JPH0897365A - 半導体集積回路装置 - Google Patents
半導体集積回路装置Info
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- JPH0897365A JPH0897365A JP6229134A JP22913494A JPH0897365A JP H0897365 A JPH0897365 A JP H0897365A JP 6229134 A JP6229134 A JP 6229134A JP 22913494 A JP22913494 A JP 22913494A JP H0897365 A JPH0897365 A JP H0897365A
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims description 10
- 238000000034 method Methods 0.000 description 10
- 239000000872 buffer Substances 0.000 description 5
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 2
- 230000006835 compression Effects 0.000 description 1
- 238000007906 compression Methods 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
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- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 ＩＣ内部のモニタすべき多数の信号を、出力
端子を増やさず簡単な構成で監視可能とする。 【構成】 内部回路の出力信号をスイッチ３ａ−０を介
して出力端子２ａへ導出する。内部のモニタ信号は夫々
スイッチ３ａ−１〜３ａ−ｎを介して共通とし、更にス
イッチ３ａ−０′を介して出力端子２ａへ導出する。一
方、カウンタ６にてクロックＣＫをカウントしこのカウ
ント出力をデコーダ７にてデコードして出力０〜ｎを得
る。これ等デコード出力にて各スイッチを択一的オン制
御すれば、単一出力端子で多数の内部信号が簡単にモニ
タできる。
端子を増やさず簡単な構成で監視可能とする。 【構成】 内部回路の出力信号をスイッチ３ａ−０を介
して出力端子２ａへ導出する。内部のモニタ信号は夫々
スイッチ３ａ−１〜３ａ−ｎを介して共通とし、更にス
イッチ３ａ−０′を介して出力端子２ａへ導出する。一
方、カウンタ６にてクロックＣＫをカウントしこのカウ
ント出力をデコーダ７にてデコードして出力０〜ｎを得
る。これ等デコード出力にて各スイッチを択一的オン制
御すれば、単一出力端子で多数の内部信号が簡単にモニ
タできる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は半導体集積回路装置に関
し、特に内部回路の出力信号の他にモニタすべき内部信
号を端子数の増大なく出力可能として故障検出率を向上
させ得るようにした半導体集積回路装置に関するもので
ある。
し、特に内部回路の出力信号の他にモニタすべき内部信
号を端子数の増大なく出力可能として故障検出率を向上
させ得るようにした半導体集積回路装置に関するもので
ある。
【０００２】
【従来の技術】従来の半導体集積回路装置においては、
故障検出率の向上を図るために回路内部の多くのモニタ
箇所の信号を監視する必要が生じる。この場合の監視方
法としては種々の方式があるが、特開昭６３−２７９４
８９号公報に示される様に、内部のモニタ箇所の信号を
直接出力端子へ導出する方法や、また内部のフリップフ
ロップ回路やラッチ回路等を直列に接続してシフトレジ
スタとして構成し、このシフトレジスタの内容を外部よ
り直接読み出せるようにスキャンパスとして動作させる
方法や、更にはまた内部の全信号を圧縮して出力端子へ
導出するクロスチェック法等がある。
故障検出率の向上を図るために回路内部の多くのモニタ
箇所の信号を監視する必要が生じる。この場合の監視方
法としては種々の方式があるが、特開昭６３−２７９４
８９号公報に示される様に、内部のモニタ箇所の信号を
直接出力端子へ導出する方法や、また内部のフリップフ
ロップ回路やラッチ回路等を直列に接続してシフトレジ
スタとして構成し、このシフトレジスタの内容を外部よ
り直接読み出せるようにスキャンパスとして動作させる
方法や、更にはまた内部の全信号を圧縮して出力端子へ
