JPS6079657A - 大気圧イオン化質量分析計のイオン源 - Google Patents
大気圧イオン化質量分析計のイオン源Info
- Publication number
- JPS6079657A JPS6079657A JP58186743A JP18674383A JPS6079657A JP S6079657 A JPS6079657 A JP S6079657A JP 58186743 A JP58186743 A JP 58186743A JP 18674383 A JP18674383 A JP 18674383A JP S6079657 A JPS6079657 A JP S6079657A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electrode
- pore
- ion source
- mass spectrometer
- atmospheric pressure
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J27/00—Ion beam tubes
- H01J27/02—Ion sources; Ion guns
- H01J27/08—Ion sources; Ion guns using arc discharge
- H01J27/10—Duoplasmatrons ; Duopigatrons
- H01J27/12—Duoplasmatrons ; Duopigatrons provided with an expansion cup
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Combustion & Propulsion (AREA)
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明は大気圧イオン化質量分析計のイオン源に係り、
特に細孔電極が汚れやすい試料を導入した場合に好適な
イオン源に関する。
特に細孔電極が汚れやすい試料を導入した場合に好適な
イオン源に関する。
従来の差動排気部を有する大気圧イオン化質量分析計で
は、第１細孔電極と第２細孔電極を効率良く加熱できな
かったので、細孔電極が汚れやすい試料を導入したとき
、特に大気圧イオン化質量分析計では試料は気体である
ことが必要であるので、溶液中の試料を気化して導入す
るときには、第１細孔の目づまシ第２細孔の汚れにより
、イオン量が１／３〜１／１０以下になってしまうとい
う欠点があった。
は、第１細孔電極と第２細孔電極を効率良く加熱できな
かったので、細孔電極が汚れやすい試料を導入したとき
、特に大気圧イオン化質量分析計では試料は気体である
ことが必要であるので、溶液中の試料を気化して導入す
るときには、第１細孔の目づまシ第２細孔の汚れにより
、イオン量が１／３〜１／１０以下になってしまうとい
う欠点があった。
本発明の目的は、細孔電極が汚れやすい試料をイオン源
に導入した場合でも、イオン量を減することなく長時間
安定にイオンを検出できるようなイオン源を提供するこ
とにある。
に導入した場合でも、イオン量を減することなく長時間
安定にイオンを検出できるようなイオン源を提供するこ
とにある。
細孔電極の汚れやすい試料を導入したときの問題点は、
第１細孔の目づまシと第２細孔の汚れによる電場の変化
によるイオン量の減少である。これを解決するために、
第１細孔と第２細孔を効率良く加熱できるようにして細
孔電極における有機物の付着を少なくするようにした。
第１細孔の目づまシと第２細孔の汚れによる電場の変化
によるイオン量の減少である。これを解決するために、
第１細孔と第２細孔を効率良く加熱できるようにして細
孔電極における有機物の付着を少なくするようにした。
以下、本発明の一実施例を図により説明する。
試料が大気圧イオン化質量分析計の第１細孔電極支持用
ブロツク３内に導入されるとコロナ放電用針電極１によ
りイオン化される。このとき、試料が細孔電極４．１０
を汚しやすいものであると、第１細孔電極４の細孔は通
常１００〜２００μｍφ程度であるので細孔は目づまシ
をおこしやすい。
ブロツク３内に導入されるとコロナ放電用針電極１によ
りイオン化される。このとき、試料が細孔電極４．１０
を汚しやすいものであると、第１細孔電極４の細孔は通
常１００〜２００μｍφ程度であるので細孔は目づまシ
をおこしやすい。
そこで、電極加熱用ヒーター５、例えばセラミックヒー
タ−等を用いて１００Ｃ〜２００Ｃ程度に加熱すること
によｐ第１細孔電極４の細孔の目づ１）をできるだけ防
ぐようにした。第１細孔電極４の細孔を通ったイオンは
、絶縁体７を介して第１細孔電極支持用ブロツク３にか
けられた電位（通常、第２細孔電極に対し４０〜７０Ｖ
とする。）によシ加速され、第２細孔電極１０の細孔（
４００〜５００μｍφ）を通って質量分析計の質量分析
部タリボレプ（１２００Ａ／ｍｒｎ）程度で排気され、
その真空度は０．１〜数ｔｏｒｒである。このときも、
第２ａｌ孔電極１０が汚れているとフィールドが変化し
、第１．第２細孔間の透過率が１／３以下におちてしま
う。そこで、第２細孔電極１ｏも電極加熱用ヒーター９
、例えばセラミックヒータ−を用いて、１００ｃ〜２０
０［に加熱し、第２細孔電極１０の汚れを少なくシ、電
場の変化を少なくし、長時間安定にイオンを取り出すこ
とができるようにした。
タ−等を用いて１００Ｃ〜２００Ｃ程度に加熱すること
によｐ第１細孔電極４の細孔の目づ１）をできるだけ防
ぐようにした。第１細孔電極４の細孔を通ったイオンは
、絶縁体７を介して第１細孔電極支持用ブロツク３にか
けられた電位（通常、第２細孔電極に対し４０〜７０Ｖ
とする。）によシ加速され、第２細孔電極１０の細孔（
