陥を低減し、かつ
黒むらを低減することができる。 この液晶表示装置は、第10図に示すように、液晶表示
部の各画素内のi型半導体層ASが薄膜トランジスタT
FTI〜TFT3ごとに分割して構成されている。すな
わち、−画素内で複数に分割された薄膜トランジスタT
PTI〜TFT3のそれぞれは、独立したi型半導体層
ASの島領域で構成されている。 また、薄膜トランジスタTPTI〜TFT3のそれぞれ
に接続される透明画素電極ITOI〜ITO3のそれぞ
れは、薄膜トランジスタTPT 1〜TFT3と接続さ
れる辺と反対側の辺において、行方向の次段の走査信号
線OLと重ね合わされている。この重ね合わせは、透明
画素電極ITOI〜ITO3のそれぞれを一方の電極と
し、次段の走査信号IIAGLを他方の電極とする保持
容量素子(静電容量素子) Caddを構成する。この
保持容量素子Caddの誘電体膜は、薄膜トランジスタ
TPTのゲート絶縁膜として使用される絶縁膜GIと同
一層で構成されている。 ゲート電極GTは、第2図等に示した液晶表示装置と同
様、i型半導体層ASより太き目に設けられるが、この
液晶表示装置では薄膜トランジスタTPTI〜TFT3
が独立したi型半導体層ASごとに設けられているため
、各薄膜トランジスタTPTごとに太き目のパターンが
設けられている。 また、上部透明ガラス基板5UB2の走査信号線GL、
映像信号線DL、薄膜トランジスタTPTに対応する部
分にブラックマトリックスパターンBMが設けられてい
るから、画素の輪郭が明瞭になるので、コントラストが
向上するとともに、外部の自然光が薄膜トランジスタT
PTに当たるのを防止することができる。 第10図に示される画素の等価回路を第17図に示す、
第17図において、上述と同様に、Cgsは薄膜トラン
ジスタTPTのゲート電極GTおよびソース電極SDl
で形成される重ね合わせ容量である6重ね合わせ容量C
gsの誘電体膜は絶縁膜GIである。l Cpixは透
明画素電極ITO(p r x)および共通透明画素電
極ITO(C0M)間で形成される液晶容量である。液
晶容量Cpixの誘電体膜は液晶LC1保護膜PSV1
および配向膜0RII、0RI2である。なお、VLc
は中点電位である。 保持容量素子Caddは、薄膜トランジスタTPTがス
イッチングするとき、中点電位(画素電極電位)vlc
に対するゲート電位変化ΔVgの影響を低減するように
働く。この様子を式で表すと次式となる。 Δ V lc = ((Cgs/(Cgs+Cadd+
Cpix))X ΔV。 ここで、ΔVlcはΔVgによる中点電位の変化分を表
わす、この変化分ΔVlcは液晶に加わる直流成分の原
因となるが、保持容量素子Caddの保持容量を大きく
すればする程、その値を小さくすることができる。また
、保持容量素子Caddは放電時間を長くする作用もあ
り、薄膜トランジスタTPTがオフした後の映像情報を
長く蓄積する。液晶LCに印加される直流成分の低減は
、液晶LCの寿命を向上し、液晶表示画面の切り替え時
に前の画像が残るいわゆる焼き付きを低減することがで
きる。 上述したように、ゲート電極GTは半導体層ASを完全
に覆うように大きく設けられている分。 ソース・ドレイン電極SDI、Sn2とのオーバラップ
面積が増え、従って、寄生容量Cgsが大きくなり中点
電位vlcはゲート(走査)信号Vgの影響を受は易く
なるという逆効果が生じる。しかし、保持容量素子Ca
ddを設けることによりこのデメリットも解消すること
ができる。 また、2本の走査信号線GLと2本の映像信号線DLと
の交差領域内に画素を有する液晶表示装置において、上
記2本の走査信号線GLのうちの一方の走査信号線GL
で選択される画素の薄膜トランジスタTPTを複数に分
割し、この分割された薄膜トランジスタTPTI〜TF
T3のそれぞれに透明画素電極ITOを複数に分割した
ITO1〜ITO3をそれぞれ接続し、この分割された
透明画素電極ITOI〜ITO3のそれぞれにこの画素
電極ITOを一方の電極とし、上記2本の走査信号線G
Lのうちの他方の走査信号線GLを容量電極線として用
いて他方の電極とする保持容量素子Caddを構成する
