JPH0431332B2 - - Google Patents

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JPH0431332B2
JPH0431332B2 JP28371585A JP28371585A JPH0431332B2 JP H0431332 B2 JPH0431332 B2 JP H0431332B2 JP 28371585 A JP28371585 A JP 28371585A JP 28371585 A JP28371585 A JP 28371585A JP H0431332 B2 JPH0431332 B2 JP H0431332B2
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  • Transmission And Conversion Of Sensor Element Output (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 <従来の技術> 第5図は従来の容量式変換器の1例を示すブロ
ツク図である。この種の容量式変換器は例えば特
開昭57−10524号特許公報に開示されている。
ナンドゲートG1の入出力端の間には双方向定
電流回路CCが接続され、その出力端はナンドゲ
ートG2を介して検出すべき可変容量C1の一端に
接続されている。可変容量C1の他端は静電容量
C2を介して共通電位点COMに接続されると共に
ナンドゲートG1の入力端に接続されている。
双方向定電流回路CCは、電界効果形のトラン
ジスタQ1,Q2のドレイン・ソース間を直列に接
続のうえ、抵抗R1,R2へ通ずる電流によつて生
ずる抵抗R1,R2の端子電圧をゲートへ負帰還と
して与え、双方向性の定電流回路を構成してい
る。
各素子G1,G2はCMOSで構成され、共通電位
点COMに対して正電源+Eで付勢されている。
なお、可変容量C1の両端には分布容量CSが形
成され、この分布容量CSを補償する補償容量Ccp
が双方向定電流回路CCの両端に接続されている。
以上の構成において、例えばナンドゲートG2
の出力端の電位がハイレベル(+E)になつた場
合を考えると、このハイレベルの電位により分布
容量C1が充電されナンドゲートG1の入力端の電
位が上昇し、そのスレツシヨルド電位VTHを越え
ると出力端がローレベルに反転する。ナンドゲー
トG1の入力端がハイレベルで出力端がローレベ
ルであるので、双方向定電流回路CCは一定電流
iで放電を開始し、所定時間を経過するとナンド
ゲートG1のスレツシヨルド電位VTHに達するの
で、その出力端の電位がハイレベルに反転する。
この場合にはナンドゲートG2の出力端はローレ
ベルになり、またナンドゲートG1の入力端はロ
ーレベル、出力端はハイレベルであるので、双方
向定電流回路CCより可変容量C1への充電が一定
電流iで開始されナンドゲートG1の入力端の電
位は一定の割合で上昇する。ナンドゲートG1
入力端の電位がスレツシヨルド電位VTHに達する
と、その出力端はローレベルに反転し、最初の状
態に戻る。これを繰り返して発振が継続される。
双方向定電流回路CCは一定電流iで充放電を
しているので、その充放電期間は可変容量C1
値に比例している。従つて、ナンドゲートG1
出力端における発振周波数から可変容量C1の値
を求めることができる。
可変容量C1の両端の分布容量CSは補償容量Ccp
と同じ静電容量値に選定することにより、充電状
態において分布容量CSに対する補償充電が補償容
量Ccpによつて行なわれるので、出力に与える分
布容量CSの影響が排除される。
<発明が解決しようとする問題点> しかしながら、第5図に示す従来の容量式変換
器では双方向定電流回路CCの構成が複雑であり、
しかも分布容量CSの影響を補償容量Ccpで補償し
てもトランジスタQ1,Q2のような半導体素子を
使つているので温度あるいは電圧が変動するとそ
の接合容量が変化する。このためノンリニヤある
いはスパン変動を生ずる要因をなす。
<問題点を解決するための手段> この発明は、以上の問題点を解決するため、検
出すべき物理量に応じて容量が変化する可変容量
と、非反転入力端に容量の一端が接続され反転入
力端に出力端の電圧と一定電圧との分圧電圧が印
加された演算増幅器と、入力端に演算増幅器の出
力が印加され出力端の電圧を論理素子を介してそ
の電圧の反転相で可変容量の他端に印加するイン
バータと、演算増幅器の出力とインバータの出力
との分圧点より演算増幅器の非反転入力端に接続
された抵抗とを具備することを特徴とする構成と
したものである。
<実施例> 以下、本発明の実施例について図面に基づき説
明する。第1図は本発明の一実施例を示すブロツ
