JPH0356940A - 液晶表示装置 - Google Patents

液晶表示装置

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JPH0356940A
JPH0356940A JP1191450A JP19145089A JPH0356940A JP H0356940 A JPH0356940 A JP H0356940A JP 1191450 A JP1191450 A JP 1191450A JP 19145089 A JP19145089 A JP 19145089A JP H0356940 A JPH0356940 A JP H0356940A
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film
scanning signal
pixel
liquid crystal
conductive film
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JP1191450A
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Shinzo Matsumoto
信三 松本
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Hitachi Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 【産業上の利用分野) この発明は液晶衣示装置、特に薄膜トランジスタ等を使
用したアクティブ・マトリクス方式の液晶表示装置に関
する。 【従来の技術] アクティブ・マトリクス方式の液晶表示装置は、マトリ
クス状に配列された複数の画素電極の各々に対応して非
線形素子(スイッチング素子)を設けたものである。各
画素における液晶は理論的には常時駆動(デューティ比
1.0)されているので5時分割酩動方式を採用してい
る、いわゆる単純マトリク入方式と比べてアクティブ方
式はコントラストが良く特にカラーでは欠かせない技術
となりつつある。スイッチング素子として代表的なもの
としては薄膜トランジスタ(TPT)がある。 従来のアクティブ・マトリクス方式の液晶表示装置にお
いては、各画素列に対して走査信号線が1本設けられて
いる。 なお、薄膜トランジスタを使用したアクティブ・マトリ
クス方式の液晶表示装置は、たとえば「冗長構成を採用
した12.5型アクティブ・マトリクス方式カラー液晶
ディスプレイ」、日経エレクトロニクス、頁193〜2
10、l986年12月15日、日経マグロウヒル社発
行、で知られている。 【発明が解決しようとする課題1 しかし、このような液晶表示装置においては、低温時に
は薄膜トランジスタのチャンネル幅とチャンネル長との
比が小さすぎるから、画素電極への書き込み不良が生じ
、一方高温時には薄膜トランジスタのチャンネル幅とチ
ャンネル長との比が大きすぎるため、黒むらが生ずる。 この発明は上述の課題を解決するためになされたもので
、温度にかかわらず良好な画像が得られる液晶表示装置
を提供することを目的とする。 【課題を解決するための手段1 この目的を達或するため,この発明においては,薄膜ト
ランジスタと画素電極とを画素の一構或要素とするアク
ティブ・マトリクス方式の液晶表示装置において、各画
素列に対して第1、第2の走査信号線を設け、上記第1
、第2の走査信号線に第1、第2のゲートfI1極を接
続する。 【作用] この液晶表示装置においては,各画素列に対して第1、
第2の走査信号線を設け、上記第1、第2の走査信号線
に第1,第2のゲート電極を接続するから、第1、第2
の走査信号線に走査信号を送出したときには、薄膜トラ
ンジスタのチャンネル幅とチャンネル長との比が大きく
なり、一方第1の走査信号線にのみ走査信号を送出した
ときには,薄膜トランジスタのチャンネル幅とチャンネ
ル長との比が小さくなり、また寄生容量による映像信号
の落ち込み量が小さくなる。 [実施例] 以下、この発明を適用すべきアクティブ・マトリクス方
式のカラー液晶表示装置を説明する。 なお、液晶表示装置を説明するための企図において,同
一機能を有するものは同一符号を付け、その繰り返しの
説明は省略する。 第2A図はこの発明が適用されるアクティブ・マトリク
ス方式カラー液晶表示装置の一画素とその周辺を示す平
面図、第2B図は第2A図のIIB−■B切断線におけ
る断面と表示パネルのシール部付近の断面を示す図、第
2C図は第2A図の■C一■C切断線における断面図で
ある。また、第3図(要部平面図)には第2A図に示す
画素を複数配置したときの平面図を示す。 《画素配置》 第2A図に示すように、各画素は隣接する2本の走査信
号線(ゲート信号線または水平信号線)GLと、隣接す
