JPS583256A - Lsiチツプ - Google Patents
LsiチツプInfo
- Publication number
- JPS583256A JPS583256A JP56101902A JP10190281A JPS583256A JP S583256 A JPS583256 A JP S583256A JP 56101902 A JP56101902 A JP 56101902A JP 10190281 A JP10190281 A JP 10190281A JP S583256 A JPS583256 A JP S583256A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- identification code
- chip
- lsi chip
- external terminal
- present
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W46/00—Marks applied to devices, e.g. for alignment or identification
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W46/00—Marks applied to devices, e.g. for alignment or identification
- H10W46/401—Marks applied to devices, e.g. for alignment or identification for identification or tracking
- H10W46/403—Marks applied to devices, e.g. for alignment or identification for identification or tracking for non-wireless electrical read out
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W46/00—Marks applied to devices, e.g. for alignment or identification
- H10W46/601—Marks applied to devices, e.g. for alignment or identification for use after dicing
Landscapes
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
- Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
- For Increasing The Reliability Of Semiconductor Memories (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は1.IIチップに関する。従来、マスタ・スラ
イスLSIなどは、その製造期間がフルカスタムL8I
に比較して短いため、論理紋針に広く使用されていao
Lかしながら、その品柚数は逆にカスタムL8Iに比較
して多くなり、製造工程、試験工程の管理を抜雑化させ
ている。例えは、試験過程においても、その■0チクプ
の回路喬号によりてテスト・プログラムパターンが異な
り、それをそのGIN人手により指示することは時間を
無駄にするばかりか、誤操作を招きやすい・本発明は上
記間組点を解決し、試験工程の蕾埋勢を容易にすること
を目的とし、そしてそのため本発明によるL8Iチップ
はIOチップ内部に当該IOの論理構造を示す識別コー
ドを固定パターンとして回路的に潜在してもうけるとと
もに、該曽在緻別コードを外部から絖出し可能とする手
段をそなえたことを特徴とする。すなわち本発明は、L
SIチップ内部に回路を組立てるときに、その工0の論
理構造を示す識別コードをROMのように通常の配線パ
ターンプロセスにて潜在させ、試験時には、それを外部
からテスターにて自動的に絖取り、抜続するテストパタ
ー7の績械的処理等を可能にするようにしたものである
。
イスLSIなどは、その製造期間がフルカスタムL8I
に比較して短いため、論理紋針に広く使用されていao
Lかしながら、その品柚数は逆にカスタムL8Iに比較
して多くなり、製造工程、試験工程の管理を抜雑化させ
ている。例えは、試験過程においても、その■0チクプ
の回路喬号によりてテスト・プログラムパターンが異な
り、それをそのGIN人手により指示することは時間を
無駄にするばかりか、誤操作を招きやすい・本発明は上
記間組点を解決し、試験工程の蕾埋勢を容易にすること
を目的とし、そしてそのため本発明によるL8Iチップ
はIOチップ内部に当該IOの論理構造を示す識別コー
ドを固定パターンとして回路的に潜在してもうけるとと
もに、該曽在緻別コードを外部から絖出し可能とする手
段をそなえたことを特徴とする。すなわち本発明は、L
SIチップ内部に回路を組立てるときに、その工0の論
理構造を示す識別コードをROMのように通常の配線パ
ターンプロセスにて潜在させ、試験時には、それを外部
からテスターにて自動的に絖取り、抜続するテストパタ
ー7の績械的処理等を可能にするようにしたものである
。
以下、本発明を図面により説明する。第1図は本発明に
