JPS6294967A - リ−ドフレ−ム - Google Patents
リ−ドフレ−ムInfo
- Publication number
- JPS6294967A JPS6294967A JP60235736A JP23573685A JPS6294967A JP S6294967 A JPS6294967 A JP S6294967A JP 60235736 A JP60235736 A JP 60235736A JP 23573685 A JP23573685 A JP 23573685A JP S6294967 A JPS6294967 A JP S6294967A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- island
- lead frame
- inner leads
- semiconductor device
- lead
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W70/00—Package substrates; Interposers; Redistribution layers [RDL]
- H10W70/40—Leadframes
- H10W70/421—Shapes or dispositions
- H10W70/435—Shapes or dispositions of insulating layers on leadframes, e.g. bridging members
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W70/00—Package substrates; Interposers; Redistribution layers [RDL]
- H10W70/40—Leadframes
- H10W70/421—Shapes or dispositions
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W70/00—Package substrates; Interposers; Redistribution layers [RDL]
- H10W70/40—Leadframes
- H10W70/464—Additional interconnections in combination with leadframes
- H10W70/468—Circuit boards
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/071—Connecting or disconnecting
- H10W72/075—Connecting or disconnecting of bond wires
- H10W72/07541—Controlling the environment, e.g. atmosphere composition or temperature
- H10W72/07551—Controlling the environment, e.g. atmosphere composition or temperature characterised by changes in properties of the bond wires during the connecting
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/50—Bond wires
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/50—Bond wires
- H10W72/551—Materials of bond wires
- H10W72/552—Materials of bond wires comprising metals or metalloids, e.g. silver
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W74/00—Encapsulations, e.g. protective coatings
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W90/00—Package configurations
- H10W90/701—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts
- H10W90/751—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bond wires
- H10W90/756—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bond wires between a chip and a stacked lead frame, conducting package substrate or heat sink
Landscapes
- Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はリードフレームに関する。
従来、樹脂封止型半導体装置に用いられるリードフレー
ムは第4図及び第5図に示すごとく外部リー、ド2と一
体的に形成された内部リード3は半導体ナツプ4がマウ
ントされるアイランド部12まで延びた構造となってお
り、この内部リード3の先端と半導体チップ4上のボン
ディングバット部が金属細線6で接続されるように構成
されていた。
ムは第4図及び第5図に示すごとく外部リー、ド2と一
体的に形成された内部リード3は半導体ナツプ4がマウ
ントされるアイランド部12まで延びた構造となってお
り、この内部リード3の先端と半導体チップ4上のボン
ディングバット部が金属細線6で接続されるように構成
されていた。
上述した従来のリードフレームは、内部リード3が半導
体チップ4がマウントされるアイランド部12近くまで
延びている構造となっている為、モールド樹脂1で封止
した場合内部リード3にそって水分が浸入し半導体装置
を劣化させるという問題がある。
体チップ4がマウントされるアイランド部12近くまで
延びている構造となっている為、モールド樹脂1で封止
した場合内部リード3にそって水分が浸入し半導体装置
を劣化させるという問題がある。
内部リードを細くすれば水分の浸入は減少するが、内部
リードを細くしたリードフレームを用い、従来と同様の
方法で半導体チップをマウントし、金属細線をボンディ
ングした場合、金属細線の変形や断線等が生じ半導体装
置の歩留り低下の原因となる。
リードを細くしたリードフレームを用い、従来と同様の
方法で半導体チップをマウントし、金属細線をボンディ
ングした場合、金属細線の変形や断線等が生じ半導体装
置の歩留り低下の原因となる。
本発明の目的は°、田脂封止型半導体装置を製造した場
合、水分の浸入を少くできるリードフレームを提供する
ことにある。
合、水分の浸入を少くできるリードフレームを提供する
ことにある。
本発明のリードフレームは、外部リードと内部リードと
アイランド部からなるリードフレームであって、アイラ
ンド部近傍に金属細線の中継端子を設けたものである。
アイランド部からなるリードフレームであって、アイラ
ンド部近傍に金属細線の中継端子を設けたものである。
次に、本発明の実施例について図面を参照して説明する
。
。
第1図は本発明の一実施例の平面図であり半導体ベレ・
ソトを固定した場合を示している。第2図は第1図の実
施例のA−A’線断面図、第3図は第2図の中継端子部
の拡大図である。
ソトを固定した場合を示している。第2図は第1図の実
施例のA−A’線断面図、第3図は第2図の中継端子部
の拡大図である。
第1図及び第2図において、リードフレームは外部リー
ド2、内部リード3、アイランド12及びアイランド近
傍に設けられた金属細線の中継端子5から構成されてい
る。
ド2、内部リード3、アイランド12及びアイランド近
傍に設けられた金属細線の中継端子5から構成されてい
る。