る2本の映像信号線(ドレイン信号線または垂直信号線
)DLとの交差領域内(4本の信号線で囲まれた領域内
)に配置されている。 各画素は薄膜トランジスタTPT、透明画素@極ITO
Iおよび保持容量素子C addを含む。走査信号線G
Lは列方向に延在し、行方向に複数本配置されている。 映像信号線DLは行方向に延在し、列方向に複数本配置
されている。 《表示部断面全体構造》 第2B図に示すように、液晶LCを基準に下部透明ガラ
ス基板SUBI側には薄膜トランジスタTPTおよび透
明画素電極IT○1が形成され、上部透明ガラス基板S
UB2側にはカラーフィルタFIL、遮光用ブラックマ
トリクスパターンを形或する遮光膜BMが形或されてい
る。下部透明ガラス基板SUBIはたとえば1 . 1
 [+nm]程度の厚さで構或されている。 第2B図の中央部は一画素部分の断面を示しているが、
左側は透明ガラス基板SUBI.SUB2の左側林部分
で外部引出配線の存在する部分の断面を示しており、右
側は透明ガラス基板SUB1,SUB2の右側縁部分で
外部引出配線の存在しない部分の断面を示している。 第2B図の左側、右側のそれぞれに示すシール材SLは
液晶LCを封止するように構威されており、液晶封入口
(図示していない)を除く透明ガラス基板SUBI、S
UB2の縁周囲全体に沿って形或されている。シール材
SLはたとえばエポキシ樹脂で形戊されている。 上部透明ガラス基板SUBZ側の共通透明画素電極IT
O2は、少なくとも一個所において、銀ペースト材SI
Lによって下部透明ガラス基板SUBI側に形成された
外部引出配線に接続されている。この外部引出配線はゲ
ート電極GT.ソース電極SDI. ドレイン電極SD
2のそれぞれと同一製造工程で形或される。− 配向膜ORII、ORI2、透明画素電極ITO1、共
通透明画素電極IT○2、保!!膜psv1、PSV2
、絶縁膜GIのそれぞれの層は、シール材SLの内側に
形成される。偏光板POL1、POL2はそれぞれ下部
透明ガラス基板SUBI、上部透明ガラス基板SUB2
の外側の表面に形或されている。 液晶LCは液晶分子の向きを設定する千部配向膜ORI
Iと上部配向膜ORI2との間に封入され、シール部S
Lよってシールされている。 下部配向膜ORIIは下部透明ガラス基板SUBl側の
保護膜PSVIの上部に形成される。 上部透明ガラス基板SUB2の内側(液晶LC側)の表
面には、遮光膜BM、カラーフィルタFIL、保護膜P
SV2、共通透明画素電tiIT○2 (COM)およ
び上部配向膜ORI2が順次積層して設けられている。 この液晶表示装置は下部透明ガラス基板SUBl側,上
部透明ガラス基板SUB2側のそれぞれの層を別々に形
或し、その後上下透明ガラス基板SUBI.SUB2を
重ね合わせ,両者間に液晶LCを封入することによって
組み立てられる。 《薄膜トランジスタTFT> 薄膜トランジスタTPTは、ゲート電極GTに正のバイ
アスを印加すると、ソースードレイン間のチャネル抵抗
が小さくなり、バイアスを零にすると、チャネル抵抗は
大きくなるように動作する。 各画素の薄膜トランジスタTPTは、画素内において3
つ(複数)に分割され,薄膜トランジスタ(分割薄膜ト
ランジスタ)TFTI、TFT2およびTFT3で構威
されている。U膜トランジスタTPT1〜TFT3のそ
れぞれは実質的に同一サイズ(チャンネル長と幅が同じ
)で構戊されている。この分割された薄膜トランジスタ
TPTI〜TFT3のそれぞれは、主にゲート電極GT
、ゲート絶縁膜GI、i型(真性. intrinsi
c.導電型決定不純物がドープされていない)非品質シ
リコン(Si)からなるi型半導体層AS、一対のソー
ス電極SDIおよびドレイン電+m S D 2で構或
されている。なお、ソデス・トレインは木来その間のバ
イアス極性によって決まり、この液晶表示装置の回路で
はその極性は動作中反転するので、ソース・ドレインは
動作中入れ替わると理解されたい。しかし、以下の説明
でも、便宜上一方をソース,他方をドレインと固定して
表現する。 《ゲート電極GT> ゲート電極GTは第4図(第2A図の第1導電膜g1、
第2導電膜g2およびi型半導体層ASのみを描いた平
面図)に詳細に示すように、走査信号線OLから垂直方
向(第2A図および第4図において上方向)に突出する
形状で構威されている(丁字形状に分岐されている)。 ゲート電極GTは薄膜トランジスタTPTI〜TFT3
のそれぞれの形成領域まで突出するように構或されてい
る.?J膜トランジスタTPTI〜TFT3のそれぞれ
のゲート電極GTは、一体に(共通ゲート電極として)
構成されており,走査信号線OLに連続して形或されて
いる。ゲート電極GTは、薄膜トランジスタTPTの形
或領域において大きい段差を作らないように、単層の第
