JPH0571299B2 - - Google Patents
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- JPH0571299B2 JPH0571299B2 JP59150183A JP15018384A JPH0571299B2 JP H0571299 B2 JPH0571299 B2 JP H0571299B2 JP 59150183 A JP59150183 A JP 59150183A JP 15018384 A JP15018384 A JP 15018384A JP H0571299 B2 JPH0571299 B2 JP H0571299B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- rice
- paddy
- sensor
- rate
- brown rice
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- Expired - Lifetime
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- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Adjustment And Processing Of Grains (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
「産業上の利用分野」
本発明は例えばカントリーエレベータ等の施設
に設置する籾摺機に取付け、その籾摺機からの摺
落し米の脱率を検出するのに用いる脱率制御
装置に関する。
に設置する籾摺機に取付け、その籾摺機からの摺
落し米の脱率を検出するのに用いる脱率制御
装置に関する。
「従来の技術」
従来、特開昭59−76585号公報に示す如く、異
なる波長の反射光を検出して玄米と未熟玄米(青
米)を判別する技術があつた。
なる波長の反射光を検出して玄米と未熟玄米(青
米)を判別する技術があつた。
「発明が解決しようとする課題」
前記従来技術では、籾及び未熟籾を検出するも
のではないから、籾摺機の脱風選後の摺落米中
の玄米、未熟玄米、籾、未熟籾の判別を行い得
ず、そのため籾摺を自動的に行う場合、玄米と籾
の粒数だけを脱率計測のデータとして検出さ
せ、未熟玄米及び未熟籾を無効粒として扱い、玄
米と籾の整粒数だけで脱率を算出し、脱ロー
ルの脱率制御を行つていた。従つて、未熟玄米
または未熟籾が多く含まれるときは、脱率制御
の精度が著しく低下する等の機能上の問題があつ
た。
のではないから、籾摺機の脱風選後の摺落米中
の玄米、未熟玄米、籾、未熟籾の判別を行い得
ず、そのため籾摺を自動的に行う場合、玄米と籾
の粒数だけを脱率計測のデータとして検出さ
せ、未熟玄米及び未熟籾を無効粒として扱い、玄
米と籾の整粒数だけで脱率を算出し、脱ロー
ルの脱率制御を行つていた。従つて、未熟玄米
または未熟籾が多く含まれるときは、脱率制御
の精度が著しく低下する等の機能上の問題があつ
た。
また、特開昭57−158557号公報に示す如く、光
の透過率の測定によつて精米中の整粒または着色
粒を判別する技術もあつたが、この技術では籾と
未熟籾の判別を行えないから、籾摺の摺落米の脱
率を正確に算出するデータを容易に得られな
い。
の透過率の測定によつて精米中の整粒または着色
粒を判別する技術もあつたが、この技術では籾と
未熟籾の判別を行えないから、籾摺の摺落米の脱
率を正確に算出するデータを容易に得られな
い。
「課題を解決するための手段」
然るに、本発明は、脱ロールの脱率を変更
する脱率調節部材を設けると共に、サンプル樋
を介して取出す脱ロールからの摺落米中の玄米
及び籾を判別する穀粒センサを設け、穀粒センサ
の検出結果に基づき脱率調節部材を自動制御す
る脱率制御装置において、受光波長の異なる複
数の受光素子を前記穀粒センサに備えると共に、
前記各受光素子の受光値と受光時間に基づき、玄
米、未熟玄米、籾、未熟籾を判定して脱率を算
出する演算手段を設けたことを特徴とするもので
ある。
する脱率調節部材を設けると共に、サンプル樋
を介して取出す脱ロールからの摺落米中の玄米
及び籾を判別する穀粒センサを設け、穀粒センサ
の検出結果に基づき脱率調節部材を自動制御す
