JPH0546045U - 半導体パツケージ - Google Patents
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- Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)
- Wire Bonding (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 印刷回路基板上に半導体パッケージを装着す
る実装率を向上させ、モールディング以後の半導体製造
工程を省き、原価を低下させた半導体パッケージを提供
する。 【構成】 リードフレーム10のインナーリード11
a,12aのボンディング部位からアウトリード11
b,12b端までの長さを短く形成し、該リードフレー
ム10と半導体チップ3とをモールディングした後、該
モールディング樹脂8の外方側にリードフレーム10の
アウトリード11b,12bを突出形成せずに、そのア
ウトリード11b,12bの端部位をモールディング樹
脂8の底面部位に露出させて構成されている。
る実装率を向上させ、モールディング以後の半導体製造
工程を省き、原価を低下させた半導体パッケージを提供
する。 【構成】 リードフレーム10のインナーリード11
a,12aのボンディング部位からアウトリード11
b,12b端までの長さを短く形成し、該リードフレー
ム10と半導体チップ3とをモールディングした後、該
モールディング樹脂8の外方側にリードフレーム10の
アウトリード11b,12bを突出形成せずに、そのア
ウトリード11b,12bの端部位をモールディング樹
脂8の底面部位に露出させて構成されている。
Description
【0001】
本考案は、半導体パッケージに関するものであり、詳しくは、リードフレーム のパドルを省き、半導体パッケージのモールディング樹脂底面部位にリードフレ ームのアウトリード端を露出させて、センターパッドレイアウト(Center Pad Lay Out)タイプのメモリチップパッケージングに適用し得る ようにした半導体パッケージに関するものである。
【0002】
一般に、半導体パッケージにおいては、図3(A)(B)に示したように、S OP(Small Outline Package)タイプ半導体パッケージ とSOJ(Small Outline J−Lead)タイプ半導体パッケー ジとに大別され、いずれの場合においても、リードフレームのインナーリードが 半導体チップの各パッドにワイヤボンディングされ、それら半導体チップおよび リードフレームがモールディングされた後、フォーミングおよびプレーティング され、該モールディング樹脂外方側にリードフレームのアウトリードが突出され 、それらアウトリードが所定形状に折曲形成されて半導体パッケージが構成され ていた。また、前記バドルの省かれた従来のLOC(Lead On Chip )タイプ半導体パッケージにおいては、図4(A)(B)に示したように、半導 体チップ3の表面中央部位に複数個のボンドパッド3aが形成され、それらボン ドパッド3aの両方側前記半導体チップ3表面上にリードフレーム4のインナー リード4aがそれぞれ絶縁テープ6により接着され、それらインナーリード4a と前記各ボンドパッド3aとがそれぞれ金属ワイヤ7により電気的に連結され、 それらボンドパッド3a中の電源パッドとバスバー5とがそれぞれ金属ワイヤ7 により電気的に接続された後、エポキシ樹脂等のモールディング樹脂1により前 記半導体チップ3およびリードフレーム4のインナーリード4aがモールディン グされて構成されていた。すなわち、半導体チップ3をそれぞれ個別に分離させ るソーイング(Sawing)工程と、それら個別に分離された半導体チップ3 をリードフレーム4に接着させるダイボンディング工程と、それら半導体チップ 3の各ボンドパッド3aとリードフレーム4の各インナーリード4aとをそれぞ れ電気的に連結するワイヤボンディング工程と、それら半導体チップ3とリード フレーム4とを密閉させるモールディング工程と、を行なった後、通常のデフレ ーションおよびソルダープレーティング、リードフレームを切断するトリミング 、アウトリードを折曲するフォーミングおよびマーキング等の過程を経て、半導 体パッケージが製造されていた。そして、従来の半導体パッケージの構造におい ては、モールディング樹脂1の外方側にアウトリードがそれぞれ突出形成され、 それらアウトリードを所定形状にフォーミングさせて印刷回路基板(PCB)上 に、装着させるようになっていた。
