JPH0223635A - 半導体集積回路 - Google Patents
半導体集積回路Info
- Publication number
- JPH0223635A JPH0223635A JP17300888A JP17300888A JPH0223635A JP H0223635 A JPH0223635 A JP H0223635A JP 17300888 A JP17300888 A JP 17300888A JP 17300888 A JP17300888 A JP 17300888A JP H0223635 A JPH0223635 A JP H0223635A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit
- local oscillation
- end circuit
- dummy island
- semiconductor
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
- Design And Manufacture Of Integrated Circuits (AREA)
- Bipolar Integrated Circuits (AREA)
- Structure Of Receivers (AREA)
- Element Separation (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(イ)産業上の利用分野
本発明はFM/AMチューナ等、信号周波数や信号レベ
ルが異る回路ブロックを同一半導体基板上に形成した半
導体集積回路に関する。
ルが異る回路ブロックを同一半導体基板上に形成した半
導体集積回路に関する。
(ロ)従来の技術
TVチューナ、FM/AMチューナ等の電子機器は、R
F (Radio Frequency)信号からオー
ディオ信号を取出す為、機能毎に分割した各回路ブロッ
クの取扱う信号の周波数が異る場合が多い。例えば日本
国内向けのFMチューナだけでも、RF倍信号76〜9
0MHz、中間周波数信号は10.7MHz、そして2
0〜20000Hzのオーディオ信号と、20Hz〜9
0MHzの広範囲の信号を取扱うことになる。
F (Radio Frequency)信号からオー
ディオ信号を取出す為、機能毎に分割した各回路ブロッ
クの取扱う信号の周波数が異る場合が多い。例えば日本
国内向けのFMチューナだけでも、RF倍信号76〜9
0MHz、中間周波数信号は10.7MHz、そして2
0〜20000Hzのオーディオ信号と、20Hz〜9
0MHzの広範囲の信号を取扱うことになる。
上記FM/AMチューナの一例を第7図に示す。同図に
おいて、(1)はFM放送を選局しその受信周波数信号
と局部発振回路(2)の発振周波数信号とを混合回路(
3)で混合することにより中間周波数に周波数変換する
FMフロントエンド回路、(4)は中間周波数信号(I
F倍信号を増幅・振幅制限し且つこれを検波してオーデ
ィオ信号(AF倍信号を得るFM−IF増幅回路、(5
)は例えば特公昭62−21461号に記載されている
が如き機能を有するノイズキャンセル回路、(6)はス
テレオ放送の場合にLチ〜ンネノ呟Rチャンネル信号に
復調するマルチプレクス回路、(7)はAM放送を選局
しオーディオ信号を出力するAMチューナ回路である。
おいて、(1)はFM放送を選局しその受信周波数信号
と局部発振回路(2)の発振周波数信号とを混合回路(
3)で混合することにより中間周波数に周波数変換する
FMフロントエンド回路、(4)は中間周波数信号(I
F倍信号を増幅・振幅制限し且つこれを検波してオーデ
ィオ信号(AF倍信号を得るFM−IF増幅回路、(5
)は例えば特公昭62−21461号に記載されている
が如き機能を有するノイズキャンセル回路、(6)はス
テレオ放送の場合にLチ〜ンネノ呟Rチャンネル信号に
復調するマルチプレクス回路、(7)はAM放送を選局
しオーディオ信号を出力するAMチューナ回路である。
例えばFM放送受信の場合、アンテナ(8)から入力し
、RF増幅回路(9)で高周波増幅したRF倍信号FM
フロントエンド回路(1)の局部発振回路(2)が出力
する発振周波数信号とをFMフロントエンド回路<1)
の混合回路(3)で混合することによりFMフロントエ
ンド回路(1)からIF倍信号出力し、該IF倍信号F
M・IF増幅回路(4)の検波回路で検波することによ
りFM−IF増幅回路(4)からコンポジ・ソト信号を
出力し、マルチプレクス回路(6)によって出力端子(
10)に夫々Lチャンネル、Rチャンネルのオーディオ
信号を出力する様構成されてい=4 る。尚、斯る構成のFMチューナ回路は例えば昭和62
年12月10日発行、「′88三洋半導体データブック
ポータプルオーディオ用バイポーラ集積回路編ヨ第1
52頁に記載されている。
、RF増幅回路(9)で高周波増幅したRF倍信号FM
フロントエンド回路(1)の局部発振回路(2)が出力
する発振周波数信号とをFMフロントエンド回路<1)
の混合回路(3)で混合することによりFMフロントエ
ンド回路(1)からIF倍信号出力し、該IF倍信号F
M・IF増幅回路(4)の検波回路で検波することによ
りFM−IF増幅回路(4)からコンポジ・ソト信号を
出力し、マルチプレクス回路(6)によって出力端子(
10)に夫々Lチャンネル、Rチャンネルのオーディオ
信号を出力する様構成されてい=4 る。尚、斯る構成のFMチューナ回路は例えば昭和62
年12月10日発行、「′88三洋半導体データブック
ポータプルオーディオ用バイポーラ集積回路編ヨ第1
52頁に記載されている。
ところで、近年の電子機器は増々小型化・高性薫化が求
められ、それに伴って第7図の回路はできる限り1チツ
プ化する方向に進んでいる。しかしながら、上記FMチ
ューナの例ではFMフロントエンド回路(1)が数十M
Hzの高周波信号を扱う為、不要輻射による他回路への
干渉が生じ易い。
められ、それに伴って第7図の回路はできる限り1チツ
プ化する方向に進んでいる。しかしながら、上記FMチ
ューナの例ではFMフロントエンド回路(1)が数十M
Hzの高周波信号を扱う為、不要輻射による他回路への
干渉が生じ易い。
また、アンテナ(8)からの微弱レベル信号を取扱う為
、他回路ブロックとの干渉により回路動作が不安定にな
り易く、著しい場合には発振してしまう。その為、FM
フロントエンド回路(1)をも1チツプ化することは極
めて困難であった。
、他回路ブロックとの干渉により回路動作が不安定にな
り易く、著しい場合には発振してしまう。その為、FM
フロントエンド回路(1)をも1チツプ化することは極
めて困難であった。
さらに、近年の電子機器は増々多種・多様化してきてお
りパターン設計時間の短縮が望まれている。また、設計
を終了した半導体集積回路に対して特定の回路ブロック
を削除、置換、追加といった様々な要求がある。しかし
ながら、前記特定の回路ブロックが必ずしも同−占有面
積内に納められるとは限らないので、各要求毎に再度設
計し直さなくてはならず、前記要求に対して即応できな
い欠点があった。
りパターン設計時間の短縮が望まれている。また、設計
を終了した半導体集積回路に対して特定の回路ブロック
を削除、置換、追加といった様々な要求がある。しかし