る脱率制御装置において、受光波長の異なる複
数の受光素子を前記穀粒センサに備えると共に、
前記各受光素子の受光値と受光時間に基づき、玄
米、未熟玄米、籾、未熟籾を判定して脱率を算
出する演算手段を設けたことを特徴とするもので
ある。
「作用」
従つて、摺落米中の玄米と籾に加えて未熟玄米
と未熟籾も脱率計測のデータとして検出し得、
穀粒センサによつて検出する無効粒数を従来より
も容易に低減し得、未熟玄米または未熟籾の増減
に関係なく摺落米の脱率を正確に算出し得、脱
ロールの脱率自動制御の精度向上、並びに胴
割れ未発生など玄米の品質低下防止、並びに籾摺
処理能力の向上などを容易に図り得るものであ
る。
と未熟籾も脱率計測のデータとして検出し得、
穀粒センサによつて検出する無効粒数を従来より
も容易に低減し得、未熟玄米または未熟籾の増減
に関係なく摺落米の脱率を正確に算出し得、脱
ロールの脱率自動制御の精度向上、並びに胴
割れ未発生など玄米の品質低下防止、並びに籾摺
処理能力の向上などを容易に図り得るものであ
る。
「実施例」
以下本発明の一実施例を図面に基づいて詳述す
る。第1図は脱率制御回路図、第2図は籾摺機
の全体断面図、第3図は同部分断面平面図であ
り、図中1は機体最上部に設けて乾燥済み籾を投
入させる供給ホツパー、2は前記ホツパー1出口
に設けて籾を定量流下させる繰出しロール、3は
前記ロール2による籾の繰出し量を可変するシヤ
ツタ、4は前記シヤツタ3を開閉調節するネジ、
5,6は前記繰出しロール2下方に配設して籾を
玄米と籾穀に分離する一対の脱ロール、7はリ
ンク8を介して支持する可変側の脱ロール5を
固定側の脱ロール6に接離させて各ロール5,
6の脱圧(負荷)を可変する脱率調節部材で
あるエアシリンダ型脱率シリンダ、9,10は
前記各ロール5,6下方に設けて混合米流下口1
1を形成する落下シユート、12は傾斜上端側の
支軸13を中心に穀粒流下角度を変更自在に取付
ける流穀板、14は前記流下口11から流穀板1
2に落下する籾殻等の藁屑を選別風路15を介し
て機外に吸排出させる唐箕フアン、16は前記流
穀板12から落下する玄米と籾の混合米を揚穀筒
17に送給する混合米取出樋であり、前記流穀板
12を介して混合米を連続して取出すように構成
している。
る。第1図は脱率制御回路図、第2図は籾摺機
の全体断面図、第3図は同部分断面平面図であ
り、図中1は機体最上部に設けて乾燥済み籾を投
入させる供給ホツパー、2は前記ホツパー1出口
に設けて籾を定量流下させる繰出しロール、3は
前記ロール2による籾の繰出し量を可変するシヤ
ツタ、4は前記シヤツタ3を開閉調節するネジ、
5,6は前記繰出しロール2下方に配設して籾を
玄米と籾穀に分離する一対の脱ロール、7はリ
ンク8を介して支持する可変側の脱ロール5を
固定側の脱ロール6に接離させて各ロール5,
6の脱圧(負荷)を可変する脱率調節部材で
あるエアシリンダ型脱率シリンダ、9,10は
前記各ロール5,6下方に設けて混合米流下口1
1を形成する落下シユート、12は傾斜上端側の
支軸13を中心に穀粒流下角度を変更自在に取付
ける流穀板、14は前記流下口11から流穀板1
2に落下する籾殻等の藁屑を選別風路15を介し
て機外に吸排出させる唐箕フアン、16は前記流
穀板12から落下する玄米と籾の混合米を揚穀筒
17に送給する混合米取出樋であり、前記流穀板
12を介して混合米を連続して取出すように構成
している。
また図中18は前記流穀板12の傾斜下端に対
設させて流下する混合米を当接させる抽出減速部
である反射板、19は前記流穀板12の傾斜下端
中央に連設するサンプル取出シユート、20は前
記流穀板12及びシユート19上面を流下する混
合米を反射板18に当接後に受取るサンプル樋、
21は前記サンプル樋20から落下する混合米に
検出光を照射してこの反射光を受光して混合米の
反射光量を検出する光導電型穀粒センサであるう
るち米センサ、22は前記センサ21によつて検
出後の混合米を揚穀筒17に送給するサンプル取
出樋であり、前記取出樋22上部にブラケツト2
3を介してサンプル樋20を固定支持させると共
に、前記ブラケツト23に高さ調節自在に前記セ
ンサ21を取付ける。
設させて流下する混合米を当接させる抽出減速部
である反射板、19は前記流穀板12の傾斜下端
中央に連設するサンプル取出シユート、20は前