よる第lの実施例のLSIチップの構成を示す図であり
、図中lはLSIチップ、2は縁側コードパターン、3
は識別コード出力用外部端子(I八、ID、 、ID、
)、4は一般信号用外部端子である。この給1図の実施
例は、識別コードパターン情報を直接、専用の外部端子
に出力する例である。
よる第lの実施例のLSIチップの構成を示す図であり
、図中lはLSIチップ、2は縁側コードパターン、3
は識別コード出力用外部端子(I八、ID、 、ID、
)、4は一般信号用外部端子である。この給1図の実施
例は、識別コードパターン情報を直接、専用の外部端子
に出力する例である。
第2図は本発明による嬉2の実施例のLSIチップの構
成を示す図であり、図中、10はLSIチップ、11は
識別コードパターン、12はデコーダ(nh、c)、1
3はセレクタ(8EL)、14は選択アドレス信号入力
用外部端子(5AI3114〜SAりDり、15は選択
信号出力用外部端子(SOUT、 )である。
成を示す図であり、図中、10はLSIチップ、11は
識別コードパターン、12はデコーダ(nh、c)、1
3はセレクタ(8EL)、14は選択アドレス信号入力
用外部端子(5AI3114〜SAりDり、15は選択
信号出力用外部端子(SOUT、 )である。
この第2囚の実施例は外部端子5OUT、 If、に、
選択アドレス信号5ADD、〜8ADD、にょって指示
されたゲートの状態か出力されるようにしたものである
。例えは、選択アドレス(SADD)−0(7)とき識
別コード情報I D、’ 1 ’ 、選択アドレス(S
ADD)−1のとき魚別コード情報ID、%I11選択
アドレス(8ADD)−2のとき識別コード情報ID。
選択アドレス信号5ADD、〜8ADD、にょって指示
されたゲートの状態か出力されるようにしたものである
。例えは、選択アドレス(SADD)−0(7)とき識
別コード情報I D、’ 1 ’ 、選択アドレス(S
ADD)−1のとき魚別コード情報ID、%I11選択
アドレス(8ADD)−2のとき識別コード情報ID。
10′かそれぞれ出力され、その他の選択アドレス(8
ADD)−3〜7に対しては他の一般信号ゲートの出力
情報が出力されるよう制御が行なわれる。
ADD)−3〜7に対しては他の一般信号ゲートの出力
情報が出力されるよう制御が行なわれる。
嬉2図の実施例の場合は現在性なわれているLSIテス
ト十法の1つであるアドレススキャンシステムの一槙と
して組込んだ例であり、もともとのスキャン系に必要と
!J−るI10端子のるで処理でさ、識別コード用の特
別な端子は必豐としない。
ト十法の1つであるアドレススキャンシステムの一槙と
して組込んだ例であり、もともとのスキャン系に必要と
!J−るI10端子のるで処理でさ、識別コード用の特
別な端子は必豐としない。
第3図は本発明による第3の実施例のLSIチップの構
成を示す図であり、図中、20はLSIチップ、21は
識別コードパターン、22はセレ2 フタ(SEL)、
23は識別コード出力用または一般信号入出力用外部端
子、24は一般信号入出力外部端子、25は識別コード
続出制御信号(ID〜kLEAD)入力端子である。こ
の第3g4の実施机は識別コード悄@iを一般信号入出
力外部端子を使用し゛CC出出例であり、vlえばID
−READか11#のとき識別コード悄@(ID、 〜
ID、;″″1#、11110′)が続出され、ID−
REAl)が10gのとき一般佃号の入出力が行なわれ
るようにされる。
成を示す図であり、図中、20はLSIチップ、21は
識別コードパターン、22はセレ2 フタ(SEL)、
23は識別コード出力用または一般信号入出力用外部端
子、24は一般信号入出力外部端子、25は識別コード
続出制御信号(ID〜kLEAD)入力端子である。こ
の第3g4の実施机は識別コード悄@iを一般信号入出
力外部端子を使用し゛CC出出例であり、vlえばID
−READか11#のとき識別コード悄@(ID、 〜
ID、;″″1#、11110′)が続出され、ID−
REAl)が10gのとき一般佃号の入出力が行なわれ
るようにされる。
以上1明し1こように本発明によれば、LSIチップの
内部−塩構造を示す識別コードを同定パターンとして回
路的に柵柱してもうけるとともに、この識別コードを外
部から絖出し可能な構成としたので、試験工程の自動化
等が可能となり、その効果は極めて大きい。
内部−塩構造を示す識別コードを同定パターンとして回
路的に柵柱してもうけるとともに、この識別コードを外
部から絖出し可能な構成としたので、試験工程の自動化
等が可能となり、その効果は極めて大きい。
第1図は本発明の第1の実施例の構成を示す図、第2図
は本発明の第2の実施例の構成を示す図、第3図は本発
明の第3の実施例の構成を示す図である。図中、l、1
0.20はLSIチップ、2.11゜21は識別コード
パターンである。 耳1121 躊3n III−1140
は本発明の第2の実施例の構成を示す図、第3図は本発
明の第3の実施例の構成を示す図である。図中、l、1
0.20はLSIチップ、2.11゜21は識別コード
パターンである。 耳1121 躊3n III−1140
Claims (1)
- ■0チップ内部に当該IOの論理構造を示す識別フード
を固定パターンとして回路的に潜在してもうけるととも
に、該潜在識別コードを外部から胱出し可能とする手段