ことにより、上述のように、画素の分割された一部分が
点欠陥になるだけで、画素の全体としては点欠陥でなく
なるので、画素の点欠陥を低減することができるととも
に、保持容量素子Caddで液晶LCに加わる直流成分
を低減することができるので、液晶LCの寿命を向上す
ることができる。特に、画素を分割することにより、薄
膜トランジスタTPTのゲート電極GTとソース電極S
DIまたはドレイン電極SD2との短絡に起因する点欠
陥を低減することができるとともに、透明画素電極IT
OI〜ITO3のそれぞれと保持容量素子Caddの他
方の電極(容量電極線)との短絡に起因する点欠陥を低
減することができる。後者側の点欠陥はこの液晶表示装
置の場合、3分の1になる。この結果、上記画素の分割
された一部の点欠陥は、画素の全体の面積に比べて小さ
いので、上記点欠陥を見にくくすることができる。 保持容量素子Caddの保持容量は、画素の書き込み特
性から、液晶容量Cpixに対して4〜8倍(4・Cp
ix(Cadd< 8 ・Cpix) 、重ね合わせ容
量Cgsに対して8〜32倍(8・Cgs<Cadd<
32・Cgs)程度の値に設定する。 また、走査信号線GLを第1導電膜(Cr膜)glに第
2導電膜(AJ膜)g2を重ね合わせた複合膜で構成し
、保持容量素子Caddの他方の電極、すなわち容量電
極線の分岐された部分を上記複合膜のうちの一層の第1
導電膜g1からなる単層膜で構成することにより、走査
信号線GLの抵抗値を低減し、書き込み特性を向上する
ことができるとともに、保持容量素子Caddの他方の
電極に基づく段差部に沿って確実に保持容量素子Cad
dの一方の電極(透明画素電極ITO)を絶縁膜GI上
に接着させることができるので、保持容量素子Cadd
の一方の電極の断線を低減することができる。 また、保持容量素子Caddの他方の電極を単層の第1
導電膜g1で構成し、AQ膜である第2導電膜g2を構
成しないことにより、AQ膜のヒロックによる保持容量
素子Caddの他方の電極と一方の電極との短絡を防止
することができる。 保持容量素子Caddを構成するために重ね合わされる
透明画素電極ITOI〜ITO3のそれぞれと容量電極
線の分岐された部分との間の一部には、ソース電極SD
Iと同様に、分岐された部分の段差形状を乗り越える際
に透明画素電極ITOが断線しないように、第1導電膜
d1および第2導電膜d2で構成された島領域が設けら
れている。 この島領域は、透明画素電極ITOの面積(開口率)を
低下しないように、できる限り小さく構成する。 このように、保持容量素子Caddの一方の電極とその
誘電体膜として使用される絶縁膜GIとの間に、第1導
電膜d1とその上に設けられた第1導電膜d1に比べて
比抵抗値が小さく、かつ寸法が小さい第2導電膜d2と
で設けられた下地層を構成し、上記一方の電極(第3導
電膜d3)を上記下地層の第2導電膜d2から露出する
第1導電膜d1に接続することにより、保持容量素子C
addの他方の電極に基づく段差部に沿って確実に保持
容量素子Caddの一方の電極を接着させることができ
るので、保持容量素子Caddの一方の電極の断線を低
減することができる。 画素の透明画素電極ITOに保持容量素子Caddを設
けた液晶表示装置の液晶表示部は、第19図(液晶表示
部を示す等価回路図)に示すように構成されている。液
晶表示部は1画素、走査信号線GLおよび映像信号線D
Lを含む単位基本パターンの繰り返しで構成されている
。容量電極線として使用される最終段の走査信号線GL
(または初段の走査信号線GL)は、第19図に示すよ
うに、共通透明画素電極(Vcom) I T Oに接
続される。共通透明画素電極IT○は、第3図に示すよ
うに、液晶表示装置の周縁部において銀ペースト材SL
によって外部引出配線に接続されている。 しかも、この外部引出配線の一部の導電層(glおよび
g2)は走査信号線GLと同一製造工程で構成されてい
る。この結果、最終段の走査信号線GL(容量電極線)
は、共通透明画素電極IT○に簡単に接続することがで
きる。 このように、容量電極線の最終段を画素の共通透明画素