1導電膜g1で構或する。第1導電膜g1はたとえばス
パッタで形威されたクロム(Cr)膜を用い, 100
0[人コ程度の膜厚で形成する。 このゲート電極GTは第2A図、第2B図および第4図
に示されているように,i型半導体MASを完全に覆う
よう(下方からみて)それより太き目に形成される。し
たがって,下部透明ガラス基板SUBIの下方に蛍光灯
等のバックライトBLを取り付けた場合、この不透明な
クロムからなるゲート電極GTが影となって、i型半導
体IASにはバックライト光が当たらず、光照射による
導1115%象すなわち薄膜トランジスタTPTのオフ
特性劣化は起きにくくなる。なお、ゲート電極GTの本
来の大きさは、ソース電極SDIとドレイン電極SD2
との間をまたがるに最低限必要な(ゲート電極GTとソ
ース電tmsD1、ドレイン電極SD2との位置合わせ
余裕分も含めて)幅を持ち、チャンネル幅Wを決めるそ
の奥行き長さはソース電極SDIとドレイン電極SD2
との間の距離(チャンネル長)Lとの比、すなわち相互
コンダクタンスgmを決定するファクタW/Lをいくつ
にするかによって決められる。 この液晶表示装置1こおiるゲート電極GTの大きさは
もちろん、上述した本来の大きさよりも大きくされる。 なお,ゲート電極GTのゲートおよび遮光の機能面から
だけで考えれば、ゲート電極GTおよび走査信号線GL
は単一の層で一体に形成してもよく、この場合不透明i
電材料としてシリコンを含有させたアルミニウム(Al
)、純アルミニウム、パラジウム(Pd)を含有させた
アルミニウム等を選ぶことができる。 《走査信号線GL> 走査信号線OLは第1導電膜g1およびその上部に設け
られた第2導電膜g2からなる複合膜で構成されている
。この走査信号線OLの第t導電膜g1はゲート電極G
Tの第1導電膜g1と同一製造工程で形或され、かつ一
体に構成されている。 第2導電膜g2はたとえばスパッタで形或されたアルミ
ニウム膜を用い、■000〜5500[人コ程度の膜厚
で形成する。第2導電膜g2は走査信号線GLの抵抗値
を低減し、信号伝達速度の高速化(画素の情報の書込特
性向上)を図ることができるように構威されている。 また,走査信号線GLは第1導電膜g1の輻寸法に比べ
て第2導電膜g2の幅寸法を小さく構成している。すな
わち、走査信号線GLはその側壁の段差形状がゆるやか
になっている。 《絶縁膜GI> i色縁膜GIは:i膜トランジスタTPTI〜TFT3
のそれぞれのゲート絶縁膜として使用される。 絶B膜GIはゲート電極GTおよび走査信号線GLの上
層に形成されている。at>膜GIはたとえばプラズマ
CVDで形成された窒化シリコン膜を用い、3000[
入]程度の膜厚で形成する。 《j型半導体層AS> i型半導体/QASは、第4図に示すように、複数に分
割された薄膜トランジスタTPTI〜TFT3のそれぞ
れのチャネル形或領域として使用される。i型半導体y
!JAsは非品質シリコン膜または多結晶シリコン膜で
形或し、約1.800[人コ程度の膜厚で形或する。 このi型半導体層ASは、供給ガスの戊分を変えてSi
3N4からなるゲート#@縁膜として使用される絶縁膜
GIの形成に連続して、同じプラズマCVD装置で,し
かもそのプラズマCVD装置から外部に露出することな
く形威される。また、オーミックコンタクト用のPをド
ープしたN1型半導体層do(第2B図)も同様に連続
して約400[人コの厚さに形或される。しかる後、下
部透明ガラス基板SUBIはCVD装置から外に取り出
され、写真処理技術によりN+型半導体層doおよびi
型半導体WjASは第2A図,第2B図および第4図に
示すように独立した島状にパターニングされる。 i型半ji体層ASは、第2A図および第4図に詳細に
示すように、走査信号線OLと映像信号線DLとの交差
部(クロスオーバ部)の両者間にも設けられている。こ
の交差部のi型半導体層ASは交差部における走査信号
線GLと映像信号線DLとの短絡を低減するように構戊
されている。 《ソース電極SDI、ドレイン電極SD2>複数に分割
された薄膜トランジスタTPTI〜TFT3のそれぞれ
のソース電極SDIとドレイン電極SD2とは、第2A
図、第2B図および第5図(第2A図の第1〜第3導電
膜d1〜d3のみを描いた平面図)で詳細に示すように
、i型半導体層AS上にそれぞれ離隔して設けられてい
る。 ソース電極SDI、ドレイン電極SD2のそれぞれは、
N+型半導体層dOに接触する下層側から、第1導電膜
d1、第2導電膜d2,第3導電膜d3を順次重ね合わ
せて構成されている。ソース電極SDIの第1導電膜d
1、第2導電膜d2および第3導電膜d3は、ドレイン
電極SD2の第1導電膜d1、第2導電11id2およ
び第3導電膜d3と同一製造工程で形威される。 第1導電膜d1はスパッタで形成したクロム膜を用い,
