JPH02298062A - 混成集積回路装置 - Google Patents
混成集積回路装置Info
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- JPH02298062A JPH02298062A JP1119113A JP11911389A JPH02298062A JP H02298062 A JPH02298062 A JP H02298062A JP 1119113 A JP1119113 A JP 1119113A JP 11911389 A JP11911389 A JP 11911389A JP H02298062 A JPH02298062 A JP H02298062A
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Landscapes
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
くイ〉産業上の利用分野
本発明は集積回路基板に樹脂封止型の不揮発性メモリ、
例えばEFROM(紫外線消去形プログラマブル・リー
ド・オンリ・メモリー)を実装してなるEFROM内蔵
型の混成集積回路装置に関する。
例えばEFROM(紫外線消去形プログラマブル・リー
ド・オンリ・メモリー)を実装してなるEFROM内蔵
型の混成集積回路装置に関する。
(ロ)従来の技術
紫外線を照射することによって既に書込まれた記憶情報
を消去し、再書込みが可能な紫外線照射窓を有するEP
ROM素子は、各種電子機器に好んで用いられている。
を消去し、再書込みが可能な紫外線照射窓を有するEP
ROM素子は、各種電子機器に好んで用いられている。
このEPROM素子は、制御用或は駆動用集積回路と共
に現在、その殆んどがプリント配線板に実装されており
、一旦書込んだ情報をその後書き直すために通常、着脱
容易なプリント配線板に実装されている。各種電子機器
で小型軽量化が要求される機器は、チップ・オン・ボー
ドと称される技法によってプリント配線板に半導体集積
回路(IC)チップが直接搭載され、所要の配線が施さ
れた後この配線部分を含んで前記ICチップが合成樹脂
によっ℃被覆され、極めて小形軽量化が達成されている
。
に現在、その殆んどがプリント配線板に実装されており
、一旦書込んだ情報をその後書き直すために通常、着脱
容易なプリント配線板に実装されている。各種電子機器
で小型軽量化が要求される機器は、チップ・オン・ボー
ドと称される技法によってプリント配線板に半導体集積
回路(IC)チップが直接搭載され、所要の配線が施さ
れた後この配線部分を含んで前記ICチップが合成樹脂
によっ℃被覆され、極めて小形軽量化が達成されている
。
一方紫外線照射窓を必要とするEPROMチップは、こ
の照射窓がネックとなり未だサーディツプ型パッケージ
に組込まれて製造され、プリント配線板に実装されてい
るため小型軽量化が図れない。
の照射窓がネックとなり未だサーディツプ型パッケージ
に組込まれて製造され、プリント配線板に実装されてい
るため小型軽量化が図れない。
かかる従来のEPR6M素子の実装構造を第12図に従
って説明すると、第12図は従来のEPROM素子の一
部断面を有する斜視図であって、主表面上に導電性配線
パターン(41)が形成きれたガラス・エポキシ樹脂な
どから構成された絶縁性基板(42)のスルーホール(
43)にサーディツプ型パッケージに組込まれEPRO
M素子〈44)が搭載されている。このEPROM素子
(44)はヘラダーク45)およびキャップ(46)を
有し、前記ヘッダー(45〉はセラミック基材(47)
に外部導出リード(48)か低融点ガラス材で接着され
ている。又このヘラダーク45)はガラスに金粉が多量
に混入したいわゆる金ペーストを焼結した素子搭載部(
50)が前記低融点ガラス材上或はセラミック基材(4
7)上に接着されており、この素子搭載部(50)にE
PROMチップ(51)が紫外線照射面を上にして装着
され、このチップ(51)の電極と前記外部導出り一1
’(48)とが金属細線(52)によって接続されてい
る。前記キャップ(46)は蓄部材であって、前記EP
ROMチップ(51)の紫外線照射面と対向する部分に
窓(53)を有するセラミック基材(54)を含み、こ
のキャップ(46)は低融点ガラスによってヘッダー(
45)に配置されたEPROMチップ(51)を密封し
ている。この様にEPROMチップ(51)を密封した
EPROM素子(44)は、前記絶縁性基板(42)の
スルーホール(43)に外部導出リード(48)を挿通
させ半田によって固定される。このスルーホール(43
)は導電性配線パターン(41)によって所要の配線引
回しが施され、前記絶縁性基板の端部に設げられた雄型
コネクタ端子部(55)から図示しない雌型コネクタへ
と接続される。
って説明すると、第12図は従来のEPROM素子の一
部断面を有する斜視図であって、主表面上に導電性配線
パターン(41)が形成きれたガラス・エポキシ樹脂な
どから構成された絶縁性基板(42)のスルーホール(
43)にサーディツプ型パッケージに組込まれEPRO
M素子〈44)が搭載されている。このEPROM素子
(44)はヘラダーク45)およびキャップ(46)を
有し、前記ヘッダー(45〉はセラミック基材(47)
に外部導出リード(48)か低融点ガラス材で接着され
ている。又このヘラダーク45)はガラスに金粉が多量
に混入したいわゆる金ペーストを焼結した素子搭載部(
50)が前記低融点ガラス材上或はセラミック基材(4
7)上に接着されており、この素子搭載部(50)にE
PROMチップ(51)が紫外線照射面を上にして装着
され、このチップ(51)の電極と前記外部導出り一1
’(48)とが金属細線(52)によって接続されてい
る。前記キャップ(46)は蓄部材であって、前記EP
ROMチップ(51)の紫外線照射面と対向する部分に
窓(53)を有するセラミック基材(54)を含み、こ
のキャップ(46)は低融点ガラスによってヘッダー(
45)に配置されたEPROMチップ(51)を密封し
ている。この様にEPROMチップ(51)を密封した
EPROM素子(44)は、前記絶縁性基板(42)の
スルーホール(43)に外部導出リード(48)を挿通
させ半田によって固定される。このスルーホール(43
)は導電性配線パターン(41)によって所要の配線引
回しが施され、前記絶縁性基板の端部に設げられた雄型
コネクタ端子部(55)から図示しない雌型コネクタへ
と接続される。
さて、かかる従来のEPROM素子の実装構造は、EP
ROMチップ(51〉に比ベパッケージ外形が極めて大
きく、平面占有率もさることながら三次元、つまり高さ
もチップの高さの数倍となり、薄型化に極めて不利であ
る。更にスルーホール(43)に外部導出リードを挿通
1.た後、半田などで固定する必要も生ずる。更に特筆
すべき大きな欠点は、絶縁性基板への実装に先立ってE
PROM素子を一部パッケージに組立てることである。
ROMチップ(51〉に比ベパッケージ外形が極めて大
きく、平面占有率もさることながら三次元、つまり高さ
もチップの高さの数倍となり、薄型化に極めて不利であ
る。更にスルーホール(43)に外部導出リードを挿通
1.た後、半田などで固定する必要も生ずる。更に特筆
すべき大きな欠点は、絶縁性基板への実装に先立ってE
PROM素子を一部パッケージに組立てることである。
EF’ROM素子は紫外線照射用の窓を有するが故、そ
のパッケージは、セラミックスを基材としたサーディツ
プ型パッケージに組立てられるが、このパッケージは低
融点ガラスにより封止される為、高温(400〜500
℃)シールとなり、EPROMチップの電極(アルミニ
ウム)と外部導出リードとを接続する金属細線を同種材
料で構成しないとアロイ化が起り配線抵抗の増加を来し
たり、断線を生じたりする。この様な事態を回避する目
的で通常アルミニウム細線が用いられるが、このEPR
OMチップはサブストレートを接地電位にする必要上、
EPROMチップの接地電極を金ペーストで形成された
チップ搭載部とワイヤ接続する。ここに於ても金ペース
ト中の金或はおよび箔等の金属と前記アルミニウムとで
二次或は多元合金反応が進むことから、グランドダイス
と呼ばれる頭部にアルミニウムが被着されたシリコン小
片をEPROMチップと別個に前記金ペーストより成る
チップ搭載部に固着させ、このグランドダイス頭部とE
PROMチップの接地電極とを接続するという極めて煩
雑な作業を伴う等、従来の実装構造は、小型、軽量、低
価格のいずれも不満足なものである。
のパッケージは、セラミックスを基材としたサーディツ
プ型パッケージに組立てられるが、このパッケージは低
融点ガラスにより封止される為、高温(400〜500
℃)シールとなり、EPROMチップの電極(アルミニ
ウム)と外部導出リードとを接続する金属細線を同種材
料で構成しないとアロイ化が起り配線抵抗の増加を来し
たり、断線を生じたりする。この様な事態を回避する目
的で通常アルミニウム細線が用いられるが、このEPR
OMチップはサブストレートを接地電位にする必要上、
EPROMチップの接地電極を金ペーストで形成された
チップ搭載部とワイヤ接続する。ここに於ても金ペース
ト中の金或はおよび箔等の金属と前記アルミニウムとで
二次或は多元合金反応が進むことから、グランドダイス
と呼ばれる頭部にアルミニウムが被着されたシリコン小
片をEPROMチップと別個に前記金ペーストより成る
