JPS5986268A - 変調ド−ピング層を動作層とするシヨツトキ−ゲ−ト型電界効果トランジスタ− - Google Patents
変調ド−ピング層を動作層とするシヨツトキ−ゲ−ト型電界効果トランジスタ−Info
- Publication number
- JPS5986268A JPS5986268A JP57195976A JP19597682A JPS5986268A JP S5986268 A JPS5986268 A JP S5986268A JP 57195976 A JP57195976 A JP 57195976A JP 19597682 A JP19597682 A JP 19597682A JP S5986268 A JPS5986268 A JP S5986268A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- layer
- field effect
- effect transistor
- gate field
- active layer
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10D—INORGANIC ELECTRIC SEMICONDUCTOR DEVICES
- H10D30/00—Field-effect transistors [FET]
- H10D30/80—FETs having rectifying junction gate electrodes
- H10D30/87—FETs having Schottky gate electrodes, e.g. metal-semiconductor FETs [MESFET]
- H10D30/871—Vertical FETs having Schottky gate electrodes
Landscapes
- Non-Volatile Memory (AREA)
- Junction Field-Effect Transistors (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔技術分野〕
本発明は、高速動作トランジスターとして使用するショ
ットキーゲート型電界効果トランジスターに関する。
ットキーゲート型電界効果トランジスターに関する。
ショットキー型トランジスターにおいては、従来、深さ
方向に均一にドーピングされたエピタキシャル層を用い
て、ショットキー電極を設けた構造で、空乏層幅をより
小さくするためには、ショットキー電極をより微細化す
ることが要求される。
方向に均一にドーピングされたエピタキシャル層を用い
て、ショットキー電極を設けた構造で、空乏層幅をより
小さくするためには、ショットキー電極をより微細化す
ることが要求される。
しかし、現状において、このショットキーゲート電極幅
は、a/〜a3.11 tmにまで到達しているが、こ
れ以上の微細化を行うことは、技術的に極めて困極接合
部分での空乏層幅をより小さくすることが望まれている
。
は、a/〜a3.11 tmにまで到達しているが、こ
れ以上の微細化を行うことは、技術的に極めて困極接合
部分での空乏層幅をより小さくすることが望まれている
。
本発明は上記の点に鑑みなされたショットキーゲート型
電界効果トランジスターで、その特徴は、深さ方向に変
調ドーピングされた層を動作層とする構造にある。
電界効果トランジスターで、その特徴は、深さ方向に変
調ドーピングされた層を動作層とする構造にある。
本発明のショットキーゲート型電界効果トランジスター
の断面図を第1図に示して説明する。
の断面図を第1図に示して説明する。
動作層であるエピタキシャル層6において、変調ドーピ
ングを行い、エピタキシャル層内に極薄(0,00/〜
O,/ 、ff m ’)の低ドーピング層4を形成し
、凸状に加工した後、さらにその周囲にショットキー電
極2を設けることによってエピタキシャル13内の空乏
層を、低ドーピング層4に優先的に広げることが可能と
なる。この結果、極めて空乏層幅(第1図では電流方向
が縦型のトランジスターであるので、空乏層厚と表現し
た方が正確であるが、こ\では電流方向が横型のトラン
ジスターに合わ第2図(a)〜(g)は、本発明の電界
効果トランジスターの製造′プロセスについての説明図
である。
ングを行い、エピタキシャル層内に極薄(0,00/〜
O,/ 、ff m ’)の低ドーピング層4を形成し
、凸状に加工した後、さらにその周囲にショットキー電
極2を設けることによってエピタキシャル13内の空乏
層を、低ドーピング層4に優先的に広げることが可能と
なる。この結果、極めて空乏層幅(第1図では電流方向
が縦型のトランジスターであるので、空乏層厚と表現し
た方が正確であるが、こ\では電流方向が横型のトラン
ジスターに合わ第2図(a)〜(g)は、本発明の電界
効果トランジスターの製造′プロセスについての説明図
である。
第2図(a)に示すようにn型Ga As基板10(キ
ャリア密度/ X 10”cm−’)上にsnドープn
型GaAsエピタキシ・ヤル層8(キャリア密度/x1
0an、厚さ/、um)を形成する際、途中、変調ドー
ピングを行うことによって、深さaj; 、a mのと
ころに、ノンドープn型GaAS層9(キャリア密度3
;×10cm、厚さQ、/、um)を設ける。次に第2
図(b)に示すようにエピタキシャル層表面にlAQp
mφのS10.Lllを形成した後、スパッタエツチン
グにより、/、um深さまでエツチングを施し、第2図
((:)のような凸状部分を形成する。
ャリア密度/ X 10”cm−’)上にsnドープn
型GaAsエピタキシ・ヤル層8(キャリア密度/x1
0an、厚さ/、um)を形成する際、途中、変調ドー
ピングを行うことによって、深さaj; 、a mのと
ころに、ノンドープn型GaAS層9(キャリア密度3
;×10cm、厚さQ、/、um)を設ける。次に第2
図(b)に示すようにエピタキシャル層表面にlAQp
mφのS10.Lllを形成した後、スパッタエツチン
グにより、/、um深さまでエツチングを施し、第2図
((:)のような凸状部分を形成する。
その後、第2図(d) 、 (e)に示すように5IO
2絶縁膜12、Ai電極膜16をそれぞれ03.amづ
〈順に形成した後、S10□を化学エツチングすること
により、第2図げ)のようになり、さらにオーミック電
極としてAu −Ge −Ni 14を蒸着することに
より、最終的に第2図(g)の構造が得られた。この製
造プロセスにおいて、前述したような従来法におけるシ
ョットGa5h等の材料あるいは他の変調ドーピング動
作層作製できる材料であれば、本発明のトランジスター
の構造ならびにその製造方法も実施例に述べたような単
純な構造あるいは方法に限定されるものではない。
2絶縁膜12、Ai電極膜16をそれぞれ03.amづ
〈順に形成した後、S10□を化学エツチングすること
により、第2図げ)のようになり、さらにオーミック電
極としてAu −Ge −Ni 14を蒸着することに
より、最終的に第2図(g)の構造が得られた。この製
造プロセスにおいて、前述したような従来法におけるシ
ョットGa5h等の材料あるいは他の変調ドーピング動
作層作製できる材料であれば、本発明のトランジスター
の構造ならびにその製造方法も実施例に述べたような単
