JPH01136153A - レジスト剥離剤 - Google Patents

レジスト剥離剤

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JPH01136153A
JPH01136153A JP62293967A JP29396787A JPH01136153A JP H01136153 A JPH01136153 A JP H01136153A JP 62293967 A JP62293967 A JP 62293967A JP 29396787 A JP29396787 A JP 29396787A JP H01136153 A JPH01136153 A JP H01136153A
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JP
Japan
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resist
difluoroethane
alcohol
methyl
acetate
Prior art date
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Pending
Application number
JP62293967A
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English (en)
Inventor
Akio Asano
浅野 昭雄
Kazuki Jinushi
地主 一樹
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AGC Inc
Original Assignee
Asahi Glass Co Ltd
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Filing date
Publication date
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Priority to JP62293967A priority Critical patent/JPH01136153A/ja
Publication of JPH01136153A publication Critical patent/JPH01136153A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • G—PHYSICS
    • G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/26—Processing photosensitive materials; Apparatus therefor
    • G03F7/42—Stripping or agents therefor
    • G03F7/422—Stripping or agents therefor using liquids only
    • G03F7/426—Stripping or agents therefor using liquids only containing organic halogen compounds; containing organic sulfonic acids or salts thereof; containing sulfoxides

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Photosensitive Polymer And Photoresist Processing (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明はプリント基板や半導体の製造時に用いられるレ
ジスト剥離剤に関するもので・ある。
[従来の技術] プリント基板や半導体回路を作成する場合、最終的にエ
ツチング後のレジストを剥離する工程がある。従来、こ
の工程に塩化メチレン、テトラクロルエチレン、O−ジ
クロルベンセン等の塩素系溶剤が使われている。
[発明の解決しようとする問題点] 本発明は従来使用されていた塩素系溶剤は地下水汚染の
点から好ましくないため、その使用量を抑えるべく塩素
系溶剤にかわる新規のレジスト剥離剤を提供することを
目的とするものである。
[問題点を解決するための手段] 本発明は前述の目的を達成すべくなされたものであり、
1,1.2−トリクロロ−2,2−ジフルオロエタン(
以下RI22という)又はテトラクロロ−1,2−ジフ
ルオロエタン(以下RII2という)の1種と1.2−
ジクロロ−1−フルオロエタン(以下RI4+という)
との共沸組成物を有効、成分として含有するレジスト剥
離剤を提供するものである。
本発明のレジスト剥離剤の有効成分である11+22/
R141−約66/34の共沸組成物又は旧+2/RI
41・約17783の共沸組成物(共沸割合は重量%)
は、レジスト剥離力に優れ、プリント基板や半導体の材
質に悪影響の少ない優れた溶剤である。これら2種の共
沸組成物はそれぞれ単独で又はこれらの混合物として用
いることができる。
本発明のレジスト剥離剤には、各種の目的に応じてその
他の各種成分を含有させることができる。例えば、レジ
スト剥離力を高めるために、炭化水素類、アルコール類
、ケトン類、塩素化炭化水素類、芳香族類又はエステル
類等の有機溶剤から選ばれる少なくとも1種を含有させ
ることができる。これらの有機溶剤のレジスト剥離剤中
の含有割合は、0〜50重量%、好ましくは10〜40
重量%、さらに好ましくは20〜30重量%である。本
発明の共沸組成物と有機溶剤との混合物に共沸組成が存
在する場合には、その共沸組成での使用が好ましい。
炭化水素類としては炭素数1〜15の直鎖又は環状の飽
和又は不飽和炭化水素類が好ましく、n−ペンタン、イ
ソペンタン、n−ヘキサン、イソヘキサン、2−メチル
ペンタン、2.2−ジメチルブタン、2.3−ジメチル
ブタン、n−へブタン、イソへブタン、3−メチルヘキ
サン、2.4−ジメチルペンタン、n−オクタン、2−
メチルへブタン、3−メチルへブタン、4−メチルへブ
タン、2.2−ジメチルヘキサン、2.5−ジメチルヘ
キサン、3.3−ジメチルヘキサン、2−メチル−3−
エチルペンタン、3−メチル−3−エチルペンタン、2
゜3、3− トリメチルペンタン、2.3.4− トリ
メチルペンタン、2.2.3− トリメチルペンタン、
イソオクタン、ノナン、2.2.5− トリメチルヘキ
サン、デカン、ドデンカン、l−ペンテン、2−ペンテ
ン、1−ヘキセン、l−オクテン、1−ノネン、I−デ
セン、シクロペンタン、メチルシクロペンタン、シクロ
ヘキサン、メチルシクロヘキサン、エチルシクロヘキサ
ン、ビシクロヘキサン、シクロヘキセン、a−ピネン、
ジペンテン、デカリン、テトラリン、アミジノ、アミル
ナフタレン等から選ばれるものである。より好ましくは
、n−ペンタン、n−ヘキサン、n−へブタン等である
。
アルコール類としては、炭素数1〜17の鎖状又は環状
の飽和又は不飽和アルコール類が好ましく、メタノール
、エタノール、n−プロピルアルコール、イソプロピル
アルコール、n−ブチルアルコール、5ec−ブチルア
ルコール、イソブチルアルコール、tert−ブチルア
ルコール、ペンチルアルコール、5ec−アミルアルコ
ール、1−エチル−1−プロパツール、2−メチル−1
−ブタノール、イソペンチルアルコール、tert−ペ
ンチルアルコール、3−メチル−2−ブタノール、ネオ
ペンチルアルコール、l−ヘキサノール、2−メチル−
1−ペンタノール、4−メチル−2−ペンタノール、2
−エチル−1−ブタノール、1−ヘプタツール、2−ヘ
プタツール、3−ヘプタツール、1−オクタノール、2
−オクタノール、2−エチル−1−ヘキサノール、1−
ノナノール、3.5.5−トリメチル−1−ヘキサノー
ル、1−デカノール、1−ウンデカノール、l−ドデカ
ノール、アリルアルコール、プロパルギルアルコール、
ベンジルアルコール、シクロヘキサノール、1−メチル
シクロヘキサノール、2−メチルシクロヘキサノール、
3−メチルシクロヘキサノール、4−メチルシクロヘキ
サノール、α−テルピネオール、アビニチノール、2.
6−シメチルー4−ヘプタツール、トリメチルノニルア
ルコール、テトラデシルアルコール、ヘプタデシルアル
コール等から選ばれるものである。より好ましくはメタ
ノール、エタノール、イソプロピルアルコール等である
。
ケトン類としては、R−CO−R’、 R−CO,R−
CO−R’ −rlr−CI+、−。
Co−R”、R−CO−R’、 R−CD−R’ (こ
こで%R,R″、R#は炭素数1〜9の飽和又は不飽和
炭化水素基)のいずれかの−数式で示されるものが好ま
しく、アセトン、メチルエチルケトン、2−ペンタノン
、3−ペンタノン、2−ヘキサノン、メチル−〇−ブチ
ルケトン、メチルブチルケトン、2−へブタノン、4−
ヘプタノン、ジイソブチルケトン、アセトニルアセトン
、メシチルオキシド、ホロン、メチル−n−アミルケト
ン、エチルブチルケトン、メチルへキシルケトン、シク
ロヘキサノン、メチルシクロヘキサノン、イソホロン、
2.4−ベンタンジオン、ジアセトンアルコール、アセ
トフェノン、フェンチョン等から選ばれるものである。
より好ましくはアセトン、メチルエチルケトン等である
。
塩素化炭化水素類としては、炭素数1〜2の飽和又は不
飽和、塩素化炭化水素類が好ましく、塩化メチレン、四
塩化炭素、1.1−ジクロルエタン、1.2−ジクロロ
エタン、l、 1.ll−ジクロルエタン、1,1.2
−トリクロルエタン、1,1,1.2−テトラクロルエ
タン、1,1,2.2−テトラクロルエタン、ペンタク
ロルエタン、1.1−ジクロルエチレン、1.2−ジク
ロルエチレン、トリクロルエチレン、テトラクロルエチ
レン等から選ばれるものである。より好ましくは塩化メ
チレン、1、 I、 l−トリクロルエタン、トリクロ
ルエチレン、テトラクロルエチレン等である。
芳香族類としては、ベンゼン誘導体、ナフタレン誘導体
が好ましく、ベンセン、トルエン、キシレン、エチルベ
ンセン、イソプロピルベンセン、ジエチルベンゼン、第
2ブチルベンゼン、トリエチルベンセン、ジイソプロピ
ルベンセン、スチレン、アルキルベンゼンスルホン酸、
フェノール、メシチレン、ナフタレン、テトラリン、ブ
チルベンゼン、p−シメン、シクロへキシルベンセン、
ペンチルベンゼン、ジペンチルベンセン、ドデシルベン
セン、ビフェニル、0−クレゾール、m−クレゾール、
キシレノール等から選ばれるものである。より好ましく
は、アルキルベンゼンスルホン酸、フェノール等である
。
エステル類としては、次の一般式で示される■ ものが好ましく、R,−COO−R2,R1−C−R3
−Coo−R,。
!8゜ (ここでRI、 R2,R3,R4,R6,ReはII
又は011又は炭素数1−19の飽和ないし、不飽和結
合を有する炭化水素基。) 具体的には、ギ酸メチル、ギ酸エチル、ギ酸プロピル、
ギ酸ブチル、ギ酸イソブチル、ギ酸ペンチル、酢酸メチ
ル、酢酸エチル、酢酸プロピル、酢酸イソプロピル、酢
酸ブチル、酢酸イソブチル、酢酸5ec−ブチル、酢酸
ペンチル、酢酸イソペンチル、3−メトキシブチルアセ
テート、酢酸5ec−ヘキシル、2−エチルブチルアセ
テート、2−エチルヘキシルアセテート、酢酸シクロヘ
キシル、酢酸ベンジル、プロピオン酸メチル、プロピオ
ン酸エチル、プロピオン酸ブチル、プロピオン酸イソペ
ンチル、酪酸メチル、酪酸エチル、酪酸ブチル、酪酸イ
ソペンチル、イソ酪酸イソブチル、2−ヒドロキシ−2
−メチルプロピオン酸エチル、ステアリン酸ブチル、ス
テアリン酸ペンチル、安息香酸メチル、安息香酸エチル
、安息香酸プロピル、安息香酸ブチル、安息香酸イソペ
ンチル、安息香酸ベンジル、アビエチン酸エチル、アビ
エチン酸ベンジル、アジピン酸ビス−2−エチルヘキシ
ル、γ−ブチロラクト、シュウ酸ジエチル、シュウ酸ジ
ブチル、シュウ酸ジベンチル、マロン酸ジエチル、マレ
イン酸ジメチル、マレイン酸ジエチル、マレイン酸ジブ
チル、酒石酸ジブチル、クエン酸トリブチル、セバシン
酸ジブチル、セバシン酸ビス−2−エチルヘキシル、フ
タル酸ジメチル、フタル酸ジエチル、フタル酸ジブチル
、フタル酸ビス−2−エチルヘキシル、フタル酸ジオク
チル等から選ばれるものある。より好ましくは酢酸メチ
ル、酢酸エチル等である。
本発明により剥離し得るレジストとしては、何ら限定さ
れず、ポジ形またはネガ形の光露光用レジスト、遠紫外
露光用レジスト、X線又は電子線用レジストを挙げるこ
とができる。光露光用レジストの材質にはフェノール及
びタレゾールノボラック樹脂をベースにしたキノンジア
ジド系、シス−1,4−ポリイソプレンを主成分とする
環化ゴム系、ポリけい皮酸系等があり、遠紫外用レジス
トにはポリメチルメタアクリレート、ポリメチルイソプ
ロペニルケトン等があり、電子線、X線レジストにはポ
リメタフルル酸メチル1、メタクリル酸グリシジル−ア
クリル酸エチル共重合体、メタアクリル酸メチル−メタ
クリル酸共重合体等が知られているが、本発明のレジス
ト剥離剤はいずれにも有効である。
レジスト剥離方法も何ら限定されず、通常のスプレー法
、浸漬して攪拌したり、揺動したり、超音波を作用させ
たりする方法等を採用することができる。
[実施例] 実施例1〜8 下記第1表に示すレジスト剥離剤を用いてレジスト剥離
試験を行なった。フォトレジストフィルム(Lamin
er ;ダイナケム社製)がラミネートされたプリント
基板(銅張積層板)を用い露光、現像、エツチング工程
にて回路を作成後、レジスト剥離剤に常温で15分間浸
漬し、取出後顕微鏡にて硬化膜の剥離状況を観察した。
結果を第1表に示す。
第1表 ()内は混合比[重量%] O:良好に剥離できる Δ:少量残存 ×:かなり残存 [発明の効果] 本発明のレジスト剥離剤は実施例から明らかなようにレ
ジスト剥離効果に優れたものである。
又、従来の塩素系剥離剤に比べ、プリント配線板に使わ
れるプラスチック等に対し悪影響が少ない点も有利であ
る。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)1,1,2−トリクロロ−2,2−ジフルオロエ
    タン又はテトラクロロ−1,2−ジフルオロエタンの1
    種と1,2−ジクロロ−1−フルオロエタンとの共沸組
    成物を有効成分として含有するレジスト剥離剤。
  2. (2)レジスト剥離剤中には、炭化水素類、アルコール
    類、ケトン類、塩素化炭化水素類、芳香族類又はエステ
    ル類から選ばれる少なくとも1種が含まれている特許請
    求の範囲第1項記載のレジスト剥離剤。
JP62293967A 1987-11-24 1987-11-24 レジスト剥離剤 Pending JPH01136153A (ja)

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