をそなえたことを特徴とするL81チップ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56101902A JPS583256A (ja) | 1981-06-30 | 1981-06-30 | Lsiチツプ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56101902A JPS583256A (ja) | 1981-06-30 | 1981-06-30 | Lsiチツプ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS583256A true JPS583256A (ja) | 1983-01-10 |
Family
ID=14312839
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56101902A Pending JPS583256A (ja) | 1981-06-30 | 1981-06-30 | Lsiチツプ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS583256A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60211955A (ja) * | 1984-04-06 | 1985-10-24 | Nec Corp | 集積回路 |
| JPS61199655A (ja) * | 1985-03-01 | 1986-09-04 | Nec Corp | 半導体装置 |
| US5079725A (en) * | 1989-11-17 | 1992-01-07 | Ibm Corporation | Chip identification method for use with scan design systems and scan testing techniques |
| JPH04353060A (ja) * | 1991-05-29 | 1992-12-08 | Oi Seisakusho Co Ltd | 足踏み式パーキングブレーキ装置 |
| FR2875623A1 (fr) * | 2004-09-23 | 2006-03-24 | St Microelectronics Sa | Generation d'un identifiant d'un circuit integre |
| FR2875624A1 (fr) * | 2004-09-23 | 2006-03-24 | St Microelectronics Sa | Generation deterministe d'un numero d'identifiant d'un circuit integre |
Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5650526A (en) * | 1979-10-02 | 1981-05-07 | Mitsubishi Electric Corp | Semiconductor device |
| JPS5772362A (en) * | 1980-10-23 | 1982-05-06 | Nec Corp | Semiconductor device |
| JPS5793519A (en) * | 1980-12-02 | 1982-06-10 | Nec Corp | Semiconductor device |
| JPS5793520A (en) * | 1980-12-02 | 1982-06-10 | Nec Corp | Semiconductor device |
| JPS57115855A (en) * | 1981-01-12 | 1982-07-19 | Hitachi Ltd | Large scale semiconductor integrated circuit device |
-
1981
- 1981-06-30 JP JP56101902A patent/JPS583256A/ja active Pending
Patent Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| FR2875624A1 (fr) * | 2004-09-23 | 2006-03-24 | St Microelectronics Sa | Generation deterministe d'un numero d'identifiant d'un circuit integre |
| WO2006032823A3 (fr) * | 2004-09-23 | 2006-12-07 | St Microelectronics Sa | Generation d'un identifiant d'un circuit integre |
| US7871832B2 (en) | 2004-09-23 | 2011-01-18 | Stmicroelectronics S.A. | Generating an integrated circuit identifier |
| US8330158B2 (en) | 2004-09-23 | 2012-12-11 | Stmicroelectronics S.A. | Generating an integrated circuit identifier |
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