JPH024268A - レジスト剥離剤 - Google Patents
レジスト剥離剤Info
- Publication number
- JPH024268A JPH024268A JP63152277A JP15227788A JPH024268A JP H024268 A JPH024268 A JP H024268A JP 63152277 A JP63152277 A JP 63152277A JP 15227788 A JP15227788 A JP 15227788A JP H024268 A JPH024268 A JP H024268A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- hydrocarbons
- dichloro
- methyl
- alcohol
- resist stripping
- Prior art date
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- Pending
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Landscapes
- Photosensitive Polymer And Photoresist Processing (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明はプリント基板や半導体の製造時に用いられるレ
ジスト剥離剤に関するものである。
ジスト剥離剤に関するものである。
[従来の技術]
プリント基板や半導体回路を作成する場合、最終的にエ
ツチング後のレジストを剥離する工程がある。従来、こ
の工程に塩化メチレン、テトラクロルエチレン、0−ジ
クロルベンゼン等の塩素系溶剤が使われている。
ツチング後のレジストを剥離する工程がある。従来、こ
の工程に塩化メチレン、テトラクロルエチレン、0−ジ
クロルベンゼン等の塩素系溶剤が使われている。
[発明が解決しようとする課題]
本発明は従来使用されていた塩素系溶剤は地下水汚染の
点から好ましくないため、その使用量を抑えるべく塩素
系溶剤にかわる新規のレジスト剥離剤を提供することを
目的とするものである。
点から好ましくないため、その使用量を抑えるべく塩素
系溶剤にかわる新規のレジスト剥離剤を提供することを
目的とするものである。
[課題を解決するための手段]
本発明は前述の目的を達成すべくなされたものであり、
炭素数が3である塩化弗化炭化水素を有効成分として含
有するレジスト剥離剤を提供するものである。
炭素数が3である塩化弗化炭化水素を有効成分として含
有するレジスト剥離剤を提供するものである。
本発明の塩化弗化炭化水素としては1.1−ジクロロ−
2,2,3,3,3−ペンタフルオロプロパン(b、p
。
2,2,3,3,3−ペンタフルオロプロパン(b、p
。
45.5℃)、1.3−ジクロロ−1,2,2,3,3
−ペンタフルオロプロパン(b、p、52℃) 、 1
,1.3−トリクロロ−2,2,3,3−テトラフルオ
ロプロパン(b、p。
−ペンタフルオロプロパン(b、p、52℃) 、 1
,1.3−トリクロロ−2,2,3,3−テトラフルオ
ロプロパン(b、p。
91.5℃) 、 1.3.3−トリクロロ−1,2,
2,3−テトラフルオロプロパン(b、 p、 90.
5℃) l−クロロ−1,2,2,3,3−ペンタフル
オロプロパン(b、 p、 43.9’C)、1.3−
ジクロロ−2,2,3,3−テトラフルオロプロパン(
b、 9.68℃)、l−クロロ−2,2,3,3−テ
トラフルオロプロパン(b、 9.54℃)、1.1−
ジクリロ−1,2,2−トリフルオロプロパン(b、p
、 60.2”C)、1.3−ジクロロ−2,2,−ジ
フルオロプロパン(b、p、96.7℃)、1.1−ジ
クロロ−2,2,−ジフルオロプロパン(b、 p、
79℃)及びl−クロロ−2,2−ジフルオロプロパン
(b、p、55.1 ”c )等の水素含有塩化弗化炭
化水素から選ばれる1種又は2種以上の混合物が好まし
い。
2,3−テトラフルオロプロパン(b、 p、 90.
5℃) l−クロロ−1,2,2,3,3−ペンタフル
オロプロパン(b、 p、 43.9’C)、1.3−
ジクロロ−2,2,3,3−テトラフルオロプロパン(
b、 9.68℃)、l−クロロ−2,2,3,3−テ
トラフルオロプロパン(b、 9.54℃)、1.1−
ジクリロ−1,2,2−トリフルオロプロパン(b、p
、 60.2”C)、1.3−ジクロロ−2,2,−ジ
フルオロプロパン(b、p、96.7℃)、1.1−ジ
クロロ−2,2,−ジフルオロプロパン(b、 p、
79℃)及びl−クロロ−2,2−ジフルオロプロパン
(b、p、55.1 ”c )等の水素含有塩化弗化炭
化水素から選ばれる1種又は2種以上の混合物が好まし
い。
本発明のレジスト剥離剤には、各種の目的に応じてその
他の各種成分を含有させることができる6例えば、レジ
スト剥離力を高めるために、炭化水素類、アルコ−ル類
、ケトン類、塩素化炭化水素類、芳香族類又はエステル
類等の有機溶剤から選ばれる少なくとも1種を含有させ
ることができる。これらの有機溶剤のレジスト剥離剤中
の含有割合は、0〜50重量%、好ましくは10〜40
重量%、さらに好ましくは20〜30重量%である0本
発明の塩化弗化炭化水素類と有機溶剤との混合物に共沸
組成が存在する場合には、その共沸組成での使用が好ま
しい。
他の各種成分を含有させることができる6例えば、レジ
スト剥離力を高めるために、炭化水素類、アルコ−ル類
、ケトン類、塩素化炭化水素類、芳香族類又はエステル
類等の有機溶剤から選ばれる少なくとも1種を含有させ
ることができる。これらの有機溶剤のレジスト剥離剤中
の含有割合は、0〜50重量%、好ましくは10〜40
重量%、さらに好ましくは20〜30重量%である0本
発明の塩化弗化炭化水素類と有機溶剤との混合物に共沸
組成が存在する場合には、その共沸組成での使用が好ま
しい。
炭化水素類としては炭素数1〜15の直鎖又は環状の飽
和又は不飽和炭化水素類が好ましく、n−ペンタン、イ
ンペンタン、n−ヘキサン。
和又は不飽和炭化水素類が好ましく、n−ペンタン、イ
ンペンタン、n−ヘキサン。
イソヘキサン、2−メチルペンタン、2.2−ジメチル
ブタン、2.3−ジメチルブタン、n−ペンタン、イソ
へブタン、3−メチルヘキサン、2.4−ジメチルペン
クン、n−オクタン、2−メチルへブタン、3−メチル
へブタン、4−メチルペンタン、2.2−ジメチルヘキ
サン、2.5−ジメチルヘキサン、3.3−ジメチルヘ
キサン、2−メチル−3−エチルペンクン、3−メチル
−3−エチルペンクン、2゜3.3−トリメチルペンタ
ン、2.3.4−トリメチルペンタン、2.2.3−ト
リメチルペンタン、イソオクタン、ノナン、2.2゜5
−トリメチルヘキサン、デカン、ドデンカン、l−ペン
テン、2−ペンテン、1−ヘキセン、1−オクテン、l
−ノネン、l−デセン、シクロペンクン、メチルシクロ
ペンクン、シクロヘキサン、メチルシクロヘキサン、エ
チルシクロヘキサン、ビシクロヘキサン、シクロヘキセ
ン、α−ピネン、ジペンテン、デカリン、テトラリン、
アミジノ、アミルナフタレン等から選ばれるものである
。より好ましくは、n−ペンタン、n−ヘキサン、シク
ロヘキサン、n−へブタン等である。
ブタン、2.3−ジメチルブタン、n−ペンタン、イソ
へブタン、3−メチルヘキサン、2.4−ジメチルペン
クン、n−オクタン、2−メチルへブタン、3−メチル
へブタン、4−メチルペンタン、2.2−ジメチルヘキ
サン、2.5−ジメチルヘキサン、3.3−ジメチルヘ
キサン、2−メチル−3−エチルペンクン、3−メチル
−3−エチルペンクン、2゜3.3−トリメチルペンタ
ン、2.3.4−トリメチルペンタン、2.2.3−ト
リメチルペンタン、イソオクタン、ノナン、2.2゜5
−トリメチルヘキサン、デカン、ドデンカン、l−ペン
テン、2−ペンテン、1−ヘキセン、1−オクテン、l
−ノネン、l−デセン、シクロペンクン、メチルシクロ
ペンクン、シクロヘキサン、メチルシクロヘキサン、エ
チルシクロヘキサン、ビシクロヘキサン、シクロヘキセ
ン、α−ピネン、ジペンテン、デカリン、テトラリン、
アミジノ、アミルナフタレン等から選ばれるものである
。より好ましくは、n−ペンタン、n−ヘキサン、シク
ロヘキサン、n−へブタン等である。
アルコ−ル類としては、炭素数1−17の鎖状又は環状
の飽和又は不飽和アルコ−ル類が好ましく、メタノール
、エタノール、n−プロピルアルコ−ル、イソプロピル
アルコ−ル、n−ブチルアルコ−ル、5ec−ブチルア
ルコ−ル、イソブチルアルコ−ル、tert−ブチルア
ルコ−ル、ペンチルアルコ−ル、5ec−アミルアルコ
−ル、l−エチル−1−プロパツール、2−メチル−1
−ブタノール、イソペンチルアルコ−ル、tert−ペ
ンチルアルコ−ル、3−メチル−2−ブタノール、ネオ
ペンチルアルコ−ル、1−ヘキサノール、2−メチル−
1−ヘプタツール、4−メチル−2−ヘプタツール、2
−エチル−1−ブタノ−・ル、l−ヘプタツール、2−
ヘプタツール、3−ヘプタツール、l−オクタノール、
2−オクタノール、2−エチル−1−ヘキサノール、1
−ノナノール、3.5.5−トリメチル−1−ヘキサノ
ール、l−デカノール、1−ウンデカノール、l−ドデ
カノール、アリルアルコ−ル、プロパルギルアルコ−ル
、ベンジルアルコ−ル、シクロヘキサノール、l−メチ
ルシクロヘキサノ−ル、2−メチルシクロヘキサノール
、3−メチルシクロヘキサノール、4−メチルシクロヘ
キサノール、α−テルピネオール、アビニチノール、2
.6−シメチルー4−ヘプタツール、トリメチルノニル
アルコ−ル、テトラデシルアルコ−ル、ヘプタデシルア
ルコ−ル等から選ばれるものである。より好ましくはメ
タノール、エタノール、イソプロピルアルコ−ル等であ
る。
の飽和又は不飽和アルコ−ル類が好ましく、メタノール
、エタノール、n−プロピルアルコ−ル、イソプロピル
アルコ−ル、n−ブチルアルコ−ル、5ec−ブチルア
ルコ−ル、イソブチルアルコ−ル、tert−ブチルア
ルコ−ル、ペンチルアルコ−ル、5ec−アミルアルコ
−ル、l−エチル−1−プロパツール、2−メチル−1
−ブタノール、イソペンチルアルコ−ル、tert−ペ
ンチルアルコ−ル、3−メチル−2−ブタノール、ネオ
ペンチルアルコ−ル、1−ヘキサノール、2−メチル−
1−ヘプタツール、4−メチル−2−ヘプタツール、2
−エチル−1−ブタノ−・ル、l−ヘプタツール、2−
ヘプタツール、3−ヘプタツール、l−オクタノール、
2−オクタノール、2−エチル−1−ヘキサノール、1
−ノナノール、3.5.5−トリメチル−1−ヘキサノ
ール、l−デカノール、1−ウンデカノール、l−ドデ
カノール、アリルアルコ−ル、プロパルギルアルコ−ル
、ベンジルアルコ−ル、シクロヘキサノール、l−メチ
ルシクロヘキサノ−ル、2−メチルシクロヘキサノール
、3−メチルシクロヘキサノール、4−メチルシクロヘ
キサノール、α−テルピネオール、アビニチノール、2
.6−シメチルー4−ヘプタツール、トリメチルノニル
アルコ−ル、テトラデシルアルコ−ル、ヘプタデシルア
ルコ−ル等から選ばれるものである。より好ましくはメ
タノール、エタノール、イソプロピルアルコ−ル等であ
る。
炭素数1〜9の飽和又は不飽和炭化水素基)のいずれか
の−数式で示されるものが好ましく、アセトン、メチル
エチルケトン、2−ペンタノン、3−ペンタノン、2−
ヘキサノン、メチル−n−ブチルケトン、メチルブチル
ケトン、2−ヘプタノン、4−ヘプタノン、ジイソブチ
ルケトン、アセトニルアセトン、メシチルオキシド、ホ
ロン、メチル−〇−アミルケトン、エチルブチルケトン
、メチルへキシルケトン、シクロヘキサノン、メチルシ
クロヘキサノン、イソホロン、2.4−ペンタンジオン
、ジアセトンアルコ−ル、アセトフェノン、フェンチョ
ン等から選ばれるものである。より好ましくはアセトン
、メチルエチルケトン等である。
の−数式で示されるものが好ましく、アセトン、メチル
エチルケトン、2−ペンタノン、3−ペンタノン、2−
ヘキサノン、メチル−n−ブチルケトン、メチルブチル
ケトン、2−ヘプタノン、4−ヘプタノン、ジイソブチ
ルケトン、アセトニルアセトン、メシチルオキシド、ホ
ロン、メチル−〇−アミルケトン、エチルブチルケトン
、メチルへキシルケトン、シクロヘキサノン、メチルシ
クロヘキサノン、イソホロン、2.4−ペンタンジオン
、ジアセトンアルコ−ル、アセトフェノン、フェンチョ
ン等から選ばれるものである。より好ましくはアセトン
、メチルエチルケトン等である。
塩素化炭化水素類としては、炭素数1〜2の飽和又は不
飽和、塩素化炭化水素類が好ましく、塩化メチレン、四
塩化炭素、1.1−ジクロルエタン、1.2−ジクロロ
エタン、1.1.1−トリクロルエタン、1.1.2−
トリクロルエタン、1.1.1.2−テトラクロルエタ
ン、1.1.2.2−テトラクロルエタン、ペンタクロ
ルエタン、1.1−ジクロルエチレン、1.2−ジクロ
ルエチレン、トリクロルエチレン、テトラクロルエチレ
ン等から選ばれるものである。より好ましくは塩化メチ
レン、1.1.1−トリクロルエタン、トリクロルエチ
レン、テトラクロルエチレン等である。
飽和、塩素化炭化水素類が好ましく、塩化メチレン、四
塩化炭素、1.1−ジクロルエタン、1.2−ジクロロ
エタン、1.1.1−トリクロルエタン、1.1.2−
トリクロルエタン、1.1.1.2−テトラクロルエタ
ン、1.1.2.2−テトラクロルエタン、ペンタクロ
ルエタン、1.1−ジクロルエチレン、1.2−ジクロ
ルエチレン、トリクロルエチレン、テトラクロルエチレ
ン等から選ばれるものである。より好ましくは塩化メチ
レン、1.1.1−トリクロルエタン、トリクロルエチ
レン、テトラクロルエチレン等である。
芳香族類としては、ベンゼン誘導体、ナフタレン誘導体
が好ましく、ベンゼン、トルエン、キシレン、エチルベ
ンゼン、イソプロピルベンゼン、ジエチルベンゼン、第
2ブチルベンゼン、トリエチルベンゼン、ジイソプロピ
ルベンゼン、スチレン、アルキルベンゼンスルホン酸、
フェノール、メシチレン、ナフタレン、テトラリン、ブ
チルベンゼン、p−シメン、シクロヘキシルベンゼン、
ペンチルベンゼン、ジペンチルベンゼン、ドデシルベン
ゼン、ビフェニル、0−クレゾール、m−クレゾール、
キシレノール等から選ばれるものである。より好ましく
は、アルキルベンゼンスルホン酸、フェノール等である
。
が好ましく、ベンゼン、トルエン、キシレン、エチルベ
ンゼン、イソプロピルベンゼン、ジエチルベンゼン、第
2ブチルベンゼン、トリエチルベンゼン、ジイソプロピ
ルベンゼン、スチレン、アルキルベンゼンスルホン酸、
フェノール、メシチレン、ナフタレン、テトラリン、ブ
チルベンゼン、p−シメン、シクロヘキシルベンゼン、
ペンチルベンゼン、ジペンチルベンゼン、ドデシルベン
ゼン、ビフェニル、0−クレゾール、m−クレゾール、
キシレノール等から選ばれるものである。より好ましく
は、アルキルベンゼンスルホン酸、フェノール等である
。
エステル類としては、次の一般式で示されるR。
0OR4
(ここでR1,Ri、R−、R4,Ri、RsはH又は
OH又は炭素数1−19の飽和ないし、不飽和結合を有
する炭化水素基、) 具体的には、ギ酸メチル、ギ酸エチル、ギ酸プロピル、
ギ酸ブチル、・ギ酸イソブチル、ギ酸ペンチル、酢酸メ
チル、酢酸エチル、酢酸プロピル、酢酸イソプロピル、
酢酸ブチル、酢酸イソブチル、酢酸5ec−ブチル、酢
酸ペンチル、酢酸イソペンチル、3−メトキシブチルア
セテート、酢酸5ec−ヘキシル、2−エチルブチルア
セテート、2−エチルヘキシルアセテート、酢酸シクロ
ヘキシル、酢酸ベンジル、プロピオン酸メチル、プロピ
オン酸エチル、プロピオン酸ブチル、プロピオン酸イソ
ペンチル、酪酸メチル、酪酸エチル、酪酸ブチル、酪酸
イソペンチル、イソ酪酸イソブチル、2−ヒドロキシ−
2−メチルプロピオン酸エチル、ステアリン酸ブチル、
ステアリン酸ペンチル、安息香酸メチル、安息香酸エチ
ル、安息香酸プロピル、安息香酸ブチル、安息香酸イソ
ペンチル、安息香酸ベンジル、アビエチン酸エチル、ア
ビエチン酸ベンジル、アジピン酸ビス−2−エチルヘキ
シル、γ−ブチロラクト、シュウ酸ジエチル、シュウ酸
ジブチル、シュウ酸ジベンチル、マロン酸ジエチル、マ
レイン酸ジメチル、マレイン酸ジエチル、マレイン酸ジ
ブチル、酒石酸ジブチル、クエン酸トリブチル、セバシ
ン酸ジプチル、セバシン酸ビス−2−エチルヘキシル、
フタル酸ジエチル、フタル酸ジエチル、フタル酸ジプチ
ル、フタル酸ビスー2−エチルヘキシル、フタル酸ジエ
チル等から選ばれるものある。より好ましくは酢酸メチ
ル、酢酸エチル等である。
OH又は炭素数1−19の飽和ないし、不飽和結合を有
する炭化水素基、) 具体的には、ギ酸メチル、ギ酸エチル、ギ酸プロピル、
ギ酸ブチル、・ギ酸イソブチル、ギ酸ペンチル、酢酸メ
チル、酢酸エチル、酢酸プロピル、酢酸イソプロピル、
酢酸ブチル、酢酸イソブチル、酢酸5ec−ブチル、酢
酸ペンチル、酢酸イソペンチル、3−メトキシブチルア
セテート、酢酸5ec−ヘキシル、2−エチルブチルア
セテート、2−エチルヘキシルアセテート、酢酸シクロ
ヘキシル、酢酸ベンジル、プロピオン酸メチル、プロピ
オン酸エチル、プロピオン酸ブチル、プロピオン酸イソ
ペンチル、酪酸メチル、酪酸エチル、酪酸ブチル、酪酸
イソペンチル、イソ酪酸イソブチル、2−ヒドロキシ−
2−メチルプロピオン酸エチル、ステアリン酸ブチル、
ステアリン酸ペンチル、安息香酸メチル、安息香酸エチ
ル、安息香酸プロピル、安息香酸ブチル、安息香酸イソ
ペンチル、安息香酸ベンジル、アビエチン酸エチル、ア
ビエチン酸ベンジル、アジピン酸ビス−2−エチルヘキ
シル、γ−ブチロラクト、シュウ酸ジエチル、シュウ酸
ジブチル、シュウ酸ジベンチル、マロン酸ジエチル、マ
レイン酸ジメチル、マレイン酸ジエチル、マレイン酸ジ
ブチル、酒石酸ジブチル、クエン酸トリブチル、セバシ
ン酸ジプチル、セバシン酸ビス−2−エチルヘキシル、
フタル酸ジエチル、フタル酸ジエチル、フタル酸ジプチ
ル、フタル酸ビスー2−エチルヘキシル、フタル酸ジエ
チル等から選ばれるものある。より好ましくは酢酸メチ
ル、酢酸エチル等である。
本発明により剥離し得るレジストとしては、何ら限定さ
れず、ポジ形またはネガ形の光露光用レジスト、遠紫外
露光用レジスト、X線又は電子線用レジストを挙げるこ
とができる。光露光用レジストの材質にはフェノール及
びクレゾールノボラック樹脂をペースにしたキノンジア
ジド系、シス−1,4−ポリイソプレンを主成分とする
環化ゴム系、ポリけい皮酸系等があり、遠紫外用レジス
トにはポリメチルメクアクリレート、ポリメチルイソプ
ロペニルケトン等があり、電子線、X線レジストにはポ
リメタフルル酸メチル1、メタクリル酸グリシジル−ア
クリル酸エチル共重合体、メタアクリル酸メチル−メタ
クリル酸共重合体等が知られているが、本発明のレジス
ト剥離剤はいずれにも有効である。
れず、ポジ形またはネガ形の光露光用レジスト、遠紫外
露光用レジスト、X線又は電子線用レジストを挙げるこ
とができる。光露光用レジストの材質にはフェノール及
びクレゾールノボラック樹脂をペースにしたキノンジア
ジド系、シス−1,4−ポリイソプレンを主成分とする
環化ゴム系、ポリけい皮酸系等があり、遠紫外用レジス
トにはポリメチルメクアクリレート、ポリメチルイソプ
ロペニルケトン等があり、電子線、X線レジストにはポ
リメタフルル酸メチル1、メタクリル酸グリシジル−ア
クリル酸エチル共重合体、メタアクリル酸メチル−メタ
クリル酸共重合体等が知られているが、本発明のレジス
ト剥離剤はいずれにも有効である。
レジスト剥離方法も何ら限定されず、通常のスプレー法
、浸漬して撹拌したり、揺動したり、超音波を作用させ
たりする方法等を採用することができる。
、浸漬して撹拌したり、揺動したり、超音波を作用させ
たりする方法等を採用することができる。
[実施例]
実施例1〜17
下記第1表に示すレジスト剥離剤を用いてレジスト剥離
試験を行なった。フォトレジストフィルム(Lan+1
ner ;グイナケム社製)がラミネートされたプリン
ト基板(銅張積層板)を用い露光、現像、エツチング工
程にて回路を作成後、レジスト剥離剤に常温で15分間
浸漬し、取出後顕微鏡にて硬化膜の剥離状況を観察した
。
試験を行なった。フォトレジストフィルム(Lan+1
ner ;グイナケム社製)がラミネートされたプリン
ト基板(銅張積層板)を用い露光、現像、エツチング工
程にて回路を作成後、レジスト剥離剤に常温で15分間
浸漬し、取出後顕微鏡にて硬化膜の剥離状況を観察した
。
結果を第1表に示す。
第1表
[発明の効果]
本発明のレジスト剥離剤は実施例から明らかなようにレ
ジスト剥離効果に優れたものである。
ジスト剥離効果に優れたものである。
又、従来の塩素系剥離剤に比べ、プリント配線板に使わ
れるプラスチック等に対し悪影響が少ない点も有利であ
る。
れるプラスチック等に対し悪影響が少ない点も有利であ
る。
()内は混合比[重量%]
0:良好に剥離できる
△:微量残存
○:はぼ良好
×:かなり残存
Claims (3)
- (1)炭素数が3である塩化弗化炭化水素を有効成分と
して含有するレジスト剥離剤。 - (2)塩化弗化炭化水素が1,1−ジクロロ−2,2,
3,3,3−ペンタフルオロプロパン、1,3−ジクロ
ロ−1,2,2,3、3−ペンタフルオロプロパン、1
,1,3−トリクロロ−2,2,3,3−テトラフルオ
ロプロパン、1,3,3−トリクロロ−1,2,2,3
−テトラフルオロプロパン、1−クロロ−1,2,2,
3、3−ペンタフルオロプロパン、1,3−ジクロロ−
2,2,3,3−テトラフルオロプロパン、1−クロロ
−2,2,3,3−テトラフルオロプロパン、1,1−
ジクロロ−1,2,2−トリフルオロプロパン、1,3
−ジクロロ−2,2,−ジフルオロプロパン、1,1−
ジクロロ−2,2,−ジフルオロプロパン、1−クロロ
−2,2,−ジフルオロプロパンである請求項1記載の
レジスト剥離剤。 - (3)レジスト剥離剤中には、炭化水素類、アルコ−ル
類、ケトン類、塩素化炭化水素類、芳香族類又はエステ
ル類から選ばれる少なくとも1種が含まれている請求項
1記載のレジスト剥離剤。
Priority Applications (22)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63152277A JPH024268A (ja) | 1988-06-22 | 1988-06-22 | レジスト剥離剤 |
| KR1019900700377A KR950013923B1 (ko) | 1988-06-22 | 1989-06-21 | 할로겐화 탄화수소 용매 및 그의 용도 |
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Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| JP2002053776A (ja) * | 2000-08-10 | 2002-02-19 | Think Laboratory Co Ltd | 製版用レジスト及びグラビアインキ等の除去剤 |
| WO2007029767A1 (ja) * | 2005-09-09 | 2007-03-15 | Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd. | ホトリソグラフィ用洗浄剤およびこれを用いたホトレジストパターン形成方法 |
-
1988
- 1988-06-22 JP JP63152277A patent/JPH024268A/ja active Pending
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| WO2007029767A1 (ja) * | 2005-09-09 | 2007-03-15 | Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd. | ホトリソグラフィ用洗浄剤およびこれを用いたホトレジストパターン形成方法 |
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