500〜1000[入]の膜厚(この液晶表示装置では
、600[入]程度の膜厚)で形或する。クロム膜は膜
厚を厚く形成するとストレスが大きくなるので、200
0[A]程度の膜厚を越えない範囲で形戊する。クロム
膜はN+型半導体層doとの接触が良好である。クロム
膜は後述する第2導電膜d2のアルミニウムがN+型半
導体層doに拡散す?ことを防止するいわゆるパリ7層
を4+i成する。 第1導電膜d1としては、クロム膜の他に高融点金属(
Mo.Ti.Ta.W)膜、高融点金属シリサイド(M
oSi2、TiSi2、TaSi■、WSi2)膜で形
或してもよい。 第1導電膜d1を写真処理でパターニングした後、同じ
写真処理用マスクを用いて,あるいは第1導電膜d1を
マスクとして、N+型半導体J1クdOが除去される。 つまり、i型半導体層As上に残っていたN+型半導体
NdOは第工導電膜d1以外の部分がセルファラインで
除去される6このとき、N+型半導体層doはその厚さ
分は全て除去されるようエッチされるので、i型半導体
層ASも若干その表面部分でエッチされるが、その程度
はエッチ時間で制御すればよい。 しかる後,第2導電膜d2がアルミニウムのスパッタリ
ングで3000〜55(10[λ]の膜厚(この液晶表
示装置では、3500[人]程度の膜厚)に形或される
。アルミニウム膜はクロム膜に比κでストレスが小さく
,厚い膜厚に形或することが可能で、ソース電曙S D
 1、トレイン電極SD2および映像信号線DLの抵抗
値を低減するように構或されている。第2導電膜d2と
してはアルミニウム膜の他にシリコンや銅(Cu)を添
加物として含有させたアルミニウム膜で形或してもよい
。 第2導電膜d2の写真処理技術によるパターニング後,
第3導電膜d3が形成される。この第3導電膜d3はス
パッタリングで形成された透明導電膜(Induim−
Tin−Oxide  I T○:ネサ嘆)からなり、
1000〜2000[入コの膜厚(この液晶表示′!A
7lでは、1200[A]程度の膜厚)で形成される。 この第3導電膜d3はソース電極SD↓、ドレイン電極
SD2および映像信号線DLを構威するとともに、透明
画素電極IT○1を構或するようになっている。 ソース電極SDIの第l導電膜d1、ドレイン電極SD
2の第工導電膜d1のそれぞれは、上層の第2導電膜d
2および第3導電膜d3に比へて内側に(チャンネル領
域内に)大きく入り込んでいる。つまり、これらの部分
における第1導電膜d1は第2導電膜d2、第3導電膜
d3とは無関係に薄膜トランジスタTPTのゲート長L
を規定できるように構成されている。 ソース電極SDIは透明画素電極ITOIに接続されて
いる。ソース電極SDIは、i型半導体IAsの段差形
状(第1導電膜g1の膜厚、N+型半導体層dOの膜厚
およびi型半導体層ASの膜厚を加算した膜厚に相当す
る段差)に沿って構或されている。具体的には、ソース
電極SD1は、i型半導体層ASの段差形状に沿って形
成された第1導電膜d1と、この第1導電膜d1の上部
にそれに比べて透明画素電極ITOIと接続される側を
小さいサイズで形或した第2導電膜d2と、この第2導
電膜d2から露出する第1導電膜d1に接続された第3
導電1j[d3とで構或されている。 ソース電極SDIの第2導電膜d2は第l導電膜clL
のクロム膜がストレスの増大から厚く形或できず、i型
半導体層ASの段差形状を乗り越えられないので、この
i型半導体N3Asを乗り越えるために構成されている
。つまり、第2導電膜d2は厚く形成することでステッ
プ力バレッジを向上している。第2導電膜d2は厚く形
成できるので、ソース電極SDIの抵抗値(ドレイン電
極SD2や映像信号線DLについても同様)の低減に大
きく寄与している。第3導電膜d3は第2導電膜d2の
i型半導体層ASに起因する段差形状を乗り越えること
ができないので、第2導電膜d2のサイズを小さくする
ことで、露出する第1導電膜d1に接続するように構或
されている。第1導電膜dlと第3導電膜d3とは接着
性が良好であるばかりか、両者間の接続部の段差形状が
小さいので,ソース電極SDIと透明画素電極ITOI
とを確実に接続することができる。 《透明画素電極IT○1》 透明画素電極ITO1は各画素毎に設けられており、液
晶表示部の画素電極の一方を構或する。 透明画素電極ITOIは画素の複数に分割された薄膜ト
ランジスタTPTI〜TFT3のそれぞれに対応して3
つの分割透明画素f!1極E1、E2、E3に分割され
ている。分割透明画素電極E1〜E3は各々スク膜トラ
ンジスタTPTのソース電極SDIに接続されている。 分割透明画素電極E1〜E3のそれぞれは実質的に同一
面積となるようにパターニングされている。 このように、1画素の薄膜トランジスタTPTを複数の
薄膜トランジスタT P T 1〜TFT3に分割し、
