JPH0290238A

JPH0290238A - 高負荷検証方式

Info

Publication number: JPH0290238A
Application number: JP63241856A
Authority: JP
Inventors: Kazuo Chie; 千枝　和男
Original assignee: Hitachi Ltd
Current assignee: Hitachi Ltd
Priority date: 1988-09-27
Filing date: 1988-09-27
Publication date: 1990-03-29

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】〔産業上の利用分野〕本発明は、高負荷検証方式に関し、特に装置の高負荷状
態における機能検証を行うのに好適な検証方式に関する
ものである。

〔従来の技術〕

従来、単体の製品検査により正常と判断された各種装置
、例えば、処理装置や複数の入出力装置等を接続してシ
ステムを構成した場合、各装置の機能が正常に働かない
ことがあるので、このようなシステムの高負荷時の動作
検証を行う必要がある。この高負荷時の動作検証は、第
８図で示すように、被検証装置１の検証対象機能１１に
対して検証プログラム３を実行することで行われる。こ
の検証プログラム３は、決められた検証条件３１（例え
ばＩ１０命令とＣＰＵの命令の起動時間、データ長、命
令のタイプなど）により検証実行部３２で検証を実行す
る。例えば、Ｉ１０命令により装置を起動させておき、
ある時間間隔によりＣＰＵの命令を実行させる。そして
、結果評価部３３でその実行結果をもとに評価を行う。

結果評価部３３は、検証実行部３２の結果が期待するも
のであれば、正常に機能しているものとしていた。

なお、この種の装置としては特開昭６２−１７１０４７
号公報が挙げられる。

〔発明が解決しようとする課題〕

上記従来技術では、検証用のプログラムを実行した結果
が正常に動作していれば、正しく動作しているものとし
て扱っているが、検証目的としている状態が発生してい
る保証が困難なため、検証精度の点で問題があった。ま
た、検証精度を上げるために測定装置等を付加し、最適
な検証条件（例えば、タイミングデータ）を設定しても
複数台の装置を対象とした場合に、各装置毎に検証条件
が微妙に異なるため装置毎にプログラムを変更する必要
がある。このため、適応装置への対応上の問題があった
。

本発明の目的は、このような従来の問題を解決し、検証
プログラムの変更をすることなく、検証精度を向上させ
る高負荷検証方式を提供することにある。

〔課題を解決するための手段〕

上記目的を達成するため、本発明の高負荷検証方式は、
被検証装置の検証対象機能を検証する手段を有する高負
荷検証システムにおいて、上記被検証装置の動作状態を
保持する手段と、該動作状態をプログラムから読取る手
段と、上記動作状態を検証条件にフィードバック補正す
る手段とを設けたことに特徴がある。

〔作用〕

本発明においては、高負荷状態での動作を検証するプロ
グラムは、命令の実行時間、論理上の時間的な遅れ等の
装置固有な要素による影響が大きい。このため、装置固
有の要素に影響されず、安定した精度の保証が要求され
る。そこで、検証中の被試験装置の状態を検証プログラ
ムが読取り検証条件にフィードバック自動修正（例えば
、時間間隔やデータ長を変化させる）することを可能と
する。この結果、検証プログラムは、被検証装置に適合
した検証条件を自動的に作り出し、装置固有の物理的な
影響を抑え、検証精度の向上が可能となる。

〔実施例〕

以下、本発明の一実施例を、図面により詳細に説明する
。

第１図は、本発明の一実施例を示す高負荷検証システム
の機能構成図である。

第１図において、１は被検証装置、２は高負荷状態の動
作検証を行うための検証プログラム、１１は動作検証の
対象となる被検証装置１の検証対象機能、１２は装置の
動作状態を保持する装置状態保持部、２１は検証条件の
初期値を設定する初期設定部、２２は装置の動作状態（
競合状態）を検証条件にフィードバック補正する検証条
件比較補正部、２３は自動的に補正された検証条件によ
り検証実行を行う検証実行部、２４は検証実行結果をも
とに検証評価を行う検証結果評価部である。

従来の検証プログラム３は、あらかじめ設定された検証
条件に従って検証実行等を行うだけであった（被検証装
置に応じてプログラムの変更の必要があった）のに対し
、本実施例の検証プログラム２は、被検証装置１の装置
状態保持部１２に保持された競合状態を受けて競合状態
の比較チエツクによる検証条件の自動補正機能を持つ点
が異なり、それにより、装置の高負荷状態を自動的に作
成し、検証精度の向上を図っている。ここでいう競合状
態としては、プロセッサ内部、チャネル内部、Ｉ１０内
部などの場合が考えられる。すなわち、プロセッサ内部
（一部チャネルを含む）の場合は、■マルチＣＰＵ構成
時の共用メモリ、通信命令ぶつかりによる競合、■バッ
ファメモリ登録。

アドレス変換情報の登録のキャンセル、追出しの競合、
■メモリまたはバッファメモリ内特定領域でのＣＰＵ、
チャネルからの読出し、書替え動作の競合、■ＣＰＵ、
ＣＰＵ用内部障害処理と通常処理のぶつかりによる競合
などである。また、チャネル内部の場合は、■同一チャ
ネル下において複数Ｉ１０を動作させた時の各制御信号
の競合。

■チャネル制御用メモリでのＣＰＵとの競合などである
。さらに、Ｉ１０内部の場合は、■複数のシステムまた
はチャネルからシェアされているＩｌｏの制御装置内部
での競合（Ｉ１０データ処理中のデバイスからの非同期
割込み等）、■Ｉ１０内部での障害処理中のＩ１０起動
、またはＴ２Ｏ動作中の障害処理の競合などである。こ
れらの競合状態のことを単に「競合状態」という。

第２図は、第１図における装置状態保持部１２の構成例
を示す図である。

装置状態保持部１２は、被検証装置１の各機能の状態出
力信号を受けるゲート１１２と、そのゲート出力である
信号を記録保持するためのレジスタ１１１より構成され
る。ゲート１１２は各機能からの状態出力信号を被検証
装置使用中信号でサンプリングする。レジスタ１１１は
被検証装置の起動時にリセットされ、検証プログラム２
の検証結果評価部２４で読出される。

第３図は、第１図における検証対象機能１１の一例を示
す図である。ここで、１２１は機能Ａ、１２２は状態出
力信号（機能Ａの競合状態を示す信号）を出力するゲー
ト、１２３は一定時間経過後機能Ａを使用する機能Ｂ、
１２４は直ちに機能Ａを使用する機能Ｃを示している。

また、機能Ａは、機能Ｂ、Ｃから共通に起動使用される
。

本来、上述したように機能Ｃは、機能Ｂよりも優先順位
が高いが、検証プログラム２から機能Ｂ（１２３）およ
び機能Ｃ（１２４）が起動されると。

機能Ｂ、Ｃは機能Ａを共通に起動して使用する。

このとき、ゲート１２２により起動要求が競合したこと
を検出し、競合状態を状態出力信号とじて出力する。

第４図は、第１図における初期設定部２１の処理動作フ
ローチャートである。以下、第４図のフローに従い、初
期設定動作について説明する。

初期設定部２１は、検証条件比較補正部２２の初期値を
設定する。まず、初期値Ｔ（Ｔは検証実行部２３での機
能Ｂと機能Ｃの起動間隔を示す）を設定する（ステップ
４０１）。次にメモリ（図示せず）のエリアＴ。には検
証条件として競合状態が発生するＴの下限値を格納記憶
する。メモリ（図示せず）のエリア子工には検証条件と
して競合状態が発生するＴの上限値を格納記憶する。メ
モリ（図示せず）のエリアＳには検証実行後の装置状態
を格納記憶する。各エリアＴ０．Ｔ工およびＳをクリア
する（ステップ４０２）。エリアＴａには初期設定時に
＋αの値を設定する（ステップ４０３）。

ここで、エリアＴヶは検証条件の補正値を格納するエリ
アであり、＋αまたは−αの値を設定する。

第５図は、第１図における検証条件比較補正部２２の処
理動作フローチャートである。以下、第５図のフローに
従い、検証条件比較補正処理について説明する。

検証条件の補正は、装置状態によりＴの値を可変するこ
とで行う。装置状態はＳの内容を比較チエツク（ステッ
プ５０１）することで競合状態の発生の有無を確認する
。競合状態が発生していなければエリアＴ、の補正値を
チエツク（ステップ５０２）し補正の方向を決める。た
だし、補正開始時は、競合状態が発生するまで増加方向
で補正する。このときに競合が発生したかどうかは、Ｔ
ｏが確定しているかどうかで判定する（ステップ５０３
）。　しかし、Ｔの値を増加させ続けると、検証条件の
最適状態からはずれ競合が発生しなくなる。この状態は
エリアＴ０の値が確定しているか（ステップ５０３）で
確認し、競合条件を通過していれば、補正値を減少方向
に変更する（ステップ５０４）。また、減少方向への補
正を続けると、増加時と同様に検証条件の最適状態から
はずれることになるが、前記補正値が不一致となり（ス
テップ５０２）、再度補正値を増加方向に変更する（ス
テップ５０５）。Ｔの値の補正は、補正値決定後Ｔに補
正値Ｔ４を加算する（ステップ５１１）ことで行う。

装置状態Ｓの内容チエツク（ステップ５ｏ１）により、
競合状態発生中は、補正値をチエツク（ステップ５０６
）Ｌ、Ｔの下限値のＴ。およびＴの上限値のＴ１の設定
を行う。エリアＴ０には初めて競合状態が発生したとき
（ステップ５０７）にその時のＴの値を格納設定する（
ステップ５０８）。エリア子工には減少方向の補正によ
り初めて競合状態が発生したとき（ステップ５０９）に
その時のＴの値を格納設定する（ステップ５１０）。

この補正処理を行うことで検証条件Ｔの値を競合の発生
する最適状態の範囲内に常時設定が可能となる。また、
エリアＴ、、Ｔ工の値は示した処理フローの中では直接
使用していないが、記録保持させておくことで、検証プ
ログラムの再起動時の初期値として学習機能を持たせる
ことが可能になる。

第６図は、第１図における検証実行部２３の処理動作フ
ローチャートである。以下、第６図のフローに従い、検
証実行処理について説明する。

検証は特定の時間Ｔの間隔で機能Ｂ、Ｃを起動し、動作
させることで行う。まず、装置の動作を決定するデータ
の設定、設定コマンドの実行１機能Ｂ、Ｃ実行結果格納
領域のクリアをすることにより１機能Ａ、Ｂ、Ｃの初期
化を行う（ステップ６０１）。次に機能Ｃの動作を開始
させるためのコマンドを実行することにより、機能Ｃを
起動する（ステップ６０２）。補正され九Ｔの値の間２
時間待ちを行い、機能Ｂを起動するまでの時間間隔を決
める（ステップ６０３）。次に機能Ｂの動作を開始させ
るためのコマンドを実行することにより、機能Ｂを起動
する（ステップ６０４）。この機能Ｂの起動により、機
能Ｃの動作との競合が発生することを期待する。そして
、機能Ｂおよび機能Ｃを動作させた結果得られる終了報
告があるまで待つ（ステップ６０５）。

第７図は、第１図における検証結果評価部２４の処理動
作フローチャートである。以下、第７図のフローに従い
、検証結果評価処理について説明する。

評価は、機能Ｂ、Ｃの実行結果を取込み（ステップ７０
２）、期待値と一致するか比較（ステップ７０３）チエ
ツクすることで行う。結果は期待値と不一致の場合のみ
エラーとして表示出力（ステップ７０４）する。検証実
行時の装置状態は装置状態保持部１２より読取り、エリ
アＳに格納（ステップ７０１）しておき、検証条件比較
補正部２２に渡す。

〔発明の効果〕

以上説明したように１本発明によれば、従来装置固有な
物理的な要素による影響を自動的に補正することができ
るので、検証精度を向上できる。

また、性能の異なる装置に対しても、自動補正により検
証可能となり、検証プログラムの修正を必要としないた
め、プログラムの保守性、生産性も向上できる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例を示す高負荷検証システムの
機能構成ブロック図、第２図は第１図における装置状態
保持部を示す図、第３図は検証対象の一例を示すブロッ
ク図、第４図は第１図における初期設定部の処理動作フ
ローチャート、第５図は第１図における検証条件比較補
正部の処理動作フローチャート、第６図は第１図におけ
る検証実行部の処理フローチャート、第７図は第１図に
おける検証結果評価部の処理フローチャート、第８図は
従来の検証機能構成を示すブロック図である。１：被検証装置、２：検証プログラム、１２：装置状態
保持部、２１：初期設定部、２２：検証条件比較補正部
、２３：検証実行部、２４：検証結果評価部。特許出願人　株式会社　日立製作所

Claims

【特許請求の範囲】

１、被検証装置の検証対象機能を検証する手段を有する
高負荷検証システムにおいて、上記被検証装置の動作状
態を保持する手段と、該動作状態をプログラムから読取
る手段と、上記動作状態を検証条件にフィードバック補
正する手段とを設けたことを特徴とする高負荷検証方式
。