チップ搭載部に固着させ、このグランドダイス頭部とE
PROMチップの接地電極とを接続するという極めて煩
雑な作業を伴う等、従来の実装構造は、小型、軽量、低
価格のいずれも不満足なものである。
斯る問題を解決するために第13図に示したEPROM
実装構造がある。
実装構造がある。
以下に第13図に示したEPROM実装構造について説
明する。
明する。
主表面(60a)に導電性配線パターン(60b)が形
成されたガラス・エポキシ樹局板などの絶縁性基板(6
0)は、EPROMチップ(61)を載置するチップ搭
載エリヤ(60c)を有し、前記配線パターン(60b
)は、とのエリヤ近傍から主表面(60a)上を引回さ
れて図示しない雄型コネクタ端子部に接続されている。
成されたガラス・エポキシ樹局板などの絶縁性基板(6
0)は、EPROMチップ(61)を載置するチップ搭
載エリヤ(60c)を有し、前記配線パターン(60b
)は、とのエリヤ近傍から主表面(60a)上を引回さ
れて図示しない雄型コネクタ端子部に接続されている。
前記エリヤ(60c)には、EPROMチップ(61)
が搭載され、このチップ(61)の表面電極と前記配線
パターン<60b)とが金属細線(62)により接続さ
れている。勿論金属細線(62)の1本は前記チップ(
61)のサブストレートと接続する為に、このチップ(
61)が搭載された配線パターン(60b)とワイヤリ
ングされている。前記EPROMチップ(61)の紫外
線照射面(61a)上には紫外線透過性樹脂(63)
(例えば東し社製、型名TX−978)を介して、紫外
線透過性窓材(64)が固着されている。この窓材(6
4)は、石英、透明アルミナ等、公知の紫外線透過性材
料である。そして、前記窓材(64)の頂部面(64a
)は、EPROMチップ(61)の紫外線照射面に光を
導入する面であるから、この頂部面(64a)を除いた
残余の窓材(64)部分と、金属細線(62)と、この
金属細線〈62)と前記配線パターン(60b)との接
続部分とが合成樹JM(65)(例えば日東電工社製、
型名MP−10)で被覆されている。もし、絶縁性基板
(6o)と、EF’ROMチップ(61)と窓材(64
)とを加えた総合厚さ寸法を更に低くする必要があれば
、前記基板(6o)のチップ搭載エリヤ(60c)をザ
グリ穴としてこの基板(6o)の厚さの半分程度握れば
良い。又この様なザグリ穴としておけば、合成樹脂〈6
5)の流れ止めダムが形成され湿気などの浸入に対して
有効に作用する。
が搭載され、このチップ(61)の表面電極と前記配線
パターン<60b)とが金属細線(62)により接続さ
れている。勿論金属細線(62)の1本は前記チップ(
61)のサブストレートと接続する為に、このチップ(
61)が搭載された配線パターン(60b)とワイヤリ
ングされている。前記EPROMチップ(61)の紫外
線照射面(61a)上には紫外線透過性樹脂(63)
(例えば東し社製、型名TX−978)を介して、紫外
線透過性窓材(64)が固着されている。この窓材(6
4)は、石英、透明アルミナ等、公知の紫外線透過性材
料である。そして、前記窓材(64)の頂部面(64a
)は、EPROMチップ(61)の紫外線照射面に光を
導入する面であるから、この頂部面(64a)を除いた
残余の窓材(64)部分と、金属細線(62)と、この
金属細線〈62)と前記配線パターン(60b)との接
続部分とが合成樹JM(65)(例えば日東電工社製、
型名MP−10)で被覆されている。もし、絶縁性基板
(6o)と、EF’ROMチップ(61)と窓材(64
)とを加えた総合厚さ寸法を更に低くする必要があれば
、前記基板(6o)のチップ搭載エリヤ(60c)をザ
グリ穴としてこの基板(6o)の厚さの半分程度握れば
良い。又この様なザグリ穴としておけば、合成樹脂〈6
5)の流れ止めダムが形成され湿気などの浸入に対して
有効に作用する。
第12図および第13図で示したEPROM実装構造は
特開昭60−83393号公報(HO5に1/18)に
記載されている。
特開昭60−83393号公報(HO5に1/18)に
記載されている。
(ハ)発明が解決しようとする課題
第14図で示したEPROM実装構造ではEPROMの
チップをプリント基板上にダイボンディングしているた
め、小型化となることはいうまでもない。しかしながら
、ここでいう小型化はあくまでEPROM自体の小型化
である。即ち、第14図からは明らかにされていないが
EPROMの周辺に固着されているマイクロコンピュー
タおよびその周辺回路素子はディスクリ−1・等の電子
部品で構成されているために、EPROMを搭載したプ
リント基板用の集積回路としてのシステム全体を見た場
合なんら小型化とはならず従来通りプリント基板の大型
化、即ちシステム全体が大型化になる問題がある。更に
第14図に示したEFROM構造ではEFROMのプロ
グラムデータを消去する場合、プリント基板上に紫外線
を照射し消去した後、EFROMから延在された引回し
線の導電パターン上にプローブ等の書込み用の端子を当
接して再書込みを行わなければならず、従来の一般的な
ROMライターを使用することができずEFROMの再
書込みという点で煩雑となる問題がある。
チップをプリント基板上にダイボンディングしているた
め、小型化となることはいうまでもない。しかしながら
、ここでいう小型化はあくまでEPROM自体の小型化
である。即ち、第14図からは明らかにされていないが
EPROMの周辺に固着されているマイクロコンピュー
タおよびその周辺回路素子はディスクリ−1・等の電子
部品で構成されているために、EPROMを搭載したプ
リント基板用の集積回路としてのシステム全体を見た場
合なんら小型化とはならず従来通りプリント基板の大型
化、即ちシステム全体が大型化になる問題がある。更に
第14図に示したEFROM構造ではEFROMのプロ
グラムデータを消去する場合、プリント基板上に紫外線
を照射し消去した後、EFROMから延在された引回し
線の導電パターン上にプローブ等の書込み用の端子を当
接して再書込みを行わなければならず、従来の一般的な
ROMライターを使用することができずEFROMの再
書込みという点で煩雑となる問題がある。
また、第13図に示したEPROM実装構造では消去後
の再書込みという点ではEFROMをプリント基板から
着脱することが可能であるために、一般的なROMライ
ターを用いての書込みが行えるために比較的容易に行え
る。しかしながら、第12図に示した実装構造において
も第14図と同様にEFROMの周辺の回路、即ち、マ
イクロコンピュータやその周辺LSI、IC等の回路素
子がディスクリート等の電子部品で構成されているため
、プリント基板の大型化、即ちシステム全体が大型化と
なりユーザが要求される軽薄短小のEFROM搭載の集
積回路を提供することができない大きな問題がある。
の再書込みという点ではEFROMをプリント基板から
着脱することが可能であるために、一般的なROMライ
ターを用いての書込みが行えるために比較的容易に行え
る。しかしながら、第12図に示した実装構造において
も第14図と同様にEFROMの周辺の回路、即ち、マ
イクロコンピュータやその周辺LSI、IC等の回路素
子がディスクリート等の電子部品で構成されているため
、プリント基板の大型化、即ちシステム全体が大型化と
なりユーザが要求される軽薄短小のEFROM搭載の集
積回路を提供することができない大きな問題がある。
更に第13図および第14図で示したEPROM実装構
造では、上述した様にシステム全体が大型化になると共
にEFROMおよびその周辺の回路素子を互いに接続す
る導電パター、ンが露出されているため信頼性が低下す
る問題がある。
造では、上述した様にシステム全体が大型化になると共
にEFROMおよびその周辺の回路素子を互いに接続す
る導電パター、ンが露出されているため信頼性が低下す
る問題がある。
更に第13図および第14図で示したEPROM実装構
造ではEFROMと、その周辺のマイクロコンピュータ
およびIC,LSI等の回路素子が露出されているため
、基板上面に凹凸が生じて取扱いにくく作業性が低下す
る問題がある。
造ではEFROMと、その周辺のマイクロコンピュータ
およびIC,LSI等の回路素子が露出されているため
、基板上面に凹凸が生じて取扱いにくく作業性が低下す
る問題がある。
更に第13図及び第14図で示したEPROM実装構造
では一枚のプリント基板上にEPROMとディスクリー
ト部品からなるマイクロコンピュータ及びその周辺の回
路素子の全ての素子が搭載されているため上述した様に
システム自体の小型化という点で大きな問題となる。
では一枚のプリント基板上にEPROMとディスクリー
ト部品からなるマイクロコンピュータ及びその周辺の回
路素子の全ての素子が搭載されているため上述した様に
システム自体の小型化という点で大きな問題となる。
(ニ)課題を解決するための手段
本発明は上述した課題に鑑みて為されたものであり、二
枚の集積回路基板を固着一体化するケース材の一側面に
シングルインライン型樹脂モールドされた不揮発性メモ
リーを配置し且つ二枚の基板上に形成した導電路と接続
し、マイクロコンピュータ及びその周辺回路素子を二枚
の基板とケース材とで形成された封止空間内に配置した
ことを特徴とする。
枚の集積回路基板を固着一体化するケース材の一側面に
シングルインライン型樹脂モールドされた不揮発性メモ
リーを配置し且つ二枚の基板上に形成した導電路と接続
し、マイクロコンピュータ及びその周辺回路素子を二枚
の基板とケース材とで形成された封止空間内に配置した