この複数に分割された薄膜トランジスタTPTI〜TF
T3のそれぞれに分割透明画素電+mE1〜E3のそれ
ぞれを接続することにより、分割された一部分(たとえ
ば、}″Jt膜トランジスタTFTI)が点欠陥になっ
ても、画素全体でみれば点欠陥でなくなる(薄膜トラン
ジスタTFT2および薄膜トランジスタTFT3が欠陥
でない)ので、点欠陥の確率を低減することができ,ま
た欠陥を見にくくすることができる。 また、分割透明画素電極E1〜E3のそれぞれを実質的
に同一面積で構戊することにより、分割透明画素電極E
1〜E3のそれぞれと共通透明画素電極IT○2とで構
戊されるそれぞれの液晶容量Cρix を均一にするこ
とができる。 《保護膜PSV1》 薄膜トランジスタTPTおよび透明画素電極工T○1上
には保護膜PSV↓が設けられている。 保護膜PSVIは主に薄膜トランジスタTPTを湿気等
から保護するために形成されており、透明性が高くしか
も耐湿性の良いものを使用する。保護膜PSVIはたと
えばプラズマCVD装置で形戊した酸化シリコン膜や窒
化シリコン膜で形成されており、80QO[λ]程度の
膜厚で形成する。 《遮光膜BM> 上部透明ガラス基板SUB2側には、外部光(第2B図
では上方からの光)がチャネル形威領域として使用され
るi型半導体WASに入射されないように,遮蔽膜BM
が設けられ、遮蔽膜BMは第6図のハッチングに示すよ
うなパターンとされている。なお、第6図は第2A図に
おけるIT○膜からなる第3導電膜d3、カラーフィル
タFILおよび遮光膜BMのみを描いた平面図である。 遮光膜BMは光に対する遮蔽性が高いたとえばアルミニ
ウム膜やクロム膜等で形戊されており、この液晶表示装
置ではクロム膜がスパッタリングで1300[λコ程度
の膜厚に形或される。 したがって、薄膜トランジスタTFT1〜TFT3のi
型半導体/ffAsは上下にある遮光膜BMおよび太き
目のゲートM.極GTによってサンドイッチにされ、そ
の部分は外部の自然光やバックライト光が当たらなくな
る。遮光膜BMは第6図のハッチング部分で示すように
、画素の周囲に形成され、つまり遮光膜BMは格子状に
形成され(ブラックマトリクス)、この格子で1画素の
有効表示領域が仕切られている。したがって,各画素の
輪郭が遮光膜BMによってはっきりとし、コントラスト
が向上する。つまり、遮光膜BMはi型半導体WJAS
に対する遮光とブラックマトリクスとの2つの機能をも
つ。 なお、バックライトを上部透明ガラス基板SUB2側に
取り付け,下部透明ガラス基板SUBlをrA察側(外
部露出側)とすることもできる。 《共通透明画素電極IT○2》 共通透明画素電極IT○2は、下部透明ガラス基板SU
BI側に画素毎に設けられた透明画素電極IT○1に対
向し,液晶LCの光学的な状態は各画素電極IT01と
共通透明画素電極ITO2との間の電位差(電界)に応
答して変化する。この共通透明画素電極rTO2にはコ
モン電圧Vcomが印加されるように構或されている。 コモン電圧vcOIaは映像信号線DLに印加されるロ
ウレベルの開動電圧V d minとハイレベルの腿!
IJ電圧V d waxとの中間電位である。 《カラーフィルタFIL> カラーフィルタFILはアクリル樹脂等の樹脂材料で形
或される染色基材に染料を着色して構或されている。カ
ラーフィルタFILは画素に対向する位置に各画素毎に
ドット状に形威され(第7図)、染め分けられている{
第7図は第3図の第3導電膜ld3とカラーフィルタF
ILのみを描いたもので、R.G.Bの各カラーフィル
ターFILはそれぞれ、45″、135’ 、クロスの
ハッチを施してある)。カラーフィルタFILは第6図
に示すように透明画素竜極ITOI(El−〜E3)の
全てを覆うように太き目に形成され,遮光膜BMはカラ
ーフィルタFILおよび透明画素Rt=nIT○1のエ
ッジ部分と重なるよう透明画素電極■T○1の周林部よ
り内側に形成されている。 カラーフィルタFILは次のように形成することができ
る。まず、上部透明ガラス基板SUB2の表面に染色基
材を形或し、フォトリソグラフィ技術で赤色フィルタ形
或領域以外の染色基材を除去する。この後、染色基材を
赤色染料で染め,固着処理を施し、赤色フィルタRを形
或する。つぎに、同様な工程を施すことによって、緑色
フィルタG,青色フィルタBを順次形戊する。 《保護膜PSV2)) 保護膜PSV2はカラーフィルタFILを異なる色に染
め分けた染料が液晶LCに漏れることを防止するために
設けられている。保護膜P S V 2はたとえばアク
リル樹脂、エボキシ樹脂等の透明樹脂材料で形或されて
いる。 《画素配列》 液晶表示部の各画素は、第3図および第7図に示すよう
に、走査信号線GLが延在する方向と同一列方向に複数
配置され、画素列Xl,X2.X3,X4,  ・・の