ながら、前記特定の回路ブロックが必ずしも同−占有面
積内に納められるとは限らないので、各要求毎に再度設
計し直さなくてはならず、前記要求に対して即応できな
い欠点があった。
(ハ)発明が解決しようとする課題
この様に、従来はFMフロントエンド回路(1)をも集
積化することは回路干渉が生じ易い為に極めて困難であ
る欠点があった。また、パターン設計の開発期間が長く
、様々な要求に即応できない欠点があった。
積化することは回路干渉が生じ易い為に極めて困難であ
る欠点があった。また、パターン設計の開発期間が長く
、様々な要求に即応できない欠点があった。
(ニ)課題を解決するための手段
本発明は斯上した欠点に鑑み成されたもので、FMフロ
ントエンド回路(1)をダミーアイランド(23)で囲
むことにより他回路との干渉を防止するものである。ま
た、半導体チップ(11)の表面を実質的に同一サイズ
のマットク18)に分割し、各回路ブロックを夫々マッ
ト(18)整数個分の領域に納めると共に、FMフロン
トエンド回路(1)を納める際はこの周囲をダミーアイ
ランド(23)で囲むことにより、回路干渉を防止して
マット(18)の組み合せによるパターン設計を容易な
らしめるものである。
ントエンド回路(1)をダミーアイランド(23)で囲
むことにより他回路との干渉を防止するものである。ま
た、半導体チップ(11)の表面を実質的に同一サイズ
のマットク18)に分割し、各回路ブロックを夫々マッ
ト(18)整数個分の領域に納めると共に、FMフロン
トエンド回路(1)を納める際はこの周囲をダミーアイ
ランド(23)で囲むことにより、回路干渉を防止して
マット(18)の組み合せによるパターン設計を容易な
らしめるものである。
(ホ)作用
本発明によれば、ダミーアイランド(23)のN型高抵
抗層による抵抗成分が介在するので、且つダミーアイラ
ンド(23)のN型層と高濃度分離領域(30)とによ
るPN接合障壁が前記抵抗成分を増大するので、ダミー
アイランド(23)で区画された両者の結合を粗にでき
る。また、ダミーアイランド(23)により回路干渉を
防止できるので、マット(18)化したICにマット(
18)の効果を損うこと無くFMフロントエンド回路(
1)を組み込むことが可能になる。
抗層による抵抗成分が介在するので、且つダミーアイラ
ンド(23)のN型層と高濃度分離領域(30)とによ
るPN接合障壁が前記抵抗成分を増大するので、ダミー
アイランド(23)で区画された両者の結合を粗にでき
る。また、ダミーアイランド(23)により回路干渉を
防止できるので、マット(18)化したICにマット(
18)の効果を損うこと無くFMフロントエンド回路(
1)を組み込むことが可能になる。
(へ)実施例
以下、本発明を図面を参照しながら詳細に説明する。
先にパターン設計を容易ならしめるマットについて第3
図を用いて説明する。同図において、半導体チップ(1
1〉の中央にこれを略一直線で横切る分割領域(12)
を形成し、半導体チップ(11)の素子形成領域を実質
的に上下同一ザイズの2つの領域に区画する。分割領域
(12)は後述するようにグランドライン(13)や電
源ライン(14)を延在させる為の必要不可避領域であ
り且つ回路素子を形成しない領域であって、分割領域(
12)を形成することにより、区画した前記2つの領域
を夫々第1と第2の領域(15)(16)とする。そし
て、分割領域(12)とは直交する方向にグランドライ
ン(13)と電源ライン(14)とを−組として隣接さ
せて延在させた区画ライン(17)を設け、該区画ライ
ン(17)を複数本並設することにより半導体チップ(
11)の表面を実質的に同一サイズの多数個のマット(
18)に分割する。マット(1,8)の大きさは任意の
一定数の素子がレイアウトできる占有面積に設定し、そ
の横幅は経験的にNPN トランジスタ5〜6個を1列
に並べられるような横幅に設定する。
図を用いて説明する。同図において、半導体チップ(1
1〉の中央にこれを略一直線で横切る分割領域(12)
を形成し、半導体チップ(11)の素子形成領域を実質
的に上下同一ザイズの2つの領域に区画する。分割領域
(12)は後述するようにグランドライン(13)や電
源ライン(14)を延在させる為の必要不可避領域であ
り且つ回路素子を形成しない領域であって、分割領域(
12)を形成することにより、区画した前記2つの領域
を夫々第1と第2の領域(15)(16)とする。そし
て、分割領域(12)とは直交する方向にグランドライ
ン(13)と電源ライン(14)とを−組として隣接さ
せて延在させた区画ライン(17)を設け、該区画ライ
ン(17)を複数本並設することにより半導体チップ(
11)の表面を実質的に同一サイズの多数個のマット(
18)に分割する。マット(1,8)の大きさは任意の
一定数の素子がレイアウトできる占有面積に設定し、そ
の横幅は経験的にNPN トランジスタ5〜6個を1列
に並べられるような横幅に設定する。
マット(18)の両側は区画ライン(17)を構成する
グランドライン(13)と電源ライン(14)とをペア
で延在させるので、それらを規則的に配列、例えば櫛歯
状に相対向する様に延在させることにより、マット(1
8)の1辺にはグランドライン(13)が、他辺には電
源ライン(14)が夫々接するように延在させ、マット
(18)に形成した回路素子に動作電源を供給する。
グランドライン(13)と電源ライン(14)とをペア
で延在させるので、それらを規則的に配列、例えば櫛歯
状に相対向する様に延在させることにより、マット(1
8)の1辺にはグランドライン(13)が、他辺には電
源ライン(14)が夫々接するように延在させ、マット
(18)に形成した回路素子に動作電源を供給する。
区画ライン(17)を延在したグランドライン(13)
と電源ライン(14)は、各回路ブロック毎やそれらが
共通インピーダンスを持つことを許可するか否かにより
まとめられ、分割領域(12)上を延在させて各々が対
応するグランド電極パッド(19)や電源電極パッド(
20)に個別に接続される。結果、分割領域(12)上
はグランドライン(13)と電源ライン(14)が複数
本延在し、且つ1本1本は配線インピーダンスを低減す
る為比較的幅広に形成されるので、分割領域(12)も
当然比較的大占有面積を必要とする。
と電源ライン(14)は、各回路ブロック毎やそれらが
共通インピーダンスを持つことを許可するか否かにより
まとめられ、分割領域(12)上を延在させて各々が対
応するグランド電極パッド(19)や電源電極パッド(
20)に個別に接続される。結果、分割領域(12)上
はグランドライン(13)と電源ライン(14)が複数
本延在し、且つ1本1本は配線インピーダンスを低減す
る為比較的幅広に形成されるので、分割領域(12)も
当然比較的大占有面積を必要とする。
区画ライン(17)を延在させるグランドライン(13
)と電源ライン<14)、分割領域(12)上を延在さ
せるグランドライン(13)と電源ライン(14)、及
び各マット(18)内における回路素子間の接続配線は
、櫛歯状レイアウトを利用することで基本的に第1層目
配線層によって行う。第2層目以降は区画ライン(17
)や分割領域(12)を横断してマット(18)間の信
号伝達用配線やシールド電極(21)を形成するのに主