導出するクロスチェック法等がある。
【０００３】更に、特開昭６２−０８７８７７号公報に
開示の如く、内部信号のパリティを生成してその出力を
出力端子へ導出する方法や、特開昭６４−０３０２５５
公報に示される如く、入力切替え回路や出力切替え回路
を内部に設けておき、内部回路の各出力をこれ等切替え
回路により択一的に出力端子へ導出する方法等がある。
開示の如く、内部信号のパリティを生成してその出力を
出力端子へ導出する方法や、特開昭６４−０３０２５５
公報に示される如く、入力切替え回路や出力切替え回路
を内部に設けておき、内部回路の各出力をこれ等切替え
回路により択一的に出力端子へ導出する方法等がある。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】内部信号を直接外部へ
導出する方法では、モニタすべき内部信号の数に対応し
て端子を設ける必要があり、端子数の増大という致命的
欠陥がある。スキャンパス法では、スキャンパスを構成
するための配線を予め施しておく必要があり、またスキ
ャンパス動作用に回路を切替えたり、スキャンパスのた
めのクロックの切替え等の切替え回路も必要になり、集
積度の低下という欠点があり、更にテストパタンをスキ
ャンテスト用に特別に作成する必要がある。
導出する方法では、モニタすべき内部信号の数に対応し
て端子を設ける必要があり、端子数の増大という致命的
欠陥がある。スキャンパス法では、スキャンパスを構成
するための配線を予め施しておく必要があり、またスキ
ャンパス動作用に回路を切替えたり、スキャンパスのた
めのクロックの切替え等の切替え回路も必要になり、集
積度の低下という欠点があり、更にテストパタンをスキ
ャンテスト用に特別に作成する必要がある。
【０００５】クロスチェック法では、信号圧縮回路が必
要となって回路規模がこれまた増大して好ましくない。
更に、パリティチェック法はモニタ箇所が偶数個の場合
は、適用できないという欠点があり、また故障箇所の特
定は不可能であるという欠点もある。
要となって回路規模がこれまた増大して好ましくない。
更に、パリティチェック法はモニタ箇所が偶数個の場合
は、適用できないという欠点があり、また故障箇所の特
定は不可能であるという欠点もある。
【０００６】そこで、本発明はかかる従来技術の欠点を
解決すべくなされたものであって、その目的とするとこ
ろは、出力端子数の増大を抑止して数多くの内部モニタ
信号の監視が可能でかつ故障箇所の特定をも可能とした
簡単な構成の半導体集積回路装置を提供することにあ
る。
解決すべくなされたものであって、その目的とするとこ
ろは、出力端子数の増大を抑止して数多くの内部モニタ
信号の監視が可能でかつ故障箇所の特定をも可能とした
簡単な構成の半導体集積回路装置を提供することにあ
る。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明によれば、外部へ
信号を導出するための出力端子と、内部のモニタすべき
第１〜第ｎ（ｎは２以上の整数）の信号に夫々対応して
設けられ対応信号を前記出力端子へ共通に導出するため
の第１〜第ｎのスイッチ素子と、外部クロックをカウン
トするカウント手段と、このカウント出力に応じて前記
第１〜第ｎのスイッチ素子を択一的にオン制御する制御
手段とを含むことを特徴とする半導体集積回路装置が得
られる。
信号を導出するための出力端子と、内部のモニタすべき
第１〜第ｎ（ｎは２以上の整数）の信号に夫々対応して
設けられ対応信号を前記出力端子へ共通に導出するため
の第１〜第ｎのスイッチ素子と、外部クロックをカウン
トするカウント手段と、このカウント出力に応じて前記
第１〜第ｎのスイッチ素子を択一的にオン制御する制御
手段とを含むことを特徴とする半導体集積回路装置が得
られる。
【０００８】更に、本発明によれば、前記出力端子へ内
部回路の出力信号を導出するための出力信号用スイッチ
素子と、前記出力端子へ前記第１〜第ｎのスイッチ素子
による択一的内部モニタ信号を前記出力端子へ導出する
ための内部モニタ信号用スイッチ素子とを更に含み、前
記制御手段は前記出力信号用スイッチ素子と前記内部モ
ニタ信号用スイッチ素子とを択一的にオン制御するよう
構成されていることを特徴とする半導体集積回路装置が
得られる。
部回路の出力信号を導出するための出力信号用スイッチ
素子と、前記出力端子へ前記第１〜第ｎのスイッチ素子
による択一的内部モニタ信号を前記出力端子へ導出する
ための内部モニタ信号用スイッチ素子とを更に含み、前
記制御手段は前記出力信号用スイッチ素子と前記内部モ
ニタ信号用スイッチ素子とを択一的にオン制御するよう