ことを特徴とする。
従ってEPROMを搭載した混成集積回路を小型化でし
かも二枚の基板上の全面に回路素子を実装することがで
き、高密度実装のEFROM内蔵の混成集積回路装置を
提供することができる。
かも二枚の基板上の全面に回路素子を実装することがで
き、高密度実装のEFROM内蔵の混成集積回路装置を
提供することができる。
〈ホ)作用
この様に本発明に依れば、二枚の基板を固着一体化する
ケース材の一側面にシングルインライン型樹脂モールド
された不揮発性メモリーを配置し、いずれかの基板上の
導電路と接続しているので、不揮発性メモリーの載置位
置を任意に設定でき、内蔵するマイクロコンピュータと
の電気的接続を考慮して、効率良<EPROMとマイク
ロコンピュータとを接続することができ、信号線即ち導
電路の引回し線を不要にすることができる。
ケース材の一側面にシングルインライン型樹脂モールド
された不揮発性メモリーを配置し、いずれかの基板上の
導電路と接続しているので、不揮発性メモリーの載置位
置を任意に設定でき、内蔵するマイクロコンピュータと
の電気的接続を考慮して、効率良<EPROMとマイク
ロコンピュータとを接続することができ、信号線即ち導
電路の引回し線を不要にすることができる。
更にEPROMの隣接する位置に最も関連の深いマイク
ロコンピュータを配置でき、EPROMとマイクロコン
ピュータ間のデータのやりとりを行うデータ線を最短距
離あるいは最小距離で実現でき、データ線の引回しによ
る実装密度のロスを最小限に抑制することになり、高密
度の実装が行える。
ロコンピュータを配置でき、EPROMとマイクロコン
ピュータ間のデータのやりとりを行うデータ線を最短距
離あるいは最小距離で実現でき、データ線の引回しによ
る実装密度のロスを最小限に抑制することになり、高密
度の実装が行える。
更に本発明では不揮発性メモリー以外の釡での回路素子
はチップ部品で二枚の基板とケース材とで形成された封
止空間内に配置され且つ不揮発性メモリーは夫々の基板
の周端部の導電路に接続され、実質的にケース材の側面
に搭載されることにより、夫々の基板全面を実装面積と
して利用できるため、小型化あるいは高密度実装の優れ
たEFROM内蔵の混成集積回路装置を提供することが
できる。
はチップ部品で二枚の基板とケース材とで形成された封
止空間内に配置され且つ不揮発性メモリーは夫々の基板
の周端部の導電路に接続され、実質的にケース材の側面
に搭載されることにより、夫々の基板全面を実装面積と
して利用できるため、小型化あるいは高密度実装の優れ
たEFROM内蔵の混成集積回路装置を提供することが
できる。
(へ)実施例
以下に第1図乃至第12図に示した実施例に基づいて本
発明の混成集積回路装置を詳細に説明する。
発明の混成集積回路装置を詳細に説明する。
第1図および第2図には、本発明の一実施例の混成集積
回路装置り1)が示されている。この混成集積回路装置
(1)は独立した電子部品として用いられコンピユータ
等の幅広い分野で機能を独立して有する集積回路として
用いられる。
回路装置り1)が示されている。この混成集積回路装置
(1)は独立した電子部品として用いられコンピユータ
等の幅広い分野で機能を独立して有する集積回路として
用いられる。
この混成集積回路装置(1)は第1図および第2図に示
す様に、二枚の集積回路基板(2)(3)と、二枚の集
積回路基板(2)(3)上に形成された所望形状の導電
路〈5)と、夫々の導電路(5)と接続されシングルイ
ンライン型樹脂モールドされた不揮発性メモリー(6)
と、そのメモリー(6〉からデータを供給され且つ不揮
発性メモリー(6)が搭載された導電路(5)と接続さ
れたマイクロコンピュータ(7)と、二枚の基板(2)
(3)上の導電路<5〉と接続された周辺の回路素子(
8)と、二枚の基板(2)(3)を離間して一体化する
ケース材(9)とをから構成される。
す様に、二枚の集積回路基板(2)(3)と、二枚の集
積回路基板(2)(3)上に形成された所望形状の導電
路〈5)と、夫々の導電路(5)と接続されシングルイ
ンライン型樹脂モールドされた不揮発性メモリー(6)
と、そのメモリー(6〉からデータを供給され且つ不揮
発性メモリー(6)が搭載された導電路(5)と接続さ
れたマイクロコンピュータ(7)と、二枚の基板(2)
(3)上の導電路<5〉と接続された周辺の回路素子(
8)と、二枚の基板(2)(3)を離間して一体化する
ケース材(9)とをから構成される。
二枚の集積回路基板(2)(3)はセラミックス、ガラ
スエポキシあるいは金属等の硬質基板が用いられ、本実
施例では放熱性および機械的強度に優れた金属基板を用
いるものとする。
スエポキシあるいは金属等の硬質基板が用いられ、本実
施例では放熱性および機械的強度に優れた金属基板を用
いるものとする。
金属基板としては例えば0.5〜1.or@厚のアルミ
ニウム基板を用いる。その二枚の基板(2)(3)の表
面には第4図に示す如く、周知の陽極酸化により酸化ア
ルミニウム膜(9)(アルマイト層)が形成され、その
−主面側に10〜70μ厚のポリイミド等のフレキシブ
ル性を有した絶縁樹脂層(1O)が貼着される。更に絶
縁樹脂層(10)上には10〜70μ厚の銅箔(11)
が絶縁樹脂層り10)と同時にローラーあるいはホット
プレス等の手段により貼着されている。ところで、二枚
の基板(2)(3)はフレキシブル性を有する絶縁樹脂
層(10)によって所定の間隔離間されて連結された状
態となっている。
ニウム基板を用いる。その二枚の基板(2)(3)の表
面には第4図に示す如く、周知の陽極酸化により酸化ア
ルミニウム膜(9)(アルマイト層)が形成され、その
−主面側に10〜70μ厚のポリイミド等のフレキシブ
ル性を有した絶縁樹脂層(1O)が貼着される。更に絶
縁樹脂層(10)上には10〜70μ厚の銅箔(11)
が絶縁樹脂層り10)と同時にローラーあるいはホット
プレス等の手段により貼着されている。ところで、二枚
の基板(2)(3)はフレキシブル性を有する絶縁樹脂
層(10)によって所定の間隔離間されて連結された状
態となっている。
二枚の基板(2)(3)の−主面上に設けられた銅箔(
11)表面上にはスクリーン印刷によって所望形状の導
電路を露出してレジストでマスクされ、貴金属(金、銀
、白金)メッキ層が銅箔(11)表面にメッキされる。
11)表面上にはスクリーン印刷によって所望形状の導
電路を露出してレジストでマスクされ、貴金属(金、銀
、白金)メッキ層が銅箔(11)表面にメッキされる。
然る後、レジストを除去して貴金属メッキ層をマスクと
して銅箔(11)のエツチングを行い所望の導電路り5
)が形成される。ここでスクリーン印刷による導電路(
5)の細さは0.511111が限界であるため、極細
配線パターンを必要とするときは周知の写真蝕刻技術に
依り約2μまでの極細導電路(5)の形成が可能となる
。
して銅箔(11)のエツチングを行い所望の導電路り5
)が形成される。ここでスクリーン印刷による導電路(
5)の細さは0.511111が限界であるため、極細
配線パターンを必要とするときは周知の写真蝕刻技術に
依り約2μまでの極細導電路(5)の形成が可能となる
。
夫々の基板(2)(3)上の導電路(5)にはシングル
インライン型不揮発性メモリー(6)とそのメモリー(
6)からデータを供給されるマイクロコンピュータ(7
)が搭載され、一方の基板(3)及び他方の基板(2)
上の導電路(5)にその周辺の回路素子(8)が搭載さ
れている。また両基板(2)(3)の−側辺あるいは対
向する側辺周端部に導電路(5)が延在され外部リード
端子(12)(13)を固着するための複数のパッドが
形成されている。このパッドには外部リード端子(12
)(13)が半田によって固着され、水平に導出されて
その中央部分で略直角に折曲られている。また両基板(
2)(3)上に形成されている導電路(5)はフレキシ
ブル樹脂層(10)上に形成されているので二枚の基板
(2)(3)を股がる様にバターニングされ両基板(2
)(3)の接続が所定の位置でしかも任意に行えること
ができる。
インライン型不揮発性メモリー(6)とそのメモリー(
6)からデータを供給されるマイクロコンピュータ(7
)が搭載され、一方の基板(3)及び他方の基板(2)
上の導電路(5)にその周辺の回路素子(8)が搭載さ
れている。また両基板(2)(3)の−側辺あるいは対
向する側辺周端部に導電路(5)が延在され外部リード
端子(12)(13)を固着するための複数のパッドが
形成されている。このパッドには外部リード端子(12
)(13)が半田によって固着され、水平に導出されて
その中央部分で略直角に折曲られている。また両基板(
2)(3)上に形成されている導電路(5)はフレキシ
ブル樹脂層(10)上に形成されているので二枚の基板
(2)(3)を股がる様にバターニングされ両基板(2
)(3)の接続が所定の位置でしかも任意に行えること
ができる。
不揮発性メモリー(6)としてシングルインライン型樹
脂モールドされたE F ROM (Erasabla
Programable Read 0nly Mem
ory)が用いられる(以下不揮発性メモリー(6)を
EFROMという)。このEFROM(6)は周知の如
く、EPROM (6)のペレットに形成されでいるフ
ローティングゲートに蓄積されている電子(プログラム
・データ)を光を照射して励起させて未記憶状態のベレ
ットに戻し再書込みして利用できる素子である。
脂モールドされたE F ROM (Erasabla