ク図である。
演算増幅器Q3の非反転入力端(+)と出力端
との間には抵抗R3,R4が接続され、その反転入
力端(−)は一定電圧V0と出力端の電圧とを抵
抗R5,R6で分圧した電圧が印加されている。
演算増幅器Q3の出力端はインバータG3の入力
端に接続され、その出力端は抵抗R3とR4の接続
点に抵抗R7を介して接続されると共にインバー
タG4を介して可変容量C1の一端に接続されてい
る。可変容量C1の他端は静電容量C2を介して共
通電位点COMに接続されると共に演算増幅器Q3
の非反転入力端(+)に接続されている。
なお、演算増幅器Q3、インバータG3,G4は正
電圧+Eで付勢され、インバータG3,G4
CMOSトランジスタで構成されている。
次に、以上の如く構成された第1図に示す実施
例の動作について第2図に示す波形図を用いて説
明する。
インバータG3の出力端の電圧V4が第2図ニに
示すハイレベルの状態にあるときは、インバータ
G4の出力はローレベルであり抵抗R4を介して可
変容量C1と静電容量C2が充電され、演算増幅器
Q1の入力端の電位が第2図イの期間T1に示すよ
うに上昇する。これに伴い演算増幅器Q3の出力
端の電圧V3(第2図ハ)も抵抗R3と抵抗R4の接続
点の電圧V2(第2図ロ)も上昇する。電圧V3がイ
ンバータG3のスレツシヨルド電圧VTHを越えると
その出力端のレベルがローレベルに反転する。こ
のため、インバータG4の出力端がハイレベルに
なり可変容量C1と静電容量C2とで分圧された電
圧が演算増幅器Q3の非反転入力端(+)に印加
され、その電圧V1は垂直に立上る(第2図イ)。
以後、インバータG3の出力端がローレベルであ
るので、抵抗4を介して可変容量C1、静電容量C2
の電荷が第2図イの期間T2のあいだ放電を続け、
演算増幅器Q3の非反転入力端(+)の電位が低
下する。インバータG3の入力端のスレツシヨル
ド電圧VTHに達するとその出力端はハイレベルに
反転し、当初の状態に戻る。従つて、抵抗R4
流れる電流はインバータG3の出力端の電圧V4
レベル変化に対応して第5図に示す双方向定電流
回路CCと同様に正逆方向の定電流icとなる。この
ため第2図に示すような発振が継続する。
以上の点を定量的に説明すれば次の様になる。
電圧V1〜V4は次の関係を満たす。
V4−V2/R7=V2−V1/R4+V2−V3/R3 (1) V3=(1+R6/R5)V1−R6/R5V0 (2) (1)、(2)式の関係から V2=R0/R7V4−R0/R3・R6/R5V0 +(1/R4+1/R3+R6/R3R5)R0V1 (3) となる。但し、R0=1/R7+1/R3+1/R4である。
ここで、R7/R3=R5/R6に選定すると、 V2−V1=R0/R7(V4−V0) (4) となる。ここでV0=E/2になるように一定電
圧V0を決めると V2−V1=R0/R7(V4−E/2) (4)′ となる。従つて、電圧V4が+E←→ゼロの2レベ
ルの変化を繰り返すので、抵抗R4を流れる電流ic
は、 ic=|V2−V1|/R4=R0/R4R7|E/2| (5) の大きさで双方向に流れる定電流となる。
なお、演算増幅器Q3における発振を防止する
ためには、R4≫R6と選定して正帰還の量を少く
するようにする。
次に、可変容量C1での電荷変動を考慮すると
次式が成立する。
T1・ic=C1E (6) 従つて、期間T1は T1=C1/icE (6)′ として求められ、これは期間T2についても同じ
である。このため、インバータG3の出力端の周
波数は可変容量C1に比例する値となる。
なお、可変容量C1の両端の分布容量CSは抵抗
R4の両端に接続された補償容量C′cpで補償する
が、この場合は抵抗R4の両端に補償用の補償容
量を接続しているので従来の如く半導体素子の接
合容量などの影響を受けない。
第3図は可変容量として差動的に変化する容量
を用いた場合の実施例を示すブロツク図である。
第1図に示す実施例と同一の機能を有する部分に
は同一の符号を付し適宜に説明を省略する。
インバータG3の出力端はナンドゲートG5,G6
の一方の入力端に接続され、その各出力端は差動
容量CL,CHの各一端に接続されると共にナンド
ゲートG7の各入力端に接続されている。ナンド
ゲートG7の出力端は抵抗R7の一端に接続される。
差動容量CL,CHの各他端は共にコンデンサC2
を介して共通電位点COMに接続されると共に演
算増幅器Q3の非反転入力端(+)に接続されて
いる。
インバータG3の出力端はインバータG8を介し
てnビツトのカウンタCTの入力端CLに接続さ
れ、その出力端QoはナンドゲートG6の他方の入
力端に接続されると共にインバータG9を介して
ナンドゲートG5の他方の入力端に接続されてい
る。インバータG9の出力端より出力Vputを得る。