構成されていることを特徴とする半導体集積回路装置が
得られる。
【０００９】
【作用】内部のモニタすべき複数の信号に夫々対応して
複数のスイッチ素子を設け、これ等各スイッチ素子の出
力を共通の出力端子へ接続する。そして、これ等スイッ
チ素子を択一的にオン制御するのであるが、この場合、
外部よりクロックをカウンタへ入力しこのクロックをカ
ウントさせつつこのカウント出力に応じてスイッチ素子
の択一的オン制御を行う。
複数のスイッチ素子を設け、これ等各スイッチ素子の出
力を共通の出力端子へ接続する。そして、これ等スイッ
チ素子を択一的にオン制御するのであるが、この場合、
外部よりクロックをカウンタへ入力しこのクロックをカ
ウントさせつつこのカウント出力に応じてスイッチ素子
の択一的オン制御を行う。
【００１０】こうすることにより、多数のモニタすべき
信号に対して１個の出力端子で済み、また各スイッチ素
子のオン制御のためにも、１個のクロック入力端子を設
けるのみで良く、回路構成もカウンタとスイッチ素子と
を追加する簡単なものとなる。
信号に対して１個の出力端子で済み、また各スイッチ素
子のオン制御のためにも、１個のクロック入力端子を設
けるのみで良く、回路構成もカウンタとスイッチ素子と
を追加する簡単なものとなる。
【００１１】
【実施例】以下に本発明の実施例につき図面を用いて説
明する。
明する。
【００１２】図１は本発明の実施例の構成図であり、Ｉ
Ｃ装置１００には多数の入出力端子（正方形にて示す）
が設けられている。図示せぬ内部回路の出力信号（本例
では２本としている）は、トランスファーゲートからな
るスイッチ３ａ−０，３ｂ−０及びバッファ４ａ，４ｂ
を夫々介して出力端子２ａ，２ｂへ導出されている。
Ｃ装置１００には多数の入出力端子（正方形にて示す）
が設けられている。図示せぬ内部回路の出力信号（本例
では２本としている）は、トランスファーゲートからな
るスイッチ３ａ−０，３ｂ−０及びバッファ４ａ，４ｂ
を夫々介して出力端子２ａ，２ｂへ導出されている。
【００１３】モニタすべき２ｎ本（ｎは２以上の整数）
の内部モニタ信号のうちｎ本はスイッチ３ａ−１〜３ａ
−ｎを夫々介して共通に接続され、更に共通スイッチ３
ａ−０′を介して出力端子２ａへ導出可能となっている
（バッファ４ａを介しているものとする）。
の内部モニタ信号のうちｎ本はスイッチ３ａ−１〜３ａ
−ｎを夫々介して共通に接続され、更に共通スイッチ３
ａ−０′を介して出力端子２ａへ導出可能となっている
（バッファ４ａを介しているものとする）。
【００１４】内部モニタ信号のうち残余のｎ本はスイッ
チ３ｂ−１〜３ｂ−ｎを夫々介して共通接続され、更に
共通スイッチ３ｂ−０′を介して出力端子２ｂへ導出可
能となっている（バッファ４ｂを介しているものとす
る）。
チ３ｂ−１〜３ｂ−ｎを夫々介して共通接続され、更に
共通スイッチ３ｂ−０′を介して出力端子２ｂへ導出可
能となっている（バッファ４ｂを介しているものとす
る）。
【００１５】これ等各スイッチをオンオフ制御するため
にカウンタ６及びこのカウンタ６のカウント出力をデコ
ードするデコーダ７が設けられている。カウンタ６は入
力端子２ｃ及び２ｄから夫々バッファ４ｃ，４ｄを介し
て印加されるクロック信号ＣＫ及びリセット信号ＲＳに
より動作する。
にカウンタ６及びこのカウンタ６のカウント出力をデコ
ードするデコーダ７が設けられている。カウンタ６は入
力端子２ｃ及び２ｄから夫々バッファ４ｃ，４ｄを介し
て印加されるクロック信号ＣＫ及びリセット信号ＲＳに
より動作する。
【００１６】デコーダ７によりｎ＋１本のデコード出力
０〜ｎが得られる様になっており、デコード出力０はス
イッチ３ａ−０，３ｂ−０を制御し、デコード出力１は
スイッチ３ａ−１，３ｂ−１を制御し、デコード出力２
はスイッチ３ａ−２，３ｂ−２を制御し、デコード出力
ｎはスイッチ３ａ−ｎ，３ｂ−ｎを制御する。デコード
出力０の反転出力０′がインバータ８により得られてお
り、この反転出力０′はスイッチ３ａ−０′，３ｂ−
０′を制御するものである。
０〜ｎが得られる様になっており、デコード出力０はス
イッチ３ａ−０，３ｂ−０を制御し、デコード出力１は
スイッチ３ａ−１，３ｂ−１を制御し、デコード出力２
はスイッチ３ａ−２，３ｂ−２を制御し、デコード出力
ｎはスイッチ３ａ−ｎ，３ｂ−ｎを制御する。デコード
出力０の反転出力０′がインバータ８により得られてお
り、この反転出力０′はスイッチ３ａ−０′，３ｂ−
０′を制御するものである。
【００１７】図２は図１の回路の動作を示す各部のタイ
ムチャートである。尚、各スイッチはローイネーブル制
御であるものとする。カウンタ６がリセット状態のと