Programable Read 0nly Mem
ory)が用いられる(以下不揮発性メモリー(6)を
EFROMという)。このEFROM(6)は周知の如
く、EPROM (6)のペレットに形成されでいるフ
ローティングゲートに蓄積されている電子(プログラム
・データ)を光を照射して励起させて未記憶状態のベレ
ットに戻し再書込みして利用できる素子である。
一般的なE F ROM(6)の構造は第5図および第
6図に示す様に5IP(シングル・イン・ライン)型で
あり、大別すると樹JIWモールド型パッケージタイプ
とセラミックス型パッケージタイプとがある。樹脂モー
ルド型あるいはセラミックス型のいずれのタイプにおい
てもペレット(14)のメモリーを消去するために光を
照射する必要があるため、モールド樹脂の側面でベレッ
ト(14)の上面にあたる部分はエネルギーの高い光(
紫外線)を透過する透過部材(15〉が配置されている
。本実施例ではSIP型のEPROM(6)であれば樹
脂モールド型あるいはセラミックス型のどちらのタイプ
のパッケージを用いてもよい。この様なEFROM装置
は特開昭53−74358号公報および特開昭62−2
90160号公報に開示されている。
6図に示す様に5IP(シングル・イン・ライン)型で
あり、大別すると樹JIWモールド型パッケージタイプ
とセラミックス型パッケージタイプとがある。樹脂モー
ルド型あるいはセラミックス型のいずれのタイプにおい
てもペレット(14)のメモリーを消去するために光を
照射する必要があるため、モールド樹脂の側面でベレッ
ト(14)の上面にあたる部分はエネルギーの高い光(
紫外線)を透過する透過部材(15〉が配置されている
。本実施例ではSIP型のEPROM(6)であれば樹
脂モールド型あるいはセラミックス型のどちらのタイプ
のパッケージを用いてもよい。この様なEFROM装置
は特開昭53−74358号公報および特開昭62−2
90160号公報に開示されている。
一方、EPROM(6)のプログラム・データを選択し
て供給されるマイクロコンピュータ(7)およびその周
辺の回路素子(8)のIC、トランジスタ、チップ抵抗
およびチップコンデンサー等はチップ部品で所望の導電
路り5)上に半田付けあるいはAgペースト等のろう材
によって付着され、マイクロコンピュータ(7)および
回路素子(8)は近傍の導電路(5)にボンディング接
続されている。
て供給されるマイクロコンピュータ(7)およびその周
辺の回路素子(8)のIC、トランジスタ、チップ抵抗
およびチップコンデンサー等はチップ部品で所望の導電
路り5)上に半田付けあるいはAgペースト等のろう材
によって付着され、マイクロコンピュータ(7)および
回路素子(8)は近傍の導電路(5)にボンディング接
続されている。
更に導電路(5)間にはスクリーン印刷によるカーボン
抵抗体あるいはニッケルメッキによるニッケルメッキ抵
抗体が抵抗素子として形成されている。
抵抗体あるいはニッケルメッキによるニッケルメッキ抵
抗体が抵抗素子として形成されている。
上述した二枚の基板(2)(3)はケース材(9)を挾
持する様に固着一体化され、そのケース材(9〉の−辺
の側面にSIP型EPROM(6)が配置される。即ち
、SIP型EFROM(6)は他方の基板(3)の導電
路り5)と接続され、他方の基板(3)上に搭載される
ことになる。更に詳述すればSIP型E P ROM(
6)は他方の基板(3)の周端部の導電路(5)上に固
着されたソケット(16)を介して導電路(5)と接続
されることになる。
持する様に固着一体化され、そのケース材(9〉の−辺
の側面にSIP型EPROM(6)が配置される。即ち
、SIP型EFROM(6)は他方の基板(3)の導電
路り5)と接続され、他方の基板(3)上に搭載される
ことになる。更に詳述すればSIP型E P ROM(
6)は他方の基板(3)の周端部の導電路(5)上に固
着されたソケット(16)を介して導電路(5)と接続
されることになる。
ケース材(9)は絶縁部材の熱可塑性樹脂から形成され
、第3図に示す如く、二枚の基板(2)(3)を所定間
隔離間して封止空間(2〉を形成するために一定の厚み
を有し枠状に形成されている。ケース材(9)の−側面
にはソケット(16)、即ち、SIP型E P ROM
(6)を収納するための孔(4)が設けられている。そ
の孔(4)はSIP型EPROM(6)とソケット(1
6)を収納でき且つ、SIP型EFROM(6)の外形
と実質的に同形状で形成され、ケース材(9)の約半分
の厚みを利用して他方の基板(3)の内(11にくぼま
せている。またEPROM(6)の挿脱を容易に行うた
めにSIP型E P ROM(6)より若干大きめに形
成されている。更に孔り4)が設けられたケース材(9
)の他の一側辺には両基板(2)(3)を配置したとき
に樹脂層(10)が容易に折曲される様に円弧状に形成
されている。
、第3図に示す如く、二枚の基板(2)(3)を所定間
隔離間して封止空間(2〉を形成するために一定の厚み
を有し枠状に形成されている。ケース材(9)の−側面
にはソケット(16)、即ち、SIP型E P ROM
(6)を収納するための孔(4)が設けられている。そ
の孔(4)はSIP型EPROM(6)とソケット(1
6)を収納でき且つ、SIP型EFROM(6)の外形
と実質的に同形状で形成され、ケース材(9)の約半分
の厚みを利用して他方の基板(3)の内(11にくぼま
せている。またEPROM(6)の挿脱を容易に行うた
めにSIP型E P ROM(6)より若干大きめに形
成されている。更に孔り4)が設けられたケース材(9
)の他の一側辺には両基板(2)(3)を配置したとき
に樹脂層(10)が容易に折曲される様に円弧状に形成
されている。
ケース材(9)と二枚の基板(2)<3)との固着は接
着シートによって行われ、フィルム樹脂層(10)によ
って連結された両基板(2)(3)でケース材(9)を
挾む様に且つ搭載された回路素子を対向させる様にして
固着される。このとき、両基板(2)(3)を連結する
フィルム樹脂層(10)は上述したケース材(9)に設
けられた円弧状部と当接されて折曲げされるため折曲げ
部分の導電路(5)が折曲時に切断する恐れはない。ケ
ース材(9)と両基板(2)(3)とを一体化したのち
、連結部の樹脂層(10)が露出きれるため、本実施例
では蓋体(20)で露出した連結部分を完全に封止する
ものとする。尚、蓋体く20)はケース材(9)と同一
材料で形成され、その接着は上述した接着シート等の所
定の手段によって行われている。
着シートによって行われ、フィルム樹脂層(10)によ
って連結された両基板(2)(3)でケース材(9)を
挾む様に且つ搭載された回路素子を対向させる様にして
固着される。このとき、両基板(2)(3)を連結する
フィルム樹脂層(10)は上述したケース材(9)に設
けられた円弧状部と当接されて折曲げされるため折曲げ
部分の導電路(5)が折曲時に切断する恐れはない。ケ
ース材(9)と両基板(2)(3)とを一体化したのち
、連結部の樹脂層(10)が露出きれるため、本実施例
では蓋体(20)で露出した連結部分を完全に封止する
ものとする。尚、蓋体く20)はケース材(9)と同一
材料で形成され、その接着は上述した接着シート等の所
定の手段によって行われている。
ケース材(9)と二枚の基板(2)<3)を固着一体化
すると、ケース材(9)の−側辺に設けた孔(4)と基
板(2)<3)間にEFROM(6)が配置される。即
ち、孔(4)が固着される他方の基板(3)上の周端部
にはSIP型EPROM(6)と接続される複数の導電
路〈5)が形成され、その導電路(5)上にEFROM
(6)を接続するためのソケット(16)が半田固着さ
れている。ソケット(16)は、第2図に示す如く、S
IP型E F ROM(6)のリードが挿入されて接続
されることになる。即ち、SIP型EFROM(6)は
ソケット(16)を介して他方の基板(3)に搭載され
ることになる。ソケット(16)が固着された一方の導
電路(5)の他端はマイクロコンピュータ(7)の近傍
に延在されチップ状のマイクロコンピユータフ7)とボ
ンディングワイヤで電気的に接続される。即ち、SIP
型EFROM(6)と接続されるマイクロコンピュータ
(7)は他方の基板(3)上に設けたソケット(16)
の近傍に配置される。
すると、ケース材(9)の−側辺に設けた孔(4)と基
板(2)<3)間にEFROM(6)が配置される。即
ち、孔(4)が固着される他方の基板(3)上の周端部
にはSIP型EPROM(6)と接続される複数の導電
路〈5)が形成され、その導電路(5)上にEFROM
(6)を接続するためのソケット(16)が半田固着さ
れている。ソケット(16)は、第2図に示す如く、S
IP型E F ROM(6)のリードが挿入されて接続
されることになる。即ち、SIP型EFROM(6)は
ソケット(16)を介して他方の基板(3)に搭載され
ることになる。ソケット(16)が固着された一方の導
電路(5)の他端はマイクロコンピュータ(7)の近傍
に延在されチップ状のマイクロコンピユータフ7)とボ
ンディングワイヤで電気的に接続される。即ち、SIP
型EFROM(6)と接続されるマイクロコンピュータ
(7)は他方の基板(3)上に設けたソケット(16)
の近傍に配置される。
ここでSIP型E F ROM<6)とマイクロコンピ
ュータ(7)との位置関係について述べる。第7図はS
IP型EFROM(6)が挿入されるソケット(16)
とマイクロコンピュータ(7)とを他方の基板〈3)上