次に、以上の如く構成された第3図に示す実施
例の動作について第4図に示す波形図を用いて説
明する。
先ず、カウンタCTの出力端Qoがローレベルの
状態では、ナンドゲートG5,G6のうちG5が選定
され、G6の出力端はハイレベルに保たれる。従
つて、ナンドゲートG5,G7はそれぞれ単なるイ
ンバータとして機能するので、ナンドゲートG5
は第1図におけるインバータG4と同一の機能を
もち、ナンドゲートG7の出力端はインバータG3
の出力端と同一のレベル変化をする。
このため、カウンタCTの出力端Qoがローレベ
ルの状態、つまり第4図ホのTLの期間は第1図
における可変容量C1を差動容量CLとしたときと
同じ動作をする。従つて、演算増幅器Q3の入力
端の電圧V1′、抵抗R3,R4,R7の接続点の電圧
V2′、演算増幅器Q3の出力端の電圧V3′、ナンド
ゲートG7の出力端の電圧V4′はそれぞれ第2図に
示す波形と同じく第4図イ〜ニに示す通りとな
る。この波形の繰り返しはカウンタCTのビツト
数nだけ繰り返される。従つて、(6)′式を導いた
と同様にして期間TLは次式のようになる。
TL=nCL/ic′E (7) 但し、ic′はic′=R0/R4R7|V4′−V0|である。
カウンタCTが差動容量CLに関連したn個のパ
ルスを計数するとその出力端Qoのレベルがハイ
レベルに反転する。この状態では、ナンドゲート
G5,G6のうちG6が選定され、G5の出力端はハイ
レベルに保たれる。従つて、ナンドゲートG5
G7はそれぞれ単なるインバータとして機能し、
ナンドゲートG6は第1図におけるインバータG4
と同一の機能を有する。また、ナンドゲートG7
の出力端はインバータG7の出力端と同一のレベ
ル変化をする。
このため、カウンタCTの出力端Qoがハイレベ
ルの状態、つまり第4図ホのTHの期間は第1図
における可変容量C1を差動容量CHとしたときと
同じ動作をする。期間TLの場合と同様にして、
期間THは TH=nCH/ic′E (8) となる。
従つて、出力Vputは第4図ホに示すように期間
TLとTHを繰り返すパルス波形となり、これ等の
平均をとると差動容量CL,CHを形成する共通電
極の変位に比例した値を得る。
なお、差動容量CL,CHの各両端に形成される
分布容量CSL,CSHはその構成上ほぼ同一になるの
で、抵抗R4の両端に接続された補償容量Ccp″と
等しく選定することにより除去できる点は第1図
における実施例と同一である。
<発明の効果> 以上、実施例と共に具体的に説明したように本
発明によれば、従来の如く双方向定電流回路を半
導体を用いて構成しないようにしたので、温度あ
るいは電圧などの分布容量の変動の影響を受けず
安定な容量式変換器を実現できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示すブロツク図、
第2図は第1図に示す実施例の各部の波形を示す
波形図、第3図は本発明の他の実施例を示すブロ
ツク図、第4図は第3図に示す実施例の各部の波
形を示す波形図、第5図は従来の容量式変換器の
構成を示すブロツク図である。 C1……可変容量、CL,CH……差動容量、CC…
…双方向定電流回路、CS,CSL,CSH……分布容
量、Ccp,Ccp′……補償容量、CT……カウンタ。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 検出すべき物理量に応じて容量が変化する可
    変容量と、非反転入力端に前記容量の一端が接続
    され反転入力端に出力端の電圧と一定電圧との分
    圧電圧が印加された演算増幅器と、入力端に前記
    演算増幅器の出力が印加され出力端の電圧を論理
    素子を介してその電圧の反転相で前記可変容量の
    他端に印加するインバータと、前記演算増幅器の
    出力と前記インバータの出力との分圧点より前記
    演算増幅器の非反転入力端に接続された抵抗とを
    具備することを特徴とする容量式変換器。
JP28371585A 1985-12-17 1985-12-17 容量式変換器 Granted JPS62142218A (ja)

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JP28371585A JPS62142218A (ja) 1985-12-17 1985-12-17 容量式変換器

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JPS62142218A JPS62142218A (ja) 1987-06-25
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