純な構造あるいは方法に限定されるものではない。
本発明の効果は、ショットキーゲート型電界効り簡単な
方法で増大することができることである。
方法で増大することができることである。
第1図は、本発明のショットキーゲート型電界効果トラ
ンジスターの実施例断面図、第2図(a)〜(g)は本
発明の製造プロセスについての説明図である。 1.7.14・・・オーミック電!、2.13・、ショ
ク) キー電tiL 318・・・半導体エピタキシャ
ル層、4.9・・・ノンドープエピタキシャルJi、5
,11.12・・・絶縁膜、6.10・・・半導体基板
。
ンジスターの実施例断面図、第2図(a)〜(g)は本
発明の製造プロセスについての説明図である。 1.7.14・・・オーミック電!、2.13・、ショ
ク) キー電tiL 318・・・半導体エピタキシャ
ル層、4.9・・・ノンドープエピタキシャルJi、5
,11.12・・・絶縁膜、6.10・・・半導体基板
。
Claims (1)
- 1、 半導体基板表面上に、深さ方向に変調ドーピング
されたエピタキシャル層を動作層として形成し、さらに
、このエピタキシャル層を凸状に加工した後、凸状部分
の周囲に絶縁膜とショットキーゲート電極、凸状部分の
表面と基板裏面とにオーミック電極を設けたことを特徴
とする変調ドーピング層を動作層とするショットキーゲ
ート型電界効果トランジスター。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57195976A JPS5986268A (ja) | 1982-11-10 | 1982-11-10 | 変調ド−ピング層を動作層とするシヨツトキ−ゲ−ト型電界効果トランジスタ− |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57195976A JPS5986268A (ja) | 1982-11-10 | 1982-11-10 | 変調ド−ピング層を動作層とするシヨツトキ−ゲ−ト型電界効果トランジスタ− |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5986268A true JPS5986268A (ja) | 1984-05-18 |
Family
ID=16350131
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57195976A Pending JPS5986268A (ja) | 1982-11-10 | 1982-11-10 | 変調ド−ピング層を動作層とするシヨツトキ−ゲ−ト型電界効果トランジスタ− |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5986268A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4806998A (en) * | 1986-06-30 | 1989-02-21 | Thomson-Csf | Heterojunction and dual channel semiconductor field effect transistor or negative transconductive device |
| US4821093A (en) * | 1986-08-18 | 1989-04-11 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army | Dual channel high electron mobility field effect transistor |
| US5159421A (en) * | 1991-06-28 | 1992-10-27 | Nec Research Institute, Inc. | Double channel heterostructures |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5223275A (en) * | 1975-08-15 | 1977-02-22 | Hitachi Ltd | Field effect transistor and its manufacturing method |
| JPS533074A (en) * | 1976-06-29 | 1978-01-12 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | Production of schottkey barrier gate field effect transistor |
| JPS5343483A (en) * | 1976-10-01 | 1978-04-19 | Handotai Kenkyu Shinkokai | Semiconductor device |
-
1982
- 1982-11-10 JP JP57195976A patent/JPS5986268A/ja active Pending
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5223275A (en) * | 1975-08-15 | 1977-02-22 | Hitachi Ltd | Field effect transistor and its manufacturing method |
| JPS533074A (en) * | 1976-06-29 | 1978-01-12 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | Production of schottkey barrier gate field effect transistor |
| JPS5343483A (en) * | 1976-10-01 | 1978-04-19 | Handotai Kenkyu Shinkokai | Semiconductor device |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4806998A (en) * | 1986-06-30 | 1989-02-21 | Thomson-Csf | Heterojunction and dual channel semiconductor field effect transistor or negative transconductive device |
| US4821093A (en) * | 1986-08-18 | 1989-04-11 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army | Dual channel high electron mobility field effect transistor |
| US5159421A (en) * | 1991-06-28 | 1992-10-27 | Nec Research Institute, Inc. | Double channel heterostructures |
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