記流穀板12及びシユート19上面を流下する混
合米を反射板18に当接後に受取るサンプル樋、
21は前記サンプル樋20から落下する混合米に
検出光を照射してこの反射光を受光して混合米の
反射光量を検出する光導電型穀粒センサであるう
るち米センサ、22は前記センサ21によつて検
出後の混合米を揚穀筒17に送給するサンプル取
出樋であり、前記取出樋22上部にブラケツト2
3を介してサンプル樋20を固定支持させると共
に、前記ブラケツト23に高さ調節自在に前記セ
ンサ21を取付ける。
さらに前記サンプル樋20を流下する穀粒を当
接させて摺落米が充分に落下しているか否かを検
出する圧電素子などの感圧型摺落米センサ24を
備え、脱ロール5,6からの摺落米が途切れる
ことなく送出されているのを検出し、前記ロール
5,6の脱率自動制御または穀粒センサ21に
よる脱率検出を開始するように構成している。
接させて摺落米が充分に落下しているか否かを検
出する圧電素子などの感圧型摺落米センサ24を
備え、脱ロール5,6からの摺落米が途切れる
ことなく送出されているのを検出し、前記ロール
5,6の脱率自動制御または穀粒センサ21に
よる脱率検出を開始するように構成している。
またもち米センサ25を備えた検出樋26を前
記混合米取出樋16下端に連設させると共に、前
記取出樋16に臨ませる定量流下口27にこの下
方から臨ませる当て板28と、この当て板28を
一端に固定させて他端にバランスウエイト29を
螺着するセンシングアーム30と、該アーム30
中間を操作軸31を介して連結させるポテンシヨ
メータ32とにより、重量計測型の前記もち米セ
ンサ25を形成するもので、ウエイト29調節に
よつてセンシングアーム30を略水平に保ち、前
記取出樋16からのもち米を当て板28に当接さ
せ、そのもち米中の籾量に比例して当て板28を
降下させ、この変位量をポテンシヨメータ32に
よつて計測し、前記取出樋16からのもち米の脱
率を検出するように構成している。
記混合米取出樋16下端に連設させると共に、前
記取出樋16に臨ませる定量流下口27にこの下
方から臨ませる当て板28と、この当て板28を
一端に固定させて他端にバランスウエイト29を
螺着するセンシングアーム30と、該アーム30
中間を操作軸31を介して連結させるポテンシヨ
メータ32とにより、重量計測型の前記もち米セ
ンサ25を形成するもので、ウエイト29調節に
よつてセンシングアーム30を略水平に保ち、前
記取出樋16からのもち米を当て板28に当接さ
せ、そのもち米中の籾量に比例して当て板28を
降下させ、この変位量をポテンシヨメータ32に
よつて計測し、前記取出樋16からのもち米の脱
率を検出するように構成している。
第1図に示す如く、うるち米センサ21により
検出する籾及び玄米の基準反射光値を初期設定す
る籾及び玄米レベル設定器33,34と、正常一
粒の籾及び玄米の基準検出時間を初期設定する籾
及び玄米時間設定器35,36と、うるち米セン
サ21及びもち米センサ25の各脱率基準値を
初期設定するうるち米及びもち米脱率設定器3
7,38とを備えると共に、脱率シリンダ7を
手動制御する手動スイツチ39と、前記シリンダ
7を自動制御する自動スイツチ40と、うるち米
センサ21出力ともち米センサ25出力を択一的
に切換えるもち米切換スイツチ41とを備える。
そしてマイクロコンピユータにより構成する脱
制御回路42を備え、前記各設定器33〜38並
びに各スイツチ39〜41をその制御回路42に
接続すると共に、その制御回路42にドライブ回
路43を介して脱率シリンダ7を接続し、前記
シリンダ7を手動または自動制御により作動して
脱ロール5,6の脱圧を変更するように構成
している。
検出する籾及び玄米の基準反射光値を初期設定す
る籾及び玄米レベル設定器33,34と、正常一
粒の籾及び玄米の基準検出時間を初期設定する籾
及び玄米時間設定器35,36と、うるち米セン
サ21及びもち米センサ25の各脱率基準値を
初期設定するうるち米及びもち米脱率設定器3
7,38とを備えると共に、脱率シリンダ7を
手動制御する手動スイツチ39と、前記シリンダ
7を自動制御する自動スイツチ40と、うるち米
センサ21出力ともち米センサ25出力を択一的
に切換えるもち米切換スイツチ41とを備える。
そしてマイクロコンピユータにより構成する脱
制御回路42を備え、前記各設定器33〜38並