電極(Vcom) I T Oに接続することにより、
最終段の容量電極線は外部引出配線の一部の導電層と一
体に構成することができ、しかも共通透明画素電極IT
Oはこの外部引出配線に接続されているので、簡単な構
成で最終段の容量電極線を共通透明画素電極ITOに接
続することができる。 また、液晶表示装置は、特願昭62−95125号に記
載される直流相殺方式(DCキャンセル方式)に基づき
、第18図(タイムチャート)に示すように、走査信号
線DLの駆動電圧を制御することによって、さらに液晶
LCに加わる直流成分を低減することができる。第18
図において、Viは任意の走査信号線GLの駆動電圧、
Vi+1はその次段の走査信号線GLの駆動電圧である
。 Veeは走査信号線GLに印加されるロウレベルの駆動
電圧Vdm1n、Vddは走査信号線GLに印加される
ハイレベルの駆動電圧V d waxである。 各時刻1=11〜t4における中点電位’V1c (第
17図参照)の電圧変化分ΔV工〜Δv4は1画素の合
計の容量(Cgs十Cpix+ Cadd)をCとする
と、次式のようになる。 ΔV z = −(Cgs/ C)・V 2ΔV2=+
(Cgs/C)(V1+V2)−(Cadd/C)・V
2 ΔV 3 = −(Cgs/ C)・V 1+(Cad
d/C)(V 1 +V 2)Δv4=−(Cadd/
C)・vl ここで、走査信号線GLに印加される駆動電圧が充分で
あれば(下記
【注]参照)、液晶LCに加わる直流電圧
は、次式で表される。 Δv3+ΔV4=(Cadd−V2−Cgs−Vl)/
にのため、Cadd−v2=Cgs−vlとすると、液
晶LCに加わる直流電圧は0になる。 【注】時刻11.1.で走査線Viの変化分が中点電位
Vlcに影響を及ぼすが、t2〜t、の期間に中点電位
Vlcは信号mxiを通じて映像信号電位と同じ電位に
される(映像信号の十分な書き込み)。 液晶LCにかかる電位は薄膜トランジスタTPTがオフ
した直後の電位でほぼ決定される(薄膜トランジスタT
PTのオフ期間がオン期間より圧倒的に長い)、従って
、液晶LCにかかる直流分の計算は、期間t4〜t、は
ほぼ無視でき、薄膜トランジスタTPTがオフ直後の電
位、すなわち時刻t1、t4における過渡時の影響を考
えればよい。 なお、映像信号Viはフレームごと、あるいはラインご
とに極性が反転し、映像信号そのものによる直流分は0
とされている。 すなわち、直流相殺方式は、重ね合わせ容量Cgsによ
る中点電位Vlcの引き込みによる低下分を、保持容量
素子Caddおよび次段の走査信号線GL(容量電極線
)に印加される駆動電圧によって押し上げ、液晶LCに
加わる直流成分を極めて小さくすることができる。この
結果、液晶表示装置は液晶LCの寿命を向上することが
できる。もちろん、遮光効果を上げるためにゲート電極
GTを大きくした場合、それに伴って保持容量素子Ca
ddの保持容量を大きくすればよい。 この直流相殺方式は、第20図(液晶表示部を示す等価
回路図)で示すように、初段の走査信号線GL(または
容量電極線)を最終段の容量電極線(または走査信号線
OL)に接続することによって採用することができる。 第20図には便宜上4本の走査信号線GLLか記載され
ていないが、実際には数百程度の走査信号線OLが配置
されている。初段の走査信号線GLと最終段の容量電極
線との接続は、液晶表示部内の内部配線あるいは外部引
出配線によって行なう。 このように、液晶表示装置は、初段の走査信号線OLを
最終段の容量電極線に接続することにより、走査信号線
GLおよび容量電極線のすべてを垂直走査回路に接続す
ることができるので、直流相殺方式(DCキャンセル方
式)を採用することができる。この結果、液晶LCに加
わる直流成分を低減することができるので、液晶LCの
寿命を向上することができる。 以上、本発明を上記実施例に基づき具体的に説明したが
、本発明は上記実施例に限定されるものではなく、その
要旨を逸脱しない範囲において種々変更可能であること
はもちろんである。 例えば、上記実施例では、遮光膜として黒色インキを用
いたが、Cr等の金属等の他の材料膜を用いてもよい。 また、本発明は液晶表示部の各画素を2分割あるいは4