それぞれを構或している。各画素列Xi,X2,X3,
X4,・・・のそれぞれの画素は、薄膜トランジスタT
FTI−TFT3および分割透明画素電極E1〜E3の
配置位置を同一に構威している。つまり,奇数画素列X
i,X3,・・・のそれぞれの画素は、薄膜トランジス
タTPT1〜TFT3の配置位置を左側、分割透明画素
電極E1〜E3の配置位置を右側に構成している。 奇・数画素列Xi,X3,・・のそれぞれの行方向の隣
りの偶数画素列X2,X4,・・・のそれぞれの画素は
、奇数画素列X.1,X3,・・・のそれぞれの画素を
映像信号線DLの延在方向を基準にして線対称でひっく
り返した画素で構成されている。すなわち、画素列X2
,X4,・・のそれぞれの画素は、蒲膜トランジスタT
PTI〜TFT3の配置位置を右側、透明画素電極E1
〜E3の配置位置を左側に構盛している6そして、画素
列X2,X4,・・・のそれぞれの画素は,画素列XI
,X3,・・・のそれぞれの画素に対し、列方向に半画
素間隔移動させて(ずらして)配置されている。つまり
、画素列Xの各画素間隔を]..O ( 1.0ピッチ
)とすると、次段の画素列Xは、各画素間隔を1.0と
し、前段の画素列Xに対して列方向に0.5画素間隔(
0.5ピッチ)ずれている。各画素間を行方向に延在す
る映像信号線DL、は、各画素列X間において、半画素
間隔分(0.5ピッチ分)列方向に延在するように構成
されている。 その結果、第7図に示すように,前段の画素列Xの所定
色フィルタが形或された画素(たとえば、画素列X3の
赤色フィルタRが形或された画素)と次段の画素列Xの
同一色フィルタが形或された画素(たとえば、画素列X
4の赤色フィルタ尺が形成された画素)とが1.5画素
間隔(1.5ピッチ)離隔され、またRGBのカラーフ
ィルタト゛ILは三角形配置となる。カラーフィルタF
ILのRGBの三角形配置構造は、各色の混色を良くす
ること力でできるので,カラー画像の解像度を向上する
ことができる。 また、映像信号線DLは、各画素列X間において,半画
素間隔分しか列方向に延在しないので、隣接する映像信
号IDLと交差しなくなる。したがって、映像信号線D
Lの引き回しをなくしその占有面積を低減することがで
き、また映像信号線DLの迂回をなくシ,多層配線構造
を廃止することができる。 《表示装置全体等価回路》 この液晶表示装置の等価回路を第8図に示す。 XiG,Xi+IG,・・・は、緑色フィルタGが形戊
される画素に接続された映像信号vADLである。 XiB,Xi+IB,  ・は、青色フィルタBが形成
される画素に接続された映像信号線DLである。 Xi+IR,Xi+2R,・・・は,赤色フィルタRが
形成される画素に・接続された映像信号線DLである。 これらの映像信号線DLは、映像信号陳動回路で選択さ
れる。Yiは第3図および第7図に示す画素列X1を選
択する走査信号線GLである。 同様に、Yi+l,Yi+2,・・・のそれぞれは、画
素列X2,X3,・・・のそれぞれを選択する走た信号
線GLである。これらの走査信号線GLは乗直走査回路
に接続されている。 《保持容量素子C addの構造》 分割透明画素ffl+ME1〜E3のそれぞれは、誹膜
トランジスタTPTと接続される端部と反対側の端部に
おいて、隣りの走査信對!fAGI.と重なるよう、L
字状に屈折して形或されている。この重ね合わせは、第
2C図からも明らかなように、分割透明画素電極E1〜
E3のそれぞれを一方の電極PL2とし、隣りの走査信
号線a [. 2他方の′は極P L 1とする保持容
量素子(静電容量素子)Caddを構成する。この保持
容量素子C addの誇電体膜は、薄膜トランジスタT
PTのゲート絶縁膜として使用される絶g膜GIと同一
層で構或されている。 保持容量素子Caddは、第4図からも明らかなように
、ゲート線OLの第1導電膜g1の幅を広げた部分に形
威されている。なお、映像信号IDLと交差する部分の
第■導電膜glは映像信号線D Lとの短絡の確率を小
さくするため,?IB<されている。 保持容量索子C addを構或するために重ね合わされ
る分割透明画素電t4El〜E3のそれぞれと電÷MP
LLとの間の一部には、ソース電1−isD1と同様に
、段差形状を乗り越える際に透明画素′漱極ITOIが
断線しないように、第1導電膜d1および第2導電膜d
2で構威された島領域が設けられている。この島領域は
、透明画素電極ITOlの面積(開口率)を低下しない
ように、できる限り小さく構或する。 《保持容量素子C addの等価回路とその動作》第2
A図に示される画素の等価回路を第9図に示す。第9図
において、Cgsは薄膜トランジスタTPTのゲート電
極GTとソース電ti S D 1との間に形成される
寄生容量である。寄生容ncgsの誘′氾体膜は!!!