びに各スイツチ39〜41をその制御回路42に
接続すると共に、その制御回路42にドライブ回
路43を介して脱率シリンダ7を接続し、前記
シリンダ7を手動または自動制御により作動して
脱ロール5,6の脱圧を変更するように構成
している。
また受光波長の異なる2つの受光素子44,4
5を前記うるち米センサ21に備え、アンプ4
6,47と、無効レベル設定器48,49を有す
る有効出力用コンパレータ50,51とを介し、
各受光素子44,45を前記脱制御回路42に
入力接続すると共に、アンプ52を介してもち米
センサ25のポテンシヨメータ32を前記脱制
御回路42に入力接続し、また摺落米量センサ2
4を脱制御回路42に入力接続し、メインスイ
ツチ53を介して電源54を各部に印加し、前記
各センサ21,24,25出力を脱制御回路4
2により判断し、脱率シリンダ7を自動制御す
るように構成している。
5を前記うるち米センサ21に備え、アンプ4
6,47と、無効レベル設定器48,49を有す
る有効出力用コンパレータ50,51とを介し、
各受光素子44,45を前記脱制御回路42に
入力接続すると共に、アンプ52を介してもち米
センサ25のポテンシヨメータ32を前記脱制
御回路42に入力接続し、また摺落米量センサ2
4を脱制御回路42に入力接続し、メインスイ
ツチ53を介して電源54を各部に印加し、前記
各センサ21,24,25出力を脱制御回路4
2により判断し、脱率シリンダ7を自動制御す
るように構成している。
さらに第4図は、摺落米に検出光を照射して波
長を異ならせて受光したときに得られた摺落米の
受光値と受光周波数の関係を示すうるち米出力線
図であり、受光周波数が8500Åのときは、籾及び
未熟籾(粃)及び未熟玄米(青米)の受光値が近
似し、玄米の受光値がそれらよりも低く検出され
た。また受光周波数が6700Åのときは、未熟玄米
の受光値が著しく低下し、籾と未熟籾また玄米と
未熟米の受光値に夫々差が生じることが判明し
た。しかも第5図のように、平均的な一粒の未熟
籾と籾とは、うるち米センサ25部を略同一速度
で通過させたとき、未熟籾よりも籾を検出すると
きの受光時間(t1<t2)が長くなることから、う
るち米センサ21の一方の受光素子44により受
光周波数中心が8500Åの受光値を出力させ、受光
波長が短い高周波数用としてその受光素子44を
用いる一方、うるち米センサ21のもう一方の受
光素子45により受光周波数中心が6700Åの受光
値を出力させ、受光波長が長い低周波数用として
その受光素子45を用い、サンプル樋20に抽出
されるサンプル米(摺落米)の反射光及び検出時
間を各受光素子44,45により検出するように
構成しているものである。
長を異ならせて受光したときに得られた摺落米の
受光値と受光周波数の関係を示すうるち米出力線
図であり、受光周波数が8500Åのときは、籾及び
未熟籾(粃)及び未熟玄米(青米)の受光値が近
似し、玄米の受光値がそれらよりも低く検出され
た。また受光周波数が6700Åのときは、未熟玄米
の受光値が著しく低下し、籾と未熟籾また玄米と
未熟米の受光値に夫々差が生じることが判明し
た。しかも第5図のように、平均的な一粒の未熟
籾と籾とは、うるち米センサ25部を略同一速度
で通過させたとき、未熟籾よりも籾を検出すると
きの受光時間(t1<t2)が長くなることから、う
るち米センサ21の一方の受光素子44により受
光周波数中心が8500Åの受光値を出力させ、受光
波長が短い高周波数用としてその受光素子44を
用いる一方、うるち米センサ21のもう一方の受
光素子45により受光周波数中心が6700Åの受光
値を出力させ、受光波長が長い低周波数用として
その受光素子45を用い、サンプル樋20に抽出
されるサンプル米(摺落米)の反射光及び検出時
間を各受光素子44,45により検出するように
構成しているものである。
上記から明らかなように、脱ロール5,6の
脱率を変更する脱率調節部材である脱率シ
リンダ7を設けると共に、サンプル樋20を介し
て取出す脱ロール5,6からの摺落米中の玄米
及び籾を判別する穀粒センサであるうるち米セン
サ21を設け、うるち米センサ21の検出結果に
基づき脱率シリンダ7を自動制御する脱率制
御装置において、受光波長の異なる複数の受光素
子44,45を前記うるち米センサ21に備える