分割した液晶表示装置に適用することができる。ただし
、画素の分割数があまり多くなると、開口率が低下する
ので、上述のように、2〜4分割程度が妥当である。ま
た、画素は分割しなくでも、遮光効果は得られる。さら
に、上述実施例においては、ゲート電極形成→ゲート絶
縁膜形成→半導体層形成→ソース・ドレイン電極形成の
逆スタガ構造を示したが、上下関係または作る順番がそ
れと逆のスタガ構造でも本発明は有効である。 〔発明の効果〕 以上説明したように1本発明では、遮光膜を設けた透明
ガラス基板表面を平坦にすることができるので、基板間
ギャップの制御が容易にでき、基板間ギャップを一定に
することができる。従って。 薄膜トランジスタのしきい値電圧等の特性の変動を防止
することができ、製品の信頼性、歩留りを向上すること
ができる。また、局部的に基板ギャップの広い部分が生
じるのを防止することができるので、液晶の局部的な屈
折率の変化に起因する色むらを防止することができ、画
質を向上させることができる。さらに1本発明では、遮
光膜として製造コストの安い黒インキを用いることがで
きるので、製造コストを低減し、生産性を向上すること
ができる。
は、次式で表される。 Δv3+ΔV4=(Cadd−V2−Cgs−Vl)/
にのため、Cadd−v2=Cgs−vlとすると、液
晶LCに加わる直流電圧は0になる。 【注】時刻11.1.で走査線Viの変化分が中点電位
Vlcに影響を及ぼすが、t2〜t、の期間に中点電位
Vlcは信号mxiを通じて映像信号電位と同じ電位に
される(映像信号の十分な書き込み)。 液晶LCにかかる電位は薄膜トランジスタTPTがオフ
した直後の電位でほぼ決定される(薄膜トランジスタT
PTのオフ期間がオン期間より圧倒的に長い)、従って
、液晶LCにかかる直流分の計算は、期間t4〜t、は
ほぼ無視でき、薄膜トランジスタTPTがオフ直後の電
位、すなわち時刻t1、t4における過渡時の影響を考
えればよい。 なお、映像信号Viはフレームごと、あるいはラインご
とに極性が反転し、映像信号そのものによる直流分は0
とされている。 すなわち、直流相殺方式は、重ね合わせ容量Cgsによ
る中点電位Vlcの引き込みによる低下分を、保持容量
素子Caddおよび次段の走査信号線GL(容量電極線
)に印加される駆動電圧によって押し上げ、液晶LCに
加わる直流成分を極めて小さくすることができる。この
結果、液晶表示装置は液晶LCの寿命を向上することが
できる。もちろん、遮光効果を上げるためにゲート電極
GTを大きくした場合、それに伴って保持容量素子Ca
ddの保持容量を大きくすればよい。 この直流相殺方式は、第20図(液晶表示部を示す等価
回路図)で示すように、初段の走査信号線GL(または
容量電極線)を最終段の容量電極線(または走査信号線
OL)に接続することによって採用することができる。 第20図には便宜上4本の走査信号線GLLか記載され
ていないが、実際には数百程度の走査信号線OLが配置
されている。初段の走査信号線GLと最終段の容量電極
線との接続は、液晶表示部内の内部配線あるいは外部引
出配線によって行なう。 このように、液晶表示装置は、初段の走査信号線OLを
最終段の容量電極線に接続することにより、走査信号線
GLおよび容量電極線のすべてを垂直走査回路に接続す
ることができるので、直流相殺方式(DCキャンセル方
式)を採用することができる。この結果、液晶LCに加
わる直流成分を低減することができるので、液晶LCの
寿命を向上することができる。 以上、本発明を上記実施例に基づき具体的に説明したが
、本発明は上記実施例に限定されるものではなく、その
要旨を逸脱しない範囲において種々変更可能であること
はもちろんである。 例えば、上記実施例では、遮光膜として黒色インキを用
いたが、Cr等の金属等の他の材料膜を用いてもよい。 また、本発明は液晶表示部の各画素を2分割あるいは4
分割した液晶表示装置に適用することができる。ただし
、画素の分割数があまり多くなると、開口率が低下する
ので、上述のように、2〜4分割程度が妥当である。ま