に配置したときの要部拡大図であり、SIP型EPRO
M(6)とチップ状のマイクロコンピュータ(7)とは
第7図に示す如く、多数本の導電路(5)を介して接続
されるため、その導電路(5〉の引回しを短くするため
にSIP型EPROM(6)が挿入されるソケット(1
6)とマイクロコンピユータ(7)は夫々、隣接する位
置かあるいはできるだけ近傍に位置する様に配置される
。従ってSIP型EFROM(6)が挿入されるソケッ
ト(16)とマイクロコンピュータ(7)との導電路(
5)の引回しは最短距離で形成でき基板上の実装面積を
有効に使用することができる。SIP型EFROM(6
)が挿入されるソケット(16)とその近傍あるいは隣
接した位置に配置されたチップ状のマイクロコンピュー
タ(7)は第7図の如く、マイクロコンピュータ(7)
の近傍に延在された導電路(5)の先端部とワイヤ線に
よってボンディング接続されソケット(16)にSIP
型EPROM(6)を挿入することにより電気的に接続
される。
ュータ(7)との位置関係について述べる。第7図はS
IP型EFROM(6)が挿入されるソケット(16)
とマイクロコンピュータ(7)とを他方の基板〈3)上
に配置したときの要部拡大図であり、SIP型EPRO
M(6)とチップ状のマイクロコンピュータ(7)とは
第7図に示す如く、多数本の導電路(5)を介して接続
されるため、その導電路(5〉の引回しを短くするため
にSIP型EPROM(6)が挿入されるソケット(1
6)とマイクロコンピユータ(7)は夫々、隣接する位
置かあるいはできるだけ近傍に位置する様に配置される
。従ってSIP型EFROM(6)が挿入されるソケッ
ト(16)とマイクロコンピュータ(7)との導電路(
5)の引回しは最短距離で形成でき基板上の実装面積を
有効に使用することができる。SIP型EFROM(6
)が挿入されるソケット(16)とその近傍あるいは隣
接した位置に配置されたチップ状のマイクロコンピュー
タ(7)は第7図の如く、マイクロコンピュータ(7)
の近傍に延在された導電路(5)の先端部とワイヤ線に
よってボンディング接続されソケット(16)にSIP
型EPROM(6)を挿入することにより電気的に接続
される。
ところで、SIP型EFROM(6)はケース材(9)
に設けた孔(4)内に収納されて他方の基板(3)と接
続された構造となりSIP型EFROM(6)の上面の
みが外部に露出することになる。このとき、SIP型E
PROM(6)の上面とケース材(9)の上面とが略一
致する様に孔(4)内にEFROM(6)を収納する際
に設定する。この結果、EPROM<6)だけが孔(4
)によって露出し、他のマイクロコンピュータ(7)お
よびその周辺回路素子(8)は両基板(2)<3)とケ
ース材(9)とで形成された封止空間(21)内に配置
されることになる。
に設けた孔(4)内に収納されて他方の基板(3)と接
続された構造となりSIP型EFROM(6)の上面の
みが外部に露出することになる。このとき、SIP型E
PROM(6)の上面とケース材(9)の上面とが略一
致する様に孔(4)内にEFROM(6)を収納する際
に設定する。この結果、EPROM<6)だけが孔(4
)によって露出し、他のマイクロコンピュータ(7)お
よびその周辺回路素子(8)は両基板(2)<3)とケ
ース材(9)とで形成された封止空間(21)内に配置
されることになる。
上述の如<、S I P型EPROM<6)と接続され
るマイクロコンピュータ(7)およびその周辺の回路素
子(8)は二枚の基板(2)(3)とケース材(9)で
形成された封止空間部(21)Jコ装置する様に設定さ
れている。即ち、チップ状の電子部品および印刷抵抗、
メッキ抵抗等の抵抗素子の全ての素子が封+h空間部(
21)内に設けられている。またEFROM(6)の側
面に設けた透過部材(15)は孔(4)の側面とほぼ当
接するので、孔(4)にE F ROM(6)を挿入す
るだけで遮光できる。
るマイクロコンピュータ(7)およびその周辺の回路素
子(8)は二枚の基板(2)(3)とケース材(9)で
形成された封止空間部(21)Jコ装置する様に設定さ
れている。即ち、チップ状の電子部品および印刷抵抗、
メッキ抵抗等の抵抗素子の全ての素子が封+h空間部(
21)内に設けられている。またEFROM(6)の側
面に設けた透過部材(15)は孔(4)の側面とほぼ当
接するので、孔(4)にE F ROM(6)を挿入す
るだけで遮光できる。
本実施例でEFROM(6)のデータ消去を行う場合は
ソケット(16)からEFROM(6)を離脱して紫外
線を照射する。また、再書込みの場合はEPROM(6
)をソケットから離脱して一般的なROMライターを使
用して電気的に書込みを行い、書込み後、ソケット(1
6)に挿入すればよい。
ソケット(16)からEFROM(6)を離脱して紫外
線を照射する。また、再書込みの場合はEPROM(6
)をソケットから離脱して一般的なROMライターを使
用して電気的に書込みを行い、書込み後、ソケット(1
6)に挿入すればよい。
以下に本発明を用いたモデム用の混成集積回路装置の具
体例を示す。
体例を示す。
先ス、モデム(MODEM)とはパーソナルフンピユー
タなどのデータ端末が扱うデジタル化されたデータを電
話回線を使って、お互に離れたところでデータ送受を行
うデータ通信のためにモデムが存在する。モデムの機能
はデジタル化されたデータを電話回線で使用できる周波
数を使って、データによる変調を行いアナログ信号にし
て電話回線に乗せることと、相手方から送られて来たデ
ータで変調されるアナログ信号を復調してデジタル化し
たデータに戻す機能を持つ。
タなどのデータ端末が扱うデジタル化されたデータを電
話回線を使って、お互に離れたところでデータ送受を行
うデータ通信のためにモデムが存在する。モデムの機能
はデジタル化されたデータを電話回線で使用できる周波
数を使って、データによる変調を行いアナログ信号にし
て電話回線に乗せることと、相手方から送られて来たデ
ータで変調されるアナログ信号を復調してデジタル化し
たデータに戻す機能を持つ。
第8図に示したブロック図に基づいてモデムを簡単に説
明する。
明する。
一第8図は集積回路基板(2)上にモデムを搭載したと
きのブロック図である。
きのブロック図である。
モデムは去ソコンより送信されたデータを内蔵するメモ
リー内に蓄積してそのデータを出力するDTEインター
フェース(31)と、DTEインターフェース(31)
より出力されたデータに基づいて所定の出力信号を出力
するマイクロコンピュータ〈7)と、マイクロコンピュ
ータ(7)からアト1/スされるデータを内蔵したE
F ROM(6)と、マイクロコンピュータ〈7)から
の出力信号を変復調しNCU(NETWORK C0
NTR0L UNIT)に出力する第1および第2の
変復調回路(32)(33〉と、マイクロコンピュータ
(7〉からの出力信号に応じて所望のDTMF信号(ト
ーン信号)を発生するDTMF発生器(34)とをから
構成されている。
リー内に蓄積してそのデータを出力するDTEインター
フェース(31)と、DTEインターフェース(31)
より出力されたデータに基づいて所定の出力信号を出力
するマイクロコンピュータ〈7)と、マイクロコンピュ
ータ(7)からアト1/スされるデータを内蔵したE
F ROM(6)と、マイクロコンピュータ〈7)から
の出力信号を変復調しNCU(NETWORK C0
NTR0L UNIT)に出力する第1および第2の
変復調回路(32)(33〉と、マイクロコンピュータ
(7〉からの出力信号に応じて所望のDTMF信号(ト
ーン信号)を発生するDTMF発生器(34)とをから
構成されている。
DTEインターフェース(31)は例えばSTC961
0(セイコーエプソン)等のICより成り、第9図の如
く、パソコンの出力信号を供給し、その出力信号を内蔵
メモリー内に蓄積してマイクロコンピュータ(7)へ出
力する送信メモリ一部(35)と、マイクロコンピュー
タ(7)からの出力信号が供給される信号を内蔵メモリ
ー内に蓄積してパソコン(38)へ出力する受信メモリ
一部(36)と、送信メモリ一部(35)および受信メ
モリ一部(36)を介して入出力される夫々の信号を切
替える制御部(37)とからなり、パソコン(38)と
マイクロコンピュータ(7)とを接続するための所定の
機能を有するものである。
0(セイコーエプソン)等のICより成り、第9図の如
く、パソコンの出力信号を供給し、その出力信号を内蔵
メモリー内に蓄積してマイクロコンピュータ(7)へ出
力する送信メモリ一部(35)と、マイクロコンピュー
タ(7)からの出力信号が供給される信号を内蔵メモリ
ー内に蓄積してパソコン(38)へ出力する受信メモリ
一部(36)と、送信メモリ一部(35)および受信メ
モリ一部(36)を介して入出力される夫々の信号を切
替える制御部(37)とからなり、パソコン(38)と
マイクロコンピュータ(7)とを接続するための所定の
機能を有するものである。
マイクロコンピュータ(7)は例えば5TC9620(
セイコーエプソン)等のICより成り、第10図の如く
、DTEインターフェース(31)から出力される出力
信号を認識するコマンド認識部と、コマンド認識部によ
って認識された出力信号を解読するコマンド解読部と、
コマンド解読部で解読された信号に基づいてメモリ一部
のデータと比(絞し変復調回路へデータを供給するコマ
ンド実行部と、コマンド解読部のデータとメモリ一部内
のデータとの比較結果、誤ったデータがコマンド実行部