蒜膜GIである。C pixは透明画素電極ITOI 
(PIX)と共通透明画素電極I T○2 (COM)
との間に形威される液晶容量である。液晶容量C pi
xの誘電体膜は液晶LC、保護膜PSVIおよび配向膜
○Rll、ORI2である。v1cは中点電位である。 保持容量素子C addは、薄膜トランジスタTPTが
スイッチングするとき、中点電位(画素電極電位)Vi
eに対するゲート電位変化Δ■gの影響を低減するよう
に働く。この閑子を式で表すと,次式のようになる。 ΔV lc= (C gs/(C gs+C add+
c pix)) XΔVgここで、ΔVlcはΔVgに
よる中点電位の変化分を表わす。この変化分Δvlcは
液晶LCに加わる直流或分の原因となるが、保持容ff
icaddを大きくすればする程、その値を小さくする
ことができる。また,保持容量素子C .]ddは放電
時間を長くする作用もあり、薄膜トランジスタTPTが
オフした後の映像情報を長く蓄積する。液晶LCに印加
される直流或分の低減は、液品LCの寿命を向上し,液
晶表示画面の切り替え時に前の画像が残るいわゆる焼き
付きを低減することができる。 前述したように、ゲートXTitX”GTはi型半導体
[ASを完全に覆うよう大きくされている分,ソ一ス電
極SDI、ドレイン電極SD2とのオーバラソブ面積が
増え、したがって寄生容,icgsが大きくなり,中点
電位vlcはゲート(走査)信号Vg の影響を受け易
くなるという逆効果が生じる。しかし、保持容量素子C
 addを設けることによりこのデメリッ1−も解7}
1することができる。 保持容量素子C addの保持容量は、画素の書込特性
から、液晶容量C pixに対して4〜8倍(4・C 
pix< C add< 8 ・C pix) .重ね
合わせ容icgsに対して8〜32倍( 8 ・C g
s< C add< 32・C gs)程度の値に設定
する。 《保持容M素子C add電極線の結線方法》容量電嘆
線としてのみ使用される最終段の走査信号線GL(また
は初段の走森信号線OL)は、第8図に示すように、共
通透明画素電暎T T○2(Vcom)に接続す゛る。 共通透明画素YX. 極I T 02は、第2B図に示
すように,液晶表示装置の周縁部において銀ペースト材
SLによって外部引出配線に接続されている。しかも、
この外部引出配線の一部の導fflFd ( g 1お
よびg2)は走査信号線GLと同−10逍工程で構威さ
れている。この結果、最終段の走査信号線(容量電極線
)GLは、共通透明画素電極T T O 2に簡単に接
続することができる。 または、第8図の点線で示すように、最終段(初段)の
走査信号線(容歇fu横線)GLを初段(最終段)の走
査信号線GLに接続してもよい。 なお、この接続は液晶表示部内の内部配線あるいは外部
引出配線によって行なうことができる。 第1○図は走査信号線GLの暉mt電圧波形VY;−、
、■Y1と映像信号線D L (7) m 圧波形VX
iの場合の中点電位(画素電極電位)Vlcを示す。 VY;−1波形が保持容量素子C addを通して侵入
するため、中点電位Vlcは一度大きく変化する。しか
し、VYi波形で薄膜トランジスタTPTがオンするた
め、この時点から書き込みが始まる。液晶LCへ加わる
直流電圧はΔV1.cで示す。このΔVlcを小さくす
ることが重要となる。 第IA図はこの発明に係るアクティブ・マトリックス方
式のカラー液晶表示装置の液晶表示部の一部を示す概略
平面図、第IB図は走査信号線の15区動部を示す既略
図、第IC図は走査(iE号を示す波形図である。図に
おいて、GLI.OL2は各画素列に対して設けられた
第1、第2の走査信号線、GTI.GT2は走査信号線
GLI.GL2に接続された第1,第2のゲート電極,
PLIIは走査信号線GLIに接続された保持容殖素子
C addの電極,g11は走査信%線G L 1、ゲ
ート電極GTI,走査信号線GL2の一部、ゲート電極
GT2および電極PLIIを構成する導電膜で、導電膜
gllは下部透明ガラス乱阪SUBI上に設けられてい
る。gl2は走査信号線GL2の一部を構或する導?l
i膜で,導電膜gl2は糸色林l1ΔG工上に設けられ
ている。T Hは2S 47膜GIに設けられたスルー
ホールで、スルーホールTH部で導電膜gllと導・電
膜gl2とが接続されている。ASI、AS2はゲート
電極GTI.GT2の上方に設けられたi型半導体層.
SD11、SDl2はi型半導体層ASI、AS2に対
応して設けられたソース電極.SD21、SD22はi
型半導体層ASI、AS2に対応して設けられた1−レ
イン電極で、ゲート電極GTI,GT2、i型半導体層
Ask、AS2、ソース電極S D I. 1、SD↓
2、ドレイン電極SD2 1、SD22でd膜トランジ
スタT F T 1 1、T F T 1 2が構威さ
れている.GD↓、GD2は走査信号線GLI、GL2
に第1C図に示すような走査信号を送出するゲートドラ
イバである。 この液晶表示装置においては、ゲートドライバGDI.