た、画素は分割しなくでも、遮光効果は得られる。さら
に、上述実施例においては、ゲート電極形成→ゲート絶
縁膜形成→半導体層形成→ソース・ドレイン電極形成の
逆スタガ構造を示したが、上下関係または作る順番がそ
れと逆のスタガ構造でも本発明は有効である。 〔発明の効果〕 以上説明したように1本発明では、遮光膜を設けた透明
ガラス基板表面を平坦にすることができるので、基板間
ギャップの制御が容易にでき、基板間ギャップを一定に
することができる。従って。 薄膜トランジスタのしきい値電圧等の特性の変動を防止
することができ、製品の信頼性、歩留りを向上すること
ができる。また、局部的に基板ギャップの広い部分が生
じるのを防止することができるので、液晶の局部的な屈
折率の変化に起因する色むらを防止することができ、画
質を向上させることができる。さらに1本発明では、遮
光膜として製造コストの安い黒インキを用いることがで
きるので、製造コストを低減し、生産性を向上すること
ができる。
第1図は、本発明の液晶表示装置の構成の一例を示す概
略断面図、第2図は、本発明を適用すべきアクティブ・
マトリックス方式のカラー液晶表示装置の液晶表示部の
一画素を示す要部平面図、第3図は、第2図の■−■切
断線で切った部分とシール部周辺部の断面図、第4図は
、第2図に示す画素を複数配置した液晶表示部の要部平
面図、第5図〜第7図は、第2図に示す画素の所定の製
造工程における要部平面図、第8図は、第4図に示す画
素とカラーフィルタとを重ね合わせた状態における要部
平面図、第9図は、上記のアクティブ・マトリックス方
式のカラー液晶表示装置の液晶表示部を示す等価回路1
図、第10図は、別の構成の液晶表示装置の液晶表示部
の一画素を示す平面図、第11図は、第3図のA−A切
断線で切った部分の断面図、第12図は、第10図に示
す画素を複数配置した液晶表示部の要部平面図、第13
@〜第15図は、第10図に示す画素の所定の製造工程
における要部平面図、第16図は、第12図に示す画素
とカラーフィルタとを重ね合わせた状態における要部平
面図、第17図は、第10図に記載される画素の等価回
路図、第18図は、直流相殺方式による走査信号線の駆
動電圧を示すタイムチャート、第19図、第20図は、
それぞれ第12図に示したアクティブ・マトリックス方
式のカラー液晶表示装置の液晶表示部を示す等価回路図
である。 1.6・・・透明ガラス基板 2・・・凹部 3・・・遮光膜 4・・・カラーフィルタ 5・・・スペーサ 7・・・液晶 R・・・赤色フィルタ G・・・緑色フィルタ B・・・青色フィルタ 5UBI、2・・・透明ガラス基板 BM・・・ブラックマトリックス FIL・・・カラーフィルタ LC・・・液晶 TPT・・・薄膜トランジスタ 6・・・透明ガラス基板 四部 遮光膜 カラーフィルタ ス■−サ 液晶 赤色フィルタ 緑色フィルタ 青色フィルタ 第12図
略断面図、第2図は、本発明を適用すべきアクティブ・
マトリックス方式のカラー液晶表示装置の液晶表示部の
一画素を示す要部平面図、第3図は、第2図の■−■切
断線で切った部分とシール部周辺部の断面図、第4図は
、第2図に示す画素を複数配置した液晶表示部の要部平
面図、第5図〜第7図は、第2図に示す画素の所定の製
造工程における要部平面図、第8図は、第4図に示す画
素とカラーフィルタとを重ね合わせた状態における要部
平面図、第9図は、上記のアクティブ・マトリックス方
式のカラー液晶表示装置の液晶表示部を示す等価回路1
図、第10図は、別の構成の液晶表示装置の液晶表示部
の一画素を示す平面図、第11図は、第3図のA−A切
断線で切った部分の断面図、第12図は、第10図に示
す画素を複数配置した液晶表示部の要部平面図、第13
@〜第15図は、第10図に示す画素の所定の製造工程
における要部平面図、第16図は、第12図に示す画素
とカラーフィルタとを重ね合わせた状態における要部平
面図、第17図は、第10図に記載される画素の等価回
路図、第18図は、直流相殺方式による走査信号線の駆
動電圧を示すタイムチャート、第19図、第20図は、
それぞれ第12図に示したアクティブ・マトリックス方