に供給された際にDTEインターフェース(31)に出
力信号を出力する応答コード生成部とからなる。
セイコーエプソン)等のICより成り、第10図の如く
、DTEインターフェース(31)から出力される出力
信号を認識するコマンド認識部と、コマンド認識部によ
って認識された出力信号を解読するコマンド解読部と、
コマンド解読部で解読された信号に基づいてメモリ一部
のデータと比(絞し変復調回路へデータを供給するコマ
ンド実行部と、コマンド解読部のデータとメモリ一部内
のデータとの比較結果、誤ったデータがコマンド実行部
に供給された際にDTEインターフェース(31)に出
力信号を出力する応答コード生成部とからなる。
変復調回路(38)はマイクロコンピユータフ7)から
送信されるデジタル信号をアナログ信号に変換してNC
U部に送信する。また反対にNCU部から送信されたア
ナログ信号をデジタル信号に変換してマイクロコンピュ
ータ(7)へ送信するものであり、低速および中速夫々
のタイプの回路を備えている。第1の変復調回路(32
)は300bpsの低速変復調回路であり、第2の変復
調回路(33)は1200bpsの中速変復調回路であ
る。夫々の第1および第2の変復調回路(32)(33
)はマイクロコンピュータ(7)により、いずれか一方
の変復調回路が選択される。
送信されるデジタル信号をアナログ信号に変換してNC
U部に送信する。また反対にNCU部から送信されたア
ナログ信号をデジタル信号に変換してマイクロコンピュ
ータ(7)へ送信するものであり、低速および中速夫々
のタイプの回路を備えている。第1の変復調回路(32
)は300bpsの低速変復調回路であり、第2の変復
調回路(33)は1200bpsの中速変復調回路であ
る。夫々の第1および第2の変復調回路(32)(33
)はマイクロコンピュータ(7)により、いずれか一方
の変復調回路が選択される。
DTMF発生器(34)はマイクロコンピュータ(7)
のコマンド実行部より出力されたデータをCOL、RO
W夫々の入力端子に入力することで所定のDTMF信号
を発生し送信AMP(39)に出力して電話回線へ信号
を供給する。
のコマンド実行部より出力されたデータをCOL、RO
W夫々の入力端子に入力することで所定のDTMF信号
を発生し送信AMP(39)に出力して電話回線へ信号
を供給する。
EFROM(6)内にはモデムの各種のモードを設定す
るためのプログラムデータがメモリーされており、マイ
クロコンピュータ(7)のアドレスに基づいてマイクロ
コンピュータ(7)に供給される。
るためのプログラムデータがメモリーされており、マイ
クロコンピュータ(7)のアドレスに基づいてマイクロ
コンピュータ(7)に供給される。
次にモデ15の動作についてaSに説明する。
先ず、パソコン通信を開始するに当り、マイクロコンピ
ュータ(38)からの読出し信号に基づいて制御スイッ
チ(40)が動作し、所定のアドレスデータがEFRO
M<7)に供給され、そのアドレスに基づいたEFRO
M(6)のプログラム・データがマイクロコンピュータ
(7)に供給され、通信を行う夫々のモデムの通信規格
(BELL/CCITT規格)、通信速度(300/
1200 b pS)、データファーマットの一致、デ
ツプスイッチモードの切替等の各種のモードが一致して
いるかが確認される。
ュータ(38)からの読出し信号に基づいて制御スイッ
チ(40)が動作し、所定のアドレスデータがEFRO
M<7)に供給され、そのアドレスに基づいたEFRO
M(6)のプログラム・データがマイクロコンピュータ
(7)に供給され、通信を行う夫々のモデムの通信規格
(BELL/CCITT規格)、通信速度(300/
1200 b pS)、データファーマットの一致、デ
ツプスイッチモードの切替等の各種のモードが一致して
いるかが確認される。
各種のモードが一致しているとすると、パソコンに応答
側のモデムの電話番号をキー人力する。
側のモデムの電話番号をキー人力する。
その電話番号はパソコンとのインターフェース用のDT
Eインターフェース(31)に入力され、電話番号を解
読する為にマイクロコンピュータ(7)に転送される。
Eインターフェース(31)に入力され、電話番号を解
読する為にマイクロコンピュータ(7)に転送される。
その解読した結果をDTMF発生器(34)に送信し、
DTMF発生器(34)からDTMF信号が発信されそ
の信号は送信AMP(39)、ライントランス(41)
を介して一般電話回線へ転送される。
DTMF発生器(34)からDTMF信号が発信されそ
の信号は送信AMP(39)、ライントランス(41)
を介して一般電話回線へ転送される。
転送されたDTMF信号は応答側のモデムに対して呼出
し信号を送出し、応答側のモデムは呼出し信号を受信し
て自動着信する。すると応答側のモデムは接続手順の為
のアンサ−トーンを起呼側のモデムに対して送出する。
し信号を送出し、応答側のモデムは呼出し信号を受信し
て自動着信する。すると応答側のモデムは接続手順の為
のアンサ−トーンを起呼側のモデムに対して送出する。
起呼側のモデムではライントランス(41)、受信アン
プ(42)を通り低速変復調回路(32)でそのアンサ
−トーンが起呼側のモデムに附して所定のアンサ−トー
ンであるか否かを検出する。所定のアンサ−トーンであ
れば通信状態に入る。
プ(42)を通り低速変復調回路(32)でそのアンサ
−トーンが起呼側のモデムに附して所定のアンサ−トー
ンであるか否かを検出する。所定のアンサ−トーンであ
れば通信状態に入る。
通信状態となると、起呼側のパソコンのキーボードから
の所定のキー人力信号に基づいてパソコンからのパラレ
ルデータをDTEインターフェース(31)に入力し、
そのデータをマイクロコンピュータ(7)に転送する。
の所定のキー人力信号に基づいてパソコンからのパラレ
ルデータをDTEインターフェース(31)に入力し、
そのデータをマイクロコンピュータ(7)に転送する。
ここでパラレルデータをシリアルデータに変換する。シ
リアルデータに変換されたデジタル信号は低速変復調回
路(32)に送信される。ここでデジタル信号はアナロ
グ信号に変換され、それに対応した通信規格に基づいて
周波数変調FSKされ、送信A M P (39)、ラ
イントランス(41)を介して応答側のモデムに送信さ
れる。
リアルデータに変換されたデジタル信号は低速変復調回
路(32)に送信される。ここでデジタル信号はアナロ
グ信号に変換され、それに対応した通信規格に基づいて
周波数変調FSKされ、送信A M P (39)、ラ
イントランス(41)を介して応答側のモデムに送信さ
れる。
一方、応答側のパソコンのキー人力信号によって送出し
た周波数変調のアナログ信号は起呼側のモデムに送出さ
れ、ライントランス(41)、受信AM P (42)
を介して低速変復調回路(32)に入力される。ここで
アナログ信号はデジタル信号に変換されDTEインター
フェース〈31)に入力され、シリアルデジタル信号か
らパラレルデジタル信号に変換されて起呼側のパソコン
に入力される。その結果起呼側ヘパソコンと応答側のパ
ソコンは全二重通信ができる様になりパソコン通信が実
現する。
た周波数変調のアナログ信号は起呼側のモデムに送出さ
れ、ライントランス(41)、受信AM P (42)
を介して低速変復調回路(32)に入力される。ここで
アナログ信号はデジタル信号に変換されDTEインター
フェース〈31)に入力され、シリアルデジタル信号か
らパラレルデジタル信号に変換されて起呼側のパソコン
に入力される。その結果起呼側ヘパソコンと応答側のパ
ソコンは全二重通信ができる様になりパソコン通信が実
現する。
第11図は第8図で示したモデム回路を本実施例で用い
た他方の基板(3)上に実装した場合の平面図であり、
実装される回路素子の図符号は同一符号とする。SIP
型E F ROM(6)とマイクロコンピュータ(7)
との接続はパスラインで示す。
た他方の基板(3)上に実装した場合の平面図であり、
実装される回路素子の図符号は同一符号とする。SIP
型E F ROM(6)とマイクロコンピュータ(7)
との接続はパスラインで示す。
尚、複数の回路素子を接続する導電路は煩雑のため省略
する。
する。
第11図に示す如く、他方の基板(3)の対向する周端
部には外部リード端子(13)が固着される複数の固着
用バッド(5a)が設けられている。固着パッド(5a
)から延在される導電路(5)上清定位置には複数の回
路素子(8)およびSIP型EPROM(6)を搭載す
るソケット(16)が固着される。側基板(2)(3)
上にはSIP型EFROM(6)以外のマイクロコンピ
ュータ(7)を含む複数の回路素子(8)が固着されて
おり、(31)はDTEインターフェース、(32)<
(33)第1および第2の変復調回路、(34)はD
TMF発生回路、(40)はEFROM(6)を制御す
る制御スイッチ、(7)はマイクロコンピュータ、(8
)はコンデンサー等のチップ部品である。側基板(2)
(3)間の接続は絶縁樹脂層(10)上を延在させた導
電路(5〉により実現している。
部には外部リード端子(13)が固着される複数の固着
用バッド(5a)が設けられている。固着パッド(5a
)から延在される導電路(5)上清定位置には複数の回
路素子(8)およびSIP型EPROM(6)を搭載す
るソケット(16)が固着される。側基板(2)(3)
上にはSIP型EFROM(6)以外のマイクロコンピ
ュータ(7)を含む複数の回路素子(8)が固着されて
おり、(31)はDTEインターフェース、(32)<
