JPH02249111A - 磁気ヘッド - Google Patents

磁気ヘッド

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JPH02249111A
JPH02249111A JP6915989A JP6915989A JPH02249111A JP H02249111 A JPH02249111 A JP H02249111A JP 6915989 A JP6915989 A JP 6915989A JP 6915989 A JP6915989 A JP 6915989A JP H02249111 A JPH02249111 A JP H02249111A
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ferrite core
gap
film layer
magnetic
thin film
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JP6915989A
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Masahiro Sugimori
杉森 昌弘
Toshio Umehara
梅原 敏男
Hiromitsu Ito
浩光 伊藤
Hirofumi Mochizuki
広文 望月
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FDK Corp
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FDK Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) この発明は、磁気ヘッドに係り、より具体的にはギヤ1
ツブに飽和磁束密度の大きい磁性金属、膜を介在させた
メタルインギャップ式の磁気ヘッドの改良に関するもの
である。
(従来の技術) 近年、磁気ディスク装置における記録の高密度化の要請
から、ギャップ部分に高飽和磁束密度の磁性金属膜を設
けたMIG(メタルインギャップ)ヘッドが研究・開発
されている。そして、この種の磁気ヘッドの一例を示す
と、第4図のようになっている。
すなわち、同図に示すように、細長な角柱のI型フェラ
イトコア1と、略コ字状のU型フェライトコア2とを組
合せてギャップ3を形成するのであるが、この時、I型
フェライトコア1のギャップ対向面にスパッタリング等
によって飽和密度の高い磁性金属膜4を形成しておくと
ともに、さらにこの磁性金属膜4とU型フェライトコア
2の対向面との間に非磁性祠であるギャップガラス5(
高融点)を介在させる。そして、このギャップガラス5
がデータの読み書き等を行う実質的なギャップ部となり
、ギャップガラス5の幅がギャップ幅となる。さらに、
I型フェライトコア1とU型フェライトコア2のギヤツ
ブ3近傍部分を低融点ガラスからなるボンディングガラ
ス6でもって接着一体化させるようにっている。
なお、磁性金属膜4としては、一般にセンダスト(Fe
−Al1−3 f)が用いられる。
(発明が解決しようとする課題) しかしながら、上記した従来の磁気ヘッドでは、ボンデ
ィングガラス6にて両フェライトコア12を接着する:
際に゛、低融点ガラスを溶融しなければならず、その際
に生じる熱により■型フェライトコア・1と磁性金属膜
4間で界面反応を生し、その部分に非磁性材層(約40
0〜600人)か形成されてしまう。すると、ギャップ
3内には磁性金属膜゛4を挟んでその゛両側に非磁性材
部が位置されることになり、これら両弁磁性材部がギャ
ップ(性能の大小は問わず)としての機能をHしてしま
う。
その結果、第5図に示すように磁気ヘッドと記憶媒体の
相対的移動に対する出力電圧の鹿化か綺麗な波形となら
ず、歪みを生じてしまうという問題を有する(疑似ギャ
ップの発生)。そして、この歪みは上記したI型フェラ
イトコア1と磁性金属膜4との間に生じ非磁性祠層の存
在か原因である。
この発明は上記した背景に鑑みてなされたもので、その
目的とするところは、疑似ギャップの発生を低減するこ
とのできる磁気ヘッドを提供することにある。
(課題を解決するための手段) 上記した目的を達成するため、本発明に係る磁気ヘッド
では、2つのフェライトコアを組合せたギャップをボン
ディングガラスで接合するとともに、該ギャップ内に磁
性金属膜を備えた磁気ヘッドにおいて、該磁性金属膜と
該フェライトコアと間にSi薄膜層を配設した。
(作 用) 本発明では、磁性金属膜とフェライトコアとの間にSi
薄膜層を配設したため、2つのフェライトコアをボンデ
ィングガラスにて接合するときに発生する熱によりSi
薄膜層中の一部のSiかフェライトと反応し、S Io
 、2となる。しかし、Si薄膜層は、その膜厚が薄い