４００〜５００μｍφ）を通って質量分析計の質量分析
部タリボレプ（１２００Ａ／ｍｒｎ）程度で排気され、
その真空度は０．１〜数ｔｏｒｒである。このときも、
第２ａｌ孔電極１０が汚れているとフィールドが変化し
、第１．第２細孔間の透過率が１／３以下におちてしま
う。そこで、第２細孔電極１ｏも電極加熱用ヒーター９
、例えばセラミックヒータ−を用いて、１００ｃ〜２０
０［に加熱し、第２細孔電極１０の汚れを少なくシ、電
場の変化を少なくし、長時間安定にイオンを取り出すこ
とができるようにした。
また、２図のように第２細孔電極１ｏの一部に切りこみ
１２を入れ、ヒータ９は細孔の近くじおき、細孔付近は
よく加熱されるようにして、しかも電極１０の他の部分
には熱が伝ゎシに＜〈シてもよい。これによシ、ｏリン
グシールする部分には熱が伝わシにくくなシ、０１Ｊン
グには都合がよい。
１２を入れ、ヒータ９は細孔の近くじおき、細孔付近は
よく加熱されるようにして、しかも電極１０の他の部分
には熱が伝ゎシに＜〈シてもよい。これによシ、ｏリン
グシールする部分には熱が伝わシにくくなシ、０１Ｊン
グには都合がよい。
また、３図のように第２細孔電極１ｏの裏側にヒータ１
３をつけてもよいっ 〔発明の効果〕 本発明によれば、細孔電極が汚れやすい試料をイオン源
に導入した場合でも、長時間安定にイオンを取シ出すこ
とができる。
３をつけてもよいっ 〔発明の効果〕 本発明によれば、細孔電極が汚れやすい試料をイオン源
に導入した場合でも、長時間安定にイオンを取シ出すこ
とができる。
第１図は２つの細孔電極を加熱する機能をそなえた大気
圧イオン化質量分析計のイオン源を示す断面図、第２図
および第３図はそれぞれ他の実施例を示す断面図である
。 １・・・コロナ放電用針電極、２・・・針電極支持用絶
縁体、３・・・第１細孔電極支持用ブロツク、４・・・
第１細孔電極、５，９．１３−・・電極加熱用ヒーター
、６・・・余剰ガス逃げ口、７・・・絶縁体、８・・・
第２細孔電極支持用ブロツク、１０・・・第２細孔電極
、１１・・・０リング、１２・・・切シこみ。 代理人 弁理士 高橋明夫 ￥ １ 品 Ｘ Ｚ 図 第 ３ 図
圧イオン化質量分析計のイオン源を示す断面図、第２図
および第３図はそれぞれ他の実施例を示す断面図である
。 １・・・コロナ放電用針電極、２・・・針電極支持用絶
縁体、３・・・第１細孔電極支持用ブロツク、４・・・
第１細孔電極、５，９．１３−・・電極加熱用ヒーター
、６・・・余剰ガス逃げ口、７・・・絶縁体、８・・・
第２細孔電極支持用ブロツク、１０・・・第２細孔電極
、１１・・・０リング、１２・・・切シこみ。 代理人 弁理士 高橋明夫 ￥ １ 品 Ｘ Ｚ 図 第 ３ 図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、コロナ放電用針電極と、細孔を有する第１細孔電極
と、差動排気部と差動排気部に存在する第２細孔電極と
より成る大気圧イオン化質量分析計のイオン源において
、前記第１細孔電極と前記第２細孔電極とを加熱できる
ようにしたことを特徴とする大気圧イオン化質量分析計
のイオン源、 ２、前記第２細孔電極の裏側の一部に切りこみを入れ電
極の細孔何近のみを特に加熱し、熱は電ン化質量分析計
のイオン源。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58186743A JPS6079657A (ja) | 1983-10-07 | 1983-10-07 | 大気圧イオン化質量分析計のイオン源 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58186743A JPS6079657A (ja) | 1983-10-07 | 1983-10-07 | 大気圧イオン化質量分析計のイオン源 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6079657A true JPS6079657A (ja) | 1985-05-07 |
Family
ID=16193870
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58186743A Pending JPS6079657A (ja) | 1983-10-07 | 1983-10-07 | 大気圧イオン化質量分析計のイオン源 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6079657A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH05217545A (ja) * | 1992-02-04 | 1993-08-27 | Hitachi Ltd | 大気圧イオン化質量分析装置 |
| JPH11153579A (ja) * | 1997-11-20 | 1999-06-08 | Shimadzu Corp | エレクトロンキャプチャ検出器 |
-
1983
- 1983-10-07 JP JP58186743A patent/JPS6079657A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH05217545A (ja) * | 1992-02-04 | 1993-08-27 | Hitachi Ltd | 大気圧イオン化質量分析装置 |
| JPH11153579A (ja) * | 1997-11-20 | 1999-06-08 | Shimadzu Corp | エレクトロンキャプチャ検出器 |
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