と共に、前記各受光素子44,45の受光値と受
光時間に基づき、玄米、未熟玄米、籾、未熟籾を
判定して脱率を算出する演算手段である脱制
御回路42を設け、該制御回路42の脱率調節
出力によつて脱率シリンダを自動的に作動さ
せ、脱ロール5,6の脱率自動制御を行うよ
うに構成している。
脱率を変更する脱率調節部材である脱率シ
リンダ7を設けると共に、サンプル樋20を介し
て取出す脱ロール5,6からの摺落米中の玄米
及び籾を判別する穀粒センサであるうるち米セン
サ21を設け、うるち米センサ21の検出結果に
基づき脱率シリンダ7を自動制御する脱率制
御装置において、受光波長の異なる複数の受光素
子44,45を前記うるち米センサ21に備える
と共に、前記各受光素子44,45の受光値と受
光時間に基づき、玄米、未熟玄米、籾、未熟籾を
判定して脱率を算出する演算手段である脱制
御回路42を設け、該制御回路42の脱率調節
出力によつて脱率シリンダを自動的に作動さ
せ、脱ロール5,6の脱率自動制御を行うよ
うに構成している。
本発明は上記の如く構成しており、第6図のフ
ローチヤートに示す如く、メインスイツチ53を
オン操作し、各設定器33〜38を操作して初期
設定を完了したとき、自動スイツチ40がオフの
状態で、手動スイツチ39により脱率シリンダ
7を作動制御し、脱ロール5,6の脱圧を任
意に手動調節する。
ローチヤートに示す如く、メインスイツチ53を
オン操作し、各設定器33〜38を操作して初期
設定を完了したとき、自動スイツチ40がオフの
状態で、手動スイツチ39により脱率シリンダ
7を作動制御し、脱ロール5,6の脱圧を任
意に手動調節する。
さらに自動スイツチ40をオン操作し、摺落米
量センサ24により検出する摺落米量が設定以上
で適正であるとき、もち米切換スイツチ41をオ
フにしてうるち米を籾摺するとき、うるち米セン
サ21からの出力を脱制御回路42に入力し、
前記センサ21の高周波数(8500Å)検出用の受
光素子44の出力値(,,)を判断し、そ
の受光素子44出力が玄米値()のとき、低周
波数(6700Å)検出用の受光素子45の出力値
(,,)を判断し、この受光素子45出力
が玄米値()のとき、玄米と判定する。
量センサ24により検出する摺落米量が設定以上
で適正であるとき、もち米切換スイツチ41をオ
フにしてうるち米を籾摺するとき、うるち米セン
サ21からの出力を脱制御回路42に入力し、
前記センサ21の高周波数(8500Å)検出用の受
光素子44の出力値(,,)を判断し、そ
の受光素子44出力が玄米値()のとき、低周
波数(6700Å)検出用の受光素子45の出力値
(,,)を判断し、この受光素子45出力
が玄米値()のとき、玄米と判定する。
また先の受光素子44出力が籾値()のと
き、後の受光素子45の出力値(,,)を
判断し、この受光素子45出力が玄米値()の
とき、未熟玄米(青米)と判定する。一方、その
受光素子45出力が籾値()のとき、この出力
時間が正常一粒の籾を検出する籾時間以上である
か否かを判断し、籾時間以上のときは籾と判定
し、籾時間以下のときは未熟籾(粃)と判定す
る。
き、後の受光素子45の出力値(,,)を
判断し、この受光素子45出力が玄米値()の
とき、未熟玄米(青米)と判定する。一方、その
受光素子45出力が籾値()のとき、この出力
時間が正常一粒の籾を検出する籾時間以上である
か否かを判断し、籾時間以上のときは籾と判定
し、籾時間以下のときは未熟籾(粃)と判定す
る。
そして各受光素子44,45出力に基づいて判
定した玄米、未熟玄米、籾、未熟籾のサンプル検
出粒数を算出し、うるち米脱率を演算すると共
に、その脱率をうるち米脱率基準値と比較
し、その脱率が高いとき、脱率シリンダ7制
御により脱ロール5,6の脱圧を下降させる
一方、その脱率が低いとき、前記シリンダ7制
御により脱ロール5,6の脱圧を上昇させる
もので、その脱圧変更を終了したとき、また脱
率が基準値と一致して適正であつたとき、脱
ロール5,6からうるち米センサ21に摺落米が
移動する時間(T秒)以上待つた後、前記の脱
率制御動作を繰返し行う。
定した玄米、未熟玄米、籾、未熟籾のサンプル検
出粒数を算出し、うるち米脱率を演算すると共
に、その脱率をうるち米脱率基準値と比較
し、その脱率が高いとき、脱率シリンダ7制
御により脱ロール5,6の脱圧を下降させる
一方、その脱率が低いとき、前記シリンダ7制
