JPH04204276A - 入力回路 - Google Patents

入力回路

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Publication number
JPH04204276A
JPH04204276A JP2337453A JP33745390A JPH04204276A JP H04204276 A JPH04204276 A JP H04204276A JP 2337453 A JP2337453 A JP 2337453A JP 33745390 A JP33745390 A JP 33745390A JP H04204276 A JPH04204276 A JP H04204276A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
input
input terminal
output
clock
circuit
Prior art date
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Pending
Application number
JP2337453A
Other languages
English (en)
Inventor
Masahiko Nakamura
雅彦 中村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP2337453A priority Critical patent/JPH04204276A/ja
Publication of JPH04204276A publication Critical patent/JPH04204276A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明はディジタル集積回路における入力回路に関す
るものである。
〔従来の技術〕
第2図、第3図は従来のテストモード切り換えを行う場
合の入力回路である。
第2図において、入力端子−2よりノーマルモート時に
DC固定となる入力端子の集積回路!内に3レベル検出
回路3を設けている。3レベル検出回路3は比較器を用
いたり、スレッノヨルトレベルの異なるインバータを2
個用いたりすることにより構成することかできる。例え
ばテストモート時において、ハイとローの中間レベルを
入力端子2に入力することにより、3レベル検出回路3
でテストモードと判定し、内部状態をテストモートに設
定する。また、第3図において、この図は簡単な例であ
るが、入力端子2の兼用を行わずに、テストモード切換
入力端子13を設けて集積回路lの内部状態をテストモ
ードに設定する。
〔発明が解決しようとする課題〕
従来の集積回路の入力回路は以上のように構成されてい
たので、テストモードの切り換えを行うには、第2図に
示した様に比較器を用いたり、スレッショルドの異なる
インバータを用いなければならず、回路構成か複雑にな
り、素子のパラメータ制御をコントロールするなとの問
題点かあった。
また、第3図の様な構成にするとテストモート切換専用
の入力端子を設けなければならず、集積回路の端子が増
えるという問題点があった。
この発明は上記のような問題点を解消するためになされ
たもので、簡単な回路構成により集積回路の端子を増や
すことなく、テストモードの切り換えが行える入力回路
を得ることを目的とする。
〔課題を解決するための手段〕
この発明に係る入力回路は、ノーマルモード時にDC固
定となる入力端子に動作クロックを印加することにより
、テストモードの切り換えを行うようにしたものである
〔作用〕
この発明における入力回路は、ノーマルモード時にDC
固定となる入力端子に動作クロックを印加することによ
り、テストモードと判定する回路を内蔵し、アナログ回
路を用いないで簡単なディジタル回路にて切り換える。
〔実施例〕
以下、この発明の一実施例を図について説明する。
図において、+11は集積回路、(2+ +31は入力
端子、+41 (5)はD−フリップフロップ、(61
(71はインバータ、(8)はAND、(9)〜αυは
集積回路内部への出力である。
次に動作について説明する。ノーマルモード時にDC固
定となる入力端子2に、集積回路lか動作するクロック
を入力する。入力端子3は動作クロック入力端子であり
、入力端子2に印加したものと同一のクロックか入力さ
れている。
D−フリップフロップ4においては、クロックと同相の
データが入力されるため、出力はノ1イレベルとなる。
また、D−フリップフロップ5においては、クロックが
インバータ6によって反転しているため、データとの位
相か反転し出力はローとなる。この出力をインバータ7
により反転しD−フリップフロップ4の出力とのAND
8を通すと、出力10にハイレベルか出力し、テストモ
ードとなる。
入力端子2に、DCレベルを印加した場合には、AND
8のとちらかの入力かローになり出力10はローレベル
か出力し、ノーマルモードとなる。
なお、上記実施例では2個のD−フリップフロップ出力
の判定に、インバータ7とAND8を用いた場合を示し
たか、ex−ORを用いて構成してもよい。
また、上記実施例ではノーマルモードとテストモードの
場合について説明したが、テストモードのみの使用にか
かわらず、ノーマルモード時の他のモードとの切り換え
に使用してもよく上記実施例と同様の効果を奏する。
〔発明の効果〕
以上のようにこの発明によれば、動作クロックをノーマ
ルモード時DC固定となる入力端子に入力することによ
り、簡単なディジタル回路てテストモード判定ができ、
端子の兼用が可能となるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例である入力回路の回路図、
第2図、第3図は従来の入力回路のブロック図である。 図において、lは集積回路、2.3は入力端子、4.5
はD−フリップフロップ、6.7はインバータ、8はA
ND、9〜11は集積回路内部への出力を示す。 なお、図中、同一符号は同一、又は相当部分を示す。 代  理  人   大  岩  増  雄ベマ  、
D2 第2図 第3図 手続補正a(自発) 平成 3年 5月2日

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 動作クロックとその反転で動作する2個のD−フリップ
    フロップにノーマル時DC固定となる入力端子を接続し
    、上記2個のD−フリップフロップの出力が異っている
    ことを判定する回路を備えた入力回路において、 上記入力端子に動作クロックを印加することにより、3
    つの状態のモードを設定できることを特徴とする入力回
    路。
JP2337453A 1990-11-30 1990-11-30 入力回路 Pending JPH04204276A (ja)

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ID=18308781

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