(33)第1および第2の変復調回路、(34)はD
TMF発生回路、(40)はEFROM(6)を制御す
る制御スイッチ、(7)はマイクロコンピュータ、(8
)はコンデンサー等のチップ部品である。側基板(2)
(3)間の接続は絶縁樹脂層(10)上を延在させた導
電路(5〉により実現している。
第11図に示す如く、マイクロコンピユータフ7)の近
傍あるいは隣接する位置にSIP型EPROM<6)が
搭載されるソケット(16)が固着される。マイクロコ
ンピュータ(7〉の近傍あるいは隣接する位置にソケッ
ト(16)を固着することで、マイクロコンピユータフ
7〉とEPRO’M(6)とのパスライン、即ち導電路
(5)の引回し線の距離を最短でしかも最ノj1の距離
で引回すことができ、他の実装パターンを有効に使用で
きると共に高密度実装が行える。尚、一点鎖線で囲まれ
た領域は接着シートでケース材(9)が固着される領域
を示す。
傍あるいは隣接する位置にSIP型EPROM<6)が
搭載されるソケット(16)が固着される。マイクロコ
ンピュータ(7〉の近傍あるいは隣接する位置にソケッ
ト(16)を固着することで、マイクロコンピユータフ
7〉とEPRO’M(6)とのパスライン、即ち導電路
(5)の引回し線の距離を最短でしかも最ノj1の距離
で引回すことができ、他の実装パターンを有効に使用で
きると共に高密度実装が行える。尚、一点鎖線で囲まれ
た領域は接着シートでケース材(9)が固着される領域
を示す。
第12図は第11図で示した他方の基板(3)上にケー
ス材(9)を介して一方の基板(2)を固着したときの
モデム用の混成集積回路装置の完成品の平面図であり、
ケース材〈9)上面からはSIP型EPROM(6)の
上面のみが露出された状態となる。即ち、SIP型E
F ROM(6)以外の他の素子は全てケース材(9)
と二枚の基板(2)(3)とで形成された封止空間(2
1)内に封止され且つSIP型E F ROM(6)の
上面のみがケース材(9)の孔(4)から露出されるの
でSIP型EPROM(6)の挿脱が必要に応じて自由
自在に行うことができる。
ス材(9)を介して一方の基板(2)を固着したときの
モデム用の混成集積回路装置の完成品の平面図であり、
ケース材〈9)上面からはSIP型EPROM(6)の
上面のみが露出された状態となる。即ち、SIP型E
F ROM(6)以外の他の素子は全てケース材(9)
と二枚の基板(2)(3)とで形成された封止空間(2
1)内に封止され且つSIP型E F ROM(6)の
上面のみがケース材(9)の孔(4)から露出されるの
でSIP型EPROM(6)の挿脱が必要に応じて自由
自在に行うことができる。
以上に詳述したモデム用の混成集積回路装置のE P
ROM(6)には製品仕様の多様化に備え、仕向地、O
EM、自社販売等セットメーカ(ユーザ)が要望する仕
様変更に対して容易に対応することができる。即ち、E
FROM(6)以外の回路構成はあらかじめ各種の仕様
変更に対応する様に設計されていたが、特定のユーザの
仕様に基づいて混成集積回路を設計すると、他のユーザ
仕様と一致しないことがあった場合、従来では混成集積
回路自体の設計を見なおす必要があった。
ROM(6)には製品仕様の多様化に備え、仕向地、O
EM、自社販売等セットメーカ(ユーザ)が要望する仕
様変更に対して容易に対応することができる。即ち、E
FROM(6)以外の回路構成はあらかじめ各種の仕様
変更に対応する様に設計されていたが、特定のユーザの
仕様に基づいて混成集積回路を設計すると、他のユーザ
仕様と一致しないことがあった場合、従来では混成集積
回路自体の設計を見なおす必要があった。
しかし本発明の混成集積回路装置ではEFROM(6)
がいずれかの基板(2)(3)上に設けられたソケット
(9)を介していずれかの基板(2)(3)上に搭載さ
れ且つその表面がケース材(9)の孔(4)から露出さ
れた状態であるため、SIP型EPROM(6)の離脱
が行えるのでユーザ側でEPROMを選択して実装する
だけで1つの混成集積回路装置で多機種の混成集積回路
装置の実現が行える。
がいずれかの基板(2)(3)上に設けられたソケット
(9)を介していずれかの基板(2)(3)上に搭載さ
れ且つその表面がケース材(9)の孔(4)から露出さ
れた状態であるため、SIP型EPROM(6)の離脱
が行えるのでユーザ側でEPROMを選択して実装する
だけで1つの混成集積回路装置で多機種の混成集積回路
装置の実現が行える。
斯る本発明に依れば、ケース材(9)の側面に孔(4)
を設け、その孔(4)で露出したいずれかの基板<2)
(3)上の導電路(5)にソケット(16)を介してE
PROM(6)を接続し、側基板(2)(3)とケース
材(9)とで形成された。封止空間(21)にマイクロ
コンピュータ(7)および他の回路素子(8)を固着す
ることにより、混成集積回路とEPROMとの一体化し
た装置ができ且つ必要性に応じて容易にEPROMの挿
脱が行える大きな特徴を有する。
を設け、その孔(4)で露出したいずれかの基板<2)
(3)上の導電路(5)にソケット(16)を介してE
PROM(6)を接続し、側基板(2)(3)とケース
材(9)とで形成された。封止空間(21)にマイクロ
コンピュータ(7)および他の回路素子(8)を固着す
ることにより、混成集積回路とEPROMとの一体化し
た装置ができ且つ必要性に応じて容易にEPROMの挿
脱が行える大きな特徴を有する。
(ト)発明の効果
以上に詳述した如く、本発明に依れば、第1にケース材
(9)の−側面に孔〈4)を設け、その孔<4)で露出
したいずれかの基板(2)<3)上の導電路(5)にS
IP型EPROMを接読しているので、STP型EFR
OM(6)の載置位置を任意に選定できる利点を有する
。このため内蔵するマイクロコンピュータ(7)との電
気的接続を考慮して、効率良<srp型EFROM<6
)とマイクロコンピュータ(7)とを接続でき信号線の
引回しを不要にできる。更に詳述すルト、SIP型E
F ROM(6)(7)隣接する位置に最も関連の深い
マイクロコンピュータ(7)を配置でき、その結果SI
P型EFROM(6)とマイクロコンピュータ(7〉間
のデータのやりとりを行うデータ線を最短距離あるいは
最も設計容易なレイアウトで実現でき、データ線の引回
しによる実装密度のロスを最小限に抑制できる。更に二
枚の基板(2)(3)より形成されているため高密度で
且つ小型化の混成集積回路装置を提供することができる
。
(9)の−側面に孔〈4)を設け、その孔<4)で露出
したいずれかの基板(2)<3)上の導電路(5)にS
IP型EPROMを接読しているので、STP型EFR
OM(6)の載置位置を任意に選定できる利点を有する
。このため内蔵するマイクロコンピュータ(7)との電
気的接続を考慮して、効率良<srp型EFROM<6
)とマイクロコンピュータ(7)とを接続でき信号線の
引回しを不要にできる。更に詳述すルト、SIP型E
F ROM(6)(7)隣接する位置に最も関連の深い
マイクロコンピュータ(7)を配置でき、その結果SI
P型EFROM(6)とマイクロコンピュータ(7〉間
のデータのやりとりを行うデータ線を最短距離あるいは
最も設計容易なレイアウトで実現でき、データ線の引回
しによる実装密度のロスを最小限に抑制できる。更に二
枚の基板(2)(3)より形成されているため高密度で
且つ小型化の混成集積回路装置を提供することができる
。
第2にケース材(9)の−側面に設けた孔(4〉にSI
P型EFROM<6)を配置しているので、一体化した
小型の混成集積回路装置として取り扱える利点を有する
。更に二枚の集積回路基板(2)(3)上の組込むマイ
クロコンピュータおよびその周辺回路素子の実装密度を
向上することにより、従来必要とされたプリント基板を
廃止でき、1つの小型化されたSIP型E F ROM
(6)を着脱自在に内蔵する混成集積回路装置を実現で
きる。
P型EFROM<6)を配置しているので、一体化した
小型の混成集積回路装置として取り扱える利点を有する
。更に二枚の集積回路基板(2)(3)上の組込むマイ
クロコンピュータおよびその周辺回路素子の実装密度を
向上することにより、従来必要とされたプリント基板を
廃止でき、1つの小型化されたSIP型E F ROM
(6)を着脱自在に内蔵する混成集積回路装置を実現で
きる。
第3に集積回路基板(2)(3)として金属基板を用い
ることにより、その放熱効果をプリント基板に比べて大
幅に向上でき、より実装密度の向上に寄与できる。また
導電路<5)として銅箔(11)を用いることにより、
導電路(3)の抵抗値を導電ペーストより大幅に低減で
き、実装される回路をプリント基板と同等以上に拡張で
きる。
ることにより、その放熱効果をプリント基板に比べて大
幅に向上でき、より実装密度の向上に寄与できる。また
導電路<5)として銅箔(11)を用いることにより、
導電路(3)の抵抗値を導電ペーストより大幅に低減で
き、実装される回路をプリント基板と同等以上に拡張で
きる。
第4にEFROM(6)としてシングルインライン型を
用いることができるので、混成集積回路装置へのEPR
OM(6)の実装が極めて容易に実現でき且つEPRO
M(6)の透過部材(15)を挿入するので遮光できる
利点を有する。更にケース材(9)の孔(4)とSIP
型EPROM(6)の外形を同形状にすることによりケ
ース材(9)内にぴったり埋設でき、極めてすっきりし
た形状のEFROM内蔵型の混成集積回路装置を実現で
きる。
用いることができるので、混成集積回路装置へのEPR
OM(6)の実装が極めて容易に実現でき且つEPRO
M(6)の透過部材(15)を挿入するので遮光できる
利点を有する。更にケース材(9)の孔(4)とSIP
型EPROM(6)の外形を同形状にすることによりケ
ース材(9)内にぴったり埋設でき、極めてすっきりし
た形状のEFROM内蔵型の混成集積回路装置を実現で
きる。
第5にSIP型EFROM(6)と接続されるマイクロ
コンピュータ(7)およびその周辺回路素子(8)はケ
ース材(9)と二枚の集積回路基板(2)(3>とで形
成される封止空間(21)にダイ形状あるいはチップ形
状で組み込まれるので、従来のプリント基板の様に樹脂
モールドしたものに比較して極めて占有面積が小さくな
り、実装密度の大幅に向上できる利点を有する。
コンピュータ(7)およびその周辺回路素子(8)はケ
ース材(9)と二枚の集積回路基板(2)(3>とで形
成される封止空間(21)にダイ形状あるいはチップ形
状で組み込まれるので、従来のプリント基板の様に樹脂
モールドしたものに比較して極めて占有面積が小さくな
り、実装密度の大幅に向上できる利点を有する。
第6にケース材(9)と二枚の集積回路基板(2)(3
)の周端を実質的に一致させることにより、集積回路基
板<2>(3)のほぼ全面を封止空間(21)として利
用でき、実装密度の向上と相まって極めてコシバクトな
混成集積回路装置を実現できる。
)の周端を実質的に一致させることにより、集積回路基
板<2>(3)のほぼ全面を封止空間(21)として利
用でき、実装密度の向上と相まって極めてコシバクトな
混成集積回路装置を実現できる。
第7にケース材(9)の孔(4)に対応する他実の集積
回路基板〈3)上にソケット(16)を設けることによ
り、SIP型E F ROM(6)の着脱を自在に行え
、SIP型E F ROM(6)ノ交換や消去および再
書込みを自由に行える利点を有する。
回路基板〈3)上にソケット(16)を設けることによ
り、SIP型E F ROM(6)の着脱を自在に行え
、SIP型E F ROM(6)ノ交換や消去および再
書込みを自由に行える利点を有する。
第8にケース材(9)の側面とSIP型EFROM(6
)の上面を一致させることにより、平坦な上面を有する
混成集積回路装置を実現できる利点を有する。
)の上面を一致させることにより、平坦な上面を有する
混成集積回路装置を実現できる利点を有する。
第9に二枚の集積回路基板(2)(3)の−辺あるいは
相対向する辺から外部リード(12)(13)を導出で
き、極めて多ビンの混成集積回路装置位を実現できる利
点を有する。
相対向する辺から外部リード(12)(13)を導出で
き、極めて多ビンの混成集積回路装置位を実現できる利
点を有する。
第1図は本実施例を示す斜視図、第2図は第1図のI−
I断面図、第3図は本実施例で用いたケース材を示す斜
視図、第4図は本実施例で用いる基板の断面図、第5図
は本実施例で用いるEPROMの斜視図、第6図は第5
図の断面図、第7図は基板上のEPROM周辺を示す要
部拡大斜視図、第8図は本実施例で用いたモデムを示す
ブロック図、第9図は第8図で示したモデムのDTEイ
ンターフェースを示すブロック図、第10図は第8図で
示したモデムのマイクロコンピュータを示すブロック図
、第11図は第8図で示したブロック図を基板上に実装
したときの平面図、第12図は第11図に示した基板上
にケース材を固着したときの平面図、第13図および第
14図は従来のEFROM実装構造を示す断面図である
。 (1)・・・混成集積回路装置、 (2)(3)・・・
集積回路基板、 (5)・・・導電路、 (6)・・・
SIP型EFROM、 (7)・・・マイクロコン
ピュータ、 (8〉・・・回路素子、 (4)・・・孔
、 (9)・・・ケース材、 (16)・・・ソケット
。
I断面図、第3図は本実施例で用いたケース材を示す斜
視図、第4図は本実施例で用いる基板の断面図、第5図
は本実施例で用いるEPROMの斜視図、第6図は第5
図の断面図、第7図は基板上のEPROM周辺を示す要
部拡大斜視図、第8図は本実施例で用いたモデムを示す
ブロック図、第9図は第8図で示したモデムのDTEイ
ンターフェースを示すブロック図、第10図は第8図で
示したモデムのマイクロコンピュータを示すブロック図
、第11図は第8図で示したブロック図を基板上に実装
したときの平面図、第12図は第11図に示した基板上
にケース材を固着したときの平面図、第13図および第
14図は従来のEFROM実装構造を示す断面図である
。 (1)・・・混成集積回路装置、 (2)(3)・・・
集積回路基板、 (5)・・・導電路、 (6)・・・
SIP型EFROM、 (7)・・・マイクロコン
ピュータ、 (8〉・・・回路素子、 (4)・・・孔
、 (9)・・・ケース材、 (16)・・・ソケット
。
Claims (11)
- (1)二枚の相対向して配置された集積回路基板と、 前記基板の対向する主面に形成された所望パターンを有
する導電路と、 前記導電路に接続された樹脂モールドされたシングルイ
ンライン型の不揮発性メモリーと、前記メモリーからデ
ータを供給され且つ前記基板上の導電路と接続されたマ
イクロコンピュータおよびその周辺回路素子と、 前記基板間に一体化されたケース材とを具備し、 前記不揮発性メモリーを前記ケース材の一辺に配置し且
つ前記導電路と接続し、前記両基板と前記ケース材で形
成された封止空間に前記マイクロコンピュータおよびそ
の周辺回路素子を配置したことを特徴とする混成集積回
路装置。 - (2)前記集積回路基板として表面を絶縁した金属基板
を用いたことを特徴とする請求項1記載の混成集積回路
装置。 - (3)前記両基板の形状を実質的に同一形状とすること
を特徴とする請求項1記載の混成集積回路装置。 - (4)前記導電路として銅箔を用いたことを特徴とする
請求項1記載の混成集積回路装置。 - (5)前記マイクロコンピュータは前記導電路上にダイ
形状で組み込まれることを特徴とする請求項1記載の混
成集積回路装置。 - (6)前記周辺回路素子としてチップ抵抗、チップコン
デンサーを用いることを特徴とする請求項1記載の混成
集積回路装置。 - (7)前記ケース材を前記両基板の周端部とほぼ一致さ
せた一定の厚みを有する枠体とすることを特徴とする請
求項1記載の混成集積回路装置。 - (8)前記不揮発性メモリーを前記枠体に設けた孔に埋
め込んで配置したことを特徴とする請求項7記載の混成
集積回路装置。 - (9)請求項7において、前記枠体に前記一方の基板の
前記導電路と接続されたソケットを設け、前記ソケット
に前記不揮発性メモリーを挿入し、前記不揮発性メモリ
ーの消去用窓を前記ケース材に当接させたことを特徴と
する混成集積回路装置。 - (10)請求項8において、前記不揮発性メモリーの上
面と前記ケース材の上面とを実質的に一致させたことを
特徴とする混成集積回路装置。 - (11)請求項1において、前記両基板の接続体を前記
不揮発性メモリーを設けた辺と異なる辺に設けたことを
特徴とする混成集積回路装置。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1119113A JPH0680770B2 (ja) | 1989-05-12 | 1989-05-12 | 混成集積回路装置 |
| US07/510,467 US5285107A (en) | 1989-04-20 | 1990-04-18 | Hybrid integrated circuit device |
| EP90107414A EP0393657B1 (en) | 1989-04-20 | 1990-04-19 | Hybrid integrated circuit device |
| DE69031141T DE69031141T2 (de) | 1989-04-20 | 1990-04-19 | Integrierte Hybridschaltungsanordnung |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1119113A JPH0680770B2 (ja) | 1989-05-12 | 1989-05-12 | 混成集積回路装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02298062A true JPH02298062A (ja) | 1990-12-10 |
| JPH0680770B2 JPH0680770B2 (ja) | 1994-10-12 |
Family
ID=14753243
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1119113A Expired - Lifetime JPH0680770B2 (ja) | 1989-04-20 | 1989-05-12 | 混成集積回路装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0680770B2 (ja) |
-
1989
- 1989-05-12 JP JP1119113A patent/JPH0680770B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0680770B2 (ja) | 1994-10-12 |
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