き、デコーダ７の出力０はローレベルであり、よってス
イッチ３ａ−０，３ｂ−０のみがオンとなり、スイッチ
３ａ−０′，３ｂ−０′はオフであるから内部の出力信
号と出力端子４ａ，４ｂへ導出されて通常動作となって
いる。
ムチャートである。尚、各スイッチはローイネーブル制
御であるものとする。カウンタ６がリセット状態のと
き、デコーダ７の出力０はローレベルであり、よってス
イッチ３ａ−０，３ｂ−０のみがオンとなり、スイッチ
３ａ−０′，３ｂ−０′はオフであるから内部の出力信
号と出力端子４ａ，４ｂへ導出されて通常動作となって
いる。
【００１８】カウンタ６へクロックＣＫが供給される
と、デコーダ７の出力０はハイレベルとなりスイッチ３
ａ−０，３ｂ−０はオフとなり、スイッチ３ａ−０′，
３ｂ−０′がオンとなる。よって、出力端子２ａ，２ｂ
へは出力信号の代りに内部モニタ信号が夫々択一的に導
出可能状態となる。
と、デコーダ７の出力０はハイレベルとなりスイッチ３
ａ−０，３ｂ−０はオフとなり、スイッチ３ａ−０′，
３ｂ−０′がオンとなる。よって、出力端子２ａ，２ｂ
へは出力信号の代りに内部モニタ信号が夫々択一的に導
出可能状態となる。
【００１９】カウンタ６がクロックＣＫのカウントを続
けてそのカウント内容が“１”→“２”→“３”……
“ｎ”と順次変化する毎に、デコーダ７のデコード出力
１〜ｎが順次ローレベルに変化して行くように構成して
おけば、スイッチ３ａ−１〜３ａ−ｎが順次択一的にオ
ンとなり、またスイッチ３ｂ−１〜３ｂ−ｎも順次択一
的にオンとなって、各出力端子２ａ，２ｂには各ｎ本の
内部モニタ信号の各１本づつが順次出力されて監視でき
ることになるのである。
けてそのカウント内容が“１”→“２”→“３”……
“ｎ”と順次変化する毎に、デコーダ７のデコード出力
１〜ｎが順次ローレベルに変化して行くように構成して
おけば、スイッチ３ａ−１〜３ａ−ｎが順次択一的にオ
ンとなり、またスイッチ３ｂ−１〜３ｂ−ｎも順次択一
的にオンとなって、各出力端子２ａ，２ｂには各ｎ本の
内部モニタ信号の各１本づつが順次出力されて監視でき
ることになるのである。
【００２０】尚、スイッチ素子はＩＣ化の点でトランス
ファーゲートを用いるのが良いが、他の電子的スイッチ
素子を用いても良いことは明らかである。
ファーゲートを用いるのが良いが、他の電子的スイッチ
素子を用いても良いことは明らかである。
【００２１】
【発明の効果】叙上の如く、本発明よれば、極めて簡単
なハードウェア構成によってＩＣの端子数を増大するこ
となく多数の内部モニタ信号の監視ができ、また故障箇
所の特定も容易になるという効果がある。
なハードウェア構成によってＩＣの端子数を増大するこ
となく多数の内部モニタ信号の監視ができ、また故障箇
所の特定も容易になるという効果がある。
【図１】本発明の実施例の回路構成図である。
【図２】図１のブロックの動作を示す各部波形図であ
る。
る。
２ａ，２ｂ 出力端子 ３ａ−０，３ｂ−０ 出力信号用スイッチ ３ａ−０′，３ｂ−０′ 内部モニタ信号用スイッチ ３ａ−１〜３ｂ−ｎ， ３ｂ−１〜３ｂ−ｎ スイッチ ４ａ〜４ｄ バッファ ６ カウンタ ７ デコーダ ８ インバータ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 ＦＩ 技術表示箇所 Ｈ０１Ｌ 21/66 Ｙ 7735−4Ｍ
Claims (3)
- 【請求項１】 外部へ信号を導出するための出力端子
と、内部のモニタすべき第１〜第ｎ（ｎは２以上の整
数）の信号に夫々対応して設けられ対応信号を前記出力
端子へ共通に導出するための第１〜第ｎのスイッチ素子
と、外部クロックをカウントするカウント手段と、この
カウント出力に応じて前記第１〜第ｎのスイッチ素子を
択一的にオン制御する制御手段とを含むことを特徴とす
る半導体集積回路装置。 - 【請求項２】 前記出力端子へ内部回路の出力信号を導
出するための出力信号用スイッチ素子と、前記出力端子
へ前記第１〜第ｎのスイッチ素子による択一的内部モニ
タ信号を前記出力端子へ導出するための内部モニタ信号
用スイッチ素子とを更に含み、前記制御手段は前記出力
信号用スイッチ素子と前記内部モニタ信号用スイッチ素
子とを択一的にオン制御するよう構成されていることを
特徴とする請求項１記載の半導体集積回路装置。 - 【請求項３】 前記制御手段は前記カウント出力をデコ
ードするデコータを有し、このデコード出力により前記
第１〜第ｎのスイッチ素子、前記出力信号用スイッチ素
子、前記内部モニタ信号用スイッチ素子を夫々制御する
よう構成されていることを特徴とする請求項１または２