GD2から走査信号線GLI.GL2に走査信号を送出
すれば,薄膜トランジスタTFT11、TFTl2が動
作するから、実質上のチャンネル幅とチャンネル長との
比W/Lが大きくなる。このため,低温峙に走査信号線
GLI、GL2に走査信号を送出すれば、画素電極への
書き込み不良が生ずることはない。一方,ゲートドライ
バG D 1から走査信号線GLIに走査信号を送1′
シし、ゲートドライバGD2から走査信号線GL2に走
査信号を送出しなければ(走査信1!IfAar−2に
−20Vを印加すれば),?t膜トランジスタTFTl
lのみが動作するから,実質上のW/Lが小さくなる。 また、ゲート電極GTIとソース電極SDI 1との重
ね合わせによる寄生容量をC4sl、ゲート電極GT2
とソース電rfi.SD12との重ね合わせによる寄生
容量&cgs2とすると、走査信号線GLI、GL2に
走査信号を送出したときの寄生容量による映像信号の落
ち込み量Δ■1は次式で表される。 一方、走査信号線GLIにのみ走査信号を送出したとき
の寄生容量による映像信号の落ち込み量ΔV2は次式で
表される。 ?たがって、落ち込■み量Δ■2は落ち込み量Δ■1よ
り小さくなるから,走査信号線GLIにのみ走査信号を
送出すれば、映像信号の落ち込み欧を小さくなる。この
ように、走査信号線GLIにのみ走査信誇を送出すれば
、実質上のW/Lが小さくなり、また映C’ll (N
号の落ち込み桑を小さくなるから、高温時に走査信号線
GLIにのみ走査信号を送出すれば、黒むらが生ずるこ
とはない。 したがって、温度にかかわらず良好な画像が得られる。 以上、本発明者によってなされた発明を、前記実施例に
基づき具体的に説明したが、この発明は,前記実施例に
限定されるものではなく,その要旨を逸脱しない範囲に
おいて種々変更可能であることは勿論である。 たとえば,上述実施例においては、ゲート電極形成→ゲ
ート絶縁膜形或→半導体層形或→ソース・ドレイン電極
形或の逆スタガ構潰を示したが,上下関係または作る順
番がそれと逆のスタガ構造でもこの発明は有効である。 [発明の効果】 以上説明したように,この発明に係る液晶表示装置にお
いては、各画素列に対して第1,第2の走査信号線を設
け、上記第1、第2の走査信号線に第1、第2のゲート
電極を接続するから、第1、第2の走査信号線に走査信
号を送出したときには、7等膜トランジスタのチャンネ
ル幅とチャンネル長との比が大きくむるので,低温時に
第1.第2の走査信号線に走査信号を送出すれば、画素
電極への書き込み不良が生ずることはなく,一方第1の
走査信号線にのみ走査信号を送出したときには、薄膜ト
ランジスタのチャンネル幅とチャンネル長との比が小さ
くなり、また寄生容量による映像信号の落ち込み量が小
さくなるので、高温時に第1の映像信号線にのみ走査信
号を送出すれば、黒むらが生ずることはない。したがっ
て、温度にかかわらず良好な画像が得られる。このよう
に、この発明の効果は顕著である。
【図面の簡単な説明】
第IA図はこの発明に係るアクティブ・マトリックス方
式のカラー液品表示装置の液晶表示部の一部を示す概略
平面図、第1B図は走査信号線の暉動部を示す概略図,
第IC図は走査信号を示す波形図、第2A図はこの発明
が適用されるアクティブ・マトリックス方式のカラー液
品表示装置の液晶表示部の一画素を示す要部平面図、第
2B図は第2A図の■B−■B切断線で切った部分とシ
ール部周辺部の断面図、第2C図は第2A図の■c−n
c切断線における断面図、第3図は第2A図に示す画素
を複数配埴した液晶表示部の要部平面図、第4図〜第6
図は第2A図に示す画素の所定の層のみを描いた平面図
、第7図は第3図に示す画素電極層とカラーフィルタ層
のみを描いた要部平面図、第8図はアクティブ・マトリ
ックス方式のカラー液晶表示装置の液晶表示部を示す等
価回路図、第9図は第2A図に記載される画素の等価回
路図、第10図は直流相殺方式による走査信号線の駆動
電圧を示すタイムチャートである。 SUB・・・透明ガラス基板 GL・・・走査信号線 DL・・・映生信号線 GI・・・絶縁膜 GT・・ゲート電極 As・・・i型半導体層 Sp・・・ソース電極またはドレインlpsv・・保護
膜 BM・・・遮光膜 LC・・・液晶 TPT・・・薄膜トランジスタ ITO・・・透明画素電棋 g.d・・・導電膜 C add・・・保持容量素子 Cgs・・・寄生容量 C pix・・・液品容量 第IA図 GTI, GT2−−−一第 ,第20り゛−+1極 第IB図 第IC図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、薄膜トランジスタと画素電極とを画素の一構成要素
    とするアクティブ・マトリクス方式の液晶表示装置にお
    いて、各画素列に対して第1、第2の走査信号線を設け
    、上記第1、第2の走査信号線に第1、第2のゲート電
    極を接続したことを特徴とする液晶表示装置。
JP1191450A 1989-07-26 1989-07-26 液晶表示装置 Pending JPH0356940A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103311310A (zh) * 2013-05-13 2013-09-18 北京京东方光电科技有限公司 一种薄膜晶体管及其制备方法、阵列基板

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103311310A (zh) * 2013-05-13 2013-09-18 北京京东方光电科技有限公司 一种薄膜晶体管及其制备方法、阵列基板
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