御により脱ロール5,6の脱圧を上昇させる
もので、その脱圧変更を終了したとき、また脱
率が基準値と一致して適正であつたとき、脱
ロール5,6からうるち米センサ21に摺落米が
移動する時間(T秒)以上待つた後、前記の脱
率制御動作を繰返し行う。
さらにもち米の籾摺作業時、もち米切換スイツ
チ41をオン操作することにより、もち米センサ
25のポテンシヨメータ32からの出力が脱制
御回路42に入力し、前記センサ25により検出
するもち米脱率ともち米脱率基準値とを比較
し、前記と同様に脱率シリンダ7を作動制御
し、脱率が高いときは脱ロール5,6の脱
圧を下降させる一方、脱率が低いときは脱ロ
ール5,6の脱圧を上昇させるもので、その脱
圧変更を終了したとき、また脱率が基準値と
一致して適正であつたとき、脱ロール5,6か
らもち米センサ25に摺落米が移動する時間(T
秒)以上待つた後、前記の脱率制御動作を繰返
し行うものである。そのためうるち米センサ21
によりもち米の籾と玄米を検出したとき、反射光
値の差が小さいので、もち米の脱率検出を適正
に行うことができなかつたが、もち米センサ25
によりもち米の摺落米の重量を検出することによ
り、もち米の脱率を正確に算出し得、うるち米
センサ21ともち米センサ25の択一使用により
うるち米及びもち米のいずれの脱率も自動制御
により適正調節し得るものである。
チ41をオン操作することにより、もち米センサ
25のポテンシヨメータ32からの出力が脱制
御回路42に入力し、前記センサ25により検出
するもち米脱率ともち米脱率基準値とを比較
し、前記と同様に脱率シリンダ7を作動制御
し、脱率が高いときは脱ロール5,6の脱
圧を下降させる一方、脱率が低いときは脱ロ
ール5,6の脱圧を上昇させるもので、その脱
圧変更を終了したとき、また脱率が基準値と
一致して適正であつたとき、脱ロール5,6か
らもち米センサ25に摺落米が移動する時間(T
秒)以上待つた後、前記の脱率制御動作を繰返
し行うものである。そのためうるち米センサ21
によりもち米の籾と玄米を検出したとき、反射光
値の差が小さいので、もち米の脱率検出を適正
に行うことができなかつたが、もち米センサ25
によりもち米の摺落米の重量を検出することによ
り、もち米の脱率を正確に算出し得、うるち米
センサ21ともち米センサ25の択一使用により
うるち米及びもち米のいずれの脱率も自動制御
により適正調節し得るものである。
「発明の効果」
以上実施例から明らかなように本発明は、脱
ロール5,6の脱率を変更する脱率調節部材
7を設けると共に、サンプル樋20を介して取出
す脱ロール5,6からの摺落米中の玄米及び籾
を判別する穀粒センサ21を設け、穀粒センサ2
1の検出結果に基づき脱率調節部材7を自動制
御する脱率制御装置において、受光波長の異な
る複数の受光素子44,45を前記穀粒センサ2
1に備えると共に、前記各受光素子44,45の
受光値と受光時間に基づき、玄米、未熟玄米、
籾、未熟籾を判定して脱率を算出する演算手段
42を設けたもので、摺落米中の玄米と籾に加え
て未熟玄米と未熟籾も脱率計測のデータとして
検出でき、穀粒センサ21によつて検出する無効
粒数を従来よりも容易に低減でき、未熟玄米また
は未熟籾の増減に関係なく摺落米の脱率を正確
に算出でき、脱ロール5,6の脱率自動制御
の精度向上、並びに胴割れ未発生など玄米の品質
低下防止、並びに籾摺処理能力の向上などを容易
に図ることができるものである。
ロール5,6の脱率を変更する脱率調節部材
7を設けると共に、サンプル樋20を介して取出
す脱ロール5,6からの摺落米中の玄米及び籾
を判別する穀粒センサ21を設け、穀粒センサ2
1の検出結果に基づき脱率調節部材7を自動制
御する脱率制御装置において、受光波長の異な
る複数の受光素子44,45を前記穀粒センサ2
1に備えると共に、前記各受光素子44,45の
受光値と受光時間に基づき、玄米、未熟玄米、
籾、未熟籾を判定して脱率を算出する演算手段
42を設けたもので、摺落米中の玄米と籾に加え
て未熟玄米と未熟籾も脱率計測のデータとして
検出でき、穀粒センサ21によつて検出する無効
粒数を従来よりも容易に低減でき、未熟玄米また
は未熟籾の増減に関係なく摺落米の脱率を正確
に算出でき、脱ロール5,6の脱率自動制御
の精度向上、並びに胴割れ未発生など玄米の品質