【0003】
このように構成された従来の半導体パッケージにおいては、半導体パッケージ のモールディング樹脂の外方側に各リードフレームのアウトリードが突出形成さ れているため、それら半導体パッケージを印刷回路基板上に装着する場合、それ ら半導体パッケージの占める面積が大きくなって、半導体パッケージの実装率が 低下するという不都合な点があった。
【0004】 また、半導体パッケージのフォーミング工程中外部から機械的衝撃を受け、半 導体パッケージ外方側のアウトリードとモールディング樹脂間の接触部位に微細 な隙間が生じ、耐湿性が低下するという不都合な点があった。
【0005】 さらに、モールディング工程を施した後、トリミングおよびフォーミングの工 程を施すので、半導体パッケージの製造が煩雑であり、原価が上昇するという不 都合な点があった。
【0006】 また、パドルを省いた従来のLOCタイプ半導体パッケージにおいて、アウト リードまでの長さが長くなり、電気的特性が低下しやすいという不都合な点があ った。
【0007】 さらに、半導体パッケージテストの際、リードコンタクト不良により不合格と された製品中、良好製品の包含率のグッドレート(Good Rate)が上昇 するという不都合な点があった。
【0008】 本考案の目的は、上述の問題点を解決し、印刷回路基板上に半導体パッケージ を装着する実装率を向上させ、モールディング工程以後の半導体製造工程を省き 、原価を低下し得るようにした半導体パッケージを提供することにある。
【0009】 また、本考案の他の目的は、リードフレームのインナーリードからアウトリー ドまでの長さを短く形成し、リードフレームの電導率を向上させ電気的特性を改 善させた半導体パッケージを提供することにある。
【0010】
本考案による半導体パッケージは、半導体チップの底面中央部位に複数個のボ ンドパッドがそれぞれ形成され、それらボンドパッド中の各信号入/出力用ボン ドパッドに連結される複数個のリードと、それらボンドパッド中の電源パッドに 連結されるバスバーとを有したリードフレームが形成され、リードのインナーリ ードとバスバーのインナーリードとがそれぞれボンドパッドの両方側半導体チッ プの底面部位にそれぞれ接着剤により接着され、それらボンドパッドと各インナ ーリードとがそれぞれ金属ワイヤにより電気的に接続連結され、半導体チップお よびリードフレームのすべてがモールディング樹脂によりモールディングされ、 該モールディング樹脂の底面部位にリードのアウトリード折曲端およびバスバー のアウトリード端部位が露出されるように構成されている。
【0011】 好ましくは、半導体チップとリードフレームとの接着は、各リードのインナー リードおよびアウトリードとバスバーのインナーリードおよびアウトリードとを それぞれ短く所定形状に折曲し、一様に揃えて並列に並べた後、それらアウトリ ードの折曲端部位をそれぞれ一様に接着テープに接着させ、接着テープを利用し 各インナーリードを各ボンドパッドの両方側半導体チップ底面部位にそれぞれ一 様に接着剤により接着させるとよい。
【0012】 また、好ましくは、各アウトリードの接着される接着テープは、耐温耐圧性の ポリイミド系接着テープであるとよい。
【0013】 さらに、好ましくは、接着剤は、絶縁フィルムもしくは絶縁ペーストであると よい。
【0014】 また、好ましくは、ワイヤは、ゴールド(Au)またはアルミニウム(Al) でなるとよい。
【0015】
パドルが省かれ、モールディング樹脂外方側にアウトリードが突出形成されず に、該アウトリードが、そのモールディング樹脂底面部位に露出されて半導体パ ッケージが構成され、該半導体パッケージのアウトリード露出部位を印刷回路基 板上のソルダーパターンにソルダーリングすればよいので、該印刷回路基板上に 半導体パッケージを装着させる実装率が向上される。かつ、半導体パッケージの 製造工程中、モールディング工程以後のトリミングおよびフォーミングの工程が 省かれる。
【0016】
以下、本考案の実施例に対し、図面を用いて詳細に説明する。
