JPH03225283A - ショート不良検査方法 - Google Patents
ショート不良検査方法Info
- Publication number
- JPH03225283A JPH03225283A JP2020665A JP2066590A JPH03225283A JP H03225283 A JPH03225283 A JP H03225283A JP 2020665 A JP2020665 A JP 2020665A JP 2066590 A JP2066590 A JP 2066590A JP H03225283 A JPH03225283 A JP H03225283A
- Authority
- JP
- Japan
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- leads
- short
- contact pins
- pitch
- pin
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- Pending
Links
- 230000007547 defect Effects 0.000 title claims abstract description 23
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 8
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 14
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 5
- 238000003754 machining Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000005476 soldering Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
本発明はショート不良検出方法に関し、特にフィクスチ
ャーを用いずに容易にショート不良を検出できるショー
ト不良検出方法に関する。
ャーを用いずに容易にショート不良を検出できるショー
ト不良検出方法に関する。
［従来の技術］
従来より、多種多様の回路を構成するため弁、プリント
基板へ半田付けなどの実装手段によりに様々な電子部品
が実装されている。
基板へ半田付けなどの実装手段によりに様々な電子部品
が実装されている。
この実装された電子部品が確実に電気的接続が行なわれ
ているか否か検査が必要とされている。
ているか否か検査が必要とされている。
この不良検査を行なう方法として、検査装置であるフィ
クチャーが用いられている。
クチャーが用いられている。
このフィクスチャーは、通常第３図に示すように、フイ
クスチャーピンボード３１１上で、かつプリント基板４
に実装された電子部品４１の実装位置に適する位置に接
点ピン３１２を有するとともに、端部にプリント基板４
を案内するガイドピン３１３を有する本体３１と、本体
３１の一端に回動可能に取り付けられ、本体３１と向か
い合う面に複数のプリント基板押えピン３２１を有する
押え部３２とから構成されている。
クスチャーピンボード３１１上で、かつプリント基板４
に実装された電子部品４１の実装位置に適する位置に接
点ピン３１２を有するとともに、端部にプリント基板４
を案内するガイドピン３１３を有する本体３１と、本体
３１の一端に回動可能に取り付けられ、本体３１と向か
い合う面に複数のプリント基板押えピン３２１を有する
押え部３２とから構成されている。
このフィクスチャ−３により、不良検査を行なう場合、
フィクチャー３の本体３１のガイドピン３１３によりプ
リント基板４を案内させて固定する。
フィクチャー３の本体３１のガイドピン３１３によりプ
リント基板４を案内させて固定する。
次に、押え部３２を閉じてプリント基板４を挟ｐ込んで
、接点ピン３１２と電子部品４１の半田付けされたリー
ド４１１を電気的に接続してショート不良の検出を行な
っている。
、接点ピン３１２と電子部品４１の半田付けされたリー
ド４１１を電気的に接続してショート不良の検出を行な
っている。
発明が解決しようとする課題
上述したように、従来のショート不良検出方法は、実装
された電子部品のリードが増え、リードピッチが狭くな
ると、接点ピンの間隔も同じように狭めなければならず
、また接点ピンの径も細くする必要がある。
された電子部品のリードが増え、リードピッチが狭くな
ると、接点ピンの間隔も同じように狭めなければならず
、また接点ピンの径も細くする必要がある。
しかし、フィクスチャーピンボードの加工精度と、接点
ピンの強度には制限があるため、フィクスチャーの制作
に大きな制約を加えてしまうという欠点がある。
ピンの強度には制限があるため、フィクスチャーの制作
に大きな制約を加えてしまうという欠点がある。
それ故に本発明の目的は、上接接点ピンの間隔を狭くす
ることなく、またフィクスチャーを用いることなく容易
にショート不良を検出できる検出方法を提供することに
ある。
ることなく、またフィクスチャーを用いることなく容易
にショート不良を検出できる検出方法を提供することに
ある。
［課題を解決するための手段］
従って、本発明は上述した目的を達成するために、プリ
ント基板に実装された電子部品のリードに対し、本体よ
り突出する接点ピンを複数有するショート不良検出装置