として用いる。
)と電源ライン<14)、分割領域(12)上を延在さ
せるグランドライン(13)と電源ライン(14)、及
び各マット(18)内における回路素子間の接続配線は
、櫛歯状レイアウトを利用することで基本的に第1層目
配線層によって行う。第2層目以降は区画ライン(17
)や分割領域(12)を横断してマット(18)間の信
号伝達用配線やシールド電極(21)を形成するのに主
として用いる。
尚、分割領域(12)は時として各区画ライン(17)
と平行にも延在させる。これは、パッケージのビン配列
の要求に対するV。C電極パッド(20)とグランド電
極パッド(19)の位置的制約や、隣接したマット(1
8)または回路機能ブロックにおいて特に離間したい関
係がある場合に各マット(18)の間に設ける。第3図
においては、マットDとEの間が前者の理由、マットM
とNの間が後者の理由である。そして、前記平行に延在
させた一分割領域(12a)の終端付近に設けたV。C
電極パッド(20)とグランドパッド(19)から夫々
vooライン(14)とグランドライン(13)を引き
廻し、続いて前記半導体チップ(11)の中央を横切る
分割領域(12)の上を引き廻して各マット(18)内
の回路素子に接続する。
と平行にも延在させる。これは、パッケージのビン配列
の要求に対するV。C電極パッド(20)とグランド電
極パッド(19)の位置的制約や、隣接したマット(1
8)または回路機能ブロックにおいて特に離間したい関
係がある場合に各マット(18)の間に設ける。第3図
においては、マットDとEの間が前者の理由、マットM
とNの間が後者の理由である。そして、前記平行に延在
させた一分割領域(12a)の終端付近に設けたV。C
電極パッド(20)とグランドパッド(19)から夫々
vooライン(14)とグランドライン(13)を引き
廻し、続いて前記半導体チップ(11)の中央を横切る
分割領域(12)の上を引き廻して各マット(18)内
の回路素子に接続する。
この様に素子形成領域を多数個のマツI−(18)に分
割した半導体チップ(11)に機自訛別回路ブロックを
納める場合、各回路ブロックは以下の通りに収納する。
割した半導体チップ(11)に機自訛別回路ブロックを
納める場合、各回路ブロックは以下の通りに収納する。
先ずマット(18)が任意の一定の素子数を収納できる
サイズに設計されているので、前記回路ブロックを前記
一定の素子数に区分する。例えばマット(18)の大き
さが100素子収納用で、前記回路ブロックが270素
子程度ならば、3個のマット(18)を用意して各々1
00素子を目安に区分する。むろん、占有面積の大きな
コンデンサ等は考慮に入れる。そして、上記区分に従っ
て各マット(18)毎に回路素子を収納し、マットク1
8〉に収納したNPN−PNPI−ランジスタ、ダイオ
ード、抵抗、コンデンサ等の回路素子間の接続配線を第
1層目配線層で終了しておく。これを繰り返して全ての
マット(18〉のパターン設計を終えた後、前記3個の
マツ1−(18)を隣接して配置し、第2層目以降の配
線によって各マット(18)間の電気的接続を行うこと
により、機能別回路ブロックを構成する。そして、全て
の回路ブロックをマット(18)に収納した後、全ての
マツl−(18)を組み合せ、第2層目以降の配線層に
より各回路ブロック間の電気的接続を行うことにより全
体のICを設計する。
サイズに設計されているので、前記回路ブロックを前記
一定の素子数に区分する。例えばマット(18)の大き
さが100素子収納用で、前記回路ブロックが270素
子程度ならば、3個のマット(18)を用意して各々1
00素子を目安に区分する。むろん、占有面積の大きな
コンデンサ等は考慮に入れる。そして、上記区分に従っ
て各マット(18)毎に回路素子を収納し、マットク1
8〉に収納したNPN−PNPI−ランジスタ、ダイオ
ード、抵抗、コンデンサ等の回路素子間の接続配線を第
1層目配線層で終了しておく。これを繰り返して全ての
マット(18〉のパターン設計を終えた後、前記3個の
マツ1−(18)を隣接して配置し、第2層目以降の配
線によって各マット(18)間の電気的接続を行うこと
により、機能別回路ブロックを構成する。そして、全て
の回路ブロックをマット(18)に収納した後、全ての
マツl−(18)を組み合せ、第2層目以降の配線層に
より各回路ブロック間の電気的接続を行うことにより全
体のICを設計する。
斯る構成によれば、機能の異る複数の回路ブロックを夫
々整数個のマット(18)に収納することにより、各回
路ブロック毎の設計を行え且つ回路ブロックを一定の素
子数に分割してマット(18)毎の設計が行えるように
なる。その為、回路ブロックまたはマット(18)毎の
並行設計が可能となり、設計期間の大幅な短縮が図れる
。また、回路変更も回路ブロック毎に且つマット(18
)毎に行えるので、IC全体の設計変更は不要であり、
変更部分以外は前機種の信頼性を保ったまま流用するこ
とができる。
々整数個のマット(18)に収納することにより、各回
路ブロック毎の設計を行え且つ回路ブロックを一定の素
子数に分割してマット(18)毎の設計が行えるように
なる。その為、回路ブロックまたはマット(18)毎の
並行設計が可能となり、設計期間の大幅な短縮が図れる
。また、回路変更も回路ブロック毎に且つマット(18
)毎に行えるので、IC全体の設計変更は不要であり、
変更部分以外は前機種の信頼性を保ったまま流用するこ
とができる。
次に第7図の如きFM/AMチューナ回路をマット(1
8)に収納した半導体集積回路を第1乃至第5図を用い
て説明する。
8)に収納した半導体集積回路を第1乃至第5図を用い
て説明する。
先ず第3図に基き、FMフロントエンド回路(1)が約
250個の素子数で構成されているので、3個のマット
(18〉を用意すると共にFMフロ+2− ントエンド回路(1)全体を80〜100素子毎に区分
し、この区分に従ってマットに、L、M夫々に回路素子
を収納し、マット(18)内の接続配線とマット(18
)とマット(18)間の接続配線を処すことによりFM
フロントエンド回路(1)の機能構成を実現する。同様
に他の回路ブロックもマット(18)に収納し、AMチ
ューナ回路(7)をマットA〜マットDに、FM・IF
増幅回路(4)をマットE〜マットエに、ノイズキャン
セル回路(5)をマットN−マットPに、マルチブレク
スデコーダ回路(6)をマットQ〜マットTに、そして
そのイ也(オプション)の回路をマットJに夫々収納し
、全体を半導体チップ(11)の四角形状内に収まる様
に配置する。そして、各回路ブロック間の接続配線を処
すことによりIC全体の機能構成を実現する。
250個の素子数で構成されているので、3個のマット
(18〉を用意すると共にFMフロ+2− ントエンド回路(1)全体を80〜100素子毎に区分
し、この区分に従ってマットに、L、M夫々に回路素子
を収納し、マット(18)内の接続配線とマット(18
)とマット(18)間の接続配線を処すことによりFM
フロントエンド回路(1)の機能構成を実現する。同様
に他の回路ブロックもマット(18)に収納し、AMチ
ューナ回路(7)をマットA〜マットDに、FM・IF
増幅回路(4)をマットE〜マットエに、ノイズキャン
セル回路(5)をマットN−マットPに、マルチブレク