記載の半導体集積回路装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6229134A JPH0897365A (ja) | 1994-09-26 | 1994-09-26 | 半導体集積回路装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6229134A JPH0897365A (ja) | 1994-09-26 | 1994-09-26 | 半導体集積回路装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0897365A true JPH0897365A (ja) | 1996-04-12 |
Family
ID=16887296
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6229134A Withdrawn JPH0897365A (ja) | 1994-09-26 | 1994-09-26 | 半導体集積回路装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0897365A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2005103726A1 (ja) * | 2004-04-21 | 2005-11-03 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | 角速度センサ及び運送機器 |
| JP2007147617A (ja) * | 2005-11-28 | 2007-06-14 | Samsung Electronics Co Ltd | 出力チャンネルが共有されるテストパッドを備えるフィルム型半導体パッケージ及びフィルム型半導体パッケージのテスト方法、テストチャンネルが共有されるパターンを備えるテスト装置及び半導体装置、並びに半導体装置におけるテスト方法 |
| JP2008258775A (ja) * | 2007-04-02 | 2008-10-23 | Denso Corp | 論理機能回路と自己診断回路とからなる統合回路の設計方法 |
| JP2012084210A (ja) * | 2010-10-14 | 2012-04-26 | Toppan Printing Co Ltd | 半導体装置 |
-
1994
- 1994-09-26 JP JP6229134A patent/JPH0897365A/ja not_active Withdrawn
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2005103726A1 (ja) * | 2004-04-21 | 2005-11-03 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | 角速度センサ及び運送機器 |
| JPWO2005103726A1 (ja) * | 2004-04-21 | 2007-08-30 | 松下電器産業株式会社 | 角速度センサ及び運送機器 |
| US7865284B2 (en) | 2004-04-21 | 2011-01-04 | Panasonic Corporation | Angular velocity sensor and transporting equipment |
| EP1742068A4 (en) * | 2004-04-21 | 2012-09-05 | Panasonic Corp | ANGULAR SPEED SENSOR AND TRANSPORT EQUIPMENT |
| JP2007147617A (ja) * | 2005-11-28 | 2007-06-14 | Samsung Electronics Co Ltd | 出力チャンネルが共有されるテストパッドを備えるフィルム型半導体パッケージ及びフィルム型半導体パッケージのテスト方法、テストチャンネルが共有されるパターンを備えるテスト装置及び半導体装置、並びに半導体装置におけるテスト方法 |
| JP2008258775A (ja) * | 2007-04-02 | 2008-10-23 | Denso Corp | 論理機能回路と自己診断回路とからなる統合回路の設計方法 |
| JP2012084210A (ja) * | 2010-10-14 | 2012-04-26 | Toppan Printing Co Ltd | 半導体装置 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20020115 |