【0017】 図1に示したように、本考案による半導体パッケージにおいては、半導体チッ プ3の底面中央部位に複数個のボンドパッド3aがそれぞれ形成され、それらボ ンドパッド3a中の各信号入/出力用ボンドパッドに連結される各リード11と それらボンドパッド中の電源パッドに連結されるバスバー12とを有したリード フレーム10が形成され、それらリード11のインナーリード11aおよびバス バー12のインナーリード12aが前記ボンドパッド3aの両方側半導体チップ 3の底面部位にそれぞれ絶縁接着剤6により接着されている。この場合、前記複 数個のリード11のインナーリード11aおよびアウトリード11bと前記バス バー12のインナーリード12aおよびアウトリード12bとをそれぞれ短く所 定形状に折曲形成し、それらリード11のインナーリード11aおよびバスバー 12のインナーリード12aとリード11のアウトリード11bおよびバスバー 12のアウトリード12bとをそれぞれ一様に揃えて並列に並べた後、それらリ ード11のアウトリード11bおよびバスバー12のアウトリード12bとの折 曲端部位をそれぞれ一様にポリイミド系の接着テープ(図示されない)に接着さ せ、該接着テープを利用しそれらリード11のインナーリード11aおよびバス バー12のインナーリード12aを前記ボンドパッド3aの両方側半導体チップ 3の底面部位にそれぞれ一様に絶縁フィルムまたは絶縁ペーストのような接着剤 6により接着させる。その後、ワイヤボンダーを利用して前記各ボンドパッド3 aと各リード11のインナーリード11aおよびバスバー12のインナーリード 12aとをそれぞれゴールド(Au)またはアルミニウム(Al)のワイヤ7に より電気的に接続連結させ、それら半導体チップおよびリードフレーム10のす べてをモールディング樹脂8によりモールディングさせた後、該モールディング 樹脂8底面部位の前記各アウトリード11b,12b折曲部位の接着テープを取 り除き、それらアウトリード11b,12bを半導体パッケージのモールディン グ樹脂8の底面に露出させる。
【0018】 したがって、図2(A)(B)に示したように、モールディング樹脂8の底面 部位にアウトリード11bが露出された半導体パッケージが形成され、該半導体 パッケージはインナーリード11aのワイヤボンディング部位からアウトリード 11bの折曲端までの長さが従来のLOCタイプ半導体パッケージよりも短く形 成されているため、従来、16M DRAM以上の半導体パッケージで生じる電 導率低下の問題が解決され、チップの発生熱が外方側に速やかに放出される。か つ、このように構成された本考案による半導体パッケージは、該半導体パッケー ジのアウトリード露出部位を印刷回路基板上の接続パターンにソルダーにより接 続して装着することができる。
【0019】
以上説明したように、本考案による半導体パッケージにおいては、リードフレ ームのインナーリードのボンディング部位からアウトリードの折曲端までの長さ を従来よりも短く形成し、該リードフレームと半導体チップのすべてをモールデ ィングして該モールディング樹脂の底面部位に前記アウトリードを露出し構成さ せているため、従来のモールディング工程後のトリミングおよびフォーミングの 過程が省かれ、原価が低下される効果がある。
【0020】 また、半導体パッケージの外方側にアウトリードが突出形成されないため、該 半導体パッケージの印刷回路基板上における占有面積が減少され、該半導体パッ ケージの装着される実装率が向上される効果がある。
【0021】 さらに、リードフレームの長さが短いので、電気的特性が向上され、半導体チ ップの発熱が速やかに外方側に放出される効果がある。
【0022】 また、従来のトリミングおよびフォーミングの工程が省かれるので、リードフ レームとモールディング樹脂間に生ずる隙間が防止され、耐湿性が向上される効 果がある。
【0023】 さらに、半導体パッケージのテストが簡便になるので、グッドレート(Goo d Rate)が減少される効果がある。
【図1】本考案の一実施例による半導体パッケージの構
成図であり、(A)は断面図、(B)は底面図である。
成図であり、(A)は断面図、(B)は底面図である。
【図2】本考案の一実施例による半導体パッケージの外
形表示図であり、(A)は正面図、(B)は底面図であ
る。
形表示図であり、(A)は正面図、(B)は底面図であ
る。
【図3】従来の半導体パッケージの外形表示図であり、
(A)はSOP(SmallOutline Pack
age)タイプ表示図、(B)はSOJ(SmallO
utline J−Lead)タイプ表示図である。
(A)はSOP(SmallOutline Pack