式のカラー液晶表示装置の液晶表示部を示す等価回路図
である。 1.6・・・透明ガラス基板 2・・・凹部 3・・・遮光膜 4・・・カラーフィルタ 5・・・スペーサ 7・・・液晶 R・・・赤色フィルタ G・・・緑色フィルタ B・・・青色フィルタ 5UBI、2・・・透明ガラス基板 BM・・・ブラックマトリックス FIL・・・カラーフィルタ LC・・・液晶 TPT・・・薄膜トランジスタ 6・・・透明ガラス基板 四部 遮光膜 カラーフィルタ ス■−サ 液晶 赤色フィルタ 緑色フィルタ 青色フィルタ 第12図
Claims (1)
- 1、透明ガラス基板と、上記透明ガラス基板表面に選択
的に設けられた凹部と、上記凹部に平坦に埋め込まれた
遮光膜と、上記遮光膜が設けられていない上記透明ガラ
ス基板上に設けられたカラーフィルタとを有することを
特徴とする液晶表示装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1063763A JPH02244122A (ja) | 1989-03-17 | 1989-03-17 | 液晶表示装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1063763A JPH02244122A (ja) | 1989-03-17 | 1989-03-17 | 液晶表示装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02244122A true JPH02244122A (ja) | 1990-09-28 |
Family
ID=13238747
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1063763A Pending JPH02244122A (ja) | 1989-03-17 | 1989-03-17 | 液晶表示装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02244122A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH08110517A (ja) * | 1994-10-13 | 1996-04-30 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | カラー液晶表示パネル |
| JP2007226087A (ja) * | 2006-02-27 | 2007-09-06 | Seiko Instruments Inc | カラーフィルタ基板とその製造方法、及びカラー液晶表示装置 |
| JP2010271699A (ja) * | 2009-04-23 | 2010-12-02 | Dainippon Printing Co Ltd | 視野角制御用カラーフィルタとこれを用いた液晶ディスプレイおよび視野角制御用カラーフィルタの製造方法 |
-
1989
- 1989-03-17 JP JP1063763A patent/JPH02244122A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH08110517A (ja) * | 1994-10-13 | 1996-04-30 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | カラー液晶表示パネル |
| JP2007226087A (ja) * | 2006-02-27 | 2007-09-06 | Seiko Instruments Inc | カラーフィルタ基板とその製造方法、及びカラー液晶表示装置 |
| JP2010271699A (ja) * | 2009-04-23 | 2010-12-02 | Dainippon Printing Co Ltd | 視野角制御用カラーフィルタとこれを用いた液晶ディスプレイおよび視野角制御用カラーフィルタの製造方法 |
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