スデコーダ回路(6)をマットQ〜マットTに、そして
そのイ也(オプション)の回路をマットJに夫々収納し
、全体を半導体チップ(11)の四角形状内に収まる様
に配置する。そして、各回路ブロック間の接続配線を処
すことによりIC全体の機能構成を実現する。
ところで、FMフロントエンド回路(1)はアンテナ(
8)と後で述べる同調回路により同調した数十MHzの
RF倍信号入力され、該RF倍信号局部発振回路(2〉
が出力する局部発振周波数信号とを混合回路(3)で混
合することにより10.7MHzの中間周波(IF)信
号に周波数変換する機能を有する。また、局部発振回路
(2)と混合回路り3)が主体となる他に、混合回路(
3)のIF出力信号を増幅してFM・IF増幅回路(4
)へ出力する為の増幅回路(IF−Amp)や、受信信
号レベルを自動的にコントロールする為の自動利得制御
回路(AGC)等、前記主体となる回路に付随するその
他の回路が組み込まれることが多い。これ等の回路は数
十MHzの高周波信号を扱い且つ数マイクロボルト(μ
■)の微小レベルから比較的大きな振幅レベルまでの信
号を正確に処理しなければならない為、他の回路ブロッ
クとの干渉を嫌う回路である。その中でも特に、局部発
振回路(2)は高周波発振という極めて不安定な動作を
正確に行わなければならないので、最も注意を要する回
路である。これに対し、その他の回路ブロックの中では
IF倍信号増幅・振幅制限するFM−IF増幅回路(4
〉が、10.7MHzと比較的近似し且つ大振幅レベル
の信号を扱うのでFMフロントエンド回路(1)との関
係を最も注意したい回路ブロックである。
8)と後で述べる同調回路により同調した数十MHzの
RF倍信号入力され、該RF倍信号局部発振回路(2〉
が出力する局部発振周波数信号とを混合回路(3)で混
合することにより10.7MHzの中間周波(IF)信
号に周波数変換する機能を有する。また、局部発振回路
(2)と混合回路り3)が主体となる他に、混合回路(
3)のIF出力信号を増幅してFM・IF増幅回路(4
)へ出力する為の増幅回路(IF−Amp)や、受信信
号レベルを自動的にコントロールする為の自動利得制御
回路(AGC)等、前記主体となる回路に付随するその
他の回路が組み込まれることが多い。これ等の回路は数
十MHzの高周波信号を扱い且つ数マイクロボルト(μ
■)の微小レベルから比較的大きな振幅レベルまでの信
号を正確に処理しなければならない為、他の回路ブロッ
クとの干渉を嫌う回路である。その中でも特に、局部発
振回路(2)は高周波発振という極めて不安定な動作を
正確に行わなければならないので、最も注意を要する回
路である。これに対し、その他の回路ブロックの中では
IF倍信号増幅・振幅制限するFM−IF増幅回路(4
〉が、10.7MHzと比較的近似し且つ大振幅レベル
の信号を扱うのでFMフロントエンド回路(1)との関
係を最も注意したい回路ブロックである。
斯上した回路ブロック間の干渉を防止する為、FMフロ
ントエンド回路(1)は様々な干渉対策を処す。
ントエンド回路(1)は様々な干渉対策を処す。
その第1は、FMフロントエンド回路(1)を形成した
領域の上を覆うシールド電極(21)である。
領域の上を覆うシールド電極(21)である。
シールド電極(21)は第2層目配線層以降の配線層で
形成され交流的に接地となる電源電位V。0またはグラ
ンド電位GNDを印加する。このシールド電極(21)
を設けることにより、シールド電極(21)が交流的に
接地となる電位に固定されているので、FMフロントエ
ンド回路(1)、その中でも特に発振動作を伴う局部発
振回路<2)からの不要輻射を遮へいし、他回路への干
渉及び他回路からの干渉信号を遮断する。
形成され交流的に接地となる電源電位V。0またはグラ
ンド電位GNDを印加する。このシールド電極(21)
を設けることにより、シールド電極(21)が交流的に
接地となる電位に固定されているので、FMフロントエ
ンド回路(1)、その中でも特に発振動作を伴う局部発
振回路<2)からの不要輻射を遮へいし、他回路への干
渉及び他回路からの干渉信号を遮断する。
この時、グランドライン(13)と電源ライン(14)
を第1層目配線層で、シールド電極(21)を第2層目
配線層で夫々行おうとすると、区画ライン(17)があ
る為、FMフロントエンド回路(1)内のマツ1−(1
8)間の接続配線は設計自由度が厳しい。そこで、FM
フロントエンド回路(1)は区画ライン(17)を除去
することにより、全体を2層配線構造で済ませる。この
様に、FMフロントエンド回路(1)はマット(18)
化するか否かに拘わらずマット(18)整数個分の領域
に納めることにより、多数個のマット(18)を半導体
チップ(11)の四角形状に対応させて組み合せること
が容易であり、且つFMフロントエンド回路(1)ブロ
ックの移設・置換・削除等の容易さを損うことが無い。
を第1層目配線層で、シールド電極(21)を第2層目
配線層で夫々行おうとすると、区画ライン(17)があ
る為、FMフロントエンド回路(1)内のマツ1−(1
8)間の接続配線は設計自由度が厳しい。そこで、FM
フロントエンド回路(1)は区画ライン(17)を除去
することにより、全体を2層配線構造で済ませる。この
様に、FMフロントエンド回路(1)はマット(18)
化するか否かに拘わらずマット(18)整数個分の領域
に納めることにより、多数個のマット(18)を半導体
チップ(11)の四角形状に対応させて組み合せること
が容易であり、且つFMフロントエンド回路(1)ブロ
ックの移設・置換・削除等の容易さを損うことが無い。
FMフロントエンド回路(1)のパターンを第4図に示
す。前記干渉対策の第2は、局部発振回路(2)部分は
単独でシールド電極(21a)を設け、シールド電極(
21)が共通インピーダンスを持つことを防ぐことによ
り、シールド電極(21)を交流的接地電位に堅固に固
定して回路動作の安定化を図る。
す。前記干渉対策の第2は、局部発振回路(2)部分は
単独でシールド電極(21a)を設け、シールド電極(
21)が共通インピーダンスを持つことを防ぐことによ
り、シールド電極(21)を交流的接地電位に堅固に固
定して回路動作の安定化を図る。
コレハ、シールFIt!(2t)を介してのFMフロン
トエンド回路(1)内での干渉や、他回路からの干渉電
流がシールド電極(21)を介して局部発振回路(2)
まで達することによる干渉を防止することにもなる。混
合回路(3)を覆うシールド電極(21b)と1[i− 前記付随するその他の回路を覆うシールド電極(21c
)も夫々に分割すると、−層回路動作の安定化が図れる
。
トエンド回路(1)内での干渉や、他回路からの干渉電
流がシールド電極(21)を介して局部発振回路(2)
まで達することによる干渉を防止することにもなる。混
合回路(3)を覆うシールド電極(21b)と1[i− 前記付随するその他の回路を覆うシールド電極(21c
)も夫々に分割すると、−層回路動作の安定化が図れる
。
前記干渉対策の第3は、局部発振回路(2)専用のグラ
ンド電極パッド(19a)を設け、グランドライン(1
3a)も他とは別個に設けることにより、グランド電位
GND用配線の何れかが共通インピーダンスを持つこと
による干渉を防ぐ。混合回路(3)と前記付随するその