低下防止、並びに籾摺処理能力の向上などを容易
に図ることができるものである。
第1図は本発明の一実施例を示す脱率制御回
路図、第2図は籾摺機の断面図、第3図はその部
分平面図、第4図はうるち米出力線図、第5図は
籾のうるち米センサ出力線図、第6図は脱率制
御フローチヤートである。 5,6……脱ロール、7……脱率シリンダ
(脱率調節部材)、20……サンプル樋、21…
…うるち米センサ(光導電型穀粒センサ)、42
……脱制御回路(演算手段)、44,45……
受光素子。
路図、第2図は籾摺機の断面図、第3図はその部
分平面図、第4図はうるち米出力線図、第5図は
籾のうるち米センサ出力線図、第6図は脱率制
御フローチヤートである。 5,6……脱ロール、7……脱率シリンダ
(脱率調節部材)、20……サンプル樋、21…
…うるち米センサ(光導電型穀粒センサ)、42
……脱制御回路(演算手段)、44,45……
受光素子。
Claims (1)
- 1 脱ロール5,6の脱率を変更する脱率
調節部材7を設けると共に、サンプル樋20を介
して取出す脱ロール5、6からの摺落米中の玄
米及び籾を判別する穀粒センサ21を設け、穀粒
センサ21の検出結果に基づき脱率調節部材7
を自動制御する脱率制御装置において、受光波
長の異なる複数の受光素子44,45を前記穀粒
センサ21に備えると共に、前記各受光素子4
4,45の受光値と受光時間に基づき、玄米、未
熟玄米、籾、未熟籾を判定して脱率を算出する
演算手段42を設けたことを特徴とする脱率制
御装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15018384A JPS6128462A (ja) | 1984-07-18 | 1984-07-18 | 脱ふ率制御装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15018384A JPS6128462A (ja) | 1984-07-18 | 1984-07-18 | 脱ふ率制御装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6128462A JPS6128462A (ja) | 1986-02-08 |
| JPH0571299B2 true JPH0571299B2 (ja) | 1993-10-06 |
Family
ID=15491319
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15018384A Granted JPS6128462A (ja) | 1984-07-18 | 1984-07-18 | 脱ふ率制御装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6128462A (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006049752A (ja) * | 2004-08-09 | 2006-02-16 | Sousei Denshi:Kk | 反射型光センサ及び反射型光センサを用いる特性計測装置 |
| JP7225786B2 (ja) * | 2018-12-21 | 2023-02-21 | 株式会社Ihi | 分光用粉体流制御装置 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57158557A (en) * | 1981-03-26 | 1982-09-30 | Ketsuto Kagaku Kenkyusho:Kk | Discrimination method for grain quality of polished rice |
| JPS5976585A (ja) * | 1982-10-22 | 1984-05-01 | 井関農機株式会社 | 玄米と青米の選別装置 |
-
1984
- 1984-07-18 JP JP15018384A patent/JPS6128462A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6128462A (ja) | 1986-02-08 |
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