中継端子5は第3図に示したように、アイランド12と
一体的に形成された中継端子支持フレーム10上にSI
O□等の絶縁層9を設け、この絶縁層9上に人。等の金
属層8を通釈的に形成した構造となっている。
一体的に形成された中継端子支持フレーム10上にSI
O□等の絶縁層9を設け、この絶縁層9上に人。等の金
属層8を通釈的に形成した構造となっている。
このように構成されたり−ドーフレームにおいては、内
部リード3を半導体チップ4が固定されるアイランド1
2近くまで延在させる必要かなくなる。従って内部リー
ド3を細くかつ短く形成することができる。
部リード3を半導体チップ4が固定されるアイランド1
2近くまで延在させる必要かなくなる。従って内部リー
ド3を細くかつ短く形成することができる。
このように内部リード3を細くし、アイランド12より
離した構造のリードフレームを用いて樹脂封止型の半導
体装置を製造した場合、内部り一ド3にそって半導体装
置内部に浸入する水分は極めて少くなる。又、中継端子
5と内部リード3とを接続する金属細線6は内部リード
3より極めて細い為水分の浸入は更に阻止され、半導体
装置の耐湿性はより向上したものとなる。
離した構造のリードフレームを用いて樹脂封止型の半導
体装置を製造した場合、内部り一ド3にそって半導体装
置内部に浸入する水分は極めて少くなる。又、中継端子
5と内部リード3とを接続する金属細線6は内部リード
3より極めて細い為水分の浸入は更に阻止され、半導体
装置の耐湿性はより向上したものとなる。
以上詳細に説明したように、本発明によれば、リードフ
レームのアイランド近傍に金属細線の中継端子を設ける
ことにより、内部リードを細くかつ短く形成できる為、
樹脂封止型半導体装置を製造した場合水分の浸入を少く
できるという効果のあるリードフレームが得られる。
レームのアイランド近傍に金属細線の中継端子を設ける
ことにより、内部リードを細くかつ短く形成できる為、
樹脂封止型半導体装置を製造した場合水分の浸入を少く
できるという効果のあるリードフレームが得られる。
第1図は本発明の一実施例のリードフレームの平面図、
第2図は第1図の実施例のA−A′線断面図、第3図は
第2図の中継端子部の拡大図、第4図は従来のリードフ
レームの平面図、第5図は第4図のリードフレームのB
−B′線断面図である。 1・・・モールド樹脂、2・・・外部リード、3・・・
内部リード、4・・・半導体チップ、5・・・中継端子
、6・・・金属細線、8・・・金属層、9・・・絶縁層
、10・・・中継端子支持フレーム、12・・・アイラ
ンド。 蓮 3rj!J
第2図は第1図の実施例のA−A′線断面図、第3図は
第2図の中継端子部の拡大図、第4図は従来のリードフ
レームの平面図、第5図は第4図のリードフレームのB
−B′線断面図である。 1・・・モールド樹脂、2・・・外部リード、3・・・
内部リード、4・・・半導体チップ、5・・・中継端子
、6・・・金属細線、8・・・金属層、9・・・絶縁層
、10・・・中継端子支持フレーム、12・・・アイラ
ンド。 蓮 3rj!J
Claims (1)
- 外部リードと内部リードとアイランド部からなるリー
ドフレームにおいて、アイランド部近傍に金属細線の中
継端子を設けたことを特徴とするリードフレーム。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60235736A JPS6294967A (ja) | 1985-10-21 | 1985-10-21 | リ−ドフレ−ム |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60235736A JPS6294967A (ja) | 1985-10-21 | 1985-10-21 | リ−ドフレ−ム |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6294967A true JPS6294967A (ja) | 1987-05-01 |
Family
ID=16990458
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60235736A Pending JPS6294967A (ja) | 1985-10-21 | 1985-10-21 | リ−ドフレ−ム |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6294967A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5168368A (en) * | 1991-05-09 | 1992-12-01 | International Business Machines Corporation | Lead frame-chip package with improved configuration |
| JP2013062405A (ja) * | 2011-09-14 | 2013-04-04 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体装置 |
-
1985
- 1985-10-21 JP JP60235736A patent/JPS6294967A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5168368A (en) * | 1991-05-09 | 1992-12-01 | International Business Machines Corporation | Lead frame-chip package with improved configuration |
| JP2013062405A (ja) * | 2011-09-14 | 2013-04-04 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体装置 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP3012816B2 (ja) | 樹脂封止型半導体装置およびその製造方法 | |
| KR910008986B1 (ko) | 반도체 장치용 리드프레임 | |
| JPS6294967A (ja) | リ−ドフレ−ム | |
| KR920018880A (ko) | 유리봉지형 세라믹 패키지 | |
| JPS5951139B2 (ja) | 樹脂封止型半導体装置の製法 | |
| JPS6060742A (ja) | リ−ドフレ−ム | |
| JPS5842246A (ja) | 半導体装置 | |
| JPS6254456A (ja) | 半導体装置用リ−ドフレ−ム | |
| JPS62235763A (ja) | 半導体装置用リ−ドフレ−ム | |
| JP2795069B2 (ja) | 半導体装置 | |
| JPH0685133A (ja) | 半導体集積回路装置 | |
| KR920008359Y1 (ko) | 리드프레임 | |
| JPS6345842A (ja) | プラスチツク・パツケ−ジ | |
| JPS63114242A (ja) | 半導体装置 | |
| JPS5850759A (ja) | 樹脂封止形半導体装置 | |
| JPH01286341A (ja) | 樹脂封止型半導体装置 | |
| JPS6384143A (ja) | 半導体装置 | |
| JPH0284744A (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
| JPH01198057A (ja) | 半導体装置 | |
| JPS61128551A (ja) | 半導体装置用リ−ドフレ−ム | |
| JPH03169057A (ja) | 半導体装置 | |
| JPH01215049A (ja) | 半導体装置 | |
| JPH01276656A (ja) | 樹脂封止型半導体装置 | |
| JPH0498861A (ja) | 樹脂封止型半導体装置 | |
| JPS6042619B2 (ja) | 半導体装置 |