の前記接点ピンを電気的に接続してショート不良を検出
するショート不良検出方法において、前記電子部品のリ
ード間の間隔に対し倍間隔に設けられた前記接点ピン間
の間隔で、前記接点ピンを前記電子部品のリード間に電
気的に接続してショート不良を検出するものである。
ント基板に実装された電子部品のリードに対し、本体よ
り突出する接点ピンを複数有するショート不良検出装置
の前記接点ピンを電気的に接続してショート不良を検出
するショート不良検出方法において、前記電子部品のリ
ード間の間隔に対し倍間隔に設けられた前記接点ピン間
の間隔で、前記接点ピンを前記電子部品のリード間に電
気的に接続してショート不良を検出するものである。
作用
上述した構成により、接点ピンを部品リード間に電気的
に接続して、ショート不良検出を行なう。
に接続して、ショート不良検出を行なう。
実施例
本発明のショート不良検出方法について、図面を参照し
て説明する。
て説明する。
まず、本発明のショート不良検出方法１は、第１図に示
すように、本体１１とこの本体より突出する複数の接点
ピン１２から構成されている。
すように、本体１１とこの本体より突出する複数の接点
ピン１２から構成されている。
この接点ピン１２と接点ピン１２とのピッチＡは、プリ
ント基板４に実装された電子部品４１のリード４１１と
リード４１１とのピッチＢの２＠の間隔に設定している
。
ント基板４に実装された電子部品４１のリード４１１と
リード４１１とのピッチＢの２＠の間隔に設定している
。
次に、このショート不良検出方法について説明する。
第２図に示すように、ショート不良検出装置１の接点ピ
ン１２をプリント基板４に実装された電子部品４１のリ
ード４１１とリード４１−０間にあでる。
ン１２をプリント基板４に実装された電子部品４１のリ
ード４１１とリード４１−０間にあでる。
この時、リード４１１．４１８間は電気的に接続状態に
なり、ショート不良であるか、否かの判定が可能となる
。
なり、ショート不良であるか、否かの判定が可能となる
。
さらに、この接点ピン１２を第３図に示すように横にず
らし、他のリード４１１間を電気的に接続することによ
り、全てのリード間のショートを検出する。
らし、他のリード４１１間を電気的に接続することによ
り、全てのリード間のショートを検出する。
効果
以上説明したように、本発明によれば、上述したように
、フイクスチャーのような大がかりな検査具を必要とせ
ず、容易に検出することができる。
、フイクスチャーのような大がかりな検査具を必要とせ
ず、容易に検出することができる。
また、接点ピンをどちらか一方のリードにずらすだけで
、全てのリード間のショート不良を検出することができ
る。
、全てのリード間のショート不良を検出することができ
る。
第１図は本発明の一実施例であるショート不良検出方法
に用いる検査装置を示す斜視図、第２図は本発明のショ
ート不良検出方法の検出例を示す側面図、第３図は第２
図の検出位置から接点ピンを横にずらした検出状態を示
す側面図である。 ■・・・ショート不良検出装置、 １１−・・本体、 １２・・・接点ピン。
に用いる検査装置を示す斜視図、第２図は本発明のショ
ート不良検出方法の検出例を示す側面図、第３図は第２
図の検出位置から接点ピンを横にずらした検出状態を示
す側面図である。 ■・・・ショート不良検出装置、 １１−・・本体、 １２・・・接点ピン。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 プリント基板に実装された電子部品のリードに対し、本
体より突出する接点ピンを複数有するショート不良検出
装置の前記接点ピンを電気的に接続してショート不良を
検出するショート不良検出方法において、 前記電子部品のリード間の間隔に対し倍間隔に設けられ
た前記接点ピン間の間隔で、前記接点ピンを前記電子部
品のリード間に電気的に接続してショート不良を検出す
ることを特徴とするショート不良検出方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2020665A JPH03225283A (ja) | 1990-01-31 | 1990-01-31 | ショート不良検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2020665A JPH03225283A (ja) | 1990-01-31 | 1990-01-31 | ショート不良検査方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03225283A true JPH03225283A (ja) | 1991-10-04 |
Family
ID=12033495
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2020665A Pending JPH03225283A (ja) | 1990-01-31 | 1990-01-31 | ショート不良検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03225283A (ja) |
-
1990
- 1990-01-31 JP JP2020665A patent/JPH03225283A/ja active Pending
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