JPS5923552A - 半導体装置 - Google Patents
半導体装置Info
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- JPS5923552A JPS5923552A JP57131957A JP13195782A JPS5923552A JP S5923552 A JPS5923552 A JP S5923552A JP 57131957 A JP57131957 A JP 57131957A JP 13195782 A JP13195782 A JP 13195782A JP S5923552 A JPS5923552 A JP S5923552A
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- Japan
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- semiconductor device
- lead
- iron
- semiconductor
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- H10W70/40—Leadframes
- H10W70/456—Materials
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-
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Landscapes
- Wire Bonding (AREA)
- Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はリードフレームを用いる半導体装置に関し、特
に微細なリードフレームの電気的特性の向上を図った半
導体装置に関するものである。
に微細なリードフレームの電気的特性の向上を図った半
導体装置に関するものである。
半導体素子ベレットのパッケージにリードフレームを使
用する半導体、中でもセラミック製の容器を使用する半
導体装置では、リードフレームと容器との熱的整合性を
合わせるためにリードフレームの材質には鉄系合金を使
用している。しかしながら、この釉の材質ではリード幅
を微/JSに形成したときにはリード部分の抵抗値が高
くなり、電気的特性が悪化するという問題がある。また
、この種の材質ではペレットとの電気的接続を行なうA
Aワイヤのボンディング性が劣るという問題もある。
用する半導体、中でもセラミック製の容器を使用する半
導体装置では、リードフレームと容器との熱的整合性を
合わせるためにリードフレームの材質には鉄系合金を使
用している。しかしながら、この釉の材質ではリード幅
を微/JSに形成したときにはリード部分の抵抗値が高
くなり、電気的特性が悪化するという問題がある。また
、この種の材質ではペレットとの電気的接続を行なうA
Aワイヤのボンディング性が劣るという問題もある。
本発明は以上に鑑みなされたものでその目的は、鉄系合
金のリードフレームを微細化構造にした場合にも電気的
特性を向上することができしかもワイヤボンディング性
を向上することができる半導体装置を提供することにあ
る。
金のリードフレームを微細化構造にした場合にも電気的
特性を向上することができしかもワイヤボンディング性
を向上することができる半導体装置を提供することにあ
る。
このような目的を達成するために本発明は鉄系合金のリ
ードフレームのワイヤボンディング部にアルミニウム層
を形成し、他の部分には低抵抗の金属層を形成している
。
ードフレームのワイヤボンディング部にアルミニウム層
を形成し、他の部分には低抵抗の金属層を形成している
。
以下、本発明を図示の実施例にて説明する。
図は本発明の半導体装置の要部拡大断面図であシ、1は
タブ2およびリード部3を一体に形成したリードフレー
ムである。このリードフレーム1はパッケージ容器を構
成するセラミックとの熱的整合性を合わせるために42
70イ等の鉄系合金にて形成されている。前記タブ2上
にはペースト4等を用いて半導体素子ベレット5を固着
している。
タブ2およびリード部3を一体に形成したリードフレー
ムである。このリードフレーム1はパッケージ容器を構
成するセラミックとの熱的整合性を合わせるために42
70イ等の鉄系合金にて形成されている。前記タブ2上
にはペースト4等を用いて半導体素子ベレット5を固着
している。
一方、前記リード部3は、その内側上面部、つまり前記
ベレット5と電気的な接続を行なうワイヤ6のボンディ
ング部にアルミニウム層7を形成し、このアルミニウム
層7上にワイヤ6をボンディングするようにしている。
ベレット5と電気的な接続を行なうワイヤ6のボンディ
ング部にアルミニウム層7を形成し、このアルミニウム
層7上にワイヤ6をボンディングするようにしている。
また、リード部3の他の部分の上面や下面には、例えば
銅等の低抵抗の金属層8を形成している。これらはいず
れも蒸着等によって形成している。
銅等の低抵抗の金属層8を形成している。これらはいず
れも蒸着等によって形成している。
したがって、このリードフレーム1では、ワイヤ6のボ
ンディングはアルミニウム層7によって良好なポンディ
ング性が得られ、一方低抵抗の金属層8によって電気的
特性を向上することができる。これにより、リードフレ
ーム1が微細に形成された場合にも電気的特性を悪化さ
せることはない。
ンディングはアルミニウム層7によって良好なポンディ
ング性が得られ、一方低抵抗の金属層8によって電気的
特性を向上することができる。これにより、リードフレ
ーム1が微細に形成された場合にも電気的特性を悪化さ
せることはない。
以上のように本発明によれば鉄系合金のリードフレーム
のワイヤボンディング性を向上しかつ電気的特性を向上
でき、リードフレームの微細イヒに対して有効になると
いう効果を奏する。
のワイヤボンディング性を向上しかつ電気的特性を向上
でき、リードフレームの微細イヒに対して有効になると
いう効果を奏する。
図は本発明の半導体装置の断面図である。
1・・・リードフレーム、2・・・タブ、3・・・リー
ト°部、5・・・ペレット、6・・・ワイ−2,7−・
・アルミニウム層、8・・・金属層(低抵抗層)。
ト°部、5・・・ペレット、6・・・ワイ−2,7−・
・アルミニウム層、8・・・金属層(低抵抗層)。
Claims (1)
- 1、半導体バック゛−ジ内に内装した半導体素子ペレッ
トの外部導出用リードとして鉄系合金のリードフレーム
を用いる半導体装置において、前記リードフレームは金
属ワイヤのボンディング部にはア、Q/ミニウム層を形
成し、他の部分には低抵抗の金属帯あるいは金属層を形
成したことを特徴とする半導体装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57131957A JPS5923552A (ja) | 1982-07-30 | 1982-07-30 | 半導体装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57131957A JPS5923552A (ja) | 1982-07-30 | 1982-07-30 | 半導体装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5923552A true JPS5923552A (ja) | 1984-02-07 |
Family
ID=15070159
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57131957A Pending JPS5923552A (ja) | 1982-07-30 | 1982-07-30 | 半導体装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5923552A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6156011U (ja) * | 1984-09-17 | 1986-04-15 | ||
| JPS6294810U (ja) * | 1985-12-06 | 1987-06-17 |
-
1982
- 1982-07-30 JP JP57131957A patent/JPS5923552A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6156011U (ja) * | 1984-09-17 | 1986-04-15 | ||
| JPS6294810U (ja) * | 1985-12-06 | 1987-06-17 |
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