age)タイプ表示図、(B)はSOJ(SmallO
utline J−Lead)タイプ表示図である。
【図4】従来のLOCタイプ半導体パッケージの構成図
であり、(A)は縦断面図、(B)は横断面図である。
であり、(A)は縦断面図、(B)は横断面図である。
3 半導体チップ 3a ボンドパッド 6 接着剤 7 ワイヤ 8 モールディング樹脂 10 リードフレーム 11 リード 11a インナーリード 11b アウトリード 12 バスバー 12a インナーリード 12b アウトリード なお、各図中、同一符号は同一または相当部分を示す。
Claims (6)
- 【請求項1】 半導体パッケージであって、 半導体チップ(3)の底面中央部位に複数個のボンドパ
ッド(3a)がそれぞれ形成され、 それらボンドパッド(3a)中の各信号入/出力用ボン
ドパッドに連結される複数個のリード(11)と、それ
らボンドパッド(3a)中の電源パッドに連結されるバ
スバー(12)とを有したリードフレーム(10)が形
成され、 前記リード(11)のインナーリード(11a)と前記
バスバー(12)のインナーリード(12a)とがそれ
ぞれ前記ボンドパッド(3a)の両方側半導体チップ
(3)の底面部位にそれぞれ接着剤(6)により接着さ
れ、 それらボンドパッド(3a)と各インナーリード(11
a,12a)とがそれぞれ金属ワイヤ(7)により電気
的に接続連結され、 前記半導体チップ(3)およびリードフレーム(10)
のすべてがモールディング樹脂(8)によりモールディ
ングされ、該モールディング樹脂(8)の底面部位に前
記リード(11)のアウトリード(11b)折曲端およ
びバスバー(12)のアウトリード(12b)端部位が
露出されるように構成された半導体パッケージ。 - 【請求項2】 前記半導体チップ(3)と前記リードフ
レーム(10)との接着は、 前記各リード(11)のインナーリード(11a)およ
びアウトリード(11b)と前記バスバー(12)のイ
ンナーリード(12a)およびアウトリード(12b)
とをそれぞれ短く所定形状に折曲し、一様に揃えて並列
に並べた後、それらアウトリード(11b,12b)の
折曲端部位をそれぞれ一様に接着テープに接着させ、 該接着テープを利用し前記各インナーリード(11a,
12a)を前記各ボンドパッド(3a)の両方側半導体
チップ(3)底面部位にそれぞれ一様に接着剤(6)に
より接着させる、請求項1記載の半導体パッケージ。 - 【請求項3】 前記各アウトリード(11b,12b)
の接着される接着テープは、耐温耐圧性のポリイミド系
接着テープである、請求項1または請求項2記載の半導
体パッケージ。 - 【請求項4】 前記接着剤(6)は、絶縁フィルムであ
る、請求項1または請求項2記載の半導体パッケージ。 - 【請求項5】 前記接着剤(6)は、絶縁ペーストであ
る、請求項1または請求項2記載の半導体パッケージ。 - 【請求項6】 前記ワイヤ(7)は、ゴールド(Au)
またはアルミニウム(Al)でなる、請求項1または請
求項2記載の半導体パッケージ。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR19458 | 1991-11-14 | ||
| KR2019910019458U KR940007757Y1 (ko) | 1991-11-14 | 1991-11-14 | 반도체 패키지 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0546045U true JPH0546045U (ja) | 1993-06-18 |
Family
ID=19322207
Family Applications (2)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP078208U Pending JPH0546045U (ja) | 1991-11-14 | 1992-11-13 | 半導体パツケージ |
| JP9254578A Pending JPH1093001A (ja) | 1991-11-14 | 1997-09-19 | 半導体パッケージおよびその製造方法 |
Family Applications After (1)
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