ため磁性金属膜とフェライトコアとの間に形成される非
磁性部も薄く、しかもSiはAfflに比較して酸化エ
ネルギが小さいため形成される非磁性部が薄くなり、疑
似ギャップの発生も実用上問題のない程度におさえるこ
とができる。
また、上記Si薄膜層の存在により磁性金属膜の酸化反
応が防止される。
(実 施 例) 以下、本発明の好適な実施例について添付図面を参照に
して説明する。
第1図は本発明の一実施例を示す要部拡大図である。同
図に示すように、基本的には従来と同様に、I型フェラ
イトコア1とU型フェライトコア′2との対向面間に形
成されるギャップ3部分に磁性金属膜4とギャップガラ
ス5とを介装さている。
そして、本実施例では、磁性金属膜4としてセンダスト
を用いている。
ここで本発明では、上記磁性金属膜4と、I型フェライ
トコア1との間にSi薄膜層7を介設している。そして
、このSi薄膜層7は、約50〜200人とし、好まし
くは100人とすることである。
第2図はSi薄膜層7の膜厚に対する疑似ギャップの出
力の関係を示すグラフである。同図から明らかなように
膜厚が約100人のときに、発生する疑似ギャップの是
を最小におさえることができ、Si薄膜層7の膜厚が増
加(減少)するにしたがって増加する。これは膜厚が増
加するに従って疑似ギャップが増えるのはSi薄膜層7
自体が非磁性材だからである。逆に膜厚か減少するに従
って疑似ギャップが増えるのは、Si薄膜層7が薄くな
りすぎ磁性金属膜4と■型フェライトコア1との間で生
じる界面反応を抑制しきれなくなるからである。
なお、このSi薄膜層7を形成するには、例えば、I型
フェライトコア1の表面にスパッタリング等にて形成す
ればよい。そして、以後、通常の工程に従って、磁気ヘ
ッドを製造する。
(発明の効果) 以上のように本発明に係る磁気ヘッドによれば、一方の
フェライトコアと磁性金属膜との間にSi薄膜層を介装
させたため、2つのフェライトコアを接合する際に用い
るボンディングガラスの溶融時に生じる熱によっても上
記磁性金属膜の酸化反応を抑制することかできる。そし
て、フェライトコアと磁性金属膜との間に形成される疑
似キャップは、はぼSi薄膜層の幅に相当するたけであ
るので、第3図に示すように磁気ヘッドの出力波形はほ
とんど実用上問題のない程度になたらかなものとなる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係る磁気ヘッドの好適な一実施例を示
す要部拡大図、第2図はSi薄膜層の膜厚に対する疑似
ギャップの発生量の関係を示すグラフ、第3図は磁気ヘ
ッドの特性を示すグラフ、第4図は従来の磁気ヘッドを
示す図、第5図は従来の磁気ヘッドの特性を示すグラフ
である。 1・・・■型フェライトコア 2・・・U型フェライトコア 3・・・ギャップ 5・・・ギャップガラス 7・・・Si薄膜層 4・・・磁性金属膜 6・・・ボンディングガラス 第2図 第3図 第5図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 2つのフェライトコアを組合せたギャップをボンディン
    グガラスで接合するとともに、該ギャップ内に磁性金属
    膜を備えた磁気ヘッドにおいて、該磁性金属膜と該フェ
    ライトコアと間にSi薄膜層を配設してなることを特徴
    とする磁気ヘッド。
JP6915989A 1989-03-23 1989-03-23 磁気ヘッド Expired - Lifetime JP2849397B2 (ja)

Priority Applications (1)

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JP6915989A JP2849397B2 (ja) 1989-03-23 1989-03-23 磁気ヘッド

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JPH02249111A true JPH02249111A (ja) 1990-10-04
JP2849397B2 JP2849397B2 (ja) 1999-01-20

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04163705A (ja) * 1990-10-29 1992-06-09 Fuji Elelctrochem Co Ltd 磁気ヘッド

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPH04163705A (ja) * 1990-10-29 1992-06-09 Fuji Elelctrochem Co Ltd 磁気ヘッド

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