他の回路用のグランドライン(13b)(13c)も夫
々個別に延在させてグランド電極パッド(19)に接続
する。その際、グランドライン(13a)(13b)(
13c)とシールド電極(21a)(21b)(21c
)との夫々の接続はできる限りグランド電極パッド(1
9)に近い部分で行うことにより、グランドライン(1
3)の配線インピーダンスによる無用な電位上昇を最小
限に抑える。外部接続用のリード端子も局部発振回路(
2)専用に設ける。この用な構成とすることにより、局
部発振回路(2)へ印加するグランド電位GNDを堅固
に固定し、他からの干渉を避けることで回路動作の安定
化を図る。
ンド電極パッド(19a)を設け、グランドライン(1
3a)も他とは別個に設けることにより、グランド電位
GND用配線の何れかが共通インピーダンスを持つこと
による干渉を防ぐ。混合回路(3)と前記付随するその
他の回路用のグランドライン(13b)(13c)も夫
々個別に延在させてグランド電極パッド(19)に接続
する。その際、グランドライン(13a)(13b)(
13c)とシールド電極(21a)(21b)(21c
)との夫々の接続はできる限りグランド電極パッド(1
9)に近い部分で行うことにより、グランドライン(1
3)の配線インピーダンスによる無用な電位上昇を最小
限に抑える。外部接続用のリード端子も局部発振回路(
2)専用に設ける。この用な構成とすることにより、局
部発振回路(2)へ印加するグランド電位GNDを堅固
に固定し、他からの干渉を避けることで回路動作の安定
化を図る。
前記干渉対策の第4は、FMフロントエンド回路(1)
の中でも局部発振回路(2)を最も隅部へ配置すること
により、局部発振回路(2)をFM−IF増幅回路(4
)から最大限離間させて配置する。この様にすれば、局
部発振回路(2)が距離的に離れると共に、局部発振回
路(2)の周囲を混合回路(3)と前記付随するその他
の回路用のシールド電極(21b)(21c)が囲むの
で、FM−IF増幅回路(4)からの信号干渉を最小限
に抑えることができる。隅部へ離間することはまた、グ
ランド電極パッド(19a)から局部発振回路(2)ま
でのグランドライン(13a)の延在長さを最短にでき
るので、局部発振回路(2)の安定動作にも寄与する。
の中でも局部発振回路(2)を最も隅部へ配置すること
により、局部発振回路(2)をFM−IF増幅回路(4
)から最大限離間させて配置する。この様にすれば、局
部発振回路(2)が距離的に離れると共に、局部発振回
路(2)の周囲を混合回路(3)と前記付随するその他
の回路用のシールド電極(21b)(21c)が囲むの
で、FM−IF増幅回路(4)からの信号干渉を最小限
に抑えることができる。隅部へ離間することはまた、グ
ランド電極パッド(19a)から局部発振回路(2)ま
でのグランドライン(13a)の延在長さを最短にでき
るので、局部発振回路(2)の安定動作にも寄与する。
前記干渉対策の第5は、FMフロントエンド回路(1)
領域内に半導体基板とオーミックコンタクトする吸出し
電極(22)を設けることである。吸出し電極(22)
は局部発振回路(2)及び混合回路(3)と、前記付随
するその他の回路との間に延在するグランドライン(1
30)に接続されて両者の間を流れるリーク電流を吸出
す他、回路素子の中で飽和動作を行うNPN−PNP
トランジスタや、コンデンサ、抵抗等、リーク電流を流
出することが予測される回路素子の即近に設けてリーク
電流を吸出す。吸出したリーク電流はそのままグランド
ライン(13c)を介してグランド電極パッド(19b
)へ吸出されるか、または回路の上を覆うシールド電極
(21a)(21b>(21c)に吸出され、シールド
電極(21a)(21b)(21c)にコンタクトする
グランドライン(13b)(13c)(13d)を介し
てグランド電極パッド(19a)(19b)に接続され
る。局部発振回路(2)だけは吸出し電極(13d)と
シールド電極(21a)に接地電位GNDを与えるグラ
ンドライン(13d)と局部発振回路り2)を構成する
回路素子に接地電位GNDを与えるグランドライン(1
3a)を別個に設けることにより、吸出したリーク電流
による接地電位GND上昇の影響を避ける。この様な構
成とすることにより、基板表面を介してのリーク電流に
よる相互干渉を防止する。
領域内に半導体基板とオーミックコンタクトする吸出し
電極(22)を設けることである。吸出し電極(22)
は局部発振回路(2)及び混合回路(3)と、前記付随
するその他の回路との間に延在するグランドライン(1
30)に接続されて両者の間を流れるリーク電流を吸出
す他、回路素子の中で飽和動作を行うNPN−PNP
トランジスタや、コンデンサ、抵抗等、リーク電流を流
出することが予測される回路素子の即近に設けてリーク
電流を吸出す。吸出したリーク電流はそのままグランド
ライン(13c)を介してグランド電極パッド(19b
)へ吸出されるか、または回路の上を覆うシールド電極
(21a)(21b>(21c)に吸出され、シールド
電極(21a)(21b)(21c)にコンタクトする
グランドライン(13b)(13c)(13d)を介し
てグランド電極パッド(19a)(19b)に接続され
る。局部発振回路(2)だけは吸出し電極(13d)と
シールド電極(21a)に接地電位GNDを与えるグラ
ンドライン(13d)と局部発振回路り2)を構成する
回路素子に接地電位GNDを与えるグランドライン(1
3a)を別個に設けることにより、吸出したリーク電流
による接地電位GND上昇の影響を避ける。この様な構
成とすることにより、基板表面を介してのリーク電流に
よる相互干渉を防止する。
そして、前記干渉対策の第6は、本発明の特徴とする如
<FMフロントエンド回路(1)収納領域をダミーアイ
ランド(23)で囲むことである。
<FMフロントエンド回路(1)収納領域をダミーアイ
ランド(23)で囲むことである。
第1図において、(24)は局部発振回路(2)の収納
領域、(25)は混合回路(3)の収納領域、(2B)
は前記付随するその他の回路の収納領域であり、先ずF
Mフロントエンド回路(1)ブロック全体をダミーアイ
ランド(23)で完全に囲むと共に、局部発振回路(2
)の収納領域(24)だけをさらにダミーアイランド(
23a)で区画する。局部発振回路(2)の回路素子に
接地電位GNDを与える専用のグランド電極パッド(
19a)形成領域も局部発振回路(2)を囲むダミーア
イランド(23a)内に納め、分離領域を介して基板に
接地電位を与える。ダミーアイランド(23)は基板と
接続する高濃度分離領域で囲まれ電気的に他とは絶縁さ
れた領域であり、その為ダミーアイランド(23)は電
源電位V。0または何の電位も印加しないブローティン
グ状態にする。
領域、(25)は混合回路(3)の収納領域、(2B)
は前記付随するその他の回路の収納領域であり、先ずF
Mフロントエンド回路(1)ブロック全体をダミーアイ
ランド(23)で完全に囲むと共に、局部発振回路(2
)の収納領域(24)だけをさらにダミーアイランド(
23a)で区画する。局部発振回路(2)の回路素子に
接地電位GNDを与える専用のグランド電極パッド(
19a)形成領域も局部発振回路(2)を囲むダミーア
イランド(23a)内に納め、分離領域を介して基板に
接地電位を与える。ダミーアイランド(23)は基板と
接続する高濃度分離領域で囲まれ電気的に他とは絶縁さ
れた領域であり、その為ダミーアイランド(23)は電
源電位V。0または何の電位も印加しないブローティン
グ状態にする。
上記シールド電極り21)、吸出し電極(22)及びダ
ミーアイランド(23)を処したFMフロントエンド回
路(1)部分の断面構造は第5図に示す様になる。
ミーアイランド(23)を処したFMフロントエンド回
路(1)部分の断面構造は第5図に示す様になる。
第5図において、(27)はP型半導体基板、<28)
はN型エピタキシ〜ル層、り29)はN+型型埋領領域
(30)は基板(21)に接続するP+型分離領域、(
31)は素子形成用のアイランド、(23)(23a)
はダミーアイランド、(32)(33)は回路素子形成
用のPまたはN型拡散領域、<34)はエピタキシへ・
ル層(28)を覆う酸化膜、(35)は第1層目配線層
による素子間接続配線、(13b)(13c)はグラン
ドライン、(22)は吸出し電極、(36)は層間絶縁
膜、(21a)(21b)は第2層目配線によるシール
ド電極である。同図から明らかな様に、ダミーアイラン
ド(23)(23a)はエピタキシャル層り28)表面
から接地電位GNDが与えられる基板(27)表面まで
達するP+型分離領域(30)がエピタキシへ・ル層(
28)を区分することにより形成したものである。斯る
構成によれば、ダミーアイランドク23)のN型高抵抗
層によりダミーアイランド(23)を挾む両側の領域の
間に抵抗成分が挿入されるので、基板(27)と水平方
向に流れるリーク電流の通過を阻止することができ、両
者のリーク電流による回路干渉を防止できる。また、ダ
ミーアイランド(23)と分離領域(30)が形成する
PN接合の電位障壁が前記抵抗成分を実質的に増大させ
るので、−層回路間の結合を粗にできる。尚、ダミーア
イランド(23)(23a)上には、グランドライン(
13b)(13c)または電源ライン(14)の延在エ
リアとして活用すると占有面積の有効利用ができる。
はN型エピタキシ〜ル層、り29)はN+型型埋領領域
(30)は基板(21)に接続するP+型分離領域、(
31)は素子形成用のアイランド、(23)(23a)
はダミーアイランド、(32)(33)は回路素子形成
用のPまたはN型拡散領域、<34)はエピタキシへ・
ル層(28)を覆う酸化膜、(35)は第1層目配線層
による素子間接続配線、(13b)(13c)はグラン
ドライン、(22)は吸出し電極、(36)は層間絶縁
膜、(21a)(21b)は第2層目配線によるシール
ド電極である。同図から明らかな様に、ダミーアイラン
ド(23)(23a)はエピタキシャル層り28)表面
から接地電位GNDが与えられる基板(27)表面まで
達するP+型分離領域(30)がエピタキシへ・ル層(
28)を区分することにより形成したものである。斯る
構成によれば、ダミーアイランドク23)のN型高抵抗
層によりダミーアイランド(23)を挾む両側の領域の
間に抵抗成分が挿入されるので、基板(27)と水平方
向に流れるリーク電流の通過を阻止することができ、両
者のリーク電流による回路干渉を防止できる。また、ダ
ミーアイランド(23)と分離領域(30)が形成する
PN接合の電位障壁が前記抵抗成分を実質的に増大させ
るので、−層回路間の結合を粗にできる。尚、ダミーア
イランド(23)(23a)上には、グランドライン(
13b)(13c)または電源ライン(14)の延在エ
リアとして活用すると占有面積の有効利用ができる。
以上に説明したFMフロントエンド回路ブロック(1)
部分における干渉対策の他、分割領域(12)を利用す
ることにより一層の干渉対策が可能である。即ち、前述
した様に分割領域(12)は比較的大占有面積を要する
ので、マットに〜マットMまたはこれに相応する領域を
利用することによりFMフロントエンド回路(1)を半
導体チップ(11)の隅部へ配置し、FM−IF増幅回
路(4)はマットE〜マットIを利用することにより、
両者を分割領域(12)を挾んで配置する。この様な構
成とすることにより、両者を分割領域(12)の分だけ
離設できるので、相互干渉を最小にできる。
部分における干渉対策の他、分割領域(12)を利用す
ることにより一層の干渉対策が可能である。即ち、前述
した様に分割領域(12)は比較的大占有面積を要する
ので、マットに〜マットMまたはこれに相応する領域を
利用することによりFMフロントエンド回路(1)を半
導体チップ(11)の隅部へ配置し、FM−IF増幅回
路(4)はマットE〜マットIを利用することにより、
両者を分割領域(12)を挾んで配置する。この様な構
成とすることにより、両者を分割領域(12)の分だけ
離設できるので、相互干渉を最小にできる。
また、第2図に示す如く、分割領域(12)の占有面積
を利用しこの領域に第5図の様なダミーアイランド(2
3)を多数本設けておくことにより、−層リーク電流に
よる相互干渉を防止できる。
を利用しこの領域に第5図の様なダミーアイランド(2
3)を多数本設けておくことにより、−層リーク電流に
よる相互干渉を防止できる。
第6図は上記FMフロントエンド回路(1)をも内蔵し
たICを用いて構成したFM/AM受信機である。同図
において、(40)は受信する周波数を選択し同調した
RF倍信号FMフロントエンド回路(1)の混合回路(
3)またはAMチューナ回路(7)の混合回路へ出力す
る同調回路、(al)(42)は表面弾性波フィルタ(
43)から成り、混合回路(3〉の出力信号からFM−
IF倍信号けを取出す第1.第2フィルタ回路、(44
)はFM・局部発振回路(2)の発振周波数を決定する
局部発振回路<2)の受動回路素子、(45)はマルチ
プレクスデコーダ回路(6)の電圧制御発振回路(VC
O)の発振周波数を決定する水晶振動子、(46)はA
M・IF倍信号けを通過させるフィルタ回路、(47)
はAMチューナ回路(7)の局部発振回路の受動回路素
子、(48)はL及びRfJvンネルの出力端子である
。この他、素子定数的に集積化が困難な値を持つコンデ
ンサや抵抗が外付けされて全体の回路が実現する。
たICを用いて構成したFM/AM受信機である。同図
において、(40)は受信する周波数を選択し同調した
RF倍信号FMフロントエンド回路(1)の混合回路(
3)またはAMチューナ回路(7)の混合回路へ出力す
る同調回路、(al)(42)は表面弾性波フィルタ(
43)から成り、混合回路(3〉の出力信号からFM−
IF倍信号けを取出す第1.第2フィルタ回路、(44
)はFM・局部発振回路(2)の発振周波数を決定する
局部発振回路<2)の受動回路素子、(45)はマルチ
プレクスデコーダ回路(6)の電圧制御発振回路(VC
O)の発振周波数を決定する水晶振動子、(46)はA
M・IF倍信号けを通過させるフィルタ回路、(47)
はAMチューナ回路(7)の局部発振回路の受動回路素
子、(48)はL及びRfJvンネルの出力端子である
。この他、素子定数的に集積化が困難な値を持つコンデ
ンサや抵抗が外付けされて全体の回路が実現する。
上記構成によれば、基本的に集積化困難な大容量値のコ
ンデンサ、抵抗、バリスタ等の受動回路素子を外付けす
る他、同調回路(40)だけを外付けするだけでFM/
AMチューナが実現できるので、部品点数を減少するこ
とにより安価なチューナを構成できる。
ンデンサ、抵抗、バリスタ等の受動回路素子を外付けす
る他、同調回路(40)だけを外付けするだけでFM/
AMチューナが実現できるので、部品点数を減少するこ
とにより安価なチューナを構成できる。
(ト)発明の詳細
な説明した如く、本発明によれば、FMフロントエンド
回路(1)をダミーアイランド(23)で囲むことによ
り干渉を防止し、FMフロントエンド回路(1)をも1
チツプ化したICを実現できる利点を有する。
回路(1)をダミーアイランド(23)で囲むことによ
り干渉を防止し、FMフロントエンド回路(1)をも1
チツプ化したICを実現できる利点を有する。
また、マット(18)を基本としマット(18)を組み
合せることでIC全体のレイアウトを行うので、各回路
ブロック毎または各マット(18)毎の並行設計が可能
となりパターン設計期間の大幅な短縮が図れる。また、
回路変更も回路ブロック毎またはマット(18)毎に行
えるので、IC全体の設計変更−24= は不要であり、変更部分以外は前機種の信頼性を保った
まま流用できる利点を有する。
合せることでIC全体のレイアウトを行うので、各回路
ブロック毎または各マット(18)毎の並行設計が可能
となりパターン設計期間の大幅な短縮が図れる。また、
回路変更も回路ブロック毎またはマット(18)毎に行
えるので、IC全体の設計変更−24= は不要であり、変更部分以外は前機種の信頼性を保った
まま流用できる利点を有する。
そして、FMフロントエンド回路(1)をマット(18
)整数個分の領域に納め、且つダミーアイランド(23
)により干渉を防止できるので、FMフロントエンド回
路(1)ブロックを他の回路と同様に扱え、マット(1
8〉の組み合せによるパターン設計の容易さを損わずに
済むという利点を有する。
)整数個分の領域に納め、且つダミーアイランド(23
)により干渉を防止できるので、FMフロントエンド回
路(1)ブロックを他の回路と同様に扱え、マット(1
8〉の組み合せによるパターン設計の容易さを損わずに
済むという利点を有する。
そして、上記半導体集積回路はFMフロントエンド回路
(1)をも1チツプ化できるので、値的に集積化が困難
なコンデンサや抵抗、バリスタ等の受動回路素子と同調
回路(40)を構成する回路素子を付加することにより
、安価で高性能のFM/AMチューナを構成できる利点
を有する。
(1)をも1チツプ化できるので、値的に集積化が困難
なコンデンサや抵抗、バリスタ等の受動回路素子と同調
回路(40)を構成する回路素子を付加することにより
、安価で高性能のFM/AMチューナを構成できる利点
を有する。
第1図は本発明を説明する為の要部拡大平面図、第2図
及び第3図は本発明を説明する為の平面図、第4図はF
Mフロントエンド回路(1)部分を示す拡大平面図、第
5図は第4図の要部断面図、第6図は本発明のラジオ受
信機を説明する為の回路図、第7図はFM/AMチュー
ナ回路を示す回路図である。 (11)は半導体チップ、 (12)は分割領域、 (
13)はグランドライン、 (14)は電源ライン、
(17)は区画ライン、 (18〉はマット、
(19)はグランド電極パッド、 (21)はシールド
電極、 (23)はダミーアイランド、 (30)は分
離領域、 (40〉は同調回路である。
及び第3図は本発明を説明する為の平面図、第4図はF
Mフロントエンド回路(1)部分を示す拡大平面図、第
5図は第4図の要部断面図、第6図は本発明のラジオ受
信機を説明する為の回路図、第7図はFM/AMチュー
ナ回路を示す回路図である。 (11)は半導体チップ、 (12)は分割領域、 (
13)はグランドライン、 (14)は電源ライン、
(17)は区画ライン、 (18〉はマット、
(19)はグランド電極パッド、 (21)はシールド
電極、 (23)はダミーアイランド、 (30)は分
離領域、 (40〉は同調回路である。
Claims (7)
- (1)少なくとも局部発振回路と混合回路を含みRF(
Radio Frequency)信号をIF(中間周
波)信号へ周波数変換するフロントエンド回路ブロック
と、前記IF信号を増幅・振幅制限するIF増幅回路ブ
ロックとを同一半導体基板上に集積化し、前記フロント
エンド回路ブロックの周囲を半導体基板と接続する同一
導電型の高濃度分離領域によって囲まれたダミーアイラ
ンドにより完全に囲んだことを特徴とする半導体集積回
路。 - (2)前記局部発振回路と前記フロントエンド回路のそ
の他の回路とを前記ダミーアイランドで区画したことを
特徴とする請求項第1項に記載の半導体集積回路。 - (3)前記局部発振回路専用のグランド電極パッドを設
けたことを特徴とする請求項第1項に記載の半導体集積
回路。 - (4)半導体チップの表面に電源ラインとグランドライ
ンをペアで延在させた区画ラインを複数本並設して前記
半導体チップを実質的に同一サイズの複数個の領域に分
割することにより夫々の領域をマットとし、少なくとも
局部発振回路を有するフロントエンド回路ブロックを整
数個のマットの面積に略等しい領域に形成し、前記フロ
ントエンド回路とは機能の異る複数の回路ブロックを夫
々整数個のマットに収納し、前記フロントエンド回路の
周囲を半導体基板と接続する同一導電型の高濃度分離領
域によって囲まれたダミーアイランドにより完全に囲ん
だことを特徴とする半導体集積回路。 - (5)半導体チップの中央を略一直線で延在する分割領
域により前記半導体チップを第1と第2の領域に分割し
、前記分割領域とは直交する方向に電源ラインとグラン
ドラインをペアで延在させた区画ラインを複数本並設す
ることにより前記第1と第2の領域を実質的に同一サイ
ズの複数個の領域に分割して夫々の領域をマットとし、
前記分割領域上に個別に電極パッドへ接続される電源ま
たはグランドラインを延在させると共に、少なくとも局
部発振回路を含むフロントエンド回路ブロックを整数個
のマットの面積に略等しい領域に形成し、前記フロント
エンド回路とは機能の異る複数の回路ブロックを夫々整
数個のマットに収納し、前記フロントエンド回路ブロッ
クの周囲を半導体基板と接続する同一導電型の高濃度分
離領域によって囲まれたダミーアイランドにより完全に
囲んだことを特徴とする半導体集積回路。 - (6)前記フロントエンド回路ブロックの局部発振回路
を半導体チップの隅部へ配置し、分割領域を挾んで半導
体チップの対角線の位置に前記フロントエンド回路ブロ
ックから出力されるIF(中間周波)信号を増幅・振幅
制限するIF増幅回路ブロックを配置したことを特徴と
する請求項第5項に記載の半導体集積回路。 - (7)請求項第1、第4または第5項に記載の半導体集
積回路に外付部品を付加したことを特徴とするラジオ受
信機。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63173008A JPH0666414B2 (ja) | 1988-07-12 | 1988-07-12 | 半導体集積回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63173008A JPH0666414B2 (ja) | 1988-07-12 | 1988-07-12 | 半導体集積回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0223635A true JPH0223635A (ja) | 1990-01-25 |
| JPH0666414B2 JPH0666414B2 (ja) | 1994-08-24 |
Family
ID=15952486
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63173008A Expired - Lifetime JPH0666414B2 (ja) | 1988-07-12 | 1988-07-12 | 半導体集積回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0666414B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004236330A (ja) * | 2003-01-29 | 2004-08-19 | Samsung Electronics Co Ltd | Dcオフセットを減らすための単一チップ化されたダイレクトコンバージョン送受信機およびその製造方法 |
| JP2006100676A (ja) * | 2004-09-30 | 2006-04-13 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体集積回路 |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57138351U (ja) * | 1981-02-23 | 1982-08-30 | ||
| JPS61292341A (ja) * | 1985-06-20 | 1986-12-23 | Toshiba Corp | 半導体集積回路 |
| JPS6212147A (ja) * | 1985-07-10 | 1987-01-21 | Hitachi Ltd | マスタ−スライス方式の半導体装置 |
| JPS62293660A (ja) * | 1986-06-13 | 1987-12-21 | Hitachi Ltd | 半導体集積回路装置 |
-
1988
- 1988-07-12 JP JP63173008A patent/JPH0666414B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57138351U (ja) * | 1981-02-23 | 1982-08-30 | ||
| JPS61292341A (ja) * | 1985-06-20 | 1986-12-23 | Toshiba Corp | 半導体集積回路 |
| JPS6212147A (ja) * | 1985-07-10 | 1987-01-21 | Hitachi Ltd | マスタ−スライス方式の半導体装置 |
| JPS62293660A (ja) * | 1986-06-13 | 1987-12-21 | Hitachi Ltd | 半導体集積回路装置 |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004236330A (ja) * | 2003-01-29 | 2004-08-19 | Samsung Electronics Co Ltd | Dcオフセットを減らすための単一チップ化されたダイレクトコンバージョン送受信機およびその製造方法 |
| JP2006100676A (ja) * | 2004-09-30 | 2006-04-13 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体集積回路 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0666414B2 (ja) | 1994-08-24 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5050238A (en) | Shielded front end receiver circuit with IF amplifier on an IC | |
| US7095999B2 (en) | Signal processing semiconductor integrated circuit device | |
| US5160997A (en) | Semiconductor integrated circuit with shield electrodes for protecting the interconnection lines from undesirable radiation | |
| JP2005183696A (ja) | 半導体装置 | |
| US5155570A (en) | Semiconductor integrated circuit having a pattern layout applicable to various custom ICs | |
| JPH0223635A (ja) | 半導体集積回路 | |
| JPH0223634A (ja) | リニア半導体集積回路 | |
| JPH023952A (ja) | リニア半導体集積回路 | |
| JPH0223636A (ja) | Fm/amチューナ用半導体集積回路 | |
| JPH0223663A (ja) | 半導体集積回路 | |
| JPH0750779B2 (ja) | 半導体集積回路 | |
| EP0347853A2 (en) | Semiconductor integrated circuit | |
| JPH0251253A (ja) | 半導体集積回路 | |
| JPH0628288B2 (ja) | リニア半導体集積回路 | |
| JP2675338B2 (ja) | 半導体集積回路 | |
| KR930004982B1 (ko) | 반도체 집적회로 | |
| JPH0628286B2 (ja) | リニア半導体集積回路 | |
| JPH0223661A (ja) | 半導体集積回路 | |
| JPH0671065B2 (ja) | 半導体集積回路 | |
| JPH0223633A (ja) | リニア半導体集積回路 | |
| JPH0671064B2 (ja) | 半導体集積回路 | |
| JPH0316163A (ja) | 半導体集積回路 | |
| JPH0474866B2 (ja) | ||
| JPH0719843B2 (ja) | 半導体集積回路 | |
| JPH0346361A (ja) | 半導体装置、半導体集積回路装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20070824 Year of fee payment: 13 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080824 